專利名稱：Vcm馬達(dá)性能測試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種測試系統(tǒng)，具體是涉及一種VCM馬達(dá)性能測試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
VCM馬達(dá)是Vioce Coil Motor首位英文字母的縮寫，俗稱音圈馬達(dá)或音圈電機，VCM馬達(dá)因占用電路板面積小，可靠性高，能支持大功率等特點，而廣泛應(yīng)用于手機變焦和硬盤的磁臂驅(qū)動中，VCM馬達(dá)是攝像頭模組中的重要組成部分，它不僅決定了攝像頭模組的自動對焦(AF)能力，同時也是判斷一個攝像頭模組性能優(yōu)異的關(guān)鍵部件，但是，在攝像頭模組量產(chǎn)的過程中，經(jīng)常出現(xiàn)大量VCM作動不良的現(xiàn)象，導(dǎo)致攝像頭模組無法正常進(jìn)行自動對焦，且解析力、近焦、遠(yuǎn)焦等測試均受影響，其主要原因是VCM馬達(dá)個體特性不良，因此，需要預(yù)先對VCM馬達(dá)的性能進(jìn)行測試，以排除不良VCM單品流入產(chǎn)品量產(chǎn)過程中，確保攝像頭模組的產(chǎn)品質(zhì)量，但是，目前還沒有專門用于VCM馬達(dá)性能測試的測試裝置和有效的測試方法，簡單、方便、準(zhǔn)確的對VCM的性能進(jìn)行檢測。
發(fā)明內(nèi)容為了解決上述技術(shù)問題，本實用新型提出一種VCM馬達(dá)性能測試系統(tǒng)，能夠簡單、方便、準(zhǔn)備的對VCM馬達(dá)的啟動電流及線性回落特性進(jìn)行測試評價，進(jìn)而評價該VCM馬達(dá)是否符合要求。本實用新型的技術(shù)方案是這樣實現(xiàn)的:一種VCM馬達(dá)性能測試系統(tǒng)，包括VCM馬達(dá)測試夾具、VCM驅(qū)動模塊、測試專用PC機、激光控制器、激光位置測試儀和電源模塊，所述電源模塊分別與所述激光控制器和待測VCM馬達(dá)相連接，所述激光控制器與所述激光位置測試儀相連接，所述激光位置測試儀通過所述VCM馬達(dá)測試夾具與待測VCM馬達(dá)相連接，所述VCM驅(qū)動模塊分別與待測VCM馬達(dá)和測試專用PC機相連接，所述VCM驅(qū)動模塊能夠驅(qū)動并控制待測VCM馬達(dá)的電流，并能夠與所述測試專用PC機通信，所述測試專用PC機具有可視化界面，且能夠與所述VCM驅(qū)動模塊通信，所述激光位置測試儀能夠檢測待測VCM馬達(dá)不同驅(qū)動電流下的位移數(shù)據(jù)，并將該位移數(shù)據(jù)傳輸給所述激光控制器，所述激光控制器能夠處理該位移數(shù)據(jù)，并傳輸給所述測試專用PC機，所述電源模塊能夠為所述激光控制器和待測VCM馬達(dá)提供電源。作為本實用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述VCM驅(qū)動模塊與所述測試專用PC機通過USB通信接口相連接。作為本實用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述激光控制器與所述測試專用PC機通過串行通信接口相連接。本實用新型的有益效果是:本實用新型提供一種VCM馬達(dá)性能測試系統(tǒng)，通過VCM驅(qū)動模塊驅(qū)動并控制待測VCM馬達(dá)的電流，并將驅(qū)動電流數(shù)據(jù)傳輸給測試專用PC機，然后，通過激光位置測試儀檢測VCM馬達(dá)在不同驅(qū)動電流下的位移，并通過激光控制器處理后將該位移數(shù)據(jù)傳輸給測試專用PC機，再通過測試專用PC機對不同驅(qū)動電流下待測VCM馬達(dá)的位移數(shù)據(jù)進(jìn)行分析計算，能夠得到待測VCM馬達(dá)的啟動電流和線性回歸特性，從而實現(xiàn)評價該VCM馬達(dá)是否符合要求，特別的，VCM驅(qū)動模塊與測試專用PC機通過USB通信接口相連接，激光控制器與測試專用PC機通過串行通信接口相連接。

圖1為本實用新型結(jié)構(gòu)原理示意圖。
具體實施方式
如圖1所示，一種VCM馬達(dá)性能測試系統(tǒng)，包括VCM馬達(dá)測試夾具、VCM驅(qū)動模塊、測試專用PC機、激光控制器、激光位置測試儀和電源模塊，所述電源模塊分別與所述激光控制器和待測VCM馬達(dá)相連接，所述激光控制器與所述激光位置測試儀相連接，所述激光位置測試儀通過所述VCM馬達(dá)測試夾具與待測VCM馬達(dá)相連接，所述VCM驅(qū)動模塊分別與待測VCM馬達(dá)和測試專用PC機相連接，所述VCM驅(qū)動模塊能夠驅(qū)動并控制待測VCM馬達(dá)的電流，并能夠與所述測試專用PC機通信，所述測試專用PC機具有可視化界面，且能夠與所述VCM驅(qū)動模塊通信，所述激光位置測試儀能夠檢測待測VCM馬達(dá)不同驅(qū)動電流下的位移數(shù)據(jù)，并將該位移數(shù)據(jù)傳輸給所述激光控制器，所述激光控制器能夠處理該位移數(shù)據(jù)，并傳輸給所述測試專用PC機，所述電源模塊能夠為所述激光控制器和待測VCM馬達(dá)提供電源，這樣，首先，通過VCM驅(qū)動模塊驅(qū)動并控制待測VCM馬達(dá)的電流，并將驅(qū)動電流數(shù)據(jù)傳輸給測試專用PC機，然后，通過激光位置測試儀檢測VCM馬達(dá)在不同驅(qū)動電流下的位移，并通過激光控制器處理后將該位移數(shù)據(jù)傳輸給測試專用PC機，再通過測試專用PC機對不同驅(qū)動電流下待測VCM馬達(dá)的位移數(shù)據(jù)進(jìn)行分析計算，能夠得到待測VCM馬達(dá)的啟動電流和線性回歸特性，從而實現(xiàn)評價該VCM馬達(dá)是否符合要求。優(yōu)選的，所述VCM驅(qū)動模塊與所述測試專用PC機通過USB通信接口相連接。優(yōu)選的，所述激光控制器與所述測試專用PC機通過串行通信接口相連接。本發(fā)明VCM馬達(dá)性能測試系統(tǒng)的測試方法，包括如下步驟:a、通過VCM驅(qū)動模塊量化控制待測VCM馬達(dá)的驅(qū)動電流，并將驅(qū)動電流數(shù)據(jù)傳輸給測試專用PC機；b、通過激光位置測試儀檢測待測VCM馬達(dá)在不同驅(qū)動電流下的位移數(shù)據(jù)，并通過激光控制器處理后將該位移數(shù)據(jù)傳輸給測試專用PC機；C、再通過測試專用PC機對不同驅(qū)動電流下待測VCM馬達(dá)的位移數(shù)據(jù)進(jìn)行分析計算，得到待測VCM馬達(dá)的啟動電流和線性回歸特性。以上實施例是參照附圖，對本實用新型的優(yōu)選實施例進(jìn)行詳細(xì)說明，本領(lǐng)域的技術(shù)人員通過對上述實施例進(jìn)行各種形式上的修改或變更，但不背離本實用新型的實質(zhì)的情況下，都落在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種VCM馬達(dá)性能測試系統(tǒng)，其特征在于:包括VCM馬達(dá)測試夾具、VCM驅(qū)動模塊、測試專用PC機、激光控制器、激光位置測試儀和電源模塊，所述電源模塊分別與所述激光控制器和待測VCM馬達(dá)相連接，所述激光控制器與所述激光位置測試儀相連接，所述激光位置測試儀通過所述VCM馬達(dá)測試夾具與待測VCM馬達(dá)相連接，所述VCM驅(qū)動模塊分別與待測VCM馬達(dá)和測試專用PC機相連接，所述VCM驅(qū)動模塊能夠驅(qū)動并控制待測VCM馬達(dá)的電流，并能夠與所述測試專用PC機通信，所述測試專用PC機具有可視化界面，且能夠與所述VCM驅(qū)動模塊通信，所述激光位置測試儀能夠檢測待測VCM馬達(dá)不同驅(qū)動電流下的位移數(shù)據(jù)，并將該位移數(shù)據(jù)傳輸給所述激光控制器，所述激光控制器能夠處理該位移數(shù)據(jù)，并傳輸給所述測試專用PC機，所述電源模塊能夠為所述激光控制器和待測VCM馬達(dá)提供電源。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的VCM馬達(dá)性能測試系統(tǒng)，其特征在于:所述VCM驅(qū)動模塊與所述測試專用PC機通過USB通信接口相連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的VCM馬達(dá)性能測試系統(tǒng)，其特征在于:所述激光控制器與所述測試專用PC機通過串行 通信接口相連接。
專利摘要本實用新型公開了一種VCM馬達(dá)性能測試系統(tǒng)，包括VCM馬達(dá)測試夾具、VCM驅(qū)動模塊、測試專用PC機、激光控制器、激光位置測試儀和電源模塊，VCM驅(qū)動模塊能夠驅(qū)動并控制待測VCM馬達(dá)的電流，并能夠與測試專用PC機通信，測試專用PC機具有可視化界面，且能夠與VCM驅(qū)動模塊通信，激光位置測試儀能夠檢測待測VCM馬達(dá)不同驅(qū)動電流下的位移數(shù)據(jù)，并將該位移數(shù)據(jù)傳輸給激光控制器，激光控制器能夠處理該位移數(shù)據(jù)，并傳輸給測試專用PC機，電源模塊能夠為激光控制器和待測VCM馬達(dá)提供電源，本實用新型能夠簡單、方便、準(zhǔn)備的對VCM馬達(dá)的啟動電流及線性回落特性進(jìn)行測試評價，進(jìn)而評價該VCM馬達(dá)是否符合要求。
文檔編號G01R31/34GK203084166SQ20122073930
公開日2013年7月24日 申請日期2012年12月28日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月28日
發(fā)明者鐘岳良, 葉偉建, 陳丙青 申請人:昆山丘鈦微電子科技有限公司