專利名稱：導(dǎo)電云母粉密度阻值測量設(shè)備及其測量方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測量設(shè)備及其測量方法，具體是一種導(dǎo)電云母粉密度阻值測量設(shè)備及其測量方法。
背景技術(shù)：
導(dǎo)電云母粉作為一種抗靜電添加材料，為社會各界廣泛應(yīng)用。該材料在使用過程中，導(dǎo)電能力與其密度條件成正比關(guān)系。如何實現(xiàn)一次檢測過程完成一系列密度條件下產(chǎn)品導(dǎo)電率測試，成為一個迫切需要解決的技術(shù)方法。目前針對該材料的電阻率測量受到材料特性，測試要求影響還沒有一種切實有效、可行的方法。在類似電阻率測量中較為類似的是碳素粉末材料電阻率測量技術(shù)。該技 術(shù)是通過壓力機對待測粉末進行加載，在一個固定壓力條件下讀取待測粉末的電阻值。然而該技術(shù)在導(dǎo)電云母粉不同密度條件下的連續(xù)性測試測量中存在以下技術(shù)不足1.加載過程不能按照位移速度加載，致使較高密度條件下，讀數(shù)偏差大；2.定壓力加載不能精確計算導(dǎo)電云母壓制密度水平，使導(dǎo)電率測算誤差變大；3.設(shè)備不能給出導(dǎo)電率數(shù)值。因此該設(shè)備在實際測試過程中無法實現(xiàn)正常測試功能。通過針對導(dǎo)電云母粉密度導(dǎo)電率測試要求以及方法的研究，本發(fā)明專門應(yīng)用于導(dǎo)電云母粉電阻率的測量，同時也可以應(yīng)用與其他超細粉狀物質(zhì)的密度電阻率的測量。通過伺服壓力機對試樣槽內(nèi)的導(dǎo)電云母粉進行加壓，通過多種傳感器技術(shù)，實現(xiàn)對不同質(zhì)量密度、體積密度的導(dǎo)電云母粉的導(dǎo)電能力與硬度系數(shù)進行自動測定。本發(fā)明為實現(xiàn)產(chǎn)業(yè)自動化，提高產(chǎn)品質(zhì)量控制水平提供了一種有效的技術(shù)方法。

發(fā)明內(nèi)容
為了解決導(dǎo)電云母粉不同密度條件下的連續(xù)性測試測量中存在的一些技術(shù)不足的問題。本發(fā)明提供了一種導(dǎo)電云母粉密度阻值測量設(shè)備及其測量方法，該發(fā)明通過伺服加載，對被測試導(dǎo)電云母粉進行等位移模式加載。設(shè)備自動記錄加載位移量，壓力變化，電阻率變化，并以此計算出導(dǎo)電云母粉密度電阻率，并繪制密度-電阻率曲線，給定工程使用過程中，添加量與導(dǎo)電能力之間的關(guān)系。本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是該發(fā)明包括框架、激光測距儀、測試電極、試樣槽、底座電極、絕緣墊、電子天平、加載系統(tǒng)、形變監(jiān)測器，該導(dǎo)電云母粉密度阻值測量設(shè)備有一個矩形的一側(cè)開口的鋼制框架，在框架的頂部，向下垂直設(shè)有一個加載端，該加載端內(nèi)置激光測距儀，且加載端的端頭固定設(shè)有測試電極；在框架的底部，向上固定設(shè)有一個加載系統(tǒng)，在加載系統(tǒng)內(nèi)部設(shè)有一個電子天平，在加載系統(tǒng)頂部，向上固定設(shè)有一個矩形內(nèi)凹的陶瓷試樣槽，該試樣槽底部順序向上分別設(shè)有陶瓷絕緣墊和底座電極，所述絕緣墊用以隔離測試物體與加載系統(tǒng)，所述測試電極和底座電極形成一個電極對；在試樣槽外偵牝設(shè)置一個形變監(jiān)測器，用于檢測測試過程中受壓力影響試樣槽的形變程度，根據(jù)形變量實時做出數(shù)值調(diào)整，以保證最終數(shù)據(jù)段可靠性。
本發(fā)明的測量方法為(I)對試樣槽進行注樣，注樣完畢后，電子天平進行測定待測試樣質(zhì)量。(2)加載系統(tǒng)按照固定測試要求進行震動試樣，使得待測樣達到統(tǒng)一密度水平。(3)通過激光測距儀，測量試樣槽中試樣基準高度，將位移量傳至加載系統(tǒng)，使得加載系統(tǒng)獲得位移記錄起始點。(4)參照第3步數(shù)據(jù)，加載系統(tǒng)以O(shè). lmm/s速度對待測樣進行加載。(5)加載過程中，系統(tǒng)記錄位移量、加載壓強、電阻值、試樣槽形變率以及加載時間等數(shù)據(jù)。 (6)系統(tǒng)通過位移量、形變監(jiān)測器測量的試樣槽形變率計算當(dāng)前試樣體積，結(jié)合質(zhì)量數(shù)據(jù)、目數(shù)與當(dāng)前電阻值，計算質(zhì)量密度電阻率與體積密度電阻率。(7)加載系統(tǒng)持續(xù)加載到試樣槽形變系數(shù)最大值止啟動結(jié)束測試過程。(8)同時加載系統(tǒng)根據(jù)加載壓強與試樣槽形變率給出理論電阻率水平、實際應(yīng)用最大電阻率水平和導(dǎo)電云母粉硬度系數(shù)。(9)完成測試，系統(tǒng)給出報表，包含質(zhì)量密度電阻率，體積密度電阻率，工程可實現(xiàn)最小電阻率，該試樣導(dǎo)電云母粉硬度系統(tǒng)。同時系統(tǒng)根據(jù)歷史數(shù)據(jù)進行比對，將以上三個數(shù)據(jù)進行計算，給出產(chǎn)品質(zhì)量偏差水平和偏差原因。本發(fā)明的有益效果是該導(dǎo)電云母粉密度阻值測量設(shè)備及其測量方法通過伺服壓力機對試樣槽內(nèi)的導(dǎo)電云母粉進行加壓，通過多種傳感器技術(shù)，實現(xiàn)對不同質(zhì)量密度、體積密度的導(dǎo)電云母粉的導(dǎo)電能力與硬度系數(shù)進行自動測定。該技術(shù)為實現(xiàn)產(chǎn)業(yè)自動化，提高產(chǎn)品質(zhì)量控制水平提供了一種有效的技術(shù)方法，同時也可以應(yīng)用與其他超細粉狀物質(zhì)的密度電阻率的測量，極具實用價值。


下面結(jié)合附圖及實施例對本發(fā)明作進一步說明。附圖I為該導(dǎo)電云母粉密度阻值測量設(shè)備及其測量方法的結(jié)構(gòu)原理示意圖。圖中，I.框架、2.激光測距儀、3.測試電極、4.試樣槽、5.底座電極、6.絕緣墊、7.電子天平、8.加載系統(tǒng)、9.形變監(jiān)測器。
具體實施例方式在圖中，該發(fā)明包括框架I、激光測距儀2、測試電極3、試樣槽4、底座電極5、絕緣墊6、電子天平7、加載系統(tǒng)8、形變監(jiān)測器9，該導(dǎo)電云母粉密度阻值測量設(shè)備有一個矩形的一側(cè)開口的鋼制框架1，在框架I頂部，向下垂直設(shè)有一個加載端，該加載端內(nèi)置激光測距儀2，且加載端的端頭固定設(shè)有測試電極3 ;在框架I的底部，向上固定設(shè)有一個加載系統(tǒng)8，在加載系統(tǒng)8內(nèi)部設(shè)有一個電子天平7，在加載系統(tǒng)8的頂部，向上固定設(shè)有一個矩形內(nèi)凹的陶瓷試樣槽4，該試樣槽4底部順序向上分別設(shè)有陶瓷絕緣墊6和底座電極5，所述絕緣墊6用以隔離測試物體與加載系統(tǒng)8，所述測試電極3和底座電極5形成一個電極對；在試樣槽4外側(cè)，設(shè)置一個形變監(jiān)測器9，用于檢測測試過程中受壓力影響試樣槽4的形變程度，根據(jù)形變量實時做出數(shù)值調(diào)整，以保證最終數(shù)據(jù)段可靠性。本發(fā)明的測量方法為(I)對試樣槽進行注樣，注樣完畢后，電子天平進行測定待測試樣質(zhì)量。(2)加載系統(tǒng)按照固定測試要求進行震動試樣，使得待測樣達到統(tǒng)一密度水平。(3)通過激光測距儀，測量試樣槽中試樣基準高度，將位移量傳至加載系統(tǒng)，使得加載系統(tǒng)獲得位移記錄起始點。(4)參照第3步數(shù)據(jù)，加載系統(tǒng)以O(shè). lmm/s速度對待測樣進行加載。(5)加載過程中，系統(tǒng)記錄位移量、加載壓強、電阻值、試樣槽形變率以及加載時間等數(shù)據(jù)。(6)系統(tǒng)通過位移量、形變監(jiān)測器測量的試樣槽形變率計算當(dāng)前試樣體積，結(jié)合質(zhì)量數(shù)據(jù)、目數(shù)與當(dāng)前電阻值，計算質(zhì)量密度電阻率與體積密度電阻率。(7)加載系統(tǒng)持續(xù)加載到試樣槽形變系數(shù)最大值止自動結(jié)束測試過程。 (8)同時加載系統(tǒng)根據(jù)加載壓強與試樣槽形變率給出理論電阻率水平、實際應(yīng)用最大電阻率水平和導(dǎo)電云母粉硬度系數(shù)。(9)完成測試，系統(tǒng)給出報表，包含質(zhì)量密度電阻率，體積密度電阻率，工程可實現(xiàn)最小電阻率，該試樣導(dǎo)電云母粉硬度系統(tǒng)。同時系統(tǒng)根據(jù)歷史數(shù)據(jù)進行比對，將以上三個數(shù)據(jù)進行計算，給出產(chǎn)品質(zhì)量偏差水平和偏差原因。
權(quán)利要求
1.導(dǎo)電云母粉密度阻值測量設(shè)備及其測量方法，本發(fā)明包括框架(I)、激光測距儀(2)、測試電極(3)、試樣槽(4)、底座電極(5)、絕緣墊(6)、電子天平(7)、加載系統(tǒng)⑶、形變監(jiān)測器(9)，其特征是該導(dǎo)電云母粉密度阻值測量設(shè)備有一個矩形的一側(cè)開口的鋼制框架(1)，在框架(I)頂部，向下垂直設(shè)有一個加載端，該加載端內(nèi)置激光測距儀(2)，且加載端的端頭固定設(shè)有測試電極(3);在框架(I)的底部，向上固定設(shè)有一個加載系統(tǒng)(8)，在加載系統(tǒng)(8)內(nèi)部設(shè)有一個電子天平(7)，在加載系統(tǒng)(8)的頂部，向上固定設(shè)有一個矩形內(nèi)凹的陶瓷試樣槽(4)，該試樣槽(4)底部順序向上分別設(shè)有陶瓷絕緣墊(6)和底座電極(5),所述測試電極(3)和底座電極(5)形成一個電極對；在試樣槽⑷外側(cè)，設(shè)置一個形變監(jiān)測器(9)。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的導(dǎo)電云母粉密度阻值測量設(shè)備及其測量方法，其測量方法特征是(I)對試樣槽進行注樣，注樣完畢后，電子天平進行測定待測試樣質(zhì)量。
(2)加載系統(tǒng)按照固定測試要求進行震動試樣，使得待測樣達到統(tǒng)一密度水平。
(3)通過激光測距儀，測量試樣槽中試樣基準高度，將位移量傳至加載系統(tǒng)，使得加載系統(tǒng)獲得位移記錄起始點。
(4)參照第3步數(shù)據(jù)，加載系統(tǒng)以0.lmm/s速度對待測樣進行加載。
(5)加載過程中，系統(tǒng)記錄位移量、加載壓強、電阻值、試樣槽形變率以及加載時間等數(shù)據(jù)。
(6)系統(tǒng)通過位移量、形變監(jiān)測器測量的試樣槽形變率計算當(dāng)前試樣體積，結(jié)合質(zhì)量數(shù)據(jù)、目數(shù)與當(dāng)前電阻值，計算質(zhì)量密度電阻率與體積密度電阻率。
(7)加載系統(tǒng)持續(xù)加載到試樣槽形變系數(shù)最大值止自動結(jié)束測試過程。
(8)同時加載系統(tǒng)根據(jù)加載壓強與試樣槽形變率給出理論電阻率水平、實際應(yīng)用最大電阻率水平和導(dǎo)電云母粉硬度系數(shù)。
(9)完成測試，系統(tǒng)給出報表，包含質(zhì)量密度電阻率，體積密度電阻率，工程可實現(xiàn)最小電阻率，該試樣導(dǎo)電云母粉硬度系統(tǒng)。同時系統(tǒng)根據(jù)歷史數(shù)據(jù)進行比對，將以上三個數(shù)據(jù)進行計算，給出產(chǎn)品質(zhì)量偏差水平和偏差原因。
全文摘要
本發(fā)明公布了一種導(dǎo)電云母粉密度阻值測量設(shè)備及其測量方法。該導(dǎo)電云母粉密度阻值測量設(shè)備有一個矩形的一側(cè)開口的鋼制框架，在框架頂部，向下垂直設(shè)有一個加載端，該加載端內(nèi)置激光測距儀；在框架底部向上固定設(shè)有一個加載系統(tǒng)，在加載系統(tǒng)內(nèi)部設(shè)有一個電子天平，在加載系統(tǒng)頂部，向上固定設(shè)有一個矩形內(nèi)凹的陶瓷試樣槽。該導(dǎo)電云母粉密度阻值測量設(shè)備及其測量方法通過伺服壓力機對試樣槽內(nèi)的導(dǎo)電云母粉進行加壓，通過多種傳感器技術(shù)，實現(xiàn)對不同質(zhì)量密度、體積密度的導(dǎo)電云母粉的導(dǎo)電能力與硬度系數(shù)進行自動測定，同時也可以應(yīng)用與其他超細粉狀物質(zhì)的密度電阻率的測量，極具實用價值。
文檔編號G01R27/02GK102778607SQ20111012029
公開日2012年11月14日 申請日期2011年5月7日 優(yōu)先權(quán)日2011年5月7日
發(fā)明者王保軍, 王永俊 申請人:徐州金亞粉體有限責(zé)任公司