專利名稱：一種反求測(cè)量時(shí)轉(zhuǎn)站用的轉(zhuǎn)站板的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種反求測(cè)量時(shí)轉(zhuǎn)站用的轉(zhuǎn)站板，屬于機(jī)械測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
反求工程(Reverse Engineering, RE),也稱逆向工程、反向工程,是指用一定的測(cè)量手段對(duì)實(shí)物或模型進(jìn)行測(cè)量，根據(jù)測(cè)量數(shù)據(jù)通過三維幾何建模方法重構(gòu)實(shí)物的CAD模型的過程，是一個(gè)從樣品生成產(chǎn)品數(shù)字化信息模型，并在此基礎(chǔ)上進(jìn)行產(chǎn)品設(shè)計(jì)開發(fā)及生產(chǎn)的全過程。在反求工程中需要通用測(cè)量?jī)x器獲得物體形貌上的幾何點(diǎn)云數(shù)據(jù)。有些測(cè)量設(shè)備需要在測(cè)量物體上貼上標(biāo)記點(diǎn)來建立點(diǎn)云的坐標(biāo)系，這些測(cè)量設(shè)備在測(cè)量時(shí)，可以移動(dòng)測(cè)量設(shè)備和被測(cè)物體。有些測(cè)量設(shè)備不需要在測(cè)量物體上貼上標(biāo)記點(diǎn)來建立測(cè)量坐標(biāo)系，而是通過測(cè)量設(shè)備所處的位置來建立一個(gè)測(cè)量坐標(biāo)系，測(cè)量物體及測(cè)量設(shè)備都不能移動(dòng)。這些測(cè)量設(shè)備在測(cè)量形貌復(fù)雜的對(duì)象時(shí)，不移動(dòng)測(cè)量設(shè)備時(shí)無法完成測(cè)量；當(dāng)測(cè)量對(duì)象 尺寸超出了測(cè)試儀器的測(cè)量范圍時(shí)，也需要在測(cè)量過程中移動(dòng)測(cè)量設(shè)備。要解決以上問題都需要移動(dòng)測(cè)試儀器，此時(shí)測(cè)量坐標(biāo)系也發(fā)生了變化。測(cè)量坐標(biāo)系會(huì)導(dǎo)致移動(dòng)前后測(cè)量的點(diǎn)云數(shù)據(jù)不在同一坐標(biāo)系下，從而使獲得的點(diǎn)云數(shù)據(jù)無法正確反映實(shí)際掃描對(duì)象的幾何形貌。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提供一種反求測(cè)量時(shí)轉(zhuǎn)站用的轉(zhuǎn)站板，以解決目前反求測(cè)量時(shí)由于測(cè)試儀器移動(dòng)導(dǎo)致測(cè)量的點(diǎn)云數(shù)據(jù)不在同一坐標(biāo)系下，最終造成無法正確反映實(shí)際掃描對(duì)象的幾何形貌問題。本實(shí)用新型為解決上述技術(shù)問題提供一種反求測(cè)量時(shí)轉(zhuǎn)站用的轉(zhuǎn)站板，該轉(zhuǎn)站板包括一基座，基座的上表面至少凸設(shè)有三個(gè)平臺(tái)，其中任何三個(gè)平臺(tái)不在同一個(gè)平面上，每個(gè)平臺(tái)上均設(shè)有孔，孔與所在平臺(tái)上表面的相交線為圓。所述的孔為通孔或者深度大于其直徑的盲孔。所述的每個(gè)平臺(tái)上的孔為兩個(gè)，且大小不同。本實(shí)用新型的有益效果是本實(shí)用新型通過在一基座上凸設(shè)至少三個(gè)平臺(tái)，并在每個(gè)平臺(tái)上均設(shè)有孔，固定轉(zhuǎn)站板的位置，利用測(cè)量?jī)x器測(cè)的測(cè)量?jī)x器移動(dòng)前后轉(zhuǎn)站板上圓孔的圓心坐標(biāo)，求出兩坐標(biāo)的偏差，從而能夠方便地實(shí)現(xiàn)反求測(cè)量?jī)x器的轉(zhuǎn)站過程，以實(shí)現(xiàn)不同測(cè)量坐標(biāo)系下的點(diǎn)云數(shù)據(jù)正確拼接的問題。運(yùn)用本實(shí)用新型轉(zhuǎn)站板能夠擴(kuò)大反求測(cè)量?jī)x器的使用范圍，每使用一次測(cè)量?jī)x器就擴(kuò)大一次測(cè)量?jī)x器的使用范圍，擴(kuò)大測(cè)量?jī)x器的測(cè)量對(duì)象，提高測(cè)量?jī)x器的使用效率。

圖I是本實(shí)用新型實(shí)施例中反求測(cè)量時(shí)轉(zhuǎn)站用的轉(zhuǎn)站板的軸測(cè)圖；圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例中反求測(cè)量時(shí)轉(zhuǎn)站用的轉(zhuǎn)站板的平面結(jié)構(gòu)圖。
具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式
作進(jìn)一步說明。本實(shí)用新型的反求測(cè)量時(shí)轉(zhuǎn)站用的轉(zhuǎn)站板，包括一基座1，基座的上表面凸設(shè)有五個(gè)平臺(tái)2，其中任何三平臺(tái)不在同一個(gè)平面，每個(gè)平臺(tái)上均設(shè)有大孔3和小孔4，大孔3和小孔4是圓柱形、圓錐形或者其它任何形狀，只要該孔與所在平臺(tái)上表面的相交線為圓，每個(gè)孔為通孔或者深度大于其直徑的盲孔，孔的具體大小和個(gè)數(shù)根據(jù)測(cè)量?jī)x器的類型決定。下面以一個(gè)特例來說明本實(shí)用新型的具體結(jié)構(gòu)，如圖I和圖2所示，本實(shí)用新型的反求測(cè)量時(shí)轉(zhuǎn)站用的轉(zhuǎn)站板的基座為一塊長(zhǎng)185mm，寬260mm，高20mm長(zhǎng)方形板，在該基座上凸起五個(gè)不同高度的平臺(tái)，高度分別為5mm, 8mm, 10mm, 15mm, 20mm,每個(gè)平臺(tái)上設(shè)計(jì)有兩個(gè)圓孔，一個(gè)直徑8mm，一個(gè)直徑為26mm，這兩個(gè)圓孔可以是通孔，也可以是深度大于其直徑的盲孔，這樣有利于不同直徑的測(cè)量工具(如探針類和反射球)的測(cè)量，這兩類圓孔加工后的表面粗糙度要求達(dá)到Ra為O. 3 μ m，這五個(gè)平臺(tái)表面都經(jīng)過研磨工序，保證其表面粗糙度為3. 2 μ m,從而保證每個(gè)圓孔與平臺(tái)表面相交線為圓。其工作原理過程如下I.把測(cè)量?jī)x器和掃描對(duì)象放置好以后，對(duì)掃描對(duì)象的幾何形貌進(jìn)行點(diǎn)云數(shù)據(jù)提取，獲得了掃描對(duì)象的部分點(diǎn)云數(shù)據(jù)Al。2.把轉(zhuǎn)站板放置在測(cè)量?jī)x器的使用范圍內(nèi)，在滿足轉(zhuǎn)站測(cè)量范圍的前提下盡量靠近測(cè)量?jī)x器，這樣能夠提高測(cè)量的精度。3.使用測(cè)量?jī)x器及測(cè)量軟件(具有測(cè)量點(diǎn)的功能)，測(cè)得轉(zhuǎn)站板上五個(gè)固定圓孔圓心的坐標(biāo)值，記為qn(xqn, yqn, zqn) (η = 1，2，. . .，5)。五個(gè)固定圓孔中,任何三個(gè)圓孔都不能在一個(gè)平面上。4.移動(dòng)測(cè)量?jī)x器的測(cè)量坐標(biāo)系，使用測(cè)量?jī)x器及測(cè)量軟件測(cè)量轉(zhuǎn)站板上相同的五個(gè)固定圓孔圓心的坐標(biāo)值，記為hn(xto, Yhn, Zhn) (η = 1，2，. . .，5)。5.兩次測(cè)量五個(gè)固定點(diǎn)坐標(biāo)值間有O偏差，Δ Xn, Δ yn, Δζη(η = I, 2. . . , 5)Δ χη = Xhn-Xqn, Δ yn = yta-yqn, Δ ζη = Zhn-Zqn6.移動(dòng)后新的測(cè)量坐標(biāo)系相對(duì)于移動(dòng)前的測(cè)量坐標(biāo)系有一個(gè)偏差Δχ, Ay, Δ ζ,其中令
權(quán)利要求1.一種反求測(cè)量時(shí)轉(zhuǎn)站用的轉(zhuǎn)站板，其特征在于該轉(zhuǎn)站板包括一基座，基座的上表面至少凸設(shè)有三個(gè)平臺(tái)，其中任何三個(gè)平臺(tái)不在同一個(gè)平面上，每個(gè)平臺(tái)上均設(shè)有孔，孔與所在平臺(tái)上表面的相交線為圓。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的反求測(cè)量時(shí)轉(zhuǎn)站用的轉(zhuǎn)站板，其特征在于所述的孔為通孔或深度大于其直徑的盲孔。
3.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的反求測(cè)量時(shí)轉(zhuǎn)站用的轉(zhuǎn)站板，其特征在于所述的每個(gè)平臺(tái)上的孔為兩個(gè)，且大小不同。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種反求測(cè)量時(shí)轉(zhuǎn)站用的轉(zhuǎn)站板，屬于機(jī)械測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域。本實(shí)用新型的反求測(cè)量時(shí)轉(zhuǎn)站用的轉(zhuǎn)站板包括一基座，該基座上凸設(shè)有至少三個(gè)不在同一個(gè)平面的平臺(tái)，每個(gè)平臺(tái)上均設(shè)有孔，孔與所在平臺(tái)上表面的相交線為圓。通過本實(shí)用新型的轉(zhuǎn)站板，能夠方便地實(shí)現(xiàn)反求測(cè)量?jī)x器的轉(zhuǎn)站過程，能夠很好地實(shí)現(xiàn)不同測(cè)量坐標(biāo)系下的點(diǎn)云數(shù)據(jù)正確拼接的問題。運(yùn)用本實(shí)用新型轉(zhuǎn)站板能夠擴(kuò)大反求測(cè)量?jī)x器的使用范圍，每使用一次測(cè)量?jī)x器就擴(kuò)大一次測(cè)量?jī)x器的使用范圍，擴(kuò)大測(cè)量?jī)x器的測(cè)量對(duì)象，提高測(cè)量?jī)x器的使用效率。
文檔編號(hào)G01B21/20GK202710025SQ20122038531
公開日2013年1月30日 申請(qǐng)日期2012年7月31日 優(yōu)先權(quán)日2012年7月31日
發(fā)明者余永健, 司東宏, 劉永剛, 李倫 申請(qǐng)人:河南科技大學(xué)