專利名稱：一種小型屏蔽腔體屏蔽效能的測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電子測(cè)試與屏蔽效能測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，是一種小型屏蔽腔體屏蔽效能的測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
近年來(lái)，在電磁兼容領(lǐng)域，對(duì)于產(chǎn)品的抗電磁干擾性能要求越來(lái)越高，由于各類電子產(chǎn)品的電磁干擾輻射頻段越來(lái)越寬，且低頻段尤為密集，這使得產(chǎn)品的抗電磁干擾能力要求越來(lái)越嚴(yán)格，而決定其空間抗電磁干擾的能力往往取決于其設(shè)備腔體自身的屏蔽效能，由于現(xiàn)代電子設(shè)備朝向小型化發(fā)展，從而使得設(shè)備體積逐漸減??；而需驗(yàn)證一個(gè)腔體的屏蔽效能，則必須在一個(gè)發(fā)射天線發(fā)射信號(hào)的同時(shí)，使得一個(gè)接收天線放入該腔體內(nèi)部進(jìn)行信號(hào)接收測(cè)試，由于目前該領(lǐng)域中所使用的屏效測(cè)試天線多為窄帶天線，且體積大，在測(cè)試小物體的屏蔽效能時(shí)，往往不能將天線放置在腔體內(nèi)部進(jìn)行屏蔽效能接收測(cè)試，這就使得體積小的腔體其自身屏蔽效能往往無(wú)法得到驗(yàn)證，因此迫切需要一種小型屏蔽腔體屏蔽效能的測(cè)試方法驗(yàn)證小型腔體的屏蔽效能。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種小型屏蔽腔體屏蔽效能的測(cè)試方法，適用于小型腔體、 機(jī)柜、屏蔽暗箱及大型屏蔽室、屏蔽方艙的屏蔽效能測(cè)試。本發(fā)明的技術(shù)方案是一種小型屏蔽腔體屏蔽效能的測(cè)試方法，他的設(shè)備至少包括近場(chǎng)測(cè)試天線、雙向射頻連接器、發(fā)射天線、前置放大器、信號(hào)源、接收儀、同軸線纜以及屏蔽暗室和屏蔽室，其特征是屏蔽暗室和屏蔽室是由金屬壁板隔成的兩個(gè)腔體，屏蔽暗室的壁面上設(shè)置吸波材料屏蔽暗室和屏蔽室都單獨(dú)接大地；接收儀設(shè)置在屏蔽室內(nèi)，其余設(shè)備設(shè)置在屏蔽暗室內(nèi)，雙向射頻連接器設(shè)置在金屬壁板壁面上；近場(chǎng)測(cè)試天線設(shè)置在屏蔽暗室內(nèi)，近場(chǎng)測(cè)試天線通過(guò)同軸線纜依次金屬壁板壁面上的雙向射頻連接器以及接收儀導(dǎo)通；發(fā)射天線通過(guò)同軸線纜依次與前置放大器和信號(hào)源導(dǎo)通，它們?cè)O(shè)置在屏蔽室內(nèi)，且發(fā)射天線的中心對(duì)近場(chǎng)測(cè)試天線的中心；這種小型屏蔽腔體屏蔽效能的測(cè)試方法按照如下的步驟進(jìn)行
步驟1，測(cè)直通接收值；信號(hào)源發(fā)出信號(hào)，入射信號(hào)經(jīng)前置放大器后，由發(fā)射天線發(fā)射，再由近場(chǎng)測(cè)試天線接收，并通過(guò)雙向射頻連接器將信號(hào)傳遞至接收儀，接收儀得到天線水平極化和垂直極化的數(shù)據(jù)，即為直通接收值；
步驟2，測(cè)射頻泄漏量；將近場(chǎng)測(cè)試天線設(shè)置在絕緣天線托盤上，并放置在被測(cè)腔體內(nèi)部，其中心對(duì)準(zhǔn)被測(cè)腔體接收面，近場(chǎng)測(cè)試天線距被測(cè)腔體接收面為d ;同時(shí)被測(cè)腔體壁面上安裝雙向射頻連接器，同軸線纜將近場(chǎng)測(cè)試天線與被測(cè)腔體面上的雙向射頻連接器、金屬壁板面上的雙向射頻連接器以及接收儀依次導(dǎo)通；被測(cè)腔體于屏蔽暗室內(nèi)，發(fā)射天線在被測(cè)腔體外，且發(fā)射天線的中心對(duì)被測(cè)腔體接收面，發(fā)射天線與被測(cè)腔體接收面的距離為D ；設(shè)置好被測(cè)腔體后，信號(hào)源發(fā)出信號(hào)，入射信號(hào)經(jīng)前置放大器后，由發(fā)射天線發(fā)射，入射波穿過(guò)被測(cè)腔體的接收面后，再由近場(chǎng)測(cè)試天線接收，并通過(guò)兩個(gè)雙向射頻連接器將信號(hào)傳遞至接收儀，接收儀得到此時(shí)天線水平極化和垂直極化的數(shù)據(jù)，為被測(cè)腔體接收面的射頻泄漏量；
步驟3，計(jì)算屏蔽效能；使用步驟I中得到的直通接收值減去步驟2中得到的射頻泄漏量，計(jì)算后得出被測(cè)腔體接收面的屏蔽效能。所述的雙向射頻連接器是雙向金屬屏蔽電連接器，其中間部位有金屬法蘭盤，通過(guò)法蘭盤與金屬壁板和被測(cè)腔體的壁面固定連接。所述的近場(chǎng)測(cè)試天線是直徑為3厘米至12厘米的圓環(huán)饋電體，是通過(guò)射頻線纜的內(nèi)導(dǎo)體和外回路層搭接焊接構(gòu)成的一端同心圓弧，其實(shí)質(zhì)為接收天線，針對(duì)9KHz至30MHz的磁場(chǎng)頻段；發(fā)射天線為環(huán)形磁場(chǎng)天線，針對(duì)9KHz至30MHz的磁場(chǎng)頻段?！?br> 所述的近場(chǎng)測(cè)試天線和發(fā)射天線還可以是半波振子天線，針對(duì)IOOMHz至IGHz的電場(chǎng)頻段或微波喇叭天線，針對(duì)IGHz至40GHz的平面波頻段。所述的前置放大器的信號(hào)功率放大頻段為9KHz至40GHz。所述的信號(hào)源是函數(shù)信號(hào)發(fā)生器、調(diào)制信號(hào)發(fā)生器或?qū)掝l信號(hào)源。所述的接收儀是接收機(jī)或頻譜儀。所述的同軸線纜是滿足9KHz至40GHz頻段的同軸線纜。所述的屏蔽暗室和屏蔽室是半電波暗室，它們都單獨(dú)接大地。所述的吸波材料是聚氨酯泡沫型、無(wú)紡布難燃型或硅酸鹽板金屬膜組裝型的劈尖形吸收體。本發(fā)明的特點(diǎn)是通過(guò)屏蔽連接結(jié)構(gòu)和天線的轉(zhuǎn)換，可測(cè)試小體積腔體的電場(chǎng)和磁場(chǎng)頻段的屏蔽效能、同時(shí)具有精準(zhǔn)度與動(dòng)態(tài)范圍高、通用性好的優(yōu)點(diǎn)。


下面將結(jié)合實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的說(shuō)明
圖I是9KHZ至30MHz磁場(chǎng)頻段的直通測(cè)試示意 圖2是9KHz至30MHz磁場(chǎng)頻段的屏蔽效能檢測(cè)布局示意 圖3是IOOMHz至IGHz電場(chǎng)頻段的直通測(cè)試示意 圖4是IOOMHz至IGHz電場(chǎng)頻段的屏蔽效能檢測(cè)布局示意 圖5是IGHz至40GHz平面波頻段的直通測(cè)試示意 圖6是IGHz至40GHz平面波頻段的屏蔽效能檢測(cè)布局示意圖。圖中1、近場(chǎng)測(cè)試天線；2、雙向射頻連接器；3、發(fā)射天線；4、半波振子天線；5、微波喇叭天線；6、前置放大器；7、信號(hào)源；8、接收儀；9、同軸線纜；10、屏蔽暗室；11、屏蔽室；12、吸波材料；13、金屬壁板；14、被測(cè)腔體；D、發(fā)射天線距離被測(cè)點(diǎn)的距離；d、接收天線距離被測(cè)點(diǎn)的距離。
具體實(shí)施例方式實(shí)施例I
如圖I和圖2所示，半電波暗室是為了防止入射信號(hào)直接對(duì)接收機(jī)進(jìn)行干擾而設(shè)置的，是為了避免影響測(cè)試真實(shí)性而采用的一種隔離環(huán)境。金屬壁板13將半電波暗室分為兩個(gè)部分，分別是屏蔽暗室10和屏蔽室11，屏蔽暗室10的壁面上設(shè)置吸波材料12。吸波材料12是聚氨酯泡沫型、無(wú)紡布難燃型或硅酸鹽板金屬膜組裝型的劈尖形吸收體。金屬壁板13上設(shè)置有雙向射頻連接器2，雙向射頻連接器2的兩端分別在屏蔽暗室10與屏蔽室11內(nèi)，接收儀8單獨(dú)置于屏蔽室11內(nèi)部。雙向射頻連接器2是雙向金屬屏蔽電連接器，其中間部位有金屬法蘭盤，通過(guò)法蘭盤與金屬壁板15固定。
接收儀8是接收機(jī)或頻譜儀。近場(chǎng)測(cè)試天線I置于屏蔽暗室10內(nèi)，通過(guò)同軸線纜9與金屬壁板13上設(shè)置的雙向射頻連接器2的一端導(dǎo)通，雙向射頻連接器2的另一端與接收儀8導(dǎo)通。近場(chǎng)測(cè)試天線I是直徑為3厘米至12厘米的圓環(huán)饋電體，是通過(guò)射頻線纜的內(nèi)導(dǎo)體和外回路層搭接焊接構(gòu)成的一端同心圓弧，其實(shí)質(zhì)為接收天線，針對(duì)9KHz至30MHz的磁場(chǎng)頻段。發(fā)射天線3與前置放大器6和信號(hào)源7由同軸線纜9導(dǎo)通，它們也置于屏蔽暗室10內(nèi)，且發(fā)射天線3的中心與近場(chǎng)測(cè)試天線I的中心對(duì)準(zhǔn)。發(fā)射天線3是環(huán)形磁場(chǎng)天線,針對(duì)9KHz至30MHz的磁場(chǎng)頻段。信號(hào)源7是函數(shù)信號(hào)發(fā)生器、調(diào)制信號(hào)發(fā)生器或?qū)掝l信號(hào)源。同軸線纜9是滿足9KHz至40GHz頻段的同軸線纜。這種小型屏蔽腔體屏蔽效能的測(cè)試方法按照如下的步驟進(jìn)行
步驟1，測(cè)直通接收值；信號(hào)源7發(fā)出信號(hào)，入射信號(hào)經(jīng)前置放大器6后，由發(fā)射天線3發(fā)射，再由近場(chǎng)測(cè)試天線I接收，并通過(guò)雙向射頻連接器2將信號(hào)傳遞至接收儀8，接收儀8得到天線水平極化和垂直極化的數(shù)據(jù)，即為直通接收值；
步驟2，測(cè)射頻泄漏量；將近場(chǎng)測(cè)試天線I設(shè)置在絕緣天線托盤上，并放置在被測(cè)腔體14內(nèi)部，其中心對(duì)準(zhǔn)被測(cè)腔體14接收面，近場(chǎng)測(cè)試天線I距被測(cè)腔體14接收面為d ;同時(shí)被測(cè)腔體14壁面上安裝雙向射頻連接器2，同軸線纜9將近場(chǎng)測(cè)試天線I與被測(cè)腔體14面上的雙向射頻連接器2、金屬壁板13面上的雙向射頻連接器2以及接收儀8依次導(dǎo)通；被測(cè)腔體14于屏蔽暗室10內(nèi)，發(fā)射天線3在被測(cè)腔體14外，且發(fā)射天線3的中心對(duì)被測(cè)腔體14接收面，發(fā)射天線3與被測(cè)腔體14接收面的距離為D ；
設(shè)置好被測(cè)腔體后，信號(hào)源7發(fā)出信號(hào)，入射信號(hào)經(jīng)前置放大器6后，由發(fā)射天線3發(fā)射，入射波穿過(guò)被測(cè)腔體14的接收面后，再由近場(chǎng)測(cè)試天線I接收，并通過(guò)兩個(gè)雙向射頻連接器2將信號(hào)傳遞至接收儀8，接收儀8得到此時(shí)天線水平極化和垂直極化的數(shù)據(jù)，為被測(cè)腔體14接收面的射頻泄漏量；
步驟3，計(jì)算屏蔽效能；使用步驟I中得到的直通接收值減去步驟2中得到的射頻泄漏量，計(jì)算后得出被測(cè)腔體14接收面的屏蔽效能。這種小型屏蔽腔體屏蔽效能的測(cè)試方法通過(guò)屏蔽連接結(jié)構(gòu)和天線的轉(zhuǎn)換，可測(cè)試小體積腔體的電場(chǎng)和磁場(chǎng)頻段的屏蔽效能、同時(shí)具有精準(zhǔn)度與動(dòng)態(tài)范圍高、通用性好的優(yōu)點(diǎn)。
實(shí)施例2
如圖3和圖4所示，本實(shí)施例與實(shí)施例I的設(shè)備設(shè)置及測(cè)試步驟完全相同，不同的是，近場(chǎng)測(cè)試天線I和發(fā)射天線3采用半波振子天線4，可針對(duì)IOOMHz至IGHz的電場(chǎng)頻段進(jìn)行屏蔽效能的檢測(cè)。實(shí)施例3
如圖5和圖6所示，實(shí)施例與實(shí)施例I的設(shè)備設(shè)置及測(cè)試步驟完全相同，不同的是，近場(chǎng)測(cè)試天線I和發(fā)射天線3采用微波喇叭天線5，可針對(duì)IGHz至40GHz的平面波頻段進(jìn)行屏蔽效能的檢測(cè)。
本實(shí)施例沒(méi)有詳細(xì)敘述的部件和結(jié)構(gòu)屬本行業(yè)的公知部件和常用結(jié)構(gòu)或常用手段，這里不一一敘述。
權(quán)利要求
1.一種小型屏蔽腔體屏蔽效能的測(cè)試方法，他的設(shè)備至少包括近場(chǎng)測(cè)試天線(I)、雙向射頻連接器(2)、發(fā)射天線(3)、前置放大器(6)、信號(hào)源(7)、接收儀(8)、同軸線纜(9)以及屏蔽暗室(10)和屏蔽室(11)，其特征是屏蔽暗室(10)和屏蔽室(11)是由金屬壁板(13)隔成的兩個(gè)腔體，屏蔽暗室(10)的壁面上設(shè)置吸波材料(12)屏蔽暗室(10)和屏蔽室(11)都單獨(dú)接大地；接收儀(8)設(shè)置在屏蔽室(11)內(nèi)，其余設(shè)備設(shè)置在屏蔽暗室(10)內(nèi)，雙向射頻連接器(2 )設(shè)置在金屬壁板(13 )壁面上；近場(chǎng)測(cè)試天線(I)設(shè)置在屏蔽暗室(10 )內(nèi)，近場(chǎng)測(cè)試天線(I)通過(guò)同軸線纜(9)依次金屬壁板(15)壁面上的雙向射頻連接器(2)以及接收儀(8)導(dǎo)通；發(fā)射天線(3)通過(guò)同軸線纜(9)依次與前置放大器(6)和信號(hào)源(7)導(dǎo)通，它們?cè)O(shè)置在屏蔽室(10)內(nèi)，且發(fā)射天線(3)的中心對(duì)近場(chǎng)測(cè)試天線(I)的中心；這種小型屏蔽腔體屏蔽效能的測(cè)試方法按照如下的步驟進(jìn)行 步驟1，測(cè)直通接收值；信號(hào)源(7)發(fā)出信號(hào)，入射信號(hào)經(jīng)前置放大器(6)后，由發(fā)射天線(3 )發(fā)射，再由近場(chǎng)測(cè)試天線(I)接收，并通過(guò)雙向射頻連接器(2 )將信號(hào)傳遞至接收儀(8)，接收儀(8)得到天線水平極化和垂直極化的數(shù)據(jù)，即為直通接收值； 步驟2，測(cè)射頻泄漏量；將近場(chǎng)測(cè)試天線(I)設(shè)置在絕緣天線托盤上，并放置在被測(cè)腔體(14)內(nèi)部，其中心對(duì)準(zhǔn)被測(cè)腔體(14)接收面，近場(chǎng)測(cè)試天線(I)距被測(cè)腔體(14)接收面為d ;同時(shí)被測(cè)腔體(14)壁面上安裝雙向射頻連接器(2)，同軸線纜(9)將近場(chǎng)測(cè)試天線(I)與被測(cè)腔體(14)面上的雙向射頻連接器(2)、金屬壁板(13)面上的雙向射頻連接器(2)以及接收儀(8)依次導(dǎo)通；被測(cè)腔體(14)于屏蔽暗室(10)內(nèi)，發(fā)射天線(3)在被測(cè)腔體(14)外，且發(fā)射天線(3)的中心對(duì)被測(cè)腔體(14)接收面，發(fā)射天線(3)與被測(cè)腔體(14)接收面的距離為D ; 設(shè)置好被測(cè)腔體后，信號(hào)源(7)發(fā)出信號(hào)，入射信號(hào)經(jīng)前置放大器(6)后，由發(fā)射天線(3)發(fā)射，入射波穿過(guò)被測(cè)腔體(14)的接收面后，再由近場(chǎng)測(cè)試天線(I)接收，并通過(guò)兩個(gè)雙向射頻連接器(2)將信號(hào)傳遞至接收儀(8)，接收儀8得到此時(shí)天線水平極化和垂直極化的數(shù)據(jù)，為被測(cè)腔體(14)接收面的射頻泄漏量； 步驟3，計(jì)算屏蔽效能；使用步驟I中得到的直通接收值減去步驟2中得到的射頻泄漏量，計(jì)算后得出被測(cè)腔體(14)接收面的屏蔽效能。
2.根據(jù)權(quán)利要求I中所述的一種小型屏蔽腔體屏蔽效能的測(cè)試方法，其特征是所述的雙向射頻連接器(2)是雙向金屬屏蔽電連接器，其中間部位有金屬法蘭盤，通過(guò)法蘭盤與金屬壁板(15)和被測(cè)腔體(17)的壁面固定連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求I中所述的一種小型屏蔽腔體屏蔽效能的測(cè)試方法，其特征是所述的近場(chǎng)測(cè)試天線(I)是直徑為3厘米至12厘米的圓環(huán)饋電體，是通過(guò)射頻線纜的內(nèi)導(dǎo)體和外回路層搭接焊接構(gòu)成的一端同心圓弧，其實(shí)質(zhì)為接收天線，針對(duì)9KHz至30MHz的磁場(chǎng)頻段；發(fā)射天線(3)為環(huán)形磁場(chǎng)天線，針對(duì)9KHz至30MHz的磁場(chǎng)頻段。
4.根據(jù)權(quán)利要求I中所述的一種小型屏蔽腔體屏蔽效能的測(cè)試方法，其特征是所述的近場(chǎng)測(cè)試天線(I)和發(fā)射天線(3)還可以是半波振子天線(4)，針對(duì)IOOMHz至IGHz的電場(chǎng)頻段或微波喇叭天線5，針對(duì)IGHz至40GHz的平面波頻段。
5.根據(jù)權(quán)利要求I中所述的一種小型屏蔽腔體屏蔽效能的測(cè)試方法，其特征是所述的前置放大器(6)的信號(hào)功率放大頻段為9KHz至40GHz。
6.根據(jù)權(quán)利要求I中所述的一種小型屏蔽腔體屏蔽效能的測(cè)試方法，其特征是所述的信號(hào)源(7)是函數(shù)信號(hào)發(fā)生器、調(diào)制信號(hào)發(fā)生器或?qū)掝l信號(hào)源。
7.根據(jù)權(quán)利要求I中所述的一種小型屏蔽腔體屏蔽效能的測(cè)試方法，其特征是所述的接收儀(8)是接收機(jī)或頻譜儀。
8.根據(jù)權(quán)利要求I中所述的一種小型屏蔽腔體屏蔽效能的測(cè)試方法，其特征是所述的同軸線纜(9)是滿足9KHz至40GHz頻段的同軸線纜。
9.根據(jù)權(quán)利要求I中所述的一種小型屏蔽腔體屏蔽效能的測(cè)試方法，其特征是所述的屏蔽暗室(10)和屏蔽室(11)是半電波暗室，它們都單獨(dú)接大地。
10.根據(jù)權(quán)利要求I中所述的一種小型屏蔽腔體屏蔽效能的測(cè)試方法，其特征是所述的吸波材料(12)是聚氨酯泡沫型、無(wú)紡布難燃型或硅酸鹽板金屬膜組裝型的劈尖形吸收體。
全文摘要
本發(fā)明是一種小型屏蔽腔體屏蔽效能的測(cè)試方法。其特征是屏蔽暗室和屏蔽室是由金屬壁板隔成的兩個(gè)腔體，屏蔽暗室的壁面上設(shè)置吸波材料屏蔽暗室和屏蔽室都單獨(dú)接大地；接收儀設(shè)置在屏蔽室內(nèi)，其余設(shè)備設(shè)置在屏蔽暗室內(nèi)，雙向射頻連接器設(shè)置在金屬壁板壁面上；近場(chǎng)測(cè)試天線設(shè)置在屏蔽暗室內(nèi)，近場(chǎng)測(cè)試天線通過(guò)同軸線纜依次金屬壁板壁面上的雙向射頻連接器以及接收儀導(dǎo)通；發(fā)射天線通過(guò)同軸線纜依次與前置放大器和信號(hào)源導(dǎo)通，它們?cè)O(shè)置在屏蔽室內(nèi)，且發(fā)射天線的中心對(duì)近場(chǎng)測(cè)試天線的中心；并通過(guò)測(cè)直通接收值、測(cè)射頻泄漏量及計(jì)算屏蔽效能三個(gè)步驟實(shí)現(xiàn)。該方法簡(jiǎn)單、準(zhǔn)確。
文檔編號(hào)G01R29/08GK102944780SQ201210437678
公開(kāi)日2013年2月27日 申請(qǐng)日期2012年11月6日 優(yōu)先權(quán)日2012年11月6日
發(fā)明者宋博 申請(qǐng)人:西安開(kāi)容電子技術(shù)有限責(zé)任公司