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一種樣品杯的制作方法

文檔序號:6153834閱讀:200來源:國知局
專利名稱:一種樣品杯的制作方法
技術領域
本實用新型涉及光譜分析領域,具體地說是一種用于X射線熒光光譜分析的可盛裝液體分析樣的樣品杯。
背景技術
X射線熒光光譜分析具有分析速度快、能分析各種狀態(tài)和各種形狀的樣品、非破壞性分析、分析元素范圍廣、分析精密度高、重現(xiàn)行好、可進行薄樣的組分和厚度分析、易于實現(xiàn)自動化及在線分析等特點。X射線熒光光譜分析適用于各種形狀樣的無機組分分析,在生產(chǎn)科研等各個領域的應用非常廣泛,作為一種重要的分析手段,目前已廣泛應用于電子和磁性材料、化學工業(yè)、陶瓷和水泥工業(yè)、鋼鐵工業(yè)、非鐵合金、地質礦產(chǎn)、石油和煤、環(huán)境等其他領域。目前,國內外X射線定量測定方法有:壓片法、熔片法、溶液法、合金法、鹵水法等其他制樣方法。對于不均勻樣品,不規(guī)則的技術、合金和陶瓷等,或者某些固體樣品的標樣難以制備時,溶液法是一種簡便有效的制樣方法。通常將液體樣品盛放在底部帶有X射線熒光光譜分析的專用膜樣品杯內,此樣品杯是由內外兩層塑料環(huán)組成,此X射線熒光光譜分析專用膜套在此兩層塑料環(huán)之間。分析時,通常選用的是酸溶法,而該方法的分析液具有一定酸度,在分析過程中,隨著的增加,有少量液體從兩層塑料環(huán)之間慢慢地釋放出,進而損壞分析儀器,造成成本加大,并給后期工作帶來不便。那么,如何提供一種樣品杯,成為亟待解決的技術問題。

實用新型內容本實用新型要解決的技術問題是如何提供一種樣品杯,能夠避免分析儀器被滲漏的分析液腐蝕損壞,而導致成本增大,并給后期工作帶來不便等問題。為解決上述技術問題,本實用新型提供一種樣品杯,包括:杯蓋、第一環(huán)狀杯體、第二環(huán)狀杯體、第三環(huán)狀杯體、第一薄膜、第二薄膜;其中,所述杯蓋覆蓋于所述第一環(huán)狀杯體上方;所述第一環(huán)狀杯體通過所述第二環(huán)狀杯體與所述第三環(huán)狀杯體連接;所述第一薄膜設置于所述第一環(huán)狀杯體與所述第二環(huán)狀杯體之間;所述第二薄膜設置于所述第二環(huán)狀杯體與所述第三環(huán)狀杯體之間,且所述第二薄膜位于所述第一薄膜的下方。優(yōu)選地,所述第一環(huán)狀杯體套設于所述第二環(huán)狀杯體內。優(yōu)選地,所述第二環(huán)狀杯體套設于所述第三環(huán)狀杯體內。優(yōu)選地,所述第一環(huán)狀杯體的高度大于所述第二環(huán)狀杯體的高度。優(yōu)選地,所述第二環(huán)狀杯體的高度大于所述第三環(huán)狀杯體的高度。優(yōu)選地,所述第一環(huán)狀杯體、第二環(huán)狀杯體和/或第三環(huán)狀杯體底部位于同一水平面上。本實用新型提供的一種樣品杯,將上述樣品杯的各個部件組裝在一起,移取一定體積的分析液于此樣品杯內,并正確放置光譜儀內。當分析液從第一環(huán)狀杯體和第二環(huán)狀杯體之間滲漏或者在所述第一薄膜損壞的情況下分析液滲漏時,由于在所述第二環(huán)狀杯體與所述第三環(huán)狀杯體之間還設置有第二薄膜,且所述第二薄膜位于所述第一薄膜下方,所以,滲漏的分析液被所述第二薄膜阻擋和/或吸收,進而防止了分析液對分析儀器的腐蝕損毀,降低了成本,為后期工作提供的便利。

為了更清楚地說明本實用新型實施例和現(xiàn)有技術中的技術方案,下面將對實施例和現(xiàn)有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例,對于本領域普通技術人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖1是本實用新型提供的一種樣品杯的結構示意圖;圖2是本實用新型提供的一種樣品杯結構分解示意圖。
具體實施方式
下面將接合本實用新型實施例中的附圖,對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例,而不是全部的實施例?;诒緦嵱眯滦椭械膶嵤├?,本領域普通技術人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本實用新型保護的范圍。請參考圖1所示,圖1是本實用新型提供的一種樣品杯結構示意圖。本實用新型提供一種樣品杯,包括:杯蓋1、第一環(huán)狀杯體2、第二環(huán)狀杯體3、第三環(huán)狀杯體4、第一薄膜5、第二薄膜6 ;其中,所述杯蓋I覆蓋于所述第一環(huán)狀杯體2上方;所述第一環(huán)狀杯體2通過所述第二環(huán)狀杯體3與所述第三環(huán)狀杯體4連接;所述第一薄膜5設置于所述第一環(huán)狀杯體2與所述第二環(huán)狀杯體3之間;所述第二薄膜6設置于所述第二環(huán)狀杯體3與所述第三環(huán)狀杯體4之間,且所述第二薄膜6位于所述第一薄膜5的下方。將上述樣品杯的各個部件組裝在一起,移取一定體積的分析液于此樣品杯內,并正確放置光譜儀內。當分析液從第一環(huán)狀杯體2和第二環(huán)狀杯體3之間滲漏或者在所述第一薄膜5損壞的情況下分析液滲漏時,由于在所述第二環(huán)狀杯體3與所述第三環(huán)狀杯體4之間還設置有第二薄膜6,且所述第二薄膜6位于所述第一薄膜5下方,所以,滲漏的分析液被所述第二薄膜6阻擋和/或吸收,進而防止了分析液對分析儀器的腐蝕損毀,降低了成本,為后期工作提供的便利。請參考圖2所示,圖2是本實用新型提供的一種樣品杯結構分解示意圖。本實用新型提供的一種樣品杯,樣品杯由樣品蓋1、第一環(huán)狀杯體2、第二環(huán)狀杯體3、第三環(huán)狀杯體4,第一薄膜5、第二薄膜6,X射線熒光光譜分析第一薄膜5位于第一環(huán)狀杯體2和第二環(huán)狀杯體3之間,所述第二薄膜6位于第二環(huán)狀杯體3與第三環(huán)狀杯體4之間,且所述第二薄膜6位于所述第一薄膜5的下方。第一環(huán)狀杯體2的套設于所述第二環(huán)狀杯體3內;所述第二環(huán)狀杯體3套設于所述第三環(huán)狀杯體4內。第一環(huán)狀杯體2、第二環(huán)狀杯體3和第三環(huán)狀杯體4也可以依次層層套設,只要保證第二薄膜6位于所述第一薄膜5下方,能夠阻擋或者吸收從上述第一薄膜5滲漏的分析液即可,至于第一環(huán)狀杯體2、第二環(huán)狀杯體3和第三環(huán)狀杯體4的組裝方式并不限于上述。為了保證第一薄膜5能夠很好的固定于所述第一環(huán)狀杯體2和第二環(huán)狀杯體3之間,可以將所述第一環(huán)狀杯體2的高度設置為高于所述第二環(huán)狀杯體3的高度,從而在第一薄膜5在第一環(huán)狀杯體2和第二環(huán)狀杯體3套設時,能夠保證良好的接合和固定,進一步避免了分析液的滲漏。同樣,所述第二環(huán)狀杯體3的高度也可以大于所述第三環(huán)狀杯體4的高度,進而使得第二薄膜6在所述第二環(huán)狀杯體3和第三環(huán)狀杯體4之間能夠保持良好的接合與固定,進一步避免了分析液的滲漏。另外,本實用新型提供的一種樣品杯中的所述第一環(huán)狀杯體2、第二環(huán)狀杯體3和/或第三環(huán)狀杯體4底部可以位于同一水平面上。從而使得在操作時,更加方便。以上所述僅為本實用新型提供的一種樣品杯的優(yōu)選實施方式,并不構成對本實用新型保護范圍的限定。該實施例中的部件數(shù)量并不局限于實施例中所采用的方式,任何在本實用新型的精神和原則之內所作的任何修改、等同替換和改進等,均應包含在本實用新型的權利要求保護范圍之內。
權利要求1.一種樣品杯,其特征在于,包括:杯蓋、第一環(huán)狀杯體、第二環(huán)狀杯體、第三環(huán)狀杯體、第一薄膜、第二薄膜;其中,所述杯蓋覆蓋于所述第一環(huán)狀杯體上方;所述第一環(huán)狀杯體通過所述第二環(huán)狀杯體與所述第三環(huán)狀杯體連接;所述第一薄膜設置于所述第一環(huán)狀杯體與所述第二環(huán)狀杯體之間;所述第二薄膜設置于所述第二環(huán)狀杯體與所述第三環(huán)狀杯體之間,且所述第二薄膜位于所述第一薄膜的下方。
2.根據(jù)權利要求1所述的樣品杯,其特征在于,所述第一環(huán)狀杯體套設于所述第二環(huán)狀杯體內。
3.根據(jù)權利要求2所述的樣品杯,其特征在于,所述第二環(huán)狀杯體套設于所述第三環(huán)狀杯體內。
4.根據(jù)權利要求3所述的樣品杯,其特征在于,所述第一薄膜與所述第二薄膜疊放于同一水平面上。
5.根據(jù)權利要求4所述的樣品杯,其特征在于,所述第一環(huán)狀杯體的高度大于所述第二環(huán)狀杯體的高度。
6.根據(jù)權利要求5所述的樣品杯,其特征在于,所述第二環(huán)狀杯體的高度大于所述第三環(huán)狀杯體的高度。
7.根據(jù)權利要求6所述的樣品杯,其特征在于,所述第一環(huán)狀杯體、第二環(huán)狀杯體和/或第三環(huán)狀杯體的底部位于同一水平面上。
專利摘要本實用新型提供一種樣品杯,包括杯蓋、第一環(huán)狀杯體、第二環(huán)狀杯體、第三環(huán)狀杯體、第一薄膜、第二薄膜;其中,所述杯蓋覆蓋于所述第一環(huán)狀杯體上方;所述第一環(huán)狀杯體通過所述第二環(huán)狀杯體與所述第三環(huán)狀杯體連接;所述第一薄膜設置于所述第一環(huán)狀杯體與所述第二環(huán)狀杯體之間;所述第二薄膜設置于所述第二環(huán)狀杯體與所述第三環(huán)狀杯體之間,且所述第二薄膜位于所述第一薄膜的下方;由于在所述第二環(huán)狀杯體與所述第三環(huán)狀杯體之間還設置有第二薄膜,且所述第二薄膜位于所述第一薄膜下方,所以,滲漏的分析液能夠有效的被所述第二薄膜阻擋和/或吸收,進而防止了分析液對分析儀器的腐蝕損毀,降低了成本,為后期工作提供的便利。
文檔編號G01N23/223GK203069534SQ20122072139
公開日2013年7月17日 申請日期2012年12月24日 優(yōu)先權日2012年12月24日
發(fā)明者樊興濤, 蒯麗君, 詹秀春 申請人:國家地質實驗測試中心
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