專利名稱：一種天線姿態(tài)測(cè)試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
一種天線姿態(tài)測(cè)試儀
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種天線測(cè)試設(shè)備，具體涉及一種天線姿態(tài)測(cè)試儀，屬于測(cè)試儀器技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
天線的方位、仰角等姿態(tài)是移動(dòng)通信的重要參數(shù)，其直接決定了天線信號(hào)的覆蓋范圍。因此，各大通信運(yùn)營(yíng)商需要經(jīng)常對(duì)天線進(jìn)行檢測(cè)，以防天線被大風(fēng)吹歪而影響信號(hào)的覆蓋。目前，運(yùn)營(yíng)商對(duì)天線的姿態(tài)進(jìn)行測(cè)量和調(diào)整還基本依靠傳統(tǒng)的人工方式，這樣不僅費(fèi)時(shí)費(fèi)力，而且調(diào)節(jié)精度難以控制，操作難度大。 因此，為避免上述問(wèn)題，確有必要提供一種新型的天線姿態(tài)測(cè)試儀，以克服現(xiàn)有技術(shù)中的所述缺陷。

實(shí)用新型內(nèi)容為解決上述問(wèn)題，本實(shí)用新型的目的在于提供一種使用方便、測(cè)量精度高的天線姿態(tài)測(cè)試儀。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采取的技術(shù)方案為一種天線姿態(tài)測(cè)試儀，其包括機(jī)架、粗瞄準(zhǔn)器、透鏡系統(tǒng)、電源系統(tǒng)、垂直微調(diào)系統(tǒng)、水平微調(diào)系統(tǒng)、顯示裝置、底座以及水準(zhǔn)器；其中，所述透鏡系統(tǒng)安裝于機(jī)架上；所述粗瞄準(zhǔn)器設(shè)置于透鏡系統(tǒng)頂部；所述水準(zhǔn)器設(shè)置于透鏡系統(tǒng)的底部；所述電源系統(tǒng)位于機(jī)架的一側(cè)；所述水平微調(diào)系統(tǒng)安裝于機(jī)架上；所述底座安裝于機(jī)架底部；所述垂直微調(diào)系統(tǒng)設(shè)置于機(jī)架和底座之間。本實(shí)用新型的天線姿態(tài)測(cè)試儀進(jìn)一步設(shè)置為于所述機(jī)架的頂部設(shè)有一拉手。本實(shí)用新型的天線姿態(tài)測(cè)試儀還可設(shè)置為于所述顯示裝置上設(shè)有鍵盤。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型具有如下有益效果本實(shí)用新型的天線姿態(tài)測(cè)試儀可以精確檢測(cè)天線的位置狀態(tài)，從而為調(diào)整過(guò)程提供參考依據(jù)調(diào)，其具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用方便、測(cè)量精度高且省事省力等諸多優(yōu)點(diǎn)。

圖I是本實(shí)用新型的天線姿態(tài)測(cè)試儀的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式請(qǐng)參閱說(shuō)明書附圖I所示，本實(shí)用新型為一種天線姿態(tài)測(cè)試儀，其由機(jī)架I、粗瞄準(zhǔn)器2、透鏡系統(tǒng)3、電源系統(tǒng)4、垂直微調(diào)系統(tǒng)5、水平微調(diào)系統(tǒng)6、顯示裝置7、底座8以及水準(zhǔn)器9等幾部分組成。其中，所述透鏡系統(tǒng)3安裝于機(jī)架I上。所述粗瞄準(zhǔn)器2設(shè)置于透鏡系統(tǒng)3頂部；所述水準(zhǔn)器9設(shè)置于透鏡系統(tǒng)3的底部。[0013]所述電源系統(tǒng)3位于機(jī)架I的一側(cè)，其為顯示裝置7供電。所述水平微調(diào)系統(tǒng)6安裝于機(jī)架I上，其用于調(diào)整設(shè)備的垂直位置。所述底座8安裝于機(jī)架I底部。所述垂直微調(diào)系統(tǒng)5設(shè)置于機(jī)架I和底座8之間，其用于調(diào)節(jié)調(diào)整設(shè)備的垂直位置。進(jìn)一步的，于所述機(jī)架I的頂部設(shè)有一拉手11。于所述顯示裝置7上設(shè)有鍵盤71。本實(shí)用新型的天線姿態(tài)測(cè)試儀的工作原理如下通過(guò)粗瞄準(zhǔn)器2來(lái)粗調(diào)該測(cè)試儀的位置，通過(guò)水準(zhǔn)器9配合垂直微調(diào)系統(tǒng)5、水平微調(diào)系統(tǒng)6來(lái)微調(diào)該測(cè)試儀的水平和垂直位置。通過(guò)透鏡系統(tǒng)3來(lái)觀察被測(cè)天線的姿態(tài)，并可將觀察參數(shù)顯示在顯示裝置7上。以上的具體實(shí)施方式
僅為本創(chuàng)作的較佳實(shí)施例，并不用以限制本創(chuàng)作，凡在本創(chuàng)作的精神及原則之內(nèi)所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本創(chuàng)作的保護(hù)范圍之內(nèi)。·
權(quán)利要求1.一種天線姿態(tài)測(cè)試儀，其特征在于包括機(jī)架、粗瞄準(zhǔn)器、透鏡系統(tǒng)、電源系統(tǒng)、垂直微調(diào)系統(tǒng)、水平微調(diào)系統(tǒng)、顯示裝置、底座以及水準(zhǔn)器；其中，所述透鏡系統(tǒng)安裝于機(jī)架上；所述粗瞄準(zhǔn)器設(shè)置于透鏡系統(tǒng)頂部；所述水準(zhǔn)器設(shè)置于透鏡系統(tǒng)的底部；所述電源系統(tǒng)位于機(jī)架的一側(cè)；所述水平微調(diào)系統(tǒng)安裝于機(jī)架上；所述底座安裝于機(jī)架底部；所述垂直微調(diào)系統(tǒng)設(shè)置于機(jī)架和底座之間。
2.如權(quán)利要求I所述的天線姿態(tài)測(cè)試儀，其特征在于于所述機(jī)架的頂部設(shè)有一拉手。
3.如權(quán)利要求2所述的天線姿態(tài)測(cè)試儀，其特征在于于所述顯示裝置上設(shè)有鍵盤。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種天線姿態(tài)測(cè)試儀，其包括機(jī)架、粗瞄準(zhǔn)器、透鏡系統(tǒng)、電源系統(tǒng)、垂直微調(diào)系統(tǒng)、水平微調(diào)系統(tǒng)、顯示裝置、底座以及水準(zhǔn)器；其中，所述透鏡系統(tǒng)安裝于機(jī)架上；所述粗瞄準(zhǔn)器設(shè)置于透鏡系統(tǒng)頂部；所述水準(zhǔn)器設(shè)置于透鏡系統(tǒng)的底部；所述電源系統(tǒng)位于機(jī)架的一側(cè)；所述水平微調(diào)系統(tǒng)安裝于機(jī)架上；所述底座安裝于機(jī)架底部；所述垂直微調(diào)系統(tǒng)設(shè)置于機(jī)架和底座之間。本實(shí)用新型的天線姿態(tài)測(cè)試儀可以精確檢測(cè)天線的位置狀態(tài)，從而為調(diào)整過(guò)程提供參考依據(jù)調(diào)，其具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用方便、測(cè)量精度高且省事省力等諸多優(yōu)點(diǎn)。
文檔編號(hào)G01B21/00GK202676153SQ20122034522
公開(kāi)日2013年1月16日 申請(qǐng)日期2012年7月17日 優(yōu)先權(quán)日2012年7月17日
發(fā)明者姚建英 申請(qǐng)人:北京同人惠達(dá)科技有限公司