專利名稱：浪涌發(fā)生器校準系統(tǒng)及校準方法
浪涌發(fā)生器校準系統(tǒng)及校準方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電磁兼容試驗技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及電磁抗擾度試驗中所用浪涌發(fā)生器的校準系統(tǒng)和校準方法。
背景技術(shù)：
雷擊(或操作)浪涌試驗是電氣電子設(shè)備電磁兼容試驗項目的主要內(nèi)容之一，而電磁兼容試驗已納入國家強制性認證范疇。浪涌發(fā)生器是實施浪涌試驗的主要標準器，為了保證浪涌發(fā)生器的質(zhì)量及使用過程中的準確、可靠，對它進行科學(xué)有效地校準是非常必要的。因此，研究浪涌發(fā)生器的校準方法，并設(shè)計相應(yīng)的自動校準系統(tǒng)，就顯得尤為重要。結(jié)合有關(guān)國際和國家標準，本專利提出了對浪涌發(fā)生器的校準方法，并研制滿足該校準方法的自動校準系統(tǒng)，以提高校準過程的質(zhì)量和效率。

發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的在于提供一種浪涌發(fā)生器校準系統(tǒng)及校準方法，以提高校準過程的質(zhì)量和效率。為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案一種浪涌發(fā)生器校準系統(tǒng)，包括浪涌發(fā)生器校準電路和通過互聯(lián)電纜連接浪涌發(fā)生器校準電路的計算機；浪涌發(fā)生器校準電路包括浪涌發(fā)生器和示波器；所述計算機中設(shè)有設(shè)置浪涌發(fā)生器、提取示波器數(shù)值的自動校準模塊。本發(fā)明進一步的改進在于所述自動校準模塊包括校準線路配置模塊，所述校準線路配制模塊用于將浪涌發(fā)生器校準電路配制成第一開路電壓波形校準電路、第二開路電壓波形校準電路、第三開路電壓波形校準電路、第一短路電流波形校準電路、第二短路電流波形校準電路或第三短路電流波形校準電路；所述第一開路電壓波形校準電路包括浪涌發(fā)生器、開路電阻、示波器和高壓探頭； 開路電阻串入浪涌發(fā)生器的輸出回路，高壓探頭配合示波器提取開路電阻的端電壓；所述第二開路電壓波形校準電路包括浪涌發(fā)生器、第一耦合網(wǎng)絡(luò)、開路電阻、示波器和高壓探頭；第一耦合網(wǎng)絡(luò)和開路電阻串入浪涌發(fā)生器的輸出回路，高壓探頭配合示波器提取開路電阻的端電壓；所述第三開路電壓波形校準電路包括浪涌發(fā)生器、第二耦合網(wǎng)絡(luò)、開路電阻、示波器和高壓探頭；第二耦合網(wǎng)絡(luò)和開路電阻串入浪涌發(fā)生器的輸出回路，高壓探頭配合示波器提取開路電阻的端電壓；所述第一短路電流波形校準電路包括浪涌發(fā)生器、示波器和電流探頭；浪涌發(fā)生器的輸出回路采用導(dǎo)線直接短接，電流探頭配合示波器提取浪涌發(fā)生器輸出端的短路電流值；所述第二短路電流波形校準電路包括浪涌發(fā)生器、第一耦合網(wǎng)絡(luò)、示波器和電流探頭；浪涌發(fā)生器的輸出端接入第一耦合網(wǎng)絡(luò)后直接短接，電流探頭配合示波器提取第一耦合網(wǎng)絡(luò)輸出端的短路電流值；所述第三短路電流波形校準電路包括浪涌發(fā)生器、第二耦合網(wǎng)絡(luò)、示波器和電流探頭；浪涌發(fā)生器的輸出端接入第二耦合網(wǎng)絡(luò)后直接短接，電流探頭配合示波器提取第二耦合網(wǎng)絡(luò)輸出端的短路電流值；第一耦合網(wǎng)絡(luò)為兩個相互并聯(lián)的電容，第二耦合網(wǎng)絡(luò)為兩個相互串聯(lián)的電容和電阻。本發(fā)明進一步的改進在于第一耦合網(wǎng)絡(luò)中的兩個電容的大小均為9μ F;第二耦合網(wǎng)絡(luò)中的電容為9 μ F，電阻為10 Ω ；開路電阻彡IOkQ，瞬時耐壓彡6kV;示波器的帶寬彡400MHz ；高壓探頭的衰減比例為1000 1 ；電流探頭的耦合系數(shù)為100A/V。本發(fā)明進一步的改進在于準線路配置模塊通過控制浪涌發(fā)生器校準電路中相應(yīng)的開關(guān)將浪涌發(fā)生器校準電路配制成第一開路電壓波形校準電路、第二開路電壓波形校準電路、第三開路電壓波形校準電路、第一短路電流波形校準電路、第二短路電流波形校準電路或第三短路電流波形校準電路。本發(fā)明進一步的改進在于所述自動校準模塊還包括提取浪涌發(fā)生器和示波器數(shù)據(jù)并進行處理、按照標準進行符合性比較，最后形成原始記錄的數(shù)據(jù)處理模塊。本發(fā)明進一步的改進在于所述自動校準模塊還包括用于設(shè)置浪涌發(fā)生器參數(shù)、 示波器參數(shù)、校準元件參數(shù)、校準所依據(jù)的標準參數(shù)的參數(shù)設(shè)置模塊。本發(fā)明進一步的改進在于所述自動校準模塊還包括用于對浪涌發(fā)生器校準電路的儀器進行程序控制的儀器程序控制模塊；該儀器程序控制模塊包括控制總線庫模塊、示波器驅(qū)動庫模塊、浪涌發(fā)生器驅(qū)動庫模塊和儀器互換控制模塊。本發(fā)明進一步的改進在于所述自動校準模塊還包括用于對校準過程進行控制的校準流程控制模塊；所述校準流程控制模塊包括校準線路配置模塊、校準流程配置模塊、程控儀器控制模塊和校準過程控制模塊。一種浪涌發(fā)生器校準系統(tǒng)的校準方法，包括以下步驟自動校準模塊的校準線路配制模塊將浪涌發(fā)生器校準電路配制成第一開路電壓波形校準電路、第二開路電壓波形校準電路、第三開路電壓波形校準電路、第一短路電流波形校準電路、第二短路電流波形校準電路或第三短路電流波形校準電路；自動校準模塊提取浪涌發(fā)生器和示波器數(shù)據(jù)并進行處理、按照標準進行符合性比較，最后形成原始記錄輸出。本發(fā)明具有以下有益效果1.提出了科學(xué)合理的浪涌發(fā)生器校準方法，既可以校準發(fā)生器輸出端口參數(shù)，也可以校準兩種不同CDN的EUT輸出端口參數(shù)，可系統(tǒng)客觀地評價浪涌發(fā)生器的各項參數(shù)。2.提出了三套開路電壓試驗線路和三套短路電流試驗線路，既考慮了試驗的可實現(xiàn)性，又保證了對相關(guān)標準的符合性，為科學(xué)客觀地校準浪涌器參數(shù)奠定了良好的技術(shù)基石出。3.研制出了校準系統(tǒng)，可以自動完成開路電壓和短路電流等參數(shù)校準過程，提高了試驗效率，降低了隨機誤差的產(chǎn)生，有效保障了校準質(zhì)量。4.自動校準模塊可完成從參數(shù)設(shè)置、儀器程序控制、校準流程控制和數(shù)據(jù)處理等功能，支持多種程控總線和國內(nèi)外主流儀器，具有良好的兼容性，從而大大提高了自動校準系統(tǒng)的普適性。
圖1為帶⑶N的試驗配置框圖；圖加)、圖2b)和圖2c)為三種開路電壓波形校準原理圖；圖3a)、圖3b)和圖3c)為三種短路電流波形校準原理圖；圖4a)和圖4b)分別為開路電壓和短路電流自動校準原理圖；圖5為自動校準系統(tǒng)框圖。圖中1為去耦網(wǎng)絡(luò)，其中C3、C4、C5為去耦電容，Li、L2為去耦電感；2為耦合網(wǎng)絡(luò)，其中Cl、C2為耦合電容，Cl = C2 = 9 μ F ;3為浪涌發(fā)生器；4為被測件；5為開路電阻 (彡10kQ，瞬時耐壓彡6kV) ；6、為示波器(帶寬彡400MHz) ；7為高壓探頭(1000 1) ；8 為耦合網(wǎng)絡(luò)，其中電阻R2 = 10Ω ；9為電流探頭(耦合系數(shù)100A/V) ；10為自動校準模塊； 11為計算機；12為互聯(lián)電纜(RS-232電纜、G PIB電纜、LAN電纜或USB電纜)。
具體實施方式下面結(jié)合附圖對本發(fā)明做進一步詳細描述表征浪涌發(fā)生器的主要參數(shù)有以下三類①開路電壓，②短路電流，③輸出阻抗。 試驗中，一般需要在浪涌發(fā)生器的輸出端連接一個耦合網(wǎng)絡(luò)(簡稱CDN)，通過CDN的被試設(shè)備(EUT)端口與EUT相連，如圖1所示。若將圖1中的“9 μ F+9 μ F”耦合電容(即C1+C2) 更換為“9 μ F+10 Ω ”耦合阻抗，就成為另一種試驗配置；整個試驗中，耦合網(wǎng)絡(luò)的配置即這兩種要求。結(jié)合上述對試驗配置的分析，對浪涌發(fā)生器的校準需要包括以下三種端口 ①浪涌發(fā)生器的輸出端口，②浪涌發(fā)生器經(jīng)“9 μ F+9 μ F”耦合電容后的輸出端口，③浪涌發(fā)生器經(jīng)“9yF+10Q”后的輸出端口。對于每一種待校準端口，需要校準的參數(shù)有六個開路電壓幅值、開路電壓上升時間、開路電壓持續(xù)時間、短路電流幅值、短路電流上升時間、短路電流持續(xù)時間，另外，對浪涌發(fā)生器的輸出端口，還需多校準三個參數(shù)過沖電壓、過沖電流及輸出阻抗。按照有關(guān)國際和國家標準，開路電壓值包括0. 5kV、lkV、2kV、4kV四個等級為必須校準項目，校準內(nèi)容包括上述所有參數(shù)，其余電壓等級，根據(jù)實際情況需要選定。圖1表明了通過耦合網(wǎng)絡(luò)2 (OTN)將浪涌發(fā)生器3產(chǎn)生的浪涌信號耦合到被測件4(EUT)輸入電源線上的配置；其中，耦合網(wǎng)絡(luò)2中的耦合電容Cl、C2的大小均為9 μ F， 模擬了差模耦合阻抗，如果將耦合網(wǎng)絡(luò)2由耦合網(wǎng)絡(luò)8替換，則將耦合阻抗更換為Cl、 R2 (9 μ F+10 Ω )，模擬了共模耦合阻抗。試驗中，浪涌發(fā)生器3的浪涌信號通過耦合網(wǎng)絡(luò)2 耦合到被測件4的輸入電源上，為了防止浪涌發(fā)生器3中的浪涌信號反串入電源網(wǎng)絡(luò)，采用去耦網(wǎng)絡(luò)1將被測件4和電源網(wǎng)絡(luò)進行了隔離。根據(jù)這種測試配置，需要校準的端口為浪涌發(fā)生器3的輸出端口，⑶N2的9 μ F+9 μ F輸出端口，⑶Ν8的9 μ F+10 Ω輸出端口，以分別校準浪涌發(fā)生器3和EUT 4的質(zhì)量及量值傳遞狀況，該圖是提出后續(xù)校準方法的基礎(chǔ)。圖2給出了校準開路電壓波形的三種配置，該試驗線路的主要功能是模擬被試端口的開路情況，因此配置了一個阻抗不低于IOkQ的電阻器5作為開路負載，很好地解決了試驗中的開路問題，也提供了一個校準基準；通過這三種配置，可以分別獲得浪涌發(fā)生器3、耦合網(wǎng)絡(luò)2和耦合網(wǎng)絡(luò)8對應(yīng)端口的近似開路電壓，具體實現(xiàn)過程是①圖2a)——浪涌發(fā)生器3的輸出回路中串入開路電阻5，形成一個近似開路的試驗回路，高壓探頭7配合示波器6提取開路電阻5的端電壓，作為浪涌發(fā)生器3的近似開路電壓，這種配置下獲得的開路電壓就是浪涌發(fā)生器3的輸出端口電壓。②圖2b)——浪涌發(fā)生器3、耦合網(wǎng)絡(luò)2、開路電阻5形成一個近似開路的試驗回路，高壓探頭7配合示波器6提取開路電阻5的端電壓，作為耦合網(wǎng)絡(luò)2的EUT端口近似開路電壓。③圖2c——浪涌發(fā)生器3、耦合網(wǎng)絡(luò)8、開路電阻 5形成一個近似開路的試驗回路，高壓探頭7配合示波器6提取開路電阻5的端電壓，作為耦合網(wǎng)絡(luò)8的EUT端口近似開路電壓。圖3給出了校準短路電流波形的三種配置，通過這三種配置，可以分別獲得浪涌發(fā)生器3、耦合網(wǎng)絡(luò)2和耦合網(wǎng)絡(luò)8對應(yīng)端口的短路電流，具體實現(xiàn)過程是①圖3a)——浪涌發(fā)生器3的輸出回路采用一根導(dǎo)線直接短接，實現(xiàn)了完全的外電路短路(若某些浪涌發(fā)生器外電路不能直接短路，可以采用不超過0. 1歐姆的高壓電阻串接到外電路中，模擬短路線路)，很好地滿足了端口校準要求；電流探頭9配合示波器6提取浪涌發(fā)生器3輸出端的短路電流值。②圖3b)——浪涌發(fā)生器3的輸出端接入耦合網(wǎng)絡(luò)2后直接短接，形成一個包含9 μ F+9 μ F耦合網(wǎng)絡(luò)的短路回路，電流探頭9配合示波器6提取耦合網(wǎng)絡(luò)2的EUT端口短路電流值。③圖3c——浪涌發(fā)生器3的輸出端接入耦合網(wǎng)絡(luò)8后直接短接，形成一個包含9 μ F+10 Ω耦合網(wǎng)絡(luò)的短路回路，電流探頭9配合示波器6提取耦合網(wǎng)絡(luò)8的EUT端口短路電流值。關(guān)于輸出阻抗，采用前面兩種試驗線路測得的開路電壓和對應(yīng)的短路電流， 依據(jù)暫態(tài)電路相關(guān)算法計算得到。按照上述的校準要求，需要校準的參數(shù)上百個，而且大多數(shù)參數(shù)需要通過手工計算并反復(fù)調(diào)節(jié)儀器才能獲得，使得試驗過程繁瑣，效率低下，且容易引入隨機誤差。另外，在相關(guān)國標中，對于開路電壓和短路電流的波形參數(shù)，既給出了按照GB/T16927. 1的定義(即波前時間和半峰值時間)，又給出了 IEC60469-1的定義(即10 % 90 %上升時間和50 % 50%持續(xù)時間)，若按照IEC60469-1的定義，手工測試較為方便；若采用GB/T16927. 1的定義，用手工測試很難在儀器屏幕上直接測得，需要計算機輔助繪制直線，在輔助直線的幫助下才能得到需要的值，而示波器目前還不支持這樣的繪圖功能。針對這些需求，本發(fā)明研制出了一套浪涌發(fā)生器自動校準系統(tǒng)，如圖4所示，包括開路電壓自動測試子系統(tǒng)和短路電流自動測試子系統(tǒng)。利用系統(tǒng)中配置的計算機和自動校準模塊10，設(shè)置浪涌發(fā)生器和測試儀器的參數(shù)、自動讀取儀器數(shù)值，并按照相關(guān)國標和國際標準進行數(shù)據(jù)處理，自動形成校準所需要的原始記錄(或報表)。這樣，既科學(xué)地執(zhí)行了前述校準方法，降低了隨機誤差，也大大提高了校準效率。請參閱圖4所示，圖如和圖4b分別為開路電壓和短路電流自動校準原理圖，計算機11通過互聯(lián)電纜12連接浪涌發(fā)生器3和示波器6。請參閱圖5所示，計算機11中設(shè)有接浪涌發(fā)生器自動校準模塊10，其包括①參數(shù)設(shè)置模塊該模塊主要用于設(shè)置校準所需要的各種參數(shù)，包括浪涌發(fā)生器參數(shù)、示波器參數(shù)、校準元件參數(shù)(如開路電阻、CDN)、校準所依據(jù)的標準參數(shù)等；②儀器程序控制模塊該模塊用于對儀器的程序控制，且能兼容國內(nèi)外主流同類儀器，包括下述四個二級模塊控制總線庫模塊(兼容的總線有RS-232、GPIB、USB及LAN等)、示波器驅(qū)動庫模塊(兼容安捷倫、泰克和力科等廠家多種類型的示波器)、浪涌發(fā)生器驅(qū)動庫模塊(兼容瑞士 TESEQ、EMTEST、HAEFELY，國內(nèi)三基、3C TEST等產(chǎn)品)、儀器互換控制模塊(采用IVI-COM軟件技術(shù)實現(xiàn)上述儀器的互換)。③校準流程控制模塊該模塊用于對校準過程相關(guān)活動的控制，包括下述四個二級模塊校準線路配置模塊(用于通過控制相應(yīng)開關(guān)的開或關(guān)，選擇采用圖2或圖3中六個線路中的哪一個，并配置有關(guān)元件參數(shù))、校準流程配置模塊(配制需要校準的電壓等級及校準順序)、程控儀器控制模塊(用于對程控儀器的指令控制)、校準過程控制模塊(用于啟動校準過程，完成校準活動)。④數(shù)據(jù)處理模塊該模塊用于對提取到的浪涌發(fā)生器和示波器數(shù)據(jù)進行處理，按照標準進行符合性比較，最后形成原始記錄(或報表)。
自動校準模塊10經(jīng)過計算機11和互聯(lián)電纜12，可以控制浪涌發(fā)生器3和示波器 6，自動完成參數(shù)設(shè)置、控制校準過程、提取測試數(shù)據(jù)，并按照相關(guān)國家和國際標準進行數(shù)據(jù)處理，輸出原始記錄(或報表)。
權(quán)利要求
1.一種浪涌發(fā)生器校準系統(tǒng)，其特征在于，包括浪涌發(fā)生器校準電路和通過互聯(lián)電纜 (12)連接浪涌發(fā)生器校準電路的計算機(11)；浪涌發(fā)生器校準電路包括浪涌發(fā)生器(3)和示波器(6)；所述計算機(11)中設(shè)有設(shè)置浪涌發(fā)生器(3)、提取示波器(6)數(shù)值的自動校準模塊(10)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種浪涌發(fā)生器校準系統(tǒng)，其特征在于，所述自動校準模塊 (10)包括校準線路配置模塊，所述校準線路配制模塊用于將浪涌發(fā)生器校準電路配制成第一開路電壓波形校準電路、第二開路電壓波形校準電路、第三開路電壓波形校準電路、第一短路電流波形校準電路、第二短路電流波形校準電路或第三短路電流波形校準電路；所述第一開路電壓波形校準電路包括浪涌發(fā)生器(3)、開路電阻(5)、示波器(6)和高壓探頭(7)；開路電阻(5)串入浪涌發(fā)生器(3)的輸出回路，高壓探頭(7)配合示波器(6) 提取開路電阻(5)的端電壓；所述第二開路電壓波形校準電路包括浪涌發(fā)生器(3)、第一耦合網(wǎng)絡(luò)O)、開路電阻 (5)、示波器(6)和高壓探頭(7)；第一耦合網(wǎng)絡(luò)(2)和開路電阻(5)串入浪涌發(fā)生器(3)的輸出回路，高壓探頭(7)配合示波器(6)提取開路電阻(5)的端電壓；所述第三開路電壓波形校準電路包括浪涌發(fā)生器(3)、第二耦合網(wǎng)絡(luò)(8)、開路電阻 (5)、示波器(6)和高壓探頭(7)；第二耦合網(wǎng)絡(luò)(8)和開路電阻(5)串入浪涌發(fā)生器(3)的輸出回路，高壓探頭(7)配合示波器(6)提取開路電阻(5)的端電壓；所述第一短路電流波形校準電路包括浪涌發(fā)生器(3)、示波器(6)和電流探頭(9)；浪涌發(fā)生器(3)的輸出回路采用導(dǎo)線直接短接，電流探頭(9)配合示波器(6)提取浪涌發(fā)生器⑶輸出端的短路電流值；所述第二短路電流波形校準電路包括浪涌發(fā)生器(3)、第一耦合網(wǎng)絡(luò)O)、示波器(6) 和電流探頭(9)；浪涌發(fā)生器(3)的輸出端接入第一耦合網(wǎng)絡(luò)( 后直接短接，電流探頭 (9)配合示波器(6)提取第一耦合網(wǎng)絡(luò)( 輸出端的短路電流值；所述第三短路電流波形校準電路包括浪涌發(fā)生器(3)、第二耦合網(wǎng)絡(luò)(8)、示波器(6) 和電流探頭(9)；浪涌發(fā)生器(3)的輸出端接入第二耦合網(wǎng)絡(luò)(8)后直接短接，電流探頭 (9)配合示波器(6)提取第二耦合網(wǎng)絡(luò)(8)輸出端的短路電流值；第一耦合網(wǎng)絡(luò)O)為兩個相互并聯(lián)的電容，第二耦合網(wǎng)絡(luò)(8)為兩個相互串聯(lián)的電容和電阻。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種浪涌發(fā)生器校準系統(tǒng)，其特征在于，第一耦合網(wǎng)絡(luò)(2)中的兩個電容的大小均為9μ F;第二耦合網(wǎng)絡(luò)(8)中的電容為9yF，電阻為10Ω ；開路電阻 (5)彡IOkQ，瞬時耐壓彡6kV ；示波器(6)的帶寬彡400MHz ；高壓探頭(7)的衰減比例為 1000 1 ；電流探頭(9)的耦合系數(shù)為100A/V。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種浪涌發(fā)生器校準系統(tǒng)，其特征在于，準線路配置模塊通過控制浪涌發(fā)生器校準電路中相應(yīng)的開關(guān)將浪涌發(fā)生器校準電路配制成第一開路電壓波形校準電路、第二開路電壓波形校準電路、第三開路電壓波形校準電路、第一短路電流波形校準電路、第二短路電流波形校準電路或第三短路電流波形校準電路。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項所述的一種浪涌發(fā)生器校準系統(tǒng)，其特征在于，所述自動校準模塊(10)還包括提取浪涌發(fā)生器( 和示波器(6)數(shù)據(jù)并進行處理、按照標準進行符合性比較，最后形成原始記錄的數(shù)據(jù)處理模塊。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項所述的一種浪涌發(fā)生器校準系統(tǒng)，其特征在于，所述自動校準模塊(10)還包括用于設(shè)置浪涌發(fā)生器參數(shù)、示波器參數(shù)、校準元件參數(shù)、校準所依據(jù)的標準參數(shù)的參數(shù)設(shè)置模塊。
7.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項所述的一種浪涌發(fā)生器校準系統(tǒng)，其特征在于，所述自動校準模塊(10)還包括用于對浪涌發(fā)生器校準電路的儀器進行程序控制的儀器程序控制模塊；該儀器程序控制模塊包括控制總線庫模塊、示波器驅(qū)動庫模塊、浪涌發(fā)生器驅(qū)動庫模塊和儀器互換控制模塊。
8.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項所述的一種浪涌發(fā)生器校準系統(tǒng)，其特征在于，所述自動校準模塊(10)還包括用于對校準過程進行控制的校準流程控制模塊；所述校準流程控制模塊包括校準線路配置模塊、校準流程配置模塊、程控儀器控制模塊和校準過程控制模塊。
9.根據(jù)權(quán)利要求5-8中任一項所述的一種浪涌發(fā)生器校準系統(tǒng)的校準方法，其特征在于，包括以下步驟自動校準模塊(10)的校準線路配制模塊將浪涌發(fā)生器校準電路配制成第一開路電壓波形校準電路、第二開路電壓波形校準電路、第三開路電壓波形校準電路、第一短路電流波形校準電路、第二短路電流波形校準電路或第三短路電流波形校準電路；自動校準模塊(10)提取浪涌發(fā)生器(3)和示波器(6)數(shù)據(jù)并進行處理、按照標準進行符合性比較，最后形成原始記錄輸出。
全文摘要
本發(fā)明提供一種浪涌發(fā)生器校準系統(tǒng)及其校準方法，該系統(tǒng)包括浪涌發(fā)生器校準電路和通過互聯(lián)電纜連接浪涌發(fā)生器校準電路的計算機；浪涌發(fā)生器校準電路包括浪涌發(fā)生器和示波器；所述計算機中設(shè)有設(shè)置浪涌發(fā)生器、提取示波器數(shù)值的自動校準模塊。本發(fā)明既可以校準發(fā)生器輸出端口參數(shù)，也可以校準兩種不同CDN的EUT輸出端口參數(shù)，可系統(tǒng)客觀地評價浪涌發(fā)生器的各項參數(shù)；可以自動完成開路電壓和短路電流等參數(shù)校準過程，提高了試驗效率，降低了隨機誤差的產(chǎn)生，有效保障了校準質(zhì)量。
文檔編號G01R35/00GK102495385SQ20111040545
公開日2012年6月13日 申請日期2011年12月8日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月8日
發(fā)明者任穩(wěn)柱, 馮建強, 劉易勇, 姜寧 申請人:中國西電電氣股份有限公司