數(shù)字化閃爍脈沖的基線校正方法及系統(tǒng)的制作方法【專利摘要】一種數(shù)字化閃爍脈沖的基線校正方法及系統(tǒng)。該方法首先使用多閾值電壓采樣法，對(duì)閃爍脈沖信號(hào)進(jìn)行時(shí)間軸向采樣，獲取閃爍脈沖波形的時(shí)間-閾值采樣點(diǎn)；然后選取這些時(shí)間-閾值采樣點(diǎn)，利用閃爍脈沖的形狀特性來(lái)重建脈沖波形及辨識(shí)模型參數(shù)，據(jù)此估計(jì)閃爍脈沖的基線漂移均值；最后根據(jù)該基線漂移均值對(duì)閃爍脈沖波形進(jìn)行基線校正。本發(fā)明還公開(kāi)了一種數(shù)字化閃爍脈沖的基線校正系統(tǒng)，包括數(shù)字采樣模塊、基線偏移計(jì)算模塊和基線校正模塊。本發(fā)明能夠有效、準(zhǔn)確地甄別閃爍脈沖的基線漂移，實(shí)現(xiàn)對(duì)基線的快速實(shí)時(shí)自適應(yīng)校正，提高閃爍脈沖數(shù)據(jù)測(cè)量結(jié)果的信噪比和數(shù)據(jù)獲得系統(tǒng)的穩(wěn)定性?！緦＠f(shuō)明】數(shù)字化閃爍脈沖的基線校正方法及系統(tǒng)【
技術(shù)領(lǐng)域：
】[0001]本發(fā)明屬于高能物理探測(cè)器和信號(hào)處理領(lǐng)域，具體涉及一種數(shù)字化閃爍脈沖的基線校正方法及系統(tǒng)，可應(yīng)用于高能粒子探測(cè)及醫(yī)療影像設(shè)備?！?br>背景技術(shù)：
】[0002]在大多數(shù)的高能粒子探測(cè)領(lǐng)域以及醫(yī)療影像設(shè)備中，數(shù)據(jù)獲得系統(tǒng)采集和處理的閃爍脈沖通常是由閃爍晶體將高能粒子(如:X射線、Y射線等)轉(zhuǎn)換成可見(jiàn)光，然后再由光電器件轉(zhuǎn)換成可以進(jìn)行測(cè)量的電脈沖信號(hào)，現(xiàn)有技術(shù)中典型的閃爍脈沖波形如圖1所示。在對(duì)閃爍脈沖的信息提取中，由于受到探測(cè)器漏電流、閃爍脈沖拖尾、噪聲干擾等因素的影響，閃爍脈沖往往是疊加在一個(gè)不穩(wěn)定的基線上。這樣不僅會(huì)造成閃爍脈沖到達(dá)時(shí)間和脈沖高度測(cè)量的不精確，降低原始數(shù)據(jù)的信噪比，同時(shí)也會(huì)對(duì)晶體分割、隨機(jī)事件和散射事件的剔除產(chǎn)生間接影響，尤其是對(duì)正電子發(fā)射斷層成像儀(PositronEmissionTomography,以下簡(jiǎn)稱PET)重建圖像的分辨率、對(duì)比度以及信噪比造成較大影響。因此，為了減少基線漂移對(duì)輻射探測(cè)系統(tǒng)穩(wěn)定性和性能指標(biāo)的影響，有必要在提取閃爍脈沖信息之前進(jìn)行基線校正。[0003]基線校正的實(shí)現(xiàn)方式往往與數(shù)據(jù)獲得系統(tǒng)所在前端電子學(xué)電路的架構(gòu)緊密相關(guān)。傳統(tǒng)的基于模擬電路或者模擬-數(shù)字混合電路結(jié)構(gòu)中，應(yīng)用最為廣泛的一種基線校正方法是基線恢復(fù)器。Robinson最早提出了一種針對(duì)單極信號(hào)的基線恢復(fù)器[L.B.Robinson,“Reductionofbaselineshiftinpulse-amplitudemeasurements”，Rev.Sc1.1nstrum.，Vol.32，p.1057，1961]o隨后Chase[R.L.ChaseandL.R.Poulo,“AhighprecisionDCrestorer，，，IEEETrans.Nucl.Sc1.,vol.NS-14,n0.6,pp.83-88，Dec.1967],Fairstein[E.Fairstein,“Gatedbaselinerestorerwithadjustableasymmetry，，，IEEETrans.Nucl.Sc1.,vol.NS-22,n0.1,pp.463-466，F(xiàn)eb.1975]以及Kuwata[M.Kuwata,H.Maeda,andK.Husimi,“Newbaselinerestorerbasedonfeedforwarddifferentialcompensation，，，IEEETrans.Nucl.Sc1.,vol.41,n0.4,pp.1236-1239，Aug.1994]等研究組相繼提出了各種改進(jìn)型的基線恢復(fù)器，以提高基線校正的效率。另外，Geronimo[G.De.Geronimo,P.0’Connor,andJ.Grosholz,“ACMOSbaselineholder(BLH)forreadoutASICs，，，IEEETrans.Nucl.Sc1.，vol.47，n0.3，Jun.2000]也提出了一種可供選擇的基于CMOS工藝的基線保持器。盡管這些電路在具體實(shí)現(xiàn)細(xì)節(jié)和功能特性上各不相同，但是它們都是依賴于模擬技術(shù)而發(fā)展起來(lái)的，這些電路的設(shè)計(jì)優(yōu)化往往是針對(duì)某一特定的探測(cè)器結(jié)構(gòu)而進(jìn)行的，一旦設(shè)計(jì)完成就無(wú)法根據(jù)應(yīng)用需求而改變，靈活性、擴(kuò)展性和升級(jí)性受到了極大的制約。[0004]隨著各種通用數(shù)字化設(shè)備和電子器件的普及以及數(shù)字信號(hào)處理算法的廣泛應(yīng)用，數(shù)字化技術(shù)正被越來(lái)越多的引入到對(duì)閃爍脈沖的信息提取中。目前，對(duì)閃爍脈沖進(jìn)行數(shù)字化處理的方法主要有:基于模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換器(Analog-to-DigitalConverter,以下簡(jiǎn)稱ADC)的等間隔米樣法和基于多閾值電壓(Mult1-VoltageThreshold,以下簡(jiǎn)稱MVT)的時(shí)間軸向采樣法。前者利用快速ADC對(duì)閃爍脈沖信號(hào)及基線進(jìn)行等間隔采樣，獲取脈沖信號(hào)及基線的電壓幅度樣本點(diǎn)，其中脈沖信號(hào)幅度可用于脈沖信息提取，基線樣本點(diǎn)可進(jìn)行均值處理或者統(tǒng)計(jì)分析以進(jìn)行基線校正[HongdiLi,ChaoWang,HossainBaghaeietal.,“Anewstatistics-basedonlinebaselinerestorerforahighcountratefullydigitalsystem”，IEEETrans.Nucl.Sc1.,vol.57,n0.2,Apr.2010]。與基于ADC的等間隔米樣不同，基于MVT的時(shí)間軸向米樣法是已知閾值參考電壓，來(lái)獲取米樣點(diǎn)的時(shí)間信息，然后通過(guò)數(shù)字信號(hào)處理算法提取閃爍脈沖的事件信息[QingguoXie,Chien-MinKao,ZekaiHsiauetal.,“Anewapproachforpulseprocessinginpositronemissiontomography”,IEEETrans.Nucl.Sc1.,vol.52,n0.4,Aug.2005]。MVT米樣方法能夠有效突破香農(nóng)采樣定理的限制，精確有效地獲取閃爍脈沖的事件信息[QingguoXie,Chien-MinKao,XiWangetal.,“Potentialsofdigitallysamplingscintillationpulsesintimingdeterminationinpet”，vol.56，n0.5，Oct.2009]。對(duì)于MVT米樣方法，其同樣會(huì)受到基線漂移對(duì)閃爍脈沖信息獲取的干擾問(wèn)題，而目前現(xiàn)有的基線校正方法均無(wú)法有效地解決MVT的基線漂移問(wèn)題。[0005]因此，針對(duì)上述技術(shù)問(wèn)題，有必要提出一種新的數(shù)字化閃爍脈沖的基線校正方法及系統(tǒng)，以克服上述缺陷?！?br/>發(fā)明內(nèi)容】[0006]有鑒于此，本發(fā)明的目的在于提供一種數(shù)字化閃爍脈沖的基線校正方法及系統(tǒng)，用于解決高能物理粒子探測(cè)及醫(yī)療影像設(shè)備中前端電子學(xué)基線漂移問(wèn)題。該方法通過(guò)對(duì)閃爍脈沖進(jìn)行多閾值電壓采樣，利用閃爍脈沖的先驗(yàn)知識(shí)，運(yùn)用創(chuàng)新的數(shù)字信號(hào)處理算法，對(duì)由探測(cè)器漏電流、脈沖拖尾及噪聲干擾等引起的基線漂移進(jìn)行有效、準(zhǔn)確和快速地自適應(yīng)校正，同時(shí)提高閃爍脈沖數(shù)據(jù)測(cè)量結(jié)果的信噪比和數(shù)據(jù)獲得系統(tǒng)的穩(wěn)定性。[0007]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案:[0008]一種數(shù)字化閃爍脈沖的基線校正方法，所述基線校正方法步驟如下:[0009](I)使用多閾值電壓采樣法，對(duì)閃爍脈沖信號(hào)進(jìn)行時(shí)間軸向采樣，獲取閃爍脈沖波形的數(shù)字化采樣點(diǎn)；[0010](2)選取各個(gè)閃爍脈沖相應(yīng)的數(shù)字化采樣點(diǎn)，根據(jù)閃爍脈沖的形狀特性，重建脈沖波形并辨識(shí)模型參數(shù)，據(jù)此獲得各個(gè)閃爍脈沖的基線漂移量，然后對(duì)所得的基線漂移量進(jìn)行分析，獲得基線漂移均值；[0011](3)將重建后的閃爍脈沖波形減去步驟(2)獲得的基線漂移均值，完成基線校正。[0012]優(yōu)選的，在上述數(shù)字化閃爍脈沖的基線校正方法中，所述步驟(I)中多閾值電壓采樣方法具體為:預(yù)先設(shè)置若干閾值參考電壓，記錄閃爍脈沖電壓幅度達(dá)到各個(gè)閾值電壓的具體時(shí)刻，每個(gè)電壓閾值和對(duì)應(yīng)的觸發(fā)時(shí)間即組成一個(gè)時(shí)間-閾值米樣點(diǎn)。[0013]優(yōu)選的，在上述數(shù)字化閃爍脈沖的基線校正方法中，所述步驟(2)中閃爍脈沖的形狀特性根據(jù)所耦合的閃爍晶體和光電轉(zhuǎn)換器件的類(lèi)別進(jìn)行建模獲得。[0014]優(yōu)選的，在上述數(shù)字化閃爍脈沖的基線校正方法中，所述步驟(2)中辨識(shí)模型參數(shù)是指根據(jù)閃爍脈沖的形狀特性，對(duì)所選取閃爍脈沖波形的時(shí)間-閾值采樣點(diǎn)進(jìn)行函數(shù)逼近得到特征數(shù)學(xué)模型，并從中提取刻畫(huà)閃爍脈沖特性的參數(shù)值。[0015]優(yōu)選的，在上述數(shù)字化閃爍脈沖的基線校正方法中，所述步驟(2)中閃爍脈沖基線偏移量是從提取的刻畫(huà)閃爍脈沖特性的參數(shù)值中找到描述基線水平的量得到。[0016]優(yōu)選的，在上述數(shù)字化閃爍脈沖的基線校正方法中，所述步驟(2)中對(duì)所得到的各個(gè)閃爍脈沖的基線偏移量進(jìn)行分析的方法為均值計(jì)算或統(tǒng)計(jì)分析。[0017]一種數(shù)字化閃爍脈沖的基線校正系統(tǒng)，其包括:[0018]數(shù)字化采樣模塊，用于使用多閾值電壓采樣方法對(duì)閃爍脈沖進(jìn)行時(shí)間軸向采樣，獲取閃爍脈沖的數(shù)字化采樣點(diǎn)；[0019]基線偏移計(jì)算模塊，用于重建閃爍脈沖波形，辨識(shí)模型參數(shù)，獲得閃爍脈沖的基線漂移量，并利用統(tǒng)計(jì)分布計(jì)算閃爍脈沖的基線漂移均值；[0020]基線校正模塊，用于對(duì)閃爍脈沖進(jìn)行基線校正，還原閃爍脈沖的原始數(shù)據(jù)信息。[0021]優(yōu)選的，在上述數(shù)字化閃爍脈沖的基線校正系統(tǒng)中，所述數(shù)字化采樣模塊包括閾值電壓設(shè)置模塊、閾值甄別器模塊和時(shí)間標(biāo)記模塊，其中，[0022]閾值電壓設(shè)定模塊用于設(shè)定閾值參考電壓，并將閾值參考電壓送到閾值甄別器模塊和時(shí)間標(biāo)記模塊；[0023]閾值甄別器模塊用于比較閃爍脈沖閾值電壓與閾值參考電壓之間的大小關(guān)系，并在閃爍脈沖電壓穿過(guò)閾值參考電壓時(shí)產(chǎn)生邏輯脈沖，并將產(chǎn)生的邏輯脈沖送到時(shí)間標(biāo)記模塊進(jìn)行時(shí)間打標(biāo)；[0024]時(shí)間標(biāo)記模塊用于對(duì)閾值甄別器模塊輸出的邏輯脈沖進(jìn)行時(shí)間標(biāo)記，并將所得的時(shí)間戳與其相應(yīng)的閾值參考電壓組成時(shí)間-閾值采樣點(diǎn)并傳送到基線偏移計(jì)算模塊。[0025]優(yōu)選的，在上述數(shù)字化閃爍脈沖的基線校正系統(tǒng)中，所述基線偏移計(jì)算模塊包括事件堆積剔除模塊、脈沖重建模塊和基線偏移量計(jì)算模塊，其中，[0026]事件堆積剔除模塊用于鑒別及剔除閃爍脈沖中的堆積事件；[0027]脈沖重建模塊用于重建所述閃爍脈沖波形，辨識(shí)模型參數(shù)，并將重建參數(shù)值傳送到基線偏移量計(jì)算模塊；[0028]基線偏移量計(jì)算模塊根據(jù)脈沖重建模塊獲取的重建參數(shù)計(jì)算閃爍脈沖的基線偏移量，然后對(duì)一段時(shí)間范圍內(nèi)的基線偏移量進(jìn)行統(tǒng)計(jì)直方圖分析，獲得閃爍脈沖的平均基線偏移量并傳送到基線校正模塊。[0029]從上述技術(shù)方案可以看出，本發(fā)明實(shí)施例的數(shù)字化閃爍脈沖的基線校正方法通過(guò)對(duì)閃爍脈沖進(jìn)行多閾值電壓采樣，利用閃爍脈沖的先驗(yàn)知識(shí)，運(yùn)用創(chuàng)新的數(shù)字信號(hào)處理算法，對(duì)由探測(cè)器漏電流、脈沖拖尾及噪聲干擾等引起的基線漂移進(jìn)行有效、準(zhǔn)確和快速地自適應(yīng)校正，同時(shí)提高閃爍脈沖數(shù)據(jù)測(cè)量結(jié)果的信噪比和數(shù)據(jù)獲得系統(tǒng)的穩(wěn)定性?！緦＠綀D】【附圖說(shuō)明】[0030]為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的有關(guān)本發(fā)明的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。[0031]圖1為現(xiàn)有技術(shù)中常見(jiàn)的閃爍脈沖信號(hào)的示意圖；[0032]圖2為本發(fā)明數(shù)字化閃爍脈沖基線校正方法的流程圖；[0033]圖3為本發(fā)明數(shù)字化閃爍脈沖基線校正方法中采用統(tǒng)計(jì)分布方法對(duì)基線偏移值進(jìn)行分析的結(jié)果圖；[0034]圖4為本發(fā)明數(shù)字化閃爍脈沖基線校正方法對(duì)閃爍脈沖基線正向漂移進(jìn)行校正的效果圖。[0035]圖5為本發(fā)明數(shù)字化閃爍脈沖基線校正方法中采用4閾值MVT采樣方法對(duì)由LYS0/PMT探測(cè)器輸出閃爍脈沖進(jìn)行采樣及脈沖形狀擬合的示意圖；[0036]圖6為本發(fā)明數(shù)字化閃爍脈沖基線校正方法中采用4閾值MVT采樣方法對(duì)由LYSO/SiPM探測(cè)器輸出閃爍脈沖進(jìn)行采樣及脈沖形狀擬合的示意圖；[0037]圖7為本發(fā)明數(shù)字化閃爍脈沖基線校正系統(tǒng)的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖；[0038]圖8為本發(fā)明對(duì)能量分辨率的效果圖，其中，8Ca)為未使用本發(fā)明獲得的能量分辨率的效果圖，8(b)為使用本發(fā)明獲得的能量分辨率的效果圖?！揪唧w實(shí)施方式】[0039]本發(fā)明公開(kāi)了一種數(shù)字化閃爍脈沖的基線校正方法及系統(tǒng)，用于解決高能物理粒子探測(cè)領(lǐng)域及醫(yī)療影像設(shè)備中前端電子學(xué)系統(tǒng)基線漂移問(wèn)題。該方法通過(guò)對(duì)閃爍脈沖進(jìn)行多閾值電壓采樣，利用閃爍脈沖的先驗(yàn)知識(shí)，運(yùn)用創(chuàng)新的數(shù)字信號(hào)處理算法，對(duì)由探測(cè)器漏電流、脈沖拖尾及噪聲干擾等引起的基線漂移進(jìn)行有效、準(zhǔn)確和快速地自適應(yīng)校正，同時(shí)提高閃爍脈沖數(shù)據(jù)測(cè)量結(jié)果的信噪比和數(shù)據(jù)獲得系統(tǒng)的穩(wěn)定性。[0040]下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行詳細(xì)地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。[0041]如圖2所示，本發(fā)明公開(kāi)的數(shù)字化閃爍脈沖的基線校正方法包括如下步驟:[0042](I)使用多閾值電壓采樣法，對(duì)閃爍脈沖信號(hào)進(jìn)行時(shí)間軸向采樣，獲取閃爍脈沖波形的數(shù)字化采樣點(diǎn)；[0043](2)選取各個(gè)閃爍脈沖相應(yīng)的數(shù)字化采樣點(diǎn)，根據(jù)閃爍脈沖的形狀特性，重建脈沖波形并辨識(shí)模型參數(shù)，據(jù)此獲得各個(gè)閃爍脈沖的基線漂移量，然后對(duì)所得的基線漂移量進(jìn)行分析，獲得基線漂移均值；[0044](3)將重建后的閃爍脈沖波形減去步驟(2)獲得的基線漂移均值，完成基線校正。[0045]其中，所述步驟(I)中多閾值電壓采樣方法具體為:預(yù)先設(shè)置若干閾值參考電壓，記錄閃爍脈沖電壓幅度達(dá)到各個(gè)閾值電壓的具體時(shí)刻，每個(gè)電壓閾值和對(duì)應(yīng)的觸發(fā)時(shí)間即組成一個(gè)時(shí)間-閾值米樣點(diǎn)。[0046]其中，所述步驟(2)中閃爍脈沖的形狀特性根據(jù)所耦合的閃爍晶體和光電轉(zhuǎn)換器件的類(lèi)別進(jìn)行建模獲得，即根據(jù)所耦合的閃爍晶體和光電轉(zhuǎn)換器件類(lèi)別，獲取相應(yīng)的閃爍脈沖形狀特性模型。[0047]其中，所述步驟(2)中辨識(shí)模型參數(shù)是指根據(jù)閃爍脈沖的形狀特性，對(duì)所選取閃爍脈沖波形的時(shí)間-閾值采樣點(diǎn)進(jìn)行函數(shù)逼近得到特征數(shù)學(xué)模型，并從中提取刻畫(huà)閃爍脈沖特性的參數(shù)值。[0048]其中，所述步驟(2)中閃爍脈沖基線偏移量是從提取的刻畫(huà)閃爍脈沖特性的參數(shù)值中找到描述基線水平的量得到。[0049]其中，所述步驟(2)中對(duì)所得到的各個(gè)閃爍脈沖的基線偏移量進(jìn)行分析的方法為均值計(jì)算或統(tǒng)計(jì)分析。[0050]其中，為了減少噪聲、脈沖形狀擬合誤差以及事件堆積等影響因素對(duì)基線漂移量計(jì)算過(guò)程的干擾，在進(jìn)行基線校正之前有必要對(duì)多個(gè)基線值進(jìn)行分析，常見(jiàn)的方法包括:均值計(jì)算、統(tǒng)計(jì)分析等。如圖3所示，圖3為本發(fā)明數(shù)字化閃爍脈沖基線校正方法中采用統(tǒng)計(jì)分析方法對(duì)基線偏移值進(jìn)行分析的結(jié)果圖。[0051]圖4為本發(fā)明數(shù)字化閃爍脈沖基線校正方法對(duì)閃爍脈沖基線正向漂移進(jìn)行校正的效果圖。其中，實(shí)線11為用示波器對(duì)LYS0/PMT探測(cè)器輸出的閃爍脈沖進(jìn)行采樣重建得到的波形；虛線12為在未采用本發(fā)明提出的基線校正方法下，根據(jù)閃爍脈沖模型擬合得到的波形，可以看出擬合后的波形有明顯的基線偏移情況；虛線13為采用本發(fā)明提出的基線校正方法下，根據(jù)閃爍脈沖模型擬合得到的波形，可以看出此時(shí)基線已無(wú)漂移情況。[0052]由于閃爍晶體和光電轉(zhuǎn)換器件的特性不同，其多種類(lèi)別形式的耦合會(huì)有不同的脈沖形狀表征形式。下面就具體的方法進(jìn)行脈沖形狀表征形式的闡釋。[0053]方法例一:[0054]SlOl:根據(jù)所耦合的閃爍晶體和光電轉(zhuǎn)換器件類(lèi)別，獲取相應(yīng)的閃爍脈沖形狀特性模型；[0055]對(duì)于LYSO閃爍晶體與線性光電倍增管PMT進(jìn)行耦合的情況下，在不考慮噪聲影響下，閃爍脈沖形狀的數(shù)學(xué)模型可考慮成由直線上升的上升沿和指數(shù)衰減的下降沿組成，其表達(dá)式如下所示:【權(quán)利要求】1.一種數(shù)字化閃爍脈沖的基線校正方法，其特征在于:所述基線校正方法步驟如下:(1)使用多閾值電壓采樣法，對(duì)閃爍脈沖信號(hào)進(jìn)行時(shí)間軸向采樣，獲取閃爍脈沖波形的數(shù)字化采樣點(diǎn)；(2)選取各個(gè)閃爍脈沖相應(yīng)的數(shù)字化采樣點(diǎn)，根據(jù)閃爍脈沖的形狀特性，重建脈沖波形并辨識(shí)模型參數(shù)，據(jù)此獲得各個(gè)閃爍脈沖的基線漂移量，然后對(duì)所得的基線漂移量進(jìn)行分析，獲得基線漂移均值；(3)將重建后的閃爍脈沖波形減去步驟(2)獲得的基線漂移均值，完成基線校正。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)字化閃爍脈沖的基線校正方法，其特征在于:所述步驟(1)中多閾值電壓采樣方法具體為:預(yù)先設(shè)置若干閾值參考電壓，記錄閃爍脈沖電壓幅度達(dá)到各個(gè)閾值電壓的具體時(shí)刻，每個(gè)電壓閾值和對(duì)應(yīng)的觸發(fā)時(shí)間即組成一個(gè)時(shí)間_閾值米樣點(diǎn)。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)字化閃爍脈沖的基線校正方法，其特征在于:所述步驟(2)中閃爍脈沖的形狀特性根據(jù)所耦合的閃爍晶體和光電轉(zhuǎn)換器件的類(lèi)別進(jìn)行建模獲得。4.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一所述的數(shù)字化閃爍脈沖的基線校正方法，其特征在于:所述步驟(2)中辨識(shí)模型參數(shù)是指根據(jù)閃爍脈沖的形狀特性，對(duì)所選取閃爍脈沖波形的時(shí)間-閾值采樣點(diǎn)進(jìn)行函數(shù)逼近得到特征數(shù)學(xué)模型，并從中提取刻畫(huà)閃爍脈沖特性的參數(shù)值。5.根據(jù)權(quán)利要求4任一所述的數(shù)字化閃爍脈沖的基線校正方法，其特征在于:所述步驟(2)中閃爍脈沖基線偏移量是從提取的刻畫(huà)閃爍脈沖特性的參數(shù)值中找到描述基線水平的量得到。6.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一所述的數(shù)字化閃爍脈沖的基線校正方法，其特征在于:所述步驟(2)中對(duì)所得到的各個(gè)閃爍脈沖的基線偏移量進(jìn)行分析的方法為均值計(jì)算或統(tǒng)計(jì)分析。7.一種數(shù)字化閃爍脈沖的基線校正系統(tǒng)，其特征在于:包括:數(shù)字化采樣模塊，用于使用多閾值電壓采樣方法對(duì)閃爍脈沖進(jìn)行時(shí)間軸向采樣，獲取閃爍脈沖的數(shù)字化采樣點(diǎn)；基線偏移計(jì)算模塊，用于重建閃爍脈沖波形，辨識(shí)模型參數(shù)，獲得閃爍脈沖的基線漂移量，并利用統(tǒng)計(jì)分布計(jì)算閃爍脈沖的基線漂移均值；基線校正模塊，用于對(duì)閃爍脈沖進(jìn)行基線校正，還原閃爍脈沖的原始數(shù)據(jù)信息。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的數(shù)字化閃爍脈沖的基線校正系統(tǒng)，其特征在于:所述數(shù)字化米樣模塊包括閾值電壓設(shè)置模塊、閾值K別器模塊和時(shí)間標(biāo)記模塊，其中，閾值電壓設(shè)定模塊用于設(shè)定閾值參考電壓，并將閾值參考電壓送到閾值甄別器模塊和時(shí)間標(biāo)記模塊；閾值甄別器模塊用于比較閃爍脈沖閾值電壓與閾值參考電壓之間的大小關(guān)系，并在閃爍脈沖電壓穿過(guò)閾值參考電壓時(shí)產(chǎn)生邏輯脈沖，并將產(chǎn)生的邏輯脈沖送到時(shí)間標(biāo)記模塊進(jìn)行時(shí)間打標(biāo)；時(shí)間標(biāo)記模塊用于對(duì)閾值甄別器模塊輸出的邏輯脈沖進(jìn)行時(shí)間標(biāo)記，并將所得的時(shí)間戳與其相應(yīng)的閾值參考電壓組成時(shí)間-閾值采樣點(diǎn)并傳送到基線偏移計(jì)算模塊。9.根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的數(shù)字化閃爍脈沖的基線校正系統(tǒng)，其特征在于:所述基線偏移計(jì)算模塊包括事件堆積剔除模塊、脈沖重建模塊和基線偏移量計(jì)算模塊，其中，事件堆積剔除模塊用于鑒別及剔除閃爍脈沖中的堆積事件；脈沖重建模塊用于重建所述閃爍脈沖波形，辨識(shí)模型參數(shù)，并將重建參數(shù)值傳送到基線偏移量計(jì)算模塊；基線偏移量計(jì)算模塊根據(jù)脈沖重建模塊獲取的重建參數(shù)計(jì)算閃爍脈沖的基線偏移量，然后對(duì)一段時(shí)間范圍內(nèi)的基線偏移量進(jìn)行統(tǒng)計(jì)直方圖分析，獲得閃爍脈沖的平均基線偏移量并傳送到基線校正模塊?！疚臋n編號(hào)】G01T1/208GK103969675SQ201310045576【公開(kāi)日】2014年8月6日申請(qǐng)日期:2013年2月5日優(yōu)先權(quán)日:2013年2月5日【發(fā)明者】謝慶國(guó),陳源寶,朱俊,吳中毅申請(qǐng)人:蘇州瑞派寧科技有限公司