專利名稱：一種導引頭測試控制盒指令預處理電路的制作方法
技術領域：
本新型屬于電路，具體涉及一種導引頭測試控制盒指令預處理電路。
背景技術：
導引頭測試控制盒上的控制桿輸出的兩自由度模擬信號(-5V 5V范圍)用于控制導引頭光軸在航向、俯仰方向的搜索速度。此信號的零位輸出誤差和滿幅值輸出誤差將直接影響搜索速度和穩(wěn)定漂移的測試結(jié)果。導引頭測試控制盒內(nèi)的兩自由度控制桿由于機械結(jié)構的限制以及對控制桿上電位器供電的電源輸出不對稱將導致零位誤差(控制桿回中時)和滿幅值輸出誤差(控制桿撥動到任意個極限位置時)嚴重超標。

發(fā)明內(nèi)容本新型針對現(xiàn)有技術的缺陷，提供一種零位誤差和滿幅值輸出誤差較小的導引頭測試控制盒指令預處理電路。發(fā)明內(nèi)容一種導引頭測試控制盒指令預處理電路，包括順次串接的信號調(diào)理電路、簡易零位閥值電路、彳目號放大電路和簡易限幅電路。如上所述的一種導引頭測試控制盒指令預處理電路，其中，所述的信號調(diào)理電路包括TI公司生產(chǎn)的0PA4277型號運算放大器，該運算放大器的正輸入端通過電阻R12與外部信號連通，運算放大器的負輸入端通過電阻R13與地連接，運算放大器的正電源與+12V連接，運算放大器的正電源還通過電容Cl與地連接，運算放大器的負電源與-12V連接，運算放大器的負電源還通過電容C2與地連接。運算放大器的輸出作為信號調(diào)理電路的輸出。如上所述的一種導引頭測試控制盒指令預處理電路，其中，所述的簡易零位閥值電路包括兩條輸入和輸出分別連接的支路，其中一條支路包括順次連接的電阻R15和二極管Dl，其中電阻R15與二極管Dl的負極連接，二極管Dl的負極還通過電阻R17與電源+12V連接；另一條支路包括順次連接的電阻R16和二極管D2，其中電阻R16與二極管D2的正極連接，二極管D2的正極還通過電阻R18與電源-12V連接。電阻R15和電阻R16的自由端連接后作為簡易零位閥值電路的輸入；二極管Dl的正極與二極管D2的負極連接后作為簡易零位閥值電路的輸出。如上所述的一種導引頭測試控制盒指令預處理電路，其中，所述的信號放大電路包括TI公司生產(chǎn)的0PA4277型號運算放大器，該運算放大器的正輸入端通過電阻R20與地連接，該運算放大器的負輸入端與電阻R19的連接，電阻R19的自由端作為信號放大電路的信號輸入端。該運算放大器的負輸入端還與可變電阻R21的滑動端和一個固定端均連接，可變電阻R21的另一個固定端與該運算放大器的輸出端連接。該運算放大器的輸出端作為信號放大電路的輸出端。如上所述的一種導引頭測試控制盒指令預處理電路，其中，所述的簡易限幅電路包括順次串接的電阻R42、二極管D7和二極管D8，其中電阻R42與二極管D7的正極連接，二極管D7的負極與二極管D8的負極連接，二極管D8的正極與地連接。電阻R42的自由端作為簡易限幅電路的輸入端，電阻R42與二極管D7的連接端作為簡易限幅電路的輸出端。如上所述的一種導引頭測試控制盒指令預處理電路，其中，所述的器件的數(shù)值如下表所示
序號編號__型號__^_
J_R15，R16 電阻__ΙΚΩ_
2_R17，R18 電阻__39ΚΩ_ 3Dl, D2 整流二極管 IN4001__
_4_R42電阻__510Ω_
5D7, D8 穩(wěn)壓二極管IN5229B反向工作電壓
___4. 3V_
_6_ R12，R13 電阻__IOK Ω_
I_Cl、C2 電容__O. Iyf_
_8_R14電阻__39ΚΩ_
_9_ R20電阻__5. IK Ω_
_R19電阻__IOK Ω_
II|r21 I可變電阻丨標稱值IOKΩ —
O本新型的效果是利用半導體二極管的單向?qū)ㄐ院头聪驌舸┨匦栽O計了一個簡易零位閥值環(huán)節(jié)和一個簡易限幅環(huán)節(jié)來消除零位誤差和滿幅值誤差。

圖I是本新型提供的導引頭測試控制盒指令預處理電路的電路圖。圖中1.信號調(diào)理電路、2.簡易零位閥值電路、3.信號放大電路、4.簡易限幅電路。
具體實施方式
如附圖I所示，一種導引頭測試控制盒指令預處理電路，包括順次串接的信號調(diào)理電路I、簡易零位閥值電路2、信號放大電路3和簡易限幅電路4。其中信號調(diào)理電路I包括TI公司生產(chǎn)的0PA4277型號運算放大器，該運算放大器的正輸入端通過電阻R12與外部信號連通，運算放大器的負輸入端通過電阻R13與地連接，運算放大器的正電源與+12V連接，運算放大器的正電源還通過電容Cl與地連接，運算放大器的負電源與-12V連接，運算放大器的負電源還通過電容C2與地連接。運算放大器的輸出作為信號調(diào)理電路I的輸出。簡易零位閥值電路2包括兩條輸入和輸出分別連接的支路，其中一條支路包括順次連接的電阻R15和二極管Dl，其中電阻R15與二極管Dl的負極連接，二極管Dl的負極還通過電阻R17與電源+12V連接；另一條支路包括順次連接的電阻R16和二極管D2，其中電阻R16與二極管D2的正極連接，二極管D2的正極還通過電阻R18與電源-12V連接。電阻R15和電阻R16的自由端連接后作為簡易零位閥值電路2的輸入；二極管Dl的正極與二極管D2的負極連接后作為簡易零位閥值電路2的輸出。信號放大電路3包括TI公司生產(chǎn)的0PA4277型號運算放大器，該運算放大器的正輸入端通過電阻R20與地連接，該運算放大器的負輸入端與電阻R19的連接，電阻R19的自由端作為信號放大電路3的信號輸入端。該運算放大器的負輸入端還與可變電阻R21的滑動端和一個固定端均連接，可變電阻R21的另一個固定端與該運算放大器的輸出端連接。該運算放大器的輸出端作為信號放大電路3的輸出端。所述的TI公司生產(chǎn)的0PA4277型號運算放大器為一個芯片，該芯片中包含四個獨立的運算放大器，本例中使用其中的兩個運算放大器。在芯片的引腳上，信號調(diào)理電路I使用的是引腳為1、2、3、4、11的運算放大器，信號放大電路3使用的是引腳為5、6、7的運算放大器。簡易限幅電路4包括順次串接的電阻R42、二極管D7和二極管D8，其中電阻R42與二極管D7的正極連接，二極管D7的負極與二極管D8的負極連接，二極管D8的正極與地連接。電阻R42的自由端作為簡易限幅電路4的輸入端，電阻R42與二極管D7的連接端作為簡易限幅電路4的輸出端。本申請使用的器件的數(shù)值如下表所示
權利要求1.一種導引頭測試控制盒指令預處理電路，其特征在于包括順次串接的信號調(diào)理電路(I)、簡易零位閥值電路(2)、信號放大電路(3)和簡易限幅電路(4)。
2.如權利要求I所述的一種導引頭測試控制盒指令預處理電路，其特征在于所述的信號調(diào)理電路(I)包括TI公司生產(chǎn)的0PA4277型號運算放大器，該運算放大器的正輸入端通過電阻R12與外部信號連通，運算放大器的負輸入端通過電阻R13與地連接，運算放大器的正電源與+12V連接，運算放大器的正電源還通過電容Cl與地連接，運算放大器的負電源與-12V連接，運算放大器的負電源還通過電容C2與地連接，運算放大器的輸出作為信號調(diào)理電路⑴的輸出。
3.如權利要求I所述的一種導引頭測試控制盒指令預處理電路，其特征在于所述的簡易零位閥值電路(2)包括兩條輸入和輸出分別連接的支路，其中一條支路包括順次連接的電阻R15和二極管Dl，其中電阻R15與二極管Dl的負極連接，二極管Dl的負極還通過電阻R17與電源+12V連接；另一條支路包括順次連接的電阻R16和二極管D2，其中電阻R16與二極管D2的正極連接，二極管D2的正極還通過電阻R18與電源-12V連接，電阻R15和電阻R16的自由端連接后作為簡易零位閥值電路(2)的輸入；二極管Dl的正極與二極管D2的負極連接后作為簡易零位閥值電路(2)的輸出。
4.如權利要求I所述的一種導引頭測試控制盒指令預處理電路，其特征在于所述的信號放大電路(3)包括TI公司生產(chǎn)的0PA4277型號運算放大器，該運算放大器的正輸入端通過電阻R20與地連接，該運算放大器的負輸入端與電阻R19的連接，電阻R19的自由端作為信號放大電路(3)的信號輸入端，該運算放大器的負輸入端還與可變電阻R21的滑動端和一個固定端均連接，可變電阻R21的另一個固定端與該運算放大器的輸出端連接，該運算放大器的輸出端作為信號放大電路⑶的輸出端。
5.如權利要求I所述的一種導引頭測試控制盒指令預處理電路，其特征在于所述的簡易限幅電路(4)包括順次串接的電阻R42、二極管D7和二極管D8，其中電阻R42與二極管D7的正極連接，二極管D7的負極與二極管D8的負極連接，二極管D8的正極與地連接，電阻R42的自由端作為簡易限幅電路(4)的輸入端，電阻R42與二極管D7的連接端作為簡易限幅電路⑷的輸出端。
6.如權利要求2或3或4或5所述的一種導引頭測試控制盒指令預處理電路，其特征在于所述的 R15、R16、R17、R18、D1、D2、R42、D7、D8、R12、R13、C1、C2、R14、R19、R20 和 R21的數(shù)值如下表所示
專利摘要本新型屬于電路，具體涉及一種導引頭測試控制盒指令預處理電路。一種導引頭測試控制盒指令預處理電路，包括順次串接的信號調(diào)理電路、簡易零位閥值電路、信號放大電路和簡易限幅電路。本新型的效果是利用半導體二極管的單向?qū)ㄐ院头聪驌舸┨匦栽O計了一個簡易零位閥值環(huán)節(jié)和一個簡易限幅環(huán)節(jié)來消除零位誤差和滿幅值誤差。
文檔編號G01R35/02GK202676903SQ20122021591
公開日2013年1月16日 申請日期2012年5月15日 優(yōu)先權日2012年5月15日
發(fā)明者谷楊 申請人:中國航天科工集團第三研究院第八三五八研究所