專利名稱：自動芯片測試機(jī)測試座的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種芯片測試座，尤其是安裝于自動芯片測試機(jī)上的自動芯片測試機(jī)測試座。
背景技術(shù)：
在芯片生產(chǎn)流程中，對芯片的檢測是一個重要的步驟，在進(jìn)行批量的芯片測試時，企業(yè)一般使用自動化的芯片測試機(jī)對芯片進(jìn)行大批量的測試，現(xiàn)有的芯片測試時一般采用直線進(jìn)給，即進(jìn)料位、測試位設(shè)置于一條直線上，所以這樣的芯片測試機(jī)一般具有一個較大的長度，需要占空較大的空間，對室內(nèi)空間的要求較高，企業(yè)往往需要根據(jù)設(shè)置較大的車間來放置此類的芯片測試機(jī)，而且機(jī)器長度很長，不便于操作人員觀察和操作。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型提供一種占用空間小、便于操作人員觀察和操作的自動芯片測試機(jī)測試座。為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案它安裝于芯片測試機(jī)上，包括一圓形底盤，所述的圓形底板上設(shè)有沿圓周排列的測試座，所述的圓形底盤與測試座之間設(shè)有絕緣板，測試座上方設(shè)有感光燈箱。優(yōu)選地，所述的測試座包括底部的電路板，在電路板上設(shè)有測試座外殼，所述的測試座外殼中設(shè)有一個或多個芯片測試位。優(yōu)選地，所述的每個測試位包括一芯片安裝座，芯片安裝座內(nèi)部下方設(shè)有測試針，測試針底部設(shè)有電路連接板，測試針連接底部電路板。優(yōu)選地，所述的測試針安裝于測試針固定座中。優(yōu)選地，所述的圓形底盤上方設(shè)有感光燈箱，所述的感光燈箱包括一與芯片測試機(jī)連接的燈箱固定法蘭，燈箱固定法蘭底面上設(shè)有帶有多個LED的電路基板，所述的電路基板的發(fā)光面上覆蓋一層或多層濾光板，所述的電路基板和濾光板安裝于濾光板固定法蘭中，所述的濾光板固定法蘭下面固定有一上壓板，所述的濾光板固定法蘭下面固定有一上壓板，所述的上壓板中設(shè)有對應(yīng)每個測試位的通孔，所述的上壓板下部對應(yīng)每個測試位設(shè)有一下壓板，每個下壓板設(shè)有一螺紋孔，螺紋孔中安裝一光學(xué)成像鏡頭。優(yōu)選地，所述的每層濾光板為多段結(jié)構(gòu)。優(yōu)選地，所述的濾光板固定法蘭中設(shè)有安裝電路基板的安裝槽，所述的安裝槽中設(shè)有安裝多段濾光板的濾光槽。優(yōu)選地，所述的濾光槽為多級結(jié)構(gòu)。優(yōu)選地，所述的光學(xué)成像鏡頭和下壓板為矩陣排列結(jié)構(gòu)。優(yōu)選地，所述的上壓板上設(shè)有一進(jìn)氣孔，所述的下壓板上設(shè)有出氣槽。由于采用了上述結(jié)構(gòu)，本實(shí)用新型中的自動芯片測試機(jī)測試座將測試座以圓周方式排列與圓形底盤上，在進(jìn)行自動測試的時候，轉(zhuǎn)動底部圓形底盤即可依次對圓周上的各個測試座上的芯片進(jìn)行測試，實(shí)現(xiàn)了連續(xù)檢測時，進(jìn)料、出料和檢測部分能夠同步進(jìn)行，這樣可讓測試機(jī)減少對進(jìn)料、出料工序的等待時間；充分節(jié)約整個連續(xù)測試工作的時間。圓周式排布，還縮小了整體自動芯片測試機(jī)的體積，減少了機(jī)器占用的空間，更有利于設(shè)備的安排和擺放。

圖I是本實(shí) 用新型實(shí)施例的整體結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例的測試座結(jié)構(gòu)示意圖；圖3是本實(shí)用新型實(shí)施例的感光燈箱爆炸圖。
具體實(shí)施方式
如圖1、2和3所示，本實(shí)用新型的自動芯片測試機(jī)測試座安裝于芯片測試機(jī)上，包括一圓形底盤1，所述的圓形底板I上設(shè)有沿圓周排列的測試座2，所述的圓形底盤I與測試座2之間設(shè)有絕緣板3，所述的測試座上方設(shè)有感光燈箱4。其中，所述的測試座2包括底部的電路板21，在電路板21上設(shè)有測試座外殼22，所述的測試座外殼22中設(shè)有一個或多個芯片測試位23。為了一次同時能進(jìn)行多個芯片的測試，本實(shí)施例中每個測試座外殼22中包括四個芯片測試位23。 上述結(jié)構(gòu)中，所述的每個測試位23包括一芯片安裝座24，芯片安裝座24內(nèi)部下方設(shè)有雙頭測試針25，雙頭測試針25底部設(shè)有固定探針的下針模26，探針25連接底部電路板21。上述結(jié)構(gòu)中，雙頭探針的上部彈性針頭與芯片管腳連接，下部彈性針頭與底部電路板連接，使芯片管腳與測試板電路實(shí)現(xiàn)物理連接，導(dǎo)通電信號；以便實(shí)現(xiàn)芯片的電性能測試。本實(shí)施例中，所述的上針模27，與下針模26裝夾了探針，使測試針能穩(wěn)定工作，在測試過程中不發(fā)生偏移。本實(shí)施例中，所述的感光燈箱4包括一燈箱固定法蘭401，燈箱固定法蘭401底面上設(shè)有帶有多個LED的電路基板402，由于LED為點(diǎn)光源，為了獲得柔和均勻的測試光線，本實(shí)施例在所述的電路基板402的發(fā)光面上覆蓋一層或多層濾光板403，本實(shí)施例中包括兩層濾光板，所述的電路基板402和濾光板403安裝于濾光板固定法蘭404中，所述的濾光板固定法蘭404下面固定有一上壓板405，所述的上壓板405中設(shè)有對應(yīng)測試位的光學(xué)成像鏡頭的通孔4051，所述的上壓板405下部對應(yīng)每個4051的位置，分別設(shè)有一下壓板407，下壓板上有螺紋孔4072以及出氣口 4071，光學(xué)成像鏡頭406安裝于螺紋孔4072中。本實(shí)施例中，所述的每層濾光板403為多段結(jié)構(gòu)，為了容納電路基板402和多段結(jié)構(gòu)的濾光板403，在所述的濾光板固定法蘭404中設(shè)有安裝電路基板的安裝槽4041，所述的安裝槽4041中設(shè)有安裝多段濾光板的濾光槽4042。為了實(shí)現(xiàn)多層濾光板的安裝，所述的濾光槽為多級結(jié)構(gòu)，結(jié)合本實(shí)施例中的兩層濾光板結(jié)構(gòu)，濾光槽4042也相應(yīng)的為兩級結(jié)構(gòu)。本實(shí)施例中，所述的光學(xué)成像鏡頭406和下壓板407為如圖所示的多行多列的矩陣結(jié)構(gòu)。本實(shí)施例的芯片測試機(jī)的燈箱結(jié)構(gòu)在工作時，載有感光芯片的托盤運(yùn)行到指定位置，燈箱結(jié)構(gòu)下壓對并排放置的感光芯片進(jìn)行檢測，測試完畢后，燈箱結(jié)構(gòu)上升，托盤向前進(jìn)一步，在進(jìn)行下壓測試，循環(huán)上述工作過程，直至測試完畢，但是燈箱結(jié)構(gòu)在上升的過程中，下壓板容易帶起被測的感光芯片，使其脫離托盤，當(dāng)感光芯片粘到下壓板底部時，當(dāng)下一次下壓，則會將粘連的芯片損壞，所述的上壓板405上設(shè)有一進(jìn)氣孔4052，所述的下壓板407上設(shè)有出氣槽4071。 以上所述僅為本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施例，并非因此限制本實(shí)用新型的專利范圍，凡是利用本實(shí)用新型說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本實(shí)用新型的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種自動芯片測試機(jī)測試座，其特征在于包括一圓形底盤，所述的圓形底板上設(shè)有沿圓周排列的測試座，所述的圓形底盤與測試座之間設(shè)有絕緣板。
2.如權(quán)利要求I所述的自動芯片測試機(jī)測試座，其特征在于所述的測試座包括底部的電路板，在電路板上設(shè)有測試座外殼，所述的測試座外殼中設(shè)有一個或多個芯片測試位。
3.如權(quán)利要求2所述的自動芯片測試機(jī)測試座，其特征在于所述的每個測試位包括一芯片安裝座，芯片安裝座內(nèi)部下方設(shè)有測試針，測試針底部設(shè)有電路連接板，電路板轉(zhuǎn)接電信號至測試機(jī)。
4.如權(quán)利要求3所述的自動芯片測試機(jī)測試座，其特征在于所述的測試針安裝于測試針固定座中。
5.如權(quán)利要求I所述的自動芯片測試機(jī)測試座，其特征在于所述的圓形底盤上方設(shè)有感光燈箱，所述的感光燈箱包括一與芯片測試機(jī)連接的燈箱固定法蘭，燈箱固定法蘭底面上設(shè)有帶有多個LED的電路基板，所述的電路基板的發(fā)光面上覆蓋一層或多層濾光板，所述的電路基板和濾光板安裝于濾光板固定法蘭中，所述的濾光板固定法蘭下面固定有一上壓板，所述的濾光板固定法蘭下面固定有一上壓板，所述的上壓板中設(shè)有對應(yīng)每個測試位的通孔，所述的上壓板下部對應(yīng)每個測試位設(shè)有一下壓板，每個下壓板設(shè)有一螺紋孔，螺紋孔中安裝一光學(xué)成像鏡頭。
6.如權(quán)利要求5所述的自動芯片測試機(jī)測試座，其特征在于所述的每層濾光板為多段結(jié)構(gòu)。
7.如權(quán)利要求6所述的自動芯片測試機(jī)測試座，其特征在于所述的濾光板固定法蘭中設(shè)有安裝電路基板的安裝槽，所述的安裝槽中設(shè)有安裝多段濾光板的濾光槽。
8.如權(quán)利要求7所述的自動芯片測試機(jī)測試座，其特征在于所述的濾光槽為多級結(jié)構(gòu)。
9.如權(quán)利要求8所述的自動芯片測試機(jī)測試座，其特征在于所述的光學(xué)成像鏡頭和下壓板為矩陣排列結(jié)構(gòu)。
10.如權(quán)利要求9所述的自動芯片測試機(jī)測試座，其特征在于所述的上壓板上設(shè)有一進(jìn)氣孔，所述的下壓板上設(shè)有出氣槽。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種芯片測試座，尤其是安裝于自動芯片測試機(jī)上的自動芯片測試機(jī)測試座。包括一圓形底盤，所述的圓形底板上設(shè)有沿圓周排列的測試座，所述的圓形底盤與測試座之間設(shè)有絕緣板。本實(shí)用新型中的自動芯片測試機(jī)測試座將測試座以圓周方式排列與圓形底盤上，在進(jìn)行自動測試的時候，轉(zhuǎn)動底部圓形底盤即可依次對圓周上的各個測試座上的芯片進(jìn)行測試，實(shí)現(xiàn)了連續(xù)檢測時，進(jìn)料、出料和檢測部分能夠同步進(jìn)行，這樣可讓測試機(jī)減少對進(jìn)料、出料工序的等待時間；充分節(jié)約整個連續(xù)測試工作的時間。圓周式排布，還縮小了整體自動芯片測試機(jī)的體積，減少了機(jī)器占用的空間，更有利于設(shè)備的安排和擺放。
文檔編號G01R1/04GK202748383SQ20112049727
公開日2013年2月20日 申請日期2011年12月2日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月2日
發(fā)明者金英杰 申請人:金英杰