專利名稱：電子產(chǎn)品失效分析方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種電子商情資料庫系統(tǒng)中多類別資料處理的方法。
背景技術：
在產(chǎn)品的生產(chǎn)過程和使用過程中，產(chǎn)品喪失了規(guī)定的功能稱為失效。判斷失效產(chǎn)品的失效模式，查找失效原因和機理，提出預防再失效的對策的技術活動和管理活動稱為失效分析。目前，對電子產(chǎn)品進行失效分析的方法不完善，沒有統(tǒng)一的失效分析方法，例如 工程師對失效電子產(chǎn)品進行失效分析時，只進行CND (can not duplicate，不能復制)問題判斷或者NTF (no troublefound，未出現(xiàn)故障)的判斷。實際上，CND和NTF是兩個不同的問題，這種單一的測試方式使失效分析出現(xiàn)漏洞，降低了電子產(chǎn)品的質(zhì)量。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，本發(fā)明提供一種電子產(chǎn)品失效分析方法，能同時進行CND問題判斷和NTF問題判斷，以防止失效分析出現(xiàn)漏洞。一種電子產(chǎn)品失效分析方法，該方法包括如下步驟從存儲裝置中獲取失效電子產(chǎn)品的失效信息；根據(jù)所獲取的失效信息進行失效復制驗證，以驗證所獲取的失效信息對應的失效現(xiàn)象能否復制；當所獲取的失效信息對應的失效現(xiàn)象不能復制時，對失效電子產(chǎn)品進行測試以判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否屬于不能復制問題；當所述失效電子產(chǎn)品不屬于不能復制問題時，判斷所述失效電子產(chǎn)品是否未出故障；當所述失效電子產(chǎn)品不屬于未出故障問題時，判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否為客戶造成的問題；當所述失效電子產(chǎn)品不屬于客戶造成的問題時，判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否為測試程序問題；當所述失效電子產(chǎn)品不屬于測試程序問題時，判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否為制造問題；當所述失效電子產(chǎn)品不屬于制造問題時，判斷所述失效電子產(chǎn)品上的零件是否出現(xiàn)質(zhì)量問題；當所述失效電子產(chǎn)品上的零件沒有質(zhì)量問題時，對電子產(chǎn)品的電路設計進行分析以得到電路設計的問題，并發(fā)出工程變更通知。相較于現(xiàn)有技術，所述電子產(chǎn)品失效分析方法，規(guī)范了電子產(chǎn)品的失效分析步驟， 使得電子產(chǎn)品的失效分析有了統(tǒng)一的標準，提高了失效分析的工作效率，對電子產(chǎn)品的質(zhì)量有了更大的保證。


圖1是本發(fā)明電子產(chǎn)品失效分析方法較佳實施例的信息流向示意圖。圖2是本發(fā)明電子產(chǎn)品失效分析方法較佳實施例的實施流程圖。
具體實施例方式如圖1所示，是本發(fā)明電子產(chǎn)品失效分析方法較佳實施例的信息流向示意圖。在本較佳實施例中，該電子產(chǎn)品失效分析方法所應用的架構(gòu)包括存儲裝置2、失效分析系統(tǒng)1 及顯示裝置3。所述存儲裝置2中存儲有失效電子產(chǎn)品的失效信息，例如電子產(chǎn)品不能開機。所述失效分析系統(tǒng)1從存儲裝置2中獲取失效電子產(chǎn)品的失效信息，根據(jù)所獲取的失效信息對失效電子產(chǎn)品進行失效分析，根據(jù)失效分析的數(shù)據(jù)生成分析報告，并將分析報告顯示在顯示裝置3中，以供用戶查看。所述失效分析系統(tǒng)1包括數(shù)據(jù)獲取單元10、失效分析單元12及報告生成單元14。所述數(shù)據(jù)獲取單元10用于從存儲裝置2中獲取失效電子產(chǎn)品的失效信息。所述失效分析單元12用于根據(jù)所獲取的失效信息進行失效復制驗證，以驗證所獲取的失效信息對應的失效現(xiàn)象能否復制。例如若所獲取的失效信息對應的失效現(xiàn)象為所述失效電子產(chǎn)品不能開機，當對所述失效電子產(chǎn)品進行開機動作時，若所述失效電子產(chǎn)品可以開機，則失效分析單元12判斷所獲取的失效信息對應的失效現(xiàn)象不能復制；當對所述失效電子產(chǎn)品進行開機動作時，若所述失效電子產(chǎn)品不能開機，則失效分析單元12判斷所獲取的失效信息對應的失效現(xiàn)象可以復制。當所獲取的失效信息對應的失效現(xiàn)象可以復制時，工作人員通知相關的部門根據(jù)所獲取的失效信息對失效電子產(chǎn)品進行相應的處理。所述失效分析單元12還用于當所獲取的失效信息對應的失效現(xiàn)象不能復制時，對失效電子產(chǎn)品進行測試以判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否屬于CND(can not duplicate，不能復制)問題。所述測試包括，但不限于，POT (power-on test), REL(reliability test), FVS(functional verification system), QT(quickly test), ET(enhancetest)。當對所述失效電路進行測試得到的失效信息與所獲取的失效信息不一致時，判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效問題屬于CND問題。例如當所獲取的失效信息為所述失效電子產(chǎn)品不能開機，但是對失效電子產(chǎn)品進行開機動作時，失效電子產(chǎn)品可以開機時， 對所述失效電子產(chǎn)品進行相應的測試，當測試的結(jié)果為所述失效電子產(chǎn)品存在不良問題， 但與所獲取的失效信息不一致，失效分析單元12判斷所述失效電子產(chǎn)品屬于CND問題。所述失效分析單元12還用于當所述失效電子產(chǎn)品不屬于CND問題時，判斷所述失效電子產(chǎn)品是否屬于NTF(no trouble found，未出故障)。在本實施中，當所述失效電子產(chǎn)品不屬于CND問題時，從和所述失效電子產(chǎn)品相同批次的電子產(chǎn)品中抽查20%進行相應的測試時，在所抽查的電子產(chǎn)品中沒有發(fā)現(xiàn)任何不良問題時，判斷所述失效電子產(chǎn)品屬于 NTF0例如當所獲取的失效信息為所述失效電子產(chǎn)品不能開機，但是對失效電子產(chǎn)品進行開機動作時，失效電子產(chǎn)品可以開機時，從和所述失效電子產(chǎn)品相同批次的電子產(chǎn)品中抽查20%進行相應的測試，當測試的結(jié)果所述失效電路不存在不良問題，失效分析單元12判斷所述失效電子產(chǎn)品屬于NTF。所述失效分析單元12還用當所述失效電子產(chǎn)品不屬于NTF時，判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否為客戶造成的問題。所述失效分析單元12還用當所述失效電子產(chǎn)品不屬于客戶造成的問題時，判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否為測試程序問題。所述測試程序的問題包括，但不限于， 制造方所使用測試程序的內(nèi)容，測試程序的版本，測試程序的循環(huán)測試次數(shù)與客戶方不同。 例如當制造方所使用測試程序的內(nèi)容與客戶方使用的測試程序的內(nèi)容不同時，電子產(chǎn)品可以通過制造方所使用測試程序的測試，但是卻不能通過客戶方使用的測試程序的測試。所述失效分析單元12還用于當所述失效電子產(chǎn)品不屬于測試程序問題時，判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否為制造問題。所述制造問題包括，但不限于，電子產(chǎn)品上的零件安裝錯誤，波峰焊的溫度過高。所述失效分析單元12還用于當所述失效電子產(chǎn)品不屬于制造問題時，判斷所述失效電子產(chǎn)品上的零件是否出現(xiàn)質(zhì)量問題。例如某個零件的額定電壓為1.5V，在電壓為 1. 2V時能正常工作，但是在電壓大于1. 2時就不能正常工作。所述失效分析單元12還用于當所述失效電子產(chǎn)品上的零件沒有質(zhì)量問題時，對電子產(chǎn)品的電路設計進行分析以得到電路設計的問題，并發(fā)出工程變更通知。所述工程變更通知包括電路設計出現(xiàn)問題的原因，電路設計出現(xiàn)問題的現(xiàn)象及解決的方法。所述報告生成模塊14用于根據(jù)上述分析得到的數(shù)據(jù)生成失效分析報告，并將所生成的失效分析報告顯示在顯示裝置3中，以供用戶查看。如圖2所示，是本發(fā)明一種電子產(chǎn)品失效分析方法較佳實施例的方法流程圖。首先，步驟S10，數(shù)據(jù)獲取單元10從存儲裝置2中獲取失效電子產(chǎn)品的失效信息。步驟S11，失效分析單元12對所述失效電子產(chǎn)品復制所獲取的失效信息以驗證所獲取的失效信息是否能復制。步驟S12，當所獲取的失效信息不能復制時，失效分析單元12對失效電子產(chǎn)品進行測試以判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否屬于CND問題。當對所述失效電路進行測試得到的失效信息與所獲取的失效信息不一致時，判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效問題屬于 CND問題。當所獲取的失效信息可以復制時，至步驟S19根據(jù)所述分析的數(shù)據(jù)生成失效分析報告。步驟S13，當所述失效電子產(chǎn)品不屬于CND問題時，失效分析單元12判斷所述失效電子產(chǎn)品是否屬于NTF。在本實施中，當所述失效電子產(chǎn)品不屬于CND問題時，從和所述失效電子產(chǎn)品相同批次的電子產(chǎn)品中抽查20%進行相應的測試時，在所抽查的電子產(chǎn)品中沒有發(fā)現(xiàn)任何不良問題時，判斷所述失效電子產(chǎn)品屬于NTF。當所述失效電子產(chǎn)品屬于CND 問題時，至步驟S19根據(jù)所述分析的數(shù)據(jù)生成失效分析報告。步驟S14，當所述失效電子產(chǎn)品不屬于NTF時，失效分單元12判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否為客戶造成的問題。當所述失效電子產(chǎn)品屬于NTF時，至步驟S19根據(jù)所述分析的數(shù)據(jù)生成失效分析報告。步驟S15，當所述失效電子產(chǎn)品不屬于客戶造成的問題時，失效分單元12判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否為測試程序問題。所述測試程序的問題包括，但不限于，制造方所使用測試程序的內(nèi)容，測試程序的版本，測試程序的循環(huán)測試次數(shù)與客戶方不同。當所述失效電子產(chǎn)品屬于客戶造成的問題時，至步驟S19根據(jù)所述分析的數(shù)據(jù)生成失效分析報告。步驟S16，當所述失效電子產(chǎn)品不屬于測試程序問題時，失效分析單元12判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否為制造問題。所述制造問題包括，但不限于，電子產(chǎn)品上的零件安裝錯誤，波峰焊的溫度過高。當所述失效電子產(chǎn)品屬于測試程序問題時，至步驟S19 根據(jù)所述分析的數(shù)據(jù)生成失效分析報告。步驟S17，當所述失效電子產(chǎn)品不屬于制造問題時，失效分析單元12判斷所述失效電子產(chǎn)品上的零件是否出現(xiàn)質(zhì)量問題。當所述失效電子產(chǎn)品屬于制造問題時，至步驟S19 根據(jù)所述分析的數(shù)據(jù)生成失效分析報告。
步驟S18，當所述失效電子產(chǎn)品上的零件沒有質(zhì)量問題時，失效分析單元12對電子產(chǎn)品的電路設計進行分析以得到電路設計的問題，并發(fā)出工程變更通知。所述工程變更通知包括電路設計出現(xiàn)問題的原因，電路設計出現(xiàn)問題的現(xiàn)象及解決的方法。步驟S19，報告生成模塊14根據(jù)所述分析的數(shù)據(jù)生成失效分析報告，并將所生成的失效分析報告顯示在顯示裝置3中，以供用戶查看。應當說明的是，以上實施例僅用以說明本發(fā)明的技術方案而非限制，盡管參照較佳實施例對本發(fā)明進行了詳細說明，本領域的普通技術人員應當理解，可以對本發(fā)明的技術方案進行修改或等同替換，而不脫離本發(fā)明技術方案的精神和范圍。
權利要求
1.一種電子產(chǎn)品失效分析方法，其特征在于，該方法包括如下步驟從存儲裝置中獲取失效電子產(chǎn)品的失效信息；根據(jù)所獲取的失效信息進行失效復制驗證，以驗證所獲取的失效信息對應的失效現(xiàn)象能否復制；當所獲取的失效信息對應的失效現(xiàn)象不能復制時，對失效電子產(chǎn)品進行測試以判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否屬于不能復制問題；當所述失效電子產(chǎn)品不屬于不能復制問題時，判斷所述失效電子產(chǎn)品是否未出故障；當所述失效電子產(chǎn)品不屬于未出故障問題時，判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否為客戶造成的問題；當所述失效電子產(chǎn)品不屬于客戶造成的問題時，判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否為測試程序問題；當所述失效電子產(chǎn)品不屬于測試程序問題時，判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否為制造問題；當所述失效電子產(chǎn)品不屬于制造問題時，判斷所述失效電子產(chǎn)品上的零件是否出現(xiàn)質(zhì)量問題；當所述失效電子產(chǎn)品上的零件沒有質(zhì)量問題時，對電子產(chǎn)品的電路設計進行分析以得到電路設計的問題，并發(fā)出工程變更通知。
2.如權利要求1所述的電子產(chǎn)品失效分析方法，其特征在于，該方法還包括步驟當所獲取的失效信息能復制時，根據(jù)所述分析的數(shù)據(jù)生成失效分析報告；當所述失效電子產(chǎn)品屬于不能復制問題時，根據(jù)所述不能復制問題的數(shù)據(jù)生成失效分析報告；當所述失效電子產(chǎn)品未出故障時，根據(jù)所述未出故障的數(shù)據(jù)生成失效分析報告；當所述失效電子產(chǎn)品屬于客戶造成的問題時，根據(jù)所述客戶造成的問題的數(shù)據(jù)生成失效分析報告；當所述失效電子產(chǎn)品屬于測試程序問題時，根據(jù)所述測試程序問題的數(shù)據(jù)生成失效分析報告；當所述失效電子產(chǎn)品屬于制造問題時，根據(jù)所述制造問題的數(shù)據(jù)生成失效分析報告；當所述失效電子產(chǎn)品屬于電路設計問題時，根據(jù)所述電路設計問題的數(shù)據(jù)生成失效分析報告。
3.如權利要求1所述的電子產(chǎn)品失效分析方法，其特征在于，所述判斷失效電子產(chǎn)品的失效問題屬于不能復制問題的方法為當對所述失效電路進行測試得到的失效信息與所獲取的失效信息不一致時，判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效問題屬于不能復制問題。
4.如權利要求1所述的電子產(chǎn)品失效分析方法，其特征在于，所述判斷失效電子產(chǎn)品未出故障的方法為從和所述失效電子產(chǎn)品相同批次的電子產(chǎn)品中抽查20%進行相應的測試時，在所抽查的電子產(chǎn)品中沒有發(fā)現(xiàn)任何不良問題時，判斷所述失效電子產(chǎn)品未出故障。
全文摘要
本發(fā)明提供一種電子產(chǎn)品失效分析方法，該方法包括如下步驟從存儲裝置中獲取失效電子產(chǎn)品的失效信息；根據(jù)所獲取的失效信息進行失效復制驗證，以驗證所獲取的失效信息對應的失效現(xiàn)象能否復制；當所獲取的失效信息對應的失效現(xiàn)象不能復制時，對失效電子產(chǎn)品進行測試以判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否屬于不能復制問題；當所述失效電子產(chǎn)品不屬于不能復制問題時，判斷所述失效電子產(chǎn)品是否未出故障。
文檔編號G01R31/00GK102207527SQ20101013702
公開日2011年10月5日 申請日期2010年3月31日 優(yōu)先權日2010年3月31日
發(fā)明者游永興 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司