專利名稱：一種光致變色鏡片光譜分析系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光譜分析系統(tǒng)，特別是指一種光致變色鏡片光譜分析系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
透明物質(zhì)的光譜分析是一項通用技術(shù)，但是針對于光致變色眼鏡片的光譜分析卻一直停留在理論階段，原因是相對于普通的光譜分析儀器，光致變色眼鏡片的測量需要在一定的時間范圍內(nèi)施加一定能量的模擬太陽光進行激勵，而且需要一個恒溫的狀態(tài)，需要相應(yīng)的軟件來處理符合眼鏡行業(yè)標準的數(shù)據(jù)，整個系統(tǒng)的搭建難度較大，應(yīng)用又比較窄，所以一直沒有面市。事實上，光致變色眼鏡片的原料提供商可以提供類似本發(fā)明提供的實驗數(shù)據(jù)，但是這些數(shù)據(jù)曲線都是由10個左右的點構(gòu)成的，并且這些廠家的實驗方法和設(shè)備都是秘而 不宣的。而本發(fā)明提供的數(shù)據(jù)曲線是由數(shù)千個點構(gòu)成的，精確反應(yīng)了光致變色鏡片在模擬太陽光照射下和一定溫度環(huán)境下的變暗和恢復(fù)過程。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提出一種光致變色鏡片光譜分析系統(tǒng)，解決了現(xiàn)有技術(shù)中無法使光致變色眼鏡片的特性和質(zhì)量能夠得到量化測量的缺點。本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣實現(xiàn)的一種光致變色鏡片光譜分析系統(tǒng)，其特征在于，該系統(tǒng)包括可模擬太陽光的激勵光源模塊、恒溫控制模塊、光譜數(shù)據(jù)采集測量模塊、測試腔、電源控制器，所述的需進行光譜分析的光致變色鏡片置于測試腔內(nèi)，所述的恒溫控制模塊控制測試腔內(nèi)溫度維持測試溫度，所述的激勵光源模塊發(fā)出模擬太陽光，照射需進行光譜分析的光致變色鏡片后，由光譜數(shù)據(jù)采集測量模塊采集數(shù)據(jù)，輸出測量結(jié)果，所述的激勵光源模塊、恒溫控制模塊、光譜數(shù)據(jù)采集測量模塊由電源控制器連接供電。所述激勵光源模塊包括短弧氙燈、快門機構(gòu)、濾光片、透鏡組合，所述的短弧氙燈經(jīng)由快門機構(gòu)控制打開，通過濾光片及透鏡組合后射出模擬太陽光。所述的恒溫控制模塊包括恒溫水浴及蒸發(fā)器。所述的光譜數(shù)據(jù)采集測量模塊包括測試光源、光譜儀、資料處理器、電腦處理器，所述的測試光源發(fā)出測試光，照射需進行光譜分析的光致變色鏡片，所述的光譜儀接收需進行光譜分析的光致變色鏡片的光譜信息后傳送至資料處理器，由資料處理器匯總至電腦處理器計算處理后，輸出測量結(jié)果。所述的光譜儀包括一號光譜儀、二號光譜儀，所述的一號光譜儀接收激勵光源模塊發(fā)出的模擬太陽光照射需進行光譜分析的光致變色鏡片后的光譜信息數(shù)據(jù)，所述的二號光譜儀接收測試光源發(fā)出測試光照射需進行光譜分析的光致變色鏡片后的光譜信息數(shù)據(jù)。
與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的優(yōu)點在于，使光致變色眼鏡片的特性和質(zhì)量能夠得到量化的測量，可被廣泛的用于原材料的測量分析和研發(fā)，成品的質(zhì)量監(jiān)控等。


為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖I為本發(fā)明一種光致變色鏡片光譜分析系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。其中，10-測試腔、20-激勵光源模塊、21-透鏡組合、22-濾光片、23-快門機構(gòu)、24-短弧氙燈、30-光譜數(shù)據(jù)采集測量模塊、31-—號光譜儀、32-二號光譜儀、33-測量光源、34-資料處理器、35-電腦處理器、40-恒溫控制模塊、50-電源控制器
具體實施例方式下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；?本發(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。如圖I所示，一種光致變色鏡片光譜分析系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括可模擬太陽光的激勵光源模塊20、恒溫控制模塊40、光譜數(shù)據(jù)采集測量模塊30、測試腔10、電源控制器50，所述的需進行光譜分析的光致變色鏡片置于測試腔10內(nèi)，所述的恒溫控制模塊40控制測試腔10內(nèi)溫度維持測試溫度，測試溫度一般為5°C或23°C或35攝氏度，所述的激勵光源模塊20發(fā)出模擬太陽光，照射需進行光譜分析的光致變色鏡片后，由光譜數(shù)據(jù)采集測量模塊30采集數(shù)據(jù)，輸出測量結(jié)果，所述的激勵光源模塊20、恒溫控制模塊40、光譜數(shù)據(jù)采集測量模塊30由電源控制器50連接供電。所述激勵光源模塊20包括短弧氙燈24、快門機構(gòu)23、濾光片22、透鏡組合21，所述的短弧氙燈24經(jīng)由快門機構(gòu)23控制打開，通過濾光片22及透鏡組合21后射出模擬太陽光。所述的恒溫控制模塊40包括恒溫水浴及蒸發(fā)器。所述的光譜數(shù)據(jù)采集測量模塊30包括一號光譜儀31、二號光譜儀32、包含紫外和可見光的測量光源33、資料處理器34、電腦處理器35，所述的測試光源33發(fā)出測試光，照射需進行光譜分析的光致變色鏡片，所述的一號光譜儀31接收激勵光源模塊20發(fā)出的模擬太陽光照射需進行光譜分析的光致變色鏡片后的光譜信息數(shù)據(jù)，所述的二號光譜儀32接收測試光源33發(fā)出測試光照射需進行光譜分析的光致變色鏡片后的光譜信息數(shù)據(jù)，所述一號光譜儀31、二號光譜儀32分別將數(shù)據(jù)傳送至資料處理器34，由資料處理器34匯總至電腦處理器35計算處理后，輸出測量結(jié)果。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種光致變色鏡片光譜分析系統(tǒng)，其特征在于，該系統(tǒng)包括可模擬太陽光的激勵光源模塊、恒溫控制模塊、光譜數(shù)據(jù)采集測量模塊、測試腔、電源控制器，所述的需進行光譜分析的光致變色鏡片置于測試腔內(nèi)，所述的恒溫控制模塊控制測試腔內(nèi)溫度維持測試溫度，所述的激勵光源模塊發(fā)出模擬太陽光，照射需進行光譜分析的光致變色鏡片后，由光譜數(shù)據(jù)采集測量模塊采集數(shù)據(jù)，輸出測量結(jié)果，所述的激勵光源模塊、恒溫控制模塊、光譜數(shù)據(jù)采集測量模塊由電源控制器連接供電。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種光致變色鏡片光譜分析系統(tǒng)，其特征在于所述激勵光源模塊包括短弧氙燈、快門機構(gòu)、濾光片、透鏡組合，所述的短弧氙燈經(jīng)由快門機構(gòu)控制打開，通過濾光片及透鏡組合后射出模擬太陽光。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種光致變色鏡片光譜分析系統(tǒng)，其特征在于所述的恒溫控制模塊包括恒溫水浴及蒸發(fā)器。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種光致變色鏡片光譜分析系統(tǒng)，其特征在于所述的光譜數(shù)據(jù)采集測量模塊包括測試光源、光譜儀、資料處理器、電腦處理器，所述的測試光源發(fā)出測試光，照射需進行光譜分析的光致變色鏡片，所述的光譜儀接收需進行光譜分析的光致變色鏡片的光譜信息后傳送至資料處理器，由資料處理器匯總至電腦處理器計算處理后，輸出測量結(jié)果。
5.根據(jù)權(quán)利要求I或4所述的一種光致變色鏡片光譜分析系統(tǒng)，其特征在于所述的光譜儀包括一號光譜儀、二號光譜儀，所述的一號光譜儀接收激勵光源模塊發(fā)出的模擬太陽光照射需進行光譜分析的光致變色鏡片后的光譜信息數(shù)據(jù)，所述的二號光譜儀接收測試光源發(fā)出測試光照射需進行光譜分析的光致變色鏡片后的光譜信息數(shù)據(jù)。
全文摘要
本發(fā)明提出了一種光致變色鏡片光譜分析系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括可模擬太陽光的激勵光源模塊、恒溫控制模塊、光譜數(shù)據(jù)采集測量模塊、測試腔，所述的需進行光譜分析的光致變色鏡片置于測試腔內(nèi)，所述的恒溫控制模塊控制測試腔內(nèi)溫度維持測試溫度，所述的激勵光源模塊發(fā)出模擬太陽光，照射需進行光譜分析的光致變色鏡片后，由光譜數(shù)據(jù)采集測量模塊采集數(shù)據(jù)，輸出測量結(jié)果。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的優(yōu)點在于，使光致變色眼鏡片的特性和質(zhì)量能夠得到量化的測量，可被廣泛的用于原材料的測量分析和研發(fā)，成品的質(zhì)量監(jiān)控等。
文檔編號G01N21/25GK102879339SQ201210351960
公開日2013年1月16日 申請日期2012年9月19日 優(yōu)先權(quán)日2012年9月19日
發(fā)明者陳忠, 朱思立 申請人:上海新中佳精密儀器有限公司