專利名稱：一種rdx或hmx晶體顯微成像用的折光匹配液的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種RDX或HMX晶體顯微成像用的折光匹配液。
背景技術(shù)：
炸藥的晶體品質(zhì)(如純度、晶體形態(tài)、晶體缺陷等)是影響炸藥易損性的主要因素之一，通過改善炸藥的晶體品質(zhì)可以在保持炸藥原有做功能力的同時提高其安全性能，特別是降低沖擊波感度性能。近年來隨著提高炸藥晶體品質(zhì)的結(jié)晶技術(shù)不斷發(fā)展，對于炸藥晶體品質(zhì)的表征技術(shù)也逐漸成為研究的熱點。炸藥的晶體缺陷是判斷炸藥晶體品質(zhì)的主要技術(shù)指標(biāo)。目前顯微成像是表征炸藥顆粒形貌、缺陷的主要方法。然而在空氣中，普通光學(xué)顯微鏡只能觀察到炸藥晶體的結(jié)晶形狀、晶體大小和均勻性，而無法觀察到炸藥晶體內(nèi)部缺陷。當(dāng)前在醫(yī)學(xué)和冶金業(yè)，采用顯微成像技術(shù)，觀察放置在折光率浸油中細胞或透明礦物，可清晰地觀察細胞或透明礦物的形貌。目前在上述領(lǐng)域中通常所使用的折光率浸油為煤油或液體石蠟。但是將RDX或HMX晶體放置在煤油或液體石蠟折光率浸油中無法觀察到RDX或HMX炸藥晶體的內(nèi)部缺陷。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是克服現(xiàn)有技術(shù)不足，提供一種RDX或HMX晶體顯微成像用的折光匹配液，用于RDX或HMX晶體顯微成像。本發(fā)明的構(gòu)思根據(jù)折光匹配顯微原理，只有當(dāng)炸藥晶體至于與其折光指數(shù)匹配的溶液中，才可以通過普通光學(xué)顯微鏡清晰地觀察到晶體內(nèi)部缺陷。由于RDX或HMX晶體的理論折光指數(shù)在I. 6左右，因此需要選擇折光指數(shù)為I. 6的溶液作為折光匹配液，從而通過普通光學(xué)顯微鏡清晰地觀察到RDX或HMX晶體的內(nèi)部缺陷。。為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明的RDX或HMX晶體顯微成像用的折光匹配液的組分為香柏油與a-溴代萘，香柏油與a-溴代萘的體積比為I : I I : 2。本發(fā)明的RDX或HMX晶體顯微成像用的折光匹配液優(yōu)選技術(shù)方案為香柏油與a -溴代萘的體積比為I : I. 4。本發(fā)明的優(yōu)點采用本發(fā)明的RDX或HMX晶體顯微成像用的折光匹配液，可清晰的觀察到RDX、HMX晶體的內(nèi)部缺陷，而現(xiàn)有的折光率浸油無法清晰地觀察到RDX或HMX晶體的內(nèi)部缺陷。


圖I為RDX晶體浸沒在折光匹配液顯微成像的成像圖。圖2為HMX晶體浸沒在折光匹配液顯微成像的成像圖。圖3為RDX晶體浸沒在煤油中顯微成像的成像圖。
圖4為HMX晶體浸沒在液體石蠟中顯微成像的成像圖。
具體實施例方式下列結(jié)合實施例對本發(fā)明進一步 詳述說明，但并不限制本發(fā)明的范圍。用于檢測折光指數(shù)儀器為WAY-2S型數(shù)字阿貝折射儀；用于顯微成像的儀器為萊卡DM2500M型顯微鏡。實施例I折光匹配液的制備在溫度為20°C 25°C，取兩支25mL的量筒，分別量取IOmL香柏油和IOmLa-溴代萘，然后將香柏油和a -溴代萘兩種液體倒入反應(yīng)瓶中，攪拌5分鐘，再放置到超聲微波震蕩儀中，開啟超聲按鈕，超聲震蕩3分鐘后，關(guān)閉超聲微波震蕩儀，取出反應(yīng)瓶靜置15分鐘，得到折光匹配液。折光匹配液的折光指數(shù)測定檢查阿貝折射儀上下棱鏡表面，并用酒精小心清潔其表面，用干凈滴管吸取1-2滴折光匹配液放在下棱鏡表面上，然后將上面的進光棱鏡蓋上。調(diào)整光路，使進光棱鏡的進光表面得到均勻照明。旋轉(zhuǎn)手輪，使明暗分界線準(zhǔn)確對準(zhǔn)交叉線的交點。讀取折光率數(shù)據(jù)，本實施例制備的折光匹配液的折光指數(shù)為I. 59。折光匹配液的應(yīng)用取數(shù)粒RDX晶體置于載玻片上，用干凈滴管吸取數(shù)滴折光匹配液滴加在晶體表面上，將晶體浸沒，調(diào)整焦距，使圖像清晰，選擇40倍放大物鏡，找準(zhǔn)被檢物，并置于視野中央，清楚地觀察到炸藥RDX晶體內(nèi)部缺陷。取數(shù)粒HMX晶體置于載玻片上，用干凈滴管吸取數(shù)滴折光匹配液滴加在晶體表面上，將晶體浸沒，調(diào)整焦距，使圖像清晰，選擇40倍放大物鏡，找準(zhǔn)被檢物，并置于視野中央，清楚地觀察到炸藥HMX晶體內(nèi)部缺陷。實施例2折光匹配液的制備在溫度為20°C 25°C，取兩支25mL的量筒，分別量取IOmL香柏油和14mLa-溴代萘，然后將香柏油和a -溴代萘兩種液體倒入反應(yīng)瓶中，攪拌5分鐘，再放置到超聲微波震蕩儀中，開啟超聲按鈕，超聲震蕩3分鐘后，關(guān)閉超聲微波震蕩儀，取出反應(yīng)瓶靜置15分鐘，得到折光匹配液。折光匹配液的折光指數(shù)測定檢查阿貝折射儀上下棱鏡表面，并用酒精小心清潔其表面，用干凈滴管吸取1-2滴折光匹配液放在下棱鏡表面上，然后將上面的進光棱鏡蓋上。調(diào)整光路，使進光棱鏡的進光表面得到均勻照明。旋轉(zhuǎn)手輪，使明暗分界線準(zhǔn)確對準(zhǔn)交叉線的交點。讀取折光率數(shù)據(jù)，本實施例制備的折光匹配液的折光指數(shù)為1.60。折光匹配液的應(yīng)用取數(shù)粒RDX晶體置于載玻片上，用干凈滴管吸取數(shù)滴折光匹配液滴加在晶體表面上，將晶體浸沒，調(diào)整焦距，使圖像清晰，選擇40倍放大物鏡，找準(zhǔn)被檢物，并置于視野中央，清楚地觀察到炸藥RDX晶體內(nèi)部缺陷。
取數(shù)粒HMX晶體置于載玻片上，用干凈滴管吸取數(shù)滴折光匹配液滴加在晶體表面上，將晶體浸沒，調(diào)整焦距，使圖像清晰，選擇40倍放大物鏡，找準(zhǔn)被檢物，并置于視野中央，清楚地觀察到炸藥HMX晶體內(nèi)部缺陷。實施例3折光匹配液的制備在溫度為20°C 25°C，取兩支25mL的量筒，分別量取IOmL香柏油和20mL a -溴代萘，然后將香柏油和a -溴代萘兩種液體倒入反應(yīng)瓶中，攪拌5分鐘，再放置到超聲微波震蕩儀中，開啟超聲按鈕，超聲震蕩3分鐘后，關(guān)閉超聲微波震蕩儀，取出反應(yīng)瓶靜置15分鐘，得到折光匹配液。
折光匹配液的折光指數(shù)測定檢查阿貝折射儀上下棱鏡表面，并用酒精小心清潔其表面，用干凈滴管吸取1-2滴折光匹配液放在下棱鏡表面上，然后將上面的進光棱鏡蓋上。調(diào)整光路，使進光棱鏡的進光表面得到均勻照明。旋轉(zhuǎn)手輪，使明暗分界線準(zhǔn)確對準(zhǔn)交叉線的交點。讀取折光率數(shù)據(jù)，本實施例制備的折光匹配液的折光指數(shù)為1.61。折光匹配液的應(yīng)用取數(shù)粒RDX晶體置于載玻片上，用干凈滴管吸取數(shù)滴折光匹配液滴加在晶體表面上，將晶體浸沒，調(diào)整焦距，使圖像清晰，選擇40倍放大物鏡，找準(zhǔn)被檢物，并置于視野中央，清楚地觀察到炸藥RDX晶體內(nèi)部缺陷。取數(shù)粒HMX晶體置于載玻片上，用干凈滴管吸取數(shù)滴折光匹配液滴加在晶體表面上，將晶體浸沒，調(diào)整焦距，使圖像清晰，選擇40倍放大物鏡，找準(zhǔn)被檢物，并置于視野中央，清楚地觀察到炸藥HMX晶體內(nèi)部缺陷。實施對比例I取數(shù)粒RDX晶體置于載玻片上，用干凈滴管吸取數(shù)滴煤油滴加在晶體表面上，將晶體浸沒，調(diào)整焦距，使圖像清晰，選擇40倍放大物鏡，找準(zhǔn)被檢物，實施對比例2取數(shù)粒HMX晶體置于載玻片上，用干凈滴管吸取數(shù)滴液體石蠟滴加在晶體表面上，將晶體浸沒，調(diào)整焦距，使圖像清晰，選擇40倍放大物鏡，找準(zhǔn)被檢，并置于視野中央，無法觀察到HMX晶體內(nèi)部缺陷。
權(quán)利要求
1.一種RDX或HMX晶體顯微成像用的折光匹配液，其特征在于該RDX或HMX晶體顯微成像用的折光匹配液的組分為香柏油與a -溴代萘，體積比為I : I I : 2。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述一種RDX或HMX晶體顯微成像用的折光匹配液，其特征在于所述香柏油與a -溴代萘的體積比為I : 1.4。
全文摘要
本發(fā)明公開一種RDX或HMX晶體顯微成像用的折光匹配液，是為解決無法清晰觀察到RDX或HMX晶體內(nèi)部缺陷的問題，本發(fā)明的RDX或HMX晶體顯微成像用的折光匹配液為香柏油和α-溴代萘的混合液，香柏油與α-溴代萘的體積比為1∶1～1∶2。本發(fā)明主要用于普通顯微鏡觀察RDX或HMX晶體的內(nèi)部缺陷。
文檔編號G01N21/88GK102706891SQ20121021119
公開日2012年10月3日 申請日期2012年6月26日 優(yōu)先權(quán)日2012年6月26日
發(fā)明者周文靜, 張皋, 徐敏, 李濤, 畢富強, 蘇鵬飛, 趙娟, 陳智群, 馬燕 申請人:西安近代化學(xué)研究所