專利名稱：半導(dǎo)體器件性能測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及半導(dǎo)體器件測試領(lǐng)域，特別是半導(dǎo)體器件性能測試裝置。
背景技術(shù)：
在現(xiàn)有技術(shù)中，測試半導(dǎo)體器件在不同的電壓下的性能是分別將半導(dǎo)體器件連接在不同的電壓上進行測試，這樣就要分別地連接，具有效率低、操作繁瑣的缺點。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型的目的就是針對上述缺點，提供一種效率高、測試簡單的半導(dǎo)體器件性能測試裝置。本實用新型的技術(shù)方案是這樣實現(xiàn)的半導(dǎo)體器件性能測試裝置，包括一個測試儀和電源，其特征是它還包括一個電壓自動調(diào)節(jié)器，所述的電源經(jīng)過電壓自動調(diào)節(jié)器，電壓自動調(diào)節(jié)器還連接測試儀。本實用新型的有益效果是這樣結(jié)構(gòu)的半導(dǎo)體器件性能測試裝置具有效率高、測試簡單的優(yōu)點。

圖1是本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式

以下結(jié)合附圖對本實用新型作進一步的描述。如圖1所示，半導(dǎo)體器件性能測試裝置，包括一個測試儀和電源，其特征是它還包括一個電壓自動調(diào)節(jié)器，所述的電源經(jīng)過電壓自動調(diào)節(jié)器，電壓自動調(diào)節(jié)器還連接測試儀。使用時，所述的電源接半導(dǎo)體器件和測試儀，所述的電壓自動調(diào)節(jié)器可以自動變化電壓，不用多次連接不同的電壓進行測試，具有簡單高效的優(yōu)點。
權(quán)利要求1.半導(dǎo)體器件性能測試裝置，包括一個測試儀和電源，其特征是它還包括一個電壓自動調(diào)節(jié)器，所述的電源經(jīng)過電壓自動調(diào)節(jié)器，電壓自動調(diào)節(jié)器還連接測試儀。
專利摘要本實用新型涉及半導(dǎo)體器件測試領(lǐng)域，特別是半導(dǎo)體器件性能測試裝置。半導(dǎo)體器件性能測試裝置，包括一個測試儀和電源，其特征是它還包括一個電壓自動調(diào)節(jié)器，所述的電源經(jīng)過電壓自動調(diào)節(jié)器，電壓自動調(diào)節(jié)器還連接測試儀，這樣結(jié)構(gòu)的半導(dǎo)體器件性能測試裝置具有效率高、測試簡單的優(yōu)點。
文檔編號G01R31/26GK202159118SQ20112028602
公開日2012年3月7日 申請日期2011年8月9日 優(yōu)先權(quán)日2011年8月9日
發(fā)明者劉寶成 申請人:河南恒昌電子有限公司