專利名稱：一種厚膜電子產(chǎn)品老化試驗(yàn)臺的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種厚膜電子產(chǎn)品老化試驗(yàn)臺，特別涉及一種用于厚膜電子產(chǎn)品老化試驗(yàn)臺。
背景技術(shù)：
目前，通常在厚膜電子產(chǎn)品的生產(chǎn)加工中需要對其電性能進(jìn)行老化試驗(yàn)，現(xiàn)有的老化試驗(yàn)臺對厚膜電子產(chǎn)品老化存在不合理的地方，影響老化試驗(yàn)的一致性，從而直接影響產(chǎn)品的質(zhì)量?，F(xiàn)有的老化試驗(yàn)臺一般是簡化模擬厚膜電子產(chǎn)品的周邊應(yīng)用線路，制作模擬老化試驗(yàn)臺；另外一種方法就是直接接到應(yīng)用設(shè)備中實(shí)裝老化。模擬老化與真實(shí)的應(yīng)用線路存在差異，不能完全真實(shí)的考核厚膜電子產(chǎn)品，而完全實(shí)裝老化要使用實(shí)際的應(yīng)用設(shè)備，投入大而且效率低。因此，提供一種設(shè)計合理，結(jié)構(gòu)簡單，效果顯著，使用方便的厚膜電子產(chǎn)品老化試驗(yàn)臺，是該技術(shù)人員著手解決的問題。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于克服上述不足的之處，提供一種設(shè)計合理，結(jié)構(gòu)簡單，效果顯著，使用方便的厚膜電子產(chǎn)品老化試驗(yàn)臺。為了使老化試驗(yàn)臺接近實(shí)際應(yīng)用環(huán)境，老化線路板直接采用厚膜電子產(chǎn)品的實(shí)際應(yīng)用線路，但是去除實(shí)際應(yīng)用線路的控制部分和負(fù)載， 以負(fù)載電阻替代去除的部分線路，并且設(shè)定負(fù)載電阻的阻值，使厚膜電子產(chǎn)品工作在滿功率下，以便有缺陷的厚膜電子產(chǎn)品能盡快被剔除出來。為了實(shí)現(xiàn)上述目的實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案如下一種厚膜電子產(chǎn)品老化試驗(yàn)臺，包括線路板臺面、負(fù)載電阻臺面、老化線路板和數(shù)字電壓表，所述負(fù)載電阻臺面平行設(shè)于線路板臺面的正下方且兩臺面之間具有間隔，所述負(fù)載電阻臺面上設(shè)有可調(diào)的負(fù)載電阻；所述線路板臺面上設(shè)有老化線路板，老化線路板上設(shè)有待老化產(chǎn)品插座，每塊老化線路板均連接一可調(diào)的負(fù)載電阻和一數(shù)字電壓表。由于負(fù)載電阻發(fā)熱量大，所以在電路結(jié)構(gòu)上老化線路板與負(fù)載電阻分離放置，防止老化線路板溫度升高。為方便操作人員判斷受檢厚膜電子產(chǎn)品的工作狀態(tài)，增加數(shù)字電壓表用于顯示輸出電壓，所述數(shù)字電壓表設(shè)于線路板臺面上。本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比具有如下優(yōu)點(diǎn)和有益效果(1)設(shè)計合理，老化線路板使用實(shí)際應(yīng)用的線路，更能體現(xiàn)真實(shí)的應(yīng)用環(huán)境；(2)整體結(jié)構(gòu)簡單，以功率電阻替代實(shí)際應(yīng)用設(shè)備的復(fù)雜控制線路與負(fù)載，方便使用；(3)設(shè)置功率電阻阻值，使厚膜電子產(chǎn)品工作在滿功率下，以便有缺陷的厚膜電子產(chǎn)品能盡快被剔除出來，從而有效提高檢測質(zhì)量和工作效率。

[0011]圖1是老化線路板線路方框圖；圖2是本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖，對本實(shí)用新型提供的具體實(shí)施方式
、特征、結(jié)構(gòu)詳述如下如圖1所示，一種用于厚膜電子產(chǎn)品老化試驗(yàn)臺，包括老化線路板1、數(shù)字電壓表 2、線路板臺面3、負(fù)載電阻臺面4和電源開關(guān)5。所述線路板臺面3上安裝老化線路板1和數(shù)字電壓表2，方便操作，老化線路板1上設(shè)有待老化產(chǎn)品插座。所述負(fù)載電阻臺面4上設(shè)有可調(diào)的負(fù)載電阻，負(fù)載電阻臺面平行設(shè)于線路板臺面的正下方且兩臺面之間具有間隔， 這樣有利于負(fù)載電阻散熱。每塊老化線路板1均連接一可調(diào)的負(fù)載電阻和一數(shù)字電壓表 2。所述的電源開關(guān)5是帶過流保護(hù)的開關(guān)，安裝于該老化試驗(yàn)臺的前側(cè)面，簡單而又安全可靠。把待老化厚膜電子產(chǎn)品安裝到老化線路板的插座上，合上電源開關(guān)，則老化線路板開始工作，以滿功率(不同產(chǎn)品老化時，負(fù)載電阻設(shè)定不同的阻值)輸出給負(fù)載電阻，同時數(shù)字電壓表檢測輸出電壓并顯示。若厚膜電子產(chǎn)品有缺陷，則經(jīng)過規(guī)定時間的老化，有缺陷的產(chǎn)品因經(jīng)受不住滿功率輸出的嚴(yán)格考核則會損壞，該老化線路板將停止工作，數(shù)字電壓表檢測不到輸出電壓，顯示為零。操作人員據(jù)此可將有缺陷而損壞的厚膜電子產(chǎn)品剔除出來。上述參照實(shí)例對該厚膜電子產(chǎn)品老化試驗(yàn)臺進(jìn)行詳細(xì)描述，是說明性的而不是限定性的，因此在不脫離本實(shí)用新型總體構(gòu)思的變化和修改，應(yīng)屬于本實(shí)用新型保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種厚膜電子產(chǎn)品老化試驗(yàn)臺，其特征在于，該老化試驗(yàn)臺包括線路板臺面、負(fù)載電阻臺面、老化線路板和數(shù)字電壓表，所述負(fù)載電阻臺面平行設(shè)于線路板臺面的正下方且兩臺面之間具有間隔，所述負(fù)載電阻臺面上設(shè)有可調(diào)的負(fù)載電阻；所述線路板臺面上設(shè)有老化線路板，老化線路板上設(shè)有待老化產(chǎn)品插座，每塊老化線路板均連接一可調(diào)的負(fù)載電阻和一數(shù)字電壓表。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的厚膜電子產(chǎn)品老化試驗(yàn)臺，其特征在于，所述數(shù)字電壓表設(shè)于線路板臺面上。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種厚膜電子產(chǎn)品老化試驗(yàn)臺，包括線路板臺面、負(fù)載電阻臺面、老化線路板和數(shù)字電壓表，所述負(fù)載電阻臺面平行設(shè)于線路板臺面的正下方且兩臺面之間具有間隔，所述負(fù)載電阻臺面上設(shè)有可調(diào)的負(fù)載電阻；所述線路板臺面上設(shè)有老化線路板，老化線路板上設(shè)有待老化產(chǎn)品插座，每塊老化線路板均連接一可調(diào)的負(fù)載電阻和一數(shù)字電壓表。本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)設(shè)計合理，整體結(jié)構(gòu)簡單，使用方便；設(shè)置功率電阻阻值，使厚膜電子產(chǎn)品工作在滿功率下，以便有缺陷的厚膜電子產(chǎn)品能盡快被剔除出來，從而有效提高檢測質(zhì)量和工作效率。
文檔編號G01R31/00GK202166700SQ201120206420
公開日2012年3月14日 申請日期2011年6月17日 優(yōu)先權(quán)日2011年6月17日
發(fā)明者夏勇年, 徐華, 高文志 申請人:珠海市華晶微電子有限公司