專利名稱：醫(yī)用支架檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及薄壁管材激光微加工技術(shù)，尤其涉及一種醫(yī)用支架檢測方法。
技術(shù)背景
醫(yī)用支架植入血管中可以起到支撐架的作用，用以保持血管的張開。醫(yī)用支架必須滿足嚴(yán)格的工作要求，如果支架包含任何粗糙的或尖銳的邊，它將會(huì)損壞植入支架處的血細(xì)胞或血管壁，這將導(dǎo)致進(jìn)一步的血管疾病，以致會(huì)有潛在的生命危險(xiǎn)。支架一般都是小直徑的，直徑大約1mm，在進(jìn)行激光切割工藝后，支架上各種切割特征的尺寸大小大概在5(T200um之間。一般的，制造工藝過程中參數(shù)的微小變化，如激光功率、管徑大小或機(jī)械顫振均能導(dǎo)致缺陷。由于支架在功能上的失效將可能導(dǎo)致生命危險(xiǎn)，因此支架加工完成后的檢測環(huán)節(jié)尤其重要。
現(xiàn)有的檢測手段有人工檢測和視覺系統(tǒng)自動(dòng)檢測。人工檢測是由人通過顯微鏡對(duì)支架產(chǎn)品逐個(gè)檢測。這種人工檢測方式存在較大的誤差，另外人工檢測相對(duì)較慢且會(huì)使制造工藝的成本相對(duì)提升。而現(xiàn)有的視覺自動(dòng)檢測設(shè)備極其復(fù)雜，整套設(shè)備價(jià)格也非常昂貴。
因此，有必要提供一種快速、低成本的檢測方法，以便高效率地將合格和不合格的支架產(chǎn)品區(qū)分開
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明旨在提供一種簡單、高效的用于檢測支架產(chǎn)品的方法。
為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明公開了一種醫(yī)用支架檢測方法。該方法包括:移動(dòng)支架樣品以便檢測支架樣品的各個(gè)區(qū)域；利用外部光源照射支架樣品的外表面區(qū)域；用逐線掃描方式對(duì)支架樣品進(jìn)行掃描以獲得支架樣品的整體圖像；以及對(duì)圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行處理并顯示處理結(jié)果。另外，還將外徑與支架樣品的內(nèi)徑相匹配的石英棒與支架樣品配合安裝使得支架樣品能與石英棒聯(lián)動(dòng)，并且當(dāng)外部光源照射在石英棒上時(shí)，石英棒發(fā)出白色熒光以照射支架樣品的內(nèi)表面區(qū)域。
本發(fā)明提供的檢 測方法操作簡單，成本低廉，可以高效率地對(duì)支架樣品進(jìn)行檢測。


圖1是支架加工后可能具有的測量特征的示例； 圖2是利用根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的檢測方法的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖； 圖3是進(jìn)行激光加工后的支架圖；以及 圖4是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的檢測方法的CCD掃描圖。
附圖標(biāo)記: 1.直線軸，2.旋轉(zhuǎn)軸，3.石英棒，4.外部光源，5.支架樣品，6.電子線陣CCD，7.圖像處理裝置，8.顯示裝置具體實(shí)施方式
以下將討論本發(fā)明的各個(gè)較佳實(shí)施例。但本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，此處的詳細(xì)說明并不作為對(duì)本發(fā)明保護(hù)范圍的限制，本發(fā)明還可通過以下各實(shí)施例的變型或其它等同方式得以實(shí)現(xiàn)。
支架加工后可能會(huì)出現(xiàn)一些缺陷，如圖1所示。因此有必要檢測支架各個(gè)部分的徑寬一致性，形狀是否符合要求，以及壁厚等。
圖2示出根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的支架檢測系統(tǒng)。如圖所示，該檢測系統(tǒng)包括二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)、電子線陣CCD、外部光源、圖像處理裝置以及顯示裝置等。
二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)用于移動(dòng)支架樣品，以便檢測支架樣品的各個(gè)區(qū)域。在本發(fā)明的一個(gè)示例中，二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)包括直線軸和旋轉(zhuǎn)軸。如圖所示，旋轉(zhuǎn)軸用來夾持石英棒，并使石英棒繞Y軸旋轉(zhuǎn)。Y軸可用來定位支架樣品與線陣CCD的相對(duì)位置。根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，支架樣品的內(nèi)徑與石英棒的外徑相匹配以使得兩者可配合安裝且支架樣品能與石英棒聯(lián)動(dòng)，旋轉(zhuǎn)軸的旋轉(zhuǎn)使得所夾持的石英棒旋轉(zhuǎn)并進(jìn)而帶動(dòng)支架樣品旋轉(zhuǎn)。如此，可通過旋轉(zhuǎn)方式使得樣品被檢測到。旋轉(zhuǎn)軸可安裝在直線軸上，直線軸帶動(dòng)旋轉(zhuǎn)軸沿著X軸方向運(yùn)動(dòng)。因此支架可被放置在任何位置，從而能夠檢查到支架上的所有邊。
電子線陣CCD用來檢測樣品。CCD安裝在支架的上方，以一條線一條線的精密掃描方式采集支架的圖像數(shù)據(jù)。
檢測系統(tǒng)從外部引入照明系統(tǒng)，用于照射在支架的外表面區(qū)域。另外，外部光源照射在石英棒上，使得石英棒發(fā)出白光，從而照射在支架的內(nèi)表面區(qū)域上。因此，本發(fā)明的檢測系統(tǒng)相當(dāng)于同時(shí)具有外部和內(nèi)部兩個(gè)照明光源。
圖像處理裝置與電子線陣CXD耦合，用于對(duì)電子線陣CXD采集的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行處理。在一個(gè)示例中，該圖像處理裝置可以是基于計(jì)算機(jī)的分析模塊。
顯示裝置與圖像處理裝置耦合，用于通過用戶界面向用戶顯示圖像處理裝置的處理結(jié)果。
利用本發(fā)明的檢測方法進(jìn)行檢測時(shí)，外部光源照射在支架的外表面，同時(shí)石英棒由于外部光源的照射而發(fā)出白光，照射在支架的內(nèi)表面。如此，支架的外部和內(nèi)部分別被不同的照明光源照射到。標(biāo)準(zhǔn)石英棒的精度非常好，誤差水平非常低，以其為基準(zhǔn)，就可以測量支架管子的壁厚。利用二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)的直線軸和旋轉(zhuǎn)軸移動(dòng)支架，使得支架的各個(gè)區(qū)域均被CCD掃描到。具體地，旋轉(zhuǎn)軸的高速旋轉(zhuǎn)帶動(dòng)石英棒上的支架產(chǎn)品旋轉(zhuǎn)，同時(shí)還可由直線軸帶動(dòng)旋轉(zhuǎn)軸在水平方向上移動(dòng)。這樣，CCD以逐線掃描方式采集到支架各個(gè)區(qū)域的圖像數(shù)據(jù)，經(jīng)過一個(gè)完整的掃描過程后，就可獲得支架的整體圖像。掃描過程的結(jié)果是支架的高細(xì)節(jié)度的圖像，可利用圖像處理算法對(duì)該圖像進(jìn)行處理，以觀察多種不同類型的結(jié)構(gòu)或表面缺陷，并將這些缺陷與原定義的理論或設(shè)計(jì)基準(zhǔn)進(jìn)行比較，從而顯示在計(jì)算機(jī)界面上。
可見，本發(fā)明提供的檢測方法操作簡單，成本低廉，而且可以高效率地將合格和不合格的支架產(chǎn)品區(qū)分開。
權(quán)利要求
1.一種醫(yī)用支架檢測方法，包括: 移動(dòng)支架樣品以便檢測支架樣品的各個(gè)區(qū)域； 利用外部光源照射支架樣品的外表面區(qū)域； 用逐線掃描方式對(duì)支架樣品進(jìn)行掃描以獲得支架樣品的整體圖像；以及 對(duì)圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行處理并顯示處理結(jié)果， 其中，將外徑與支架樣品的內(nèi)徑相匹配的石英棒與支架樣品配合安裝使得支架樣品能與石英棒聯(lián)動(dòng)，并且當(dāng)外部光源照射在石英棒上時(shí)，石英棒發(fā)出白色熒光以照射支架樣品的內(nèi)表面區(qū)域。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，移動(dòng)支架樣品包括沿水平方向移動(dòng)支架樣品以及旋轉(zhuǎn)支架樣品。
3.如權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，利用二維工作平臺(tái)的旋轉(zhuǎn)軸夾持并旋轉(zhuǎn)石英棒進(jìn)而帶動(dòng)支架樣品旋轉(zhuǎn)，同時(shí)利用二維工作平臺(tái)的直線軸沿水平方向移動(dòng)支架樣品O
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，還包括以石英棒為基準(zhǔn)測量支架樣品的壁厚。 ·
全文摘要
本發(fā)明公開了一種醫(yī)用支架檢測方法。該方法包括移動(dòng)支架樣品以便檢測支架樣品的各個(gè)區(qū)域；利用外部光源照射支架樣品的外表面區(qū)域；用逐線掃描方式對(duì)支架樣品進(jìn)行掃描以獲得支架樣品的整體圖像；以及對(duì)圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行處理并顯示處理結(jié)果。另外，將外徑與支架樣品的內(nèi)徑相匹配的石英棒與支架樣品配合安裝使得支架樣品能與石英棒聯(lián)動(dòng)，并且當(dāng)外部光源照射在石英棒上時(shí)，石英棒發(fā)出白色熒光以照射支架樣品的內(nèi)表面區(qū)域。
文檔編號(hào)G01B11/06GK103217114SQ20121001573
公開日2013年7月24日 申請(qǐng)日期2012年1月19日 優(yōu)先權(quán)日2012年1月19日
發(fā)明者魏志凌, 寧軍, 夏發(fā)平, 馬秀云 申請(qǐng)人:昆山思拓機(jī)器有限公司