專利名稱：多功能可變換模塊測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型主要揭示一種多功能可變換模塊測試裝置，尤其是指一種能夠簡便且 快速判斷不良品的多功能可變換模塊測試裝置。
背景技術(shù)：
待測物使用于電子產(chǎn)品，常見有使用于計(jì)算機(jī)、手機(jī)與數(shù)字照相機(jī)…等等。待測物 生產(chǎn)流程的最后一個(gè)步驟為測試，借助測試裝置檢測待測物的內(nèi)部電路是否正常，進(jìn)一步 區(qū)分良品與不良品。傳統(tǒng)的半導(dǎo)體測試裝置的顯示單元設(shè)置在檢測座且顯露于檢測座表面，顯示單元 是電連接測試基板的每一測試端口，用以顯示測試后待測盤上所對(duì)應(yīng)的芯片的測試結(jié)果， 顯示單元包括一顯示芯片測試進(jìn)度的進(jìn)度指示器、一顯示芯片測試時(shí)間的時(shí)間指示器，及 一相對(duì)應(yīng)顯示待測盤的芯片測試結(jié)果好壞的測試指示器。其中，測試指示器具有數(shù)個(gè)相對(duì) 應(yīng)顯示所述芯片測試結(jié)果好壞的指示燈，如果芯片測試結(jié)果良好則亮綠燈，芯片測試結(jié)果 有問題則亮紅燈。測試人員必須拿著待測盤，同時(shí)利用目測比對(duì)測試指示器的紅燈所對(duì)應(yīng) 的待測盤上的芯片，再挑出測試有問題的芯片，這樣的比對(duì)方式容易因?yàn)闇y試人員比對(duì)時(shí) 的誤差而發(fā)生挑錯(cuò)芯片的缺失，除此之外，測試人員需要重復(fù)抬頭與低頭的動(dòng)作，而容易產(chǎn) 生疲勞，這樣的測試方式容易讓測試人員因?yàn)槠诙鵁o法正確無誤的比對(duì)，當(dāng)比對(duì)錯(cuò)誤時(shí)， 會(huì)讓的前所進(jìn)行的測試全都功虧一簣，因此如何正確無誤的挑出不良品同時(shí)符合快速的要 求，對(duì)于測試裝置而言是相當(dāng)重要的一環(huán)。除此之外，測試單元包括五片裝設(shè)在該檢測座內(nèi)的測試卡、一連接該伸縮桿且位 于相對(duì)靠近檢測區(qū)的移動(dòng)件，及一與移動(dòng)件連接的測試基板，其中，測試基板具有數(shù)個(gè)分別 與所述測試卡電連接的測試埠，而且每一測試卡可借助所述測試埠相對(duì)應(yīng)地處理判斷每一 組芯片的好壞，驅(qū)動(dòng)單元設(shè)置在固定座上且包括一驅(qū)動(dòng)件，及一穿設(shè)固定座中且受驅(qū)動(dòng)件 驅(qū)動(dòng)而可上下位移的伸縮桿，移動(dòng)件受驅(qū)動(dòng)件驅(qū)動(dòng)而在一測試位置，及一遠(yuǎn)離檢測區(qū)的非 測試位置之間移動(dòng)。當(dāng)測試基板上下移動(dòng)時(shí)，連接在測試基板上的電連接線也會(huì)隨著測試 基板上下移動(dòng)，這些連接線長期的往復(fù)移動(dòng)會(huì)使得連接線容易發(fā)生脫落的現(xiàn)象，而讓其連 接的測試基板無法作業(yè)，當(dāng)測試人員發(fā)現(xiàn)異常時(shí)，需要先進(jìn)行簡單的故障排除，而當(dāng)測試人 員發(fā)現(xiàn)連接線脫落再重新插設(shè)連接線時(shí)，已經(jīng)影響了測試裝置的作業(yè)效率。因此，本實(shí)用新型希望能夠確實(shí)解決上述問題。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型所欲解決的技術(shù)問題在于針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的不足，提供一種能夠簡 便且快速判斷不良品的多功能可變換模塊測試裝置。本實(shí)用新型提供一種多功能可變換模塊測試裝置，其包含有一個(gè)透光盤體，其包 括數(shù)個(gè)容置部，該容置部能夠放置待測物；一個(gè)工作站，其能夠?qū)υ撏腹獗P體內(nèi)的待測物進(jìn) 行良品與不良品的判斷；一組主機(jī)群，其電連接該工作站，該工作站將測試結(jié)果傳遞至該主機(jī)群；以及，一個(gè)檢測站，其能夠顯示相同于該透光盤體尺寸的畫面，且該檢測站上形成有 相同于該容置部的數(shù)個(gè)區(qū)塊，該檢測站借助接獲該主機(jī)群傳遞的測試結(jié)果而能夠顯示于該 區(qū)塊，該檢測站利用顯示亮光于該區(qū)塊而透光于該透光盤體的方式示出良品或不良品。本實(shí)用新型主要改良的技術(shù)手段及有益效果在于，該透光盤體位于該檢測站時(shí)， 該檢測站顯示良品與不良品，并借助該透光盤體對(duì)應(yīng)于該檢測站，而讓檢測人員能夠借助 檢測站的顯示而直接分辨良品與不良品，提供給測試人員一種容易檢測不良品的待測物的 測試裝置，且測試人員無需花費(fèi)時(shí)間比對(duì)檢測站與透光盤體上的待測物，檢測人員能夠快 速的直接取出不良品的待測物。本實(shí)用新型次要改良的技術(shù)手段及有益效果在于，其工作站對(duì)該透光盤體上的待 測物進(jìn)行測試，該工作站的升降組推動(dòng)放置有該透光盤體的限位座縱向移動(dòng)，使該透光盤 體移動(dòng)而與該測試座模塊的測試板接觸而進(jìn)行測試工作。該測試板不會(huì)作動(dòng)而能夠避免連 接于測試板上的組件或線材縱向往復(fù)移動(dòng)，進(jìn)一步能夠防止連接的組件或線材脫落，而能 夠防止因組件或線材脫落產(chǎn)生的異常現(xiàn)象。本實(shí)用新型又一要改良的技術(shù)手段及有益效果在于，其工作站包括一個(gè)測試座模 塊，其為模塊化設(shè)計(jì)，能夠因應(yīng)不同形式的待測物而更換適用的測試座模塊。其它目的、優(yōu)點(diǎn)和本實(shí)用新型的新穎特性將從以下詳細(xì)的描述與相關(guān)的附圖更加 顯明。

圖1 為本實(shí)用新型多功能可變換模塊測試裝置的立體外觀圖，表多功能可變換 模塊測試裝置的前視圖。圖2 為本實(shí)用新型多功能可變換模塊測試裝置的立體外觀圖，表多功能可變換 模塊測試裝置的后視圖。圖3 為本實(shí)用新型多功能可變換模塊測試裝置的立體外觀圖，表升降組上升的 示意圖。圖4 為本實(shí)用新型多功能可變換模塊測試裝置的立體外觀圖，表透光盤體設(shè)于 檢測站的示意圖。圖5 為本實(shí)用新型透光盤體與工作站的立體外觀圖。圖6 為本實(shí)用新型透光盤體與工作站的剖示圖。圖7 為本實(shí)用新型由圖6所取的細(xì)部放大圖。圖8 為本實(shí)用新型圖6的延續(xù)，表升降組上升的示意圖。圖9 為本實(shí)用新型檢測站顯示亮光而表示良品與不良品。圖10 為本實(shí)用新型透光盤體置于檢測站上檢測待測物的示意圖。圖11 為本實(shí)用新型第二實(shí)施例的檢測站檢測透光盤體的示意圖。主要組件符號(hào)說明1 待測物10 透光盤體101頂部102底部103第一側(cè)面104第二側(cè)面11 容置部12 突條1 推抵部122壓抵部20 工作站21 限位座[0028] 211抵頂面212置放區(qū)213 限位抵部[0029] 14限位壓部215緩沖凹部22 測試座模塊[0030] 22l 固定架體2211平放板件2212直立板件[0031] 2213承接板2214抵頂緩沖部2215抵接緣[0032] 2216穿透空間222測試板222l探針[0033] 2222插槽2223第一測試電路板2224連接電路板[0034] 2225第二測試電路板 23 升降組23l升降缸體[0035] 2311第一端2312第二端232升降架體[0036] 233連動(dòng)板234柱體30 主機(jī)群[0037] 40 檢測站4l 區(qū)塊42 外框[0038] 43 顯示區(qū)50 限位框體5l 底部[0039] 52 框部52l 限位容部。
具體實(shí)施方式
[0040] 有關(guān)本實(shí)用新型所采用的技術(shù)1手段及其功效，茲舉二較佳實(shí)施例并配合圖式詳述如后，此僅供說明之用，在專利申請(qǐng)上并不受此種結(jié)構(gòu)的限制。[0041] 參照?qǐng)Dl至圖4，為本實(shí)用新型多功能可變換模塊測試裝置的立體外觀圖。本實(shí)用新型的多功能可變換模塊測試裝置包含有一個(gè)透光盤體lo1一個(gè)工作站201一組主機(jī)群30與一個(gè)檢測站40，該主機(jī)群30電連接該工作站20與該檢測站40，該透光盤體lo能夠移動(dòng)于該工作站20與該檢測站40之間，該透光盤體lo位于該工作站20時(shí)，該工作站20能夠?qū)υ撏腹獗P體lo內(nèi)的待測物l進(jìn)行良品與不良品的判斷；該透光盤體lo位于該檢測站40時(shí)，該檢測站40顯示良品與不良品，并借助該透光盤體lo對(duì)應(yīng)于該檢測站40，而讓檢測人員能夠借助檢測站40的顯示而直接分辨良品與不良品。待測物l能夠?yàn)橛洃浛?芯片卡或集成電路(integrated CirCuit；工C)卡。[0042] 同時(shí)參照?qǐng)D51圖6與圖7，為本實(shí)用新型透光盤體與工作站的示意圖。該透光盤體lo包括一個(gè)頂部lol1一個(gè)底部1021兩個(gè)相對(duì)的第一側(cè)面103與兩個(gè)相對(duì)的第二側(cè)面104。該透光盤體lo包括數(shù)個(gè)容置部11，其由該頂部lol朝向該底部102而形成，該容置部11能夠放置待測物l。該透光盤體lo的第一側(cè)面103突設(shè)有一個(gè)突條12，其包括一個(gè)推抵部12l與一個(gè)壓抵部122，該推抵部12l朝向該兩個(gè)第二側(cè)面104其中之一，該壓抵部122朝向該頂部lol，且該壓抵部122與該頂部lol形成階級(jí)落差。[0043] 該工作站20包括一個(gè)限位座2l1一個(gè)測試座模塊22與一個(gè)升降組23，該透光盤體lo放置于該限位座2l，該測試座模塊22能夠?qū)υ撏腹獗P體lo內(nèi)的待測物l進(jìn)行測試，該升降組23推動(dòng)該限位座2l縱向移動(dòng)，使位于該限位座2l的透光盤體lo縱向移動(dòng)，進(jìn)一步使該待測物l接觸該測試座模塊22。該測試座模塊22為模塊化設(shè)計(jì)，其能夠因應(yīng)不同形式的待測物l而更換適用的測試座模塊22。[0044] 該限位座2l包括一個(gè)抵頂面211與一個(gè)置放區(qū)212，該置放區(qū)212由該抵頂面211向下形成凹陷，該置放區(qū)212供該透光盤體lo置放，該置放區(qū)212的兩個(gè)側(cè)壁分別朝向該置放區(qū)212突設(shè)有一個(gè)限位抵部213，該限位抵部213能夠抵設(shè)于該透光盤體lo的推抵部12l，該限位座2l的抵頂面211朝向該置放區(qū)212突設(shè)有兩個(gè)限位壓部214，其分別位于該限位座21的兩側(cè)，該限位壓部214能夠壓設(shè)于該壓抵部122。該限位座21的外周緣的兩側(cè) 分別形成一個(gè)緩沖凹部215，該緩沖凹部215與該抵頂面211形成階級(jí)落差。該測試座模塊22能夠?qū)υ撏腹獗P體10內(nèi)的待測物1進(jìn)行測試，該測試座模塊22 包括一個(gè)固定架體221與一個(gè)測試板222。該固定架體221包括一個(gè)平放板件2211、兩個(gè) 直立板件2212與一個(gè)承接板2213。該兩個(gè)直立板件2212分別位于該平放板件2211的兩 側(cè)，該直立板件2212遠(yuǎn)離該平放板件2211的一端形成一個(gè)抵頂緩沖部2214，其對(duì)應(yīng)于該緩 沖凹部215。該承接板2213連接該兩個(gè)直立板件2212，該承接板2213的中間部位形成一 個(gè)抵接緣2215與一個(gè)穿透空間2216，該抵接緣2215環(huán)繞著該穿透空間2216。該測試板222設(shè)于該承接板2213，該測試板222設(shè)有數(shù)個(gè)探針2221，該測試板222 抵靠于該承接板2213的抵接緣2215，且使該測試板222位于該穿透空間2216，該探針2221 并凸露于該穿透空間2216，且該探針2221朝向該平放板件2211。該測試板222上設(shè)有數(shù) 個(gè)插槽2222，該插槽2222插設(shè)一個(gè)第一測試電路板2223，且該數(shù)個(gè)第一測試電路板2223 相反于該測試板222的一端電連接一個(gè)連接電路板22M，該連接電路板22M借助排線(圖 中未見)與數(shù)個(gè)第二測試電路板2225電連接，該第二測試電路板2225再借助電連接線(圖 中未見)與該主機(jī)群30電連接。同時(shí)參照?qǐng)D8，該升降組23包括一個(gè)升降缸體231與一個(gè)升降架體232。該升降 缸體231能夠設(shè)為氣壓缸或油壓缸，該升降缸體231包括第一端2311與第二端2312，該升 降缸體231第一端2311固定于該平放板件2211，該升降缸體231第二端2312固定于該升 降架體232并能夠相對(duì)第一端2311升降移動(dòng)。該升降架體232包括一個(gè)連動(dòng)板233與數(shù) 個(gè)柱體234。該連動(dòng)板233固定于該升降缸體231第二端2312，該數(shù)個(gè)柱體234分別結(jié)合 于該連動(dòng)板233的角落，且該柱體234穿設(shè)于該平放板件2211，該柱體234能夠相對(duì)該平 放板件2211縱向移動(dòng)，該柱體234遠(yuǎn)離該連動(dòng)板233 —端的端部結(jié)合該限位座21，當(dāng)該升 降缸體231第二端2312升降移動(dòng)而連動(dòng)該連動(dòng)板233縱向移動(dòng)，并帶動(dòng)該柱體234相對(duì)該 平放板件2211縱向移動(dòng)，同時(shí)連動(dòng)該限位座21縱向移動(dòng)，當(dāng)該限位座21上升至預(yù)定高度 時(shí)，該限位座21的抵頂面211抵觸于該承接板2213，且該緩沖凹部215抵觸于該抵頂緩沖 部 2214。本實(shí)用新型的工作站20對(duì)該透光盤體10上的待測物1進(jìn)行測試，該工作站20的 升降組23推動(dòng)放置有該透光盤體10的限位座21縱向移動(dòng)，使該透光盤體10移動(dòng)而與該 測試座模塊22的測試板222接觸而進(jìn)行測試工作。該測試板222不會(huì)作動(dòng)而能夠避免連 接于測試板222上的該第一測試電路板2223、該連接電路板22M、排線、該第二測試電路板 2225與電連接線縱向往復(fù)移動(dòng)，進(jìn)一步能夠防止連接的組件或線材脫落，而能夠防止因組 件或線材脫落產(chǎn)生的異?，F(xiàn)象。同時(shí)參照?qǐng)D9與圖10，為本實(shí)用新型檢測站檢測透光盤體上的待測物的示意圖。 該工作站20工作完成后，該工作站20會(huì)將測試結(jié)果傳遞至該主機(jī)群30，該主機(jī)群30將獲 得的測試結(jié)果顯示在該檢測站40，該檢測站40設(shè)為一個(gè)屏幕，其外表面與水平面平行，該 檢測站40能夠顯示相同于該透光盤體10尺寸的畫面，且該檢測站40上形成有相同于該容 置部11的數(shù)個(gè)區(qū)塊41，該檢測站40借助接獲該主機(jī)群30傳遞的測試結(jié)果而能夠顯示于該 區(qū)塊41，該檢測站40利用顯示亮光于該區(qū)塊41而透光于該透光盤體10的方式達(dá)到告知測 試人員的目的。[0050]當(dāng)該工作站20工作完成時(shí)，測試人員能夠由該限位座21取出該透光盤體10，并將 該透光盤體10放置于該檢測站40上，因?yàn)樵摍z測站40的外表面與水平面平行的特性，而 能夠讓放置于該檢測站40的透光盤體10不會(huì)自動(dòng)移位。該透光盤體10上的待測物1對(duì) 應(yīng)于該檢測站40的區(qū)塊41，測試人員借助該區(qū)塊41所顯示的亮光而判斷位于該透光盤體 10上的待測物1的良品與不良品。本實(shí)用新型借助該透光盤體10直接放置于該檢測站40，且利用該待測物1對(duì)應(yīng)于 該區(qū)塊41，而讓測試人員能夠直接將不良品的待測物1取出，提供給測試人員一種容易檢 測不良品的待測物1的測試裝置，且測試人員無需花費(fèi)時(shí)間比對(duì)檢測站40與透光盤體10 上的待測物1，檢測人員能夠快速的直接取出不良品的待測物1。參照?qǐng)D11，為本實(shí)用新型第二實(shí)施例的檢測站檢測透光盤體的示意圖。該檢測站 40設(shè)為屏幕，該檢測站40包括一個(gè)外框42與一個(gè)顯示區(qū)43，該外框42與該顯示區(qū)43之 間形成階級(jí)落差。該檢測站40上設(shè)有一個(gè)透光的限位框體50，其包括一個(gè)底部51與一個(gè) 框部52，該框部52環(huán)設(shè)于該底部51，且該框部52的內(nèi)側(cè)壁形成一個(gè)限位容部521，該限位 容部521恰能夠容納該透光盤體10，該底部51貼設(shè)于該檢測站40的顯示區(qū)43，且該限位 框體50被限制于該外框42內(nèi)，該透光盤體10也被限制于該限位容部521，進(jìn)一步能夠使該 透光盤體10容易的對(duì)應(yīng)于該檢測站40的區(qū)塊41 (圖中未見)，使該透光盤體10不會(huì)相對(duì) 該檢測站40移動(dòng)。就以上所述可以歸納出本實(shí)用新型具有以下的優(yōu)點(diǎn)1.本實(shí)用新型多功能可變換模塊測試裝置，該透光盤體位于該檢測站時(shí)，該檢測 站顯示良品與不良品，并借助該透光盤體對(duì)應(yīng)于該檢測站，而讓檢測人員能夠借助檢測站 的顯示而直接分辨良品與不良品，提供給測試人員一種容易檢測不良品的待測物的測試裝 置，且測試人員無需花費(fèi)時(shí)間比對(duì)檢測站與透光盤體上的待測物，檢測人員能夠快速的直 接取出不良品的待測物。2.本實(shí)用新型多功能可變換模塊測試裝置，其工作站對(duì)該透光盤體上的待測物進(jìn) 行測試，該工作站的升降組推動(dòng)放置有該透光盤體的限位座縱向移動(dòng)，使該透光盤體移動(dòng) 而與該測試座模塊的測試板接觸而進(jìn)行測試工作。該測試板不會(huì)作動(dòng)而能夠避免連接于測 試板上的組件或線材縱向往復(fù)移動(dòng)，進(jìn)一步能夠防止連接的組件或線材脫落，而能夠防止 因組件或線材脫落產(chǎn)生的異?，F(xiàn)象。3.本實(shí)用新型多功能可變換模塊測試裝置，其工作站包括一個(gè)測試座模塊，其為 模塊化設(shè)計(jì)，能夠因應(yīng)不同形式的待測物而更換適用的測試座模塊。惟上所述者，僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，當(dāng)不能以的限定本實(shí)用新型實(shí) 施的范圍，故舉凡數(shù)值的變更或等效組件的置換，或依本實(shí)用新型申請(qǐng)專利范圍所作的均 等變化與修飾，皆應(yīng)仍屬本新型專利涵蓋的范疇。
權(quán)利要求1.一種多功能可變換模塊測試裝置，其特征是包含有一個(gè)透光盤體，其包括數(shù)個(gè)容置部，該容置部能夠放置待測物；一個(gè)工作站，其能夠?qū)υ撏腹獗P體內(nèi)的待測物進(jìn)行良品與不良品的判斷；一組主機(jī)群，其電連接該工作站，該工作站將測試結(jié)果傳遞至該主機(jī)群；一個(gè)檢測站，其能夠顯示相同于該透光盤體尺寸的畫面，且該檢測站上形成有相同于 該容置部的數(shù)個(gè)區(qū)塊，該檢測站借助接獲該主機(jī)群傳遞的測試結(jié)果而能夠顯示于該區(qū)塊， 該檢測站利用顯示亮光于該區(qū)塊而透光于該透光盤體的方式示出良品或不良品。
2.如權(quán)利要求1所述的多功能可變換模塊測試裝置，其特征在于，該檢測站為一個(gè)屏 幕，其外表面與水平面平行。
3.如權(quán)利要求2所述的多功能可變換模塊測試裝置，其特征在于，該工作站包括一個(gè) 測試座模塊，其應(yīng)不同形式的待測物而能更換適用的測試座模塊。
4.如權(quán)利要求3所述的多功能可變換模塊測試裝置，其特征在于，該工作站更包括一 個(gè)限位座與一個(gè)升降組，該透光盤體放置于該限位座，該測試座模塊能夠?qū)υ撏腹獗P體內(nèi) 的待測物進(jìn)行測試，該升降組連動(dòng)該限位座縱向移動(dòng)，使位于該限位座的透光盤體縱向移 動(dòng)，進(jìn)一步使該待測物接觸該測試座模塊。
5.如權(quán)利要求4所述的多功能可變換模塊測試裝置，其特征在于，該透光盤體包括一 個(gè)頂部、一個(gè)底部、兩個(gè)相對(duì)的第一側(cè)面與兩個(gè)相對(duì)的第二側(cè)面，該容置部由該頂部朝向該 底部而形成，該透光盤體的第一側(cè)面突設(shè)有一個(gè)突條，其包括一個(gè)推抵部與一個(gè)壓抵部，該 推抵部朝向該兩個(gè)第二側(cè)面其中之一，該壓抵部朝向該頂部，且該壓抵部與該頂部形成階 級(jí)落差；該限位座包括一個(gè)抵頂面與一個(gè)置放區(qū)，該置放區(qū)由該抵頂面向下形成凹陷，該置 放區(qū)供該透光盤體置放，該置放區(qū)的兩個(gè)側(cè)壁分別朝向該置放區(qū)突設(shè)有一個(gè)限位抵部，該 限位抵部能夠抵設(shè)于該透光盤體的推抵部，該限位座的抵頂面朝向該置放區(qū)突設(shè)有兩個(gè)限 位壓部，其分別位于該限位座的兩側(cè)，該限位壓部能夠壓設(shè)于該壓抵部。
6.如權(quán)利要求5所述的多功能可變換模塊測試裝置，其特征在于，該限位座的外周緣 的兩側(cè)分別形成一個(gè)緩沖凹部，該緩沖凹部與該抵頂面形成階級(jí)落差；該測試座模塊包括 一個(gè)固定架體與一個(gè)測試板，該固定架體包括一個(gè)平放板件、兩個(gè)直立板件與一個(gè)承接板， 該兩個(gè)直立板件分別位于該平放板件的兩側(cè)，該直立板件遠(yuǎn)離該平放板件的一端形成一個(gè) 抵頂緩沖部，其對(duì)應(yīng)于該緩沖凹部，該承接板連接該兩個(gè)直立板件，該測試板設(shè)于該承接 板，當(dāng)該限位座上升至預(yù)定高度時(shí)，該限位座的抵頂面抵觸于該承接板，且該緩沖凹部抵觸 于該抵頂緩沖部。
7.如權(quán)利要求6所述的多功能可變換模塊測試裝置，其特征在于，該測試板設(shè)有數(shù)個(gè) 探針；該承接板中間部位形成一個(gè)抵接緣與一個(gè)穿透空間，該抵接緣環(huán)繞著該穿透空間，該 測試板抵靠于該承接板的抵接緣，且使該測試板位于該穿透空間，該探針并凸露于該穿透 空間。
8.如權(quán)利要求6或7所述的多功能可變換模塊測試裝置，其特征在于，該測試板上設(shè)有 數(shù)個(gè)插槽，該插槽插設(shè)一個(gè)第一測試電路板，且該數(shù)個(gè)第一測試電路板相反于該測試板的 一端電連接一個(gè)連接電路板，該連接電路板借助排線與數(shù)個(gè)第二測試電路板電連接，該第 二測試電路板再借助電連接線與該主機(jī)群電連接。
9.如權(quán)利要求6所述的多功能可變換模塊測試裝置，其特征在于，該升降組包括一個(gè)升降缸體與一個(gè)升降架體，該升降缸體包括第一端與第二端，該升降缸體第一端固定于該 平放板件，該升降缸體第二端固定于該升降架體并能夠相對(duì)第一端升降移動(dòng)，該升降架體 包括一個(gè)連動(dòng)板與數(shù)個(gè)柱體，該連動(dòng)板固定于該升降缸體第二端，該數(shù)個(gè)柱體分別結(jié)合于 該連動(dòng)板的角落，且該柱體穿設(shè)于該平放板件，該柱體能夠相對(duì)該平放板件縱向移動(dòng)，該柱 體遠(yuǎn)離該連動(dòng)板一端的端部結(jié)合該限位座，當(dāng)該升降缸體第二端升降移動(dòng)而連動(dòng)該連動(dòng)板 縱向移動(dòng)，并帶動(dòng)該柱體相對(duì)該平放板件縱向移動(dòng)，同時(shí)連動(dòng)該限位座縱向移動(dòng)。
10.如權(quán)利要求9所述的多功能可變換模塊測試裝置，其特征在于，該升降缸體為氣壓 缸或油壓缸。
11.如權(quán)利要求1所述的多功能可變換模塊測試裝置，其特征在于，該檢測站包括一個(gè) 外框與一個(gè)顯示區(qū)，該外框與該顯示區(qū)之間形成階級(jí)落差，該檢測站上設(shè)有一個(gè)透光的限 位框體，其包括一個(gè)底部與一個(gè)框部，該框部環(huán)設(shè)于該底部，且該框部的內(nèi)側(cè)壁形成一個(gè)限 位容部，該限位容部恰能夠容納該透光盤體，該底部貼設(shè)于該檢測站的顯示區(qū)，且該限位框 體被限制于該外框內(nèi)，該透光盤體也被限制于該限位容部，進(jìn)一步能夠使該透光盤體容易 的對(duì)應(yīng)于該檢測站的區(qū)塊，使該透光盤體不會(huì)相對(duì)該檢測站移動(dòng)。
專利摘要本實(shí)用新型多功能可變換模塊測試裝置，其包括一個(gè)透光盤體，其包括數(shù)個(gè)容置部，該容置部能夠放置待測物；一個(gè)工作站，其能夠?qū)υ撏腹獗P體內(nèi)的待測物進(jìn)行良品與不良品的判斷；一組主機(jī)群，其電連接該工作站，該工作站將測試結(jié)果傳遞至該主機(jī)群；一個(gè)檢測站，其能夠顯示相同于該透光盤體尺寸的畫面，且該檢測站上形成有相同于該容置部的數(shù)個(gè)區(qū)塊，該檢測站借助接獲該主機(jī)群傳遞的測試結(jié)果而能夠顯示于該區(qū)塊，該檢測站利用顯示亮光于該區(qū)塊而透光于該透光盤體的方式達(dá)到告知測試人員的目的。
文檔編號(hào)G01R31/28GK201886121SQ201020611788
公開日2011年6月29日 申請(qǐng)日期2010年11月17日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月17日
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