專利名稱：光敏器件的測(cè)試柜的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種光敏器件的測(cè)試裝置，特別涉及一種光敏器件的測(cè)試柜。
背景技術(shù)：
光敏電阻是一種常見的元器件，光敏電阻在制造完成后需進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)。目前的 光敏電阻的檢測(cè)設(shè)備，光線的強(qiáng)弱是通過調(diào)節(jié)白熾燈的亮暗程度來實(shí)現(xiàn)的，由于該方法在 改變白熾燈亮暗程度的同時(shí)也改變的光的色溫，而色溫的變化對(duì)光敏電阻的測(cè)試也是有影 響的，故此方法是不可取的。另外，處于同一水平面上各測(cè)試點(diǎn)的光強(qiáng)的差異性很大，這就 不利于光敏器件的大規(guī)模測(cè)試。所以在這種情況下，設(shè)計(jì)一款實(shí)用性強(qiáng)，光敏電阻測(cè)試設(shè)備 成當(dāng)前急需解決的問題。

發(fā)明內(nèi)容針對(duì)上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型的目的是提供一種光敏器件的測(cè)試柜，它能在不 改變色溫的前提下改變各測(cè)試點(diǎn)處的光的強(qiáng)弱；并能縮小處于同一水平面上各測(cè)試點(diǎn)處的 光強(qiáng)差異。 本實(shí)用新型的目的是這樣實(shí)現(xiàn)的包括連接光敏器件的檢測(cè)電路以及電源管理 器，還包括測(cè)試柜以及設(shè)置于該測(cè)試柜內(nèi)的光源層，測(cè)試柜內(nèi)頂壁設(shè)有能驅(qū)動(dòng)光源層作上 下位移的驅(qū)動(dòng)裝置，光源層包括支架、白熾燈以及位于該白熾燈下方的凸透鏡，支架與驅(qū)動(dòng) 裝置連接，白熾燈通過導(dǎo)線與電源管理器電連接，檢測(cè)電路裝配于測(cè)試柜內(nèi)并位于凸透鏡 的下方。 所述驅(qū)動(dòng)裝置包括電動(dòng)機(jī)、繞性連接繩以及定位器，繞性連接繩一端與電動(dòng)機(jī)連 接，繞性連接繩另一端穿過定位器連接白熾燈。 所述定位器為定滑輪。 所述白熾燈的安裝位置為凸透鏡的焦點(diǎn)位置。 所述檢測(cè)電路包括電源、開關(guān)、電阻、多個(gè)發(fā)光二極管以及多組供光敏器件插接的 插接孔，開關(guān)一端與電源連接，另一端連接電阻，每一個(gè)發(fā)光二極管與一組插孔串聯(lián)形成檢 測(cè)支路，這些檢測(cè)支路并聯(lián)后連接于電阻與電源之間。 所述電源管理器為帶有調(diào)壓器的電源管理器。 采用了上述方案，測(cè)試柜內(nèi)頂壁設(shè)有能驅(qū)動(dòng)光源層作上下位移的驅(qū)動(dòng)裝置，通過 驅(qū)動(dòng)裝置的控制，光源層在上下移動(dòng)過程中，白熾燈與凸透鏡之間的距離是不發(fā)生變化的， 這樣即可達(dá)到調(diào)節(jié)被測(cè)光敏器件區(qū)域光照強(qiáng)度的目的，從而避免使光的色溫相對(duì)于光敏器 件發(fā)生變化，這樣在同樣色溫下不影響到被測(cè)的光敏器件。光源層包括支架、白熾燈以及位 于該白熾燈下方的凸透鏡，支架與驅(qū)動(dòng)裝置連接，白熾燈通過導(dǎo)線與電源管理器電連接，白 熾燈的安裝位置為凸透鏡的焦點(diǎn)位置，從白熾燈發(fā)出的光線射到凸透鏡上后，經(jīng)過凸透鏡 后會(huì)成為平行光線，由于這些光線均由同一點(diǎn)發(fā)出，因此，可以縮小處于同一水平面上各被 測(cè)光敏器件的光強(qiáng)差異。本實(shí)用新型通過在不改變色溫的前提下改變各測(cè)試點(diǎn)處的光的強(qiáng)
3弱；以及縮小處于同一水平面上各測(cè)試點(diǎn)處的光強(qiáng)差異，使得測(cè)試的性能大為提高。 檢測(cè)電路中連接光敏器件的為插接孔，使用時(shí)無需將光敏器件與檢測(cè)電路焊接， 提高了使用的方便性，而且可重復(fù)使用。 本實(shí)用新型不但結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，而且可同時(shí)大規(guī)模檢測(cè)多個(gè)光敏器件，有檢測(cè)速度快， 檢測(cè)效率高的優(yōu)點(diǎn)。
以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說明。
圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖2為本實(shí)用新型中驅(qū)動(dòng)裝置以及光源層的裝配結(jié)構(gòu)圖； 圖3為本實(shí)用新型中檢測(cè)電路的電路結(jié)構(gòu)圖； 圖4為本實(shí)用新型中插接器的結(jié)構(gòu)圖； 附圖中，1為測(cè)試柜，2為白熾燈，3凸透鏡，4為電動(dòng)機(jī)，5為繞性連接繩，6為定位 器，7為電源管理器，8為插接器。
具體實(shí)施方式參照?qǐng)D1至圖4，本實(shí)用新型的光敏器件的測(cè)試柜，連接光敏器件的檢測(cè)電路、帶 有調(diào)壓器的電源管理器7、測(cè)試柜1以及設(shè)置于該測(cè)試柜內(nèi)的光源層。測(cè)試柜內(nèi)頂壁設(shè)有能 驅(qū)動(dòng)白熾燈作上下位移的驅(qū)動(dòng)裝置，驅(qū)動(dòng)裝置包括電動(dòng)機(jī)4、繞性連接繩5以及定位器6，定 位器6為定滑輪，繞性連接繩5 —端與電動(dòng)機(jī)4連接，繞性連接繩另一端穿過定位器連接光 源層。光源層包括支架、白熾燈2以及位于該白熾燈下方的凸透鏡3，白熾燈2固定于支架 內(nèi)，白熾燈2通過導(dǎo)線與電源管理器電連接，白熾燈2的安裝位置為凸透鏡的焦點(diǎn)位置。檢 測(cè)電路裝配于測(cè)試柜內(nèi)并位于凸透鏡的下方。檢測(cè)電路包括電源、開關(guān)K、電阻R、多個(gè)發(fā)光 二極管以及多個(gè)供光敏器件插接的插接器8，開關(guān)K一端與電源連接，另一端連接電阻R，每 個(gè)發(fā)光二極管與一個(gè)插接器串聯(lián)形成檢測(cè)支路，這些檢測(cè)支路并聯(lián)后連接于電阻R與電源 之間。 如圖3，以測(cè)試4個(gè)光敏電阻為例進(jìn)行說明，實(shí)際情況可根據(jù)需要增加測(cè)試點(diǎn)的數(shù) 目。 一般情況下邊長(zhǎng)為40cm的正方形測(cè)試區(qū)域內(nèi)可以布置64個(gè)測(cè)試點(diǎn)。將所需檢測(cè)的光 敏電阻插接于插接器上，然后關(guān)閉測(cè)試柜的柜門。并合上開關(guān)K及打開白熾燈的電源管理 器7。此時(shí)光敏器件與光源層距離最大，光敏電阻區(qū)域光線較暗，光敏電阻阻值較大，流過各 發(fā)光二極管的電流很微弱，故發(fā)光二極管不會(huì)發(fā)光。按下控制電動(dòng)機(jī)正轉(zhuǎn)的點(diǎn)動(dòng)開關(guān)，使光 源層緩緩向下移動(dòng)，當(dāng)其滑過臨界點(diǎn)后，光敏電阻區(qū)域光線增強(qiáng)，光敏電阻阻值減小，流過 各發(fā)光二極管的電流增大，發(fā)光二極管應(yīng)該會(huì)發(fā)光。如果有出現(xiàn)沒有發(fā)光的發(fā)光二極管，則 說明與其相連的光敏電阻是達(dá)不到標(biāo)準(zhǔn)的或者是壞的光敏器件。
權(quán)利要求一種光敏器件的測(cè)試柜，包括連接光敏器件的檢測(cè)電路以及電源管理器，其特征在于還包括測(cè)試柜以及設(shè)置于該測(cè)試柜內(nèi)的光源層，測(cè)試柜內(nèi)頂壁設(shè)有能驅(qū)動(dòng)光源層作上下位移的驅(qū)動(dòng)裝置，光源層包括支架、白熾燈以及位于該白熾燈下方的凸透鏡，支架與驅(qū)動(dòng)裝置連接，白熾燈通過導(dǎo)線與電源管理器電連接，檢測(cè)電路裝配于測(cè)試柜內(nèi)并位于凸透鏡的下方。
2. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的光敏器件的測(cè)試柜，其特征在于所述驅(qū)動(dòng)裝置包括電動(dòng)機(jī)、 繞性連接繩以及定位器，繞性連接繩一端與電動(dòng)機(jī)連接，繞性連接繩另一端穿過定位器連 接白熾燈。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的光敏器件的測(cè)試柜，其特征在于所述定位器為定滑輪。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的光敏器件的測(cè)試柜，其特征在于所述白熾燈的安裝位置為 凸透鏡的焦點(diǎn)位置。
5. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的光敏器件的測(cè)試柜，其特征在于所述檢測(cè)電路包括電源、開 關(guān)、電阻、多個(gè)發(fā)光二極管以及多個(gè)供光敏器件插接的插接器，開關(guān)一端與電源連接，另一 端連接電阻，每個(gè)發(fā)光二極管與一個(gè)插接器串聯(lián)形成檢測(cè)支路，這些檢測(cè)支路并聯(lián)后連接 于電阻與電源之間。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的光敏器件的測(cè)試柜，其特征在于所述電源管理器為帶有調(diào) 壓器的電源管理器。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種光敏器件的測(cè)試裝置，特別涉及一種光敏器件的測(cè)試柜。包括連接光敏器件的檢測(cè)電路以及電源管理器，還包括測(cè)試柜以及設(shè)置于該測(cè)試柜內(nèi)的光源層，測(cè)試柜內(nèi)頂壁設(shè)有能驅(qū)動(dòng)光源層作上下位移的驅(qū)動(dòng)裝置，光源層包括支架、白熾燈以及位于該白熾燈下方的凸透鏡，支架與驅(qū)動(dòng)裝置連接，白熾燈通過導(dǎo)線與電源管理器電連接，檢測(cè)電路裝配于測(cè)試柜內(nèi)并位于凸透鏡的下方。本實(shí)用新型能在不改變色溫的前提下改變各測(cè)試點(diǎn)處的光的強(qiáng)弱，并能縮小處于同一水平面上各測(cè)試點(diǎn)處的光強(qiáng)差異。
文檔編號(hào)G01R31/00GK201497784SQ20092023314
公開日2010年6月2日 申請(qǐng)日期2009年7月15日 優(yōu)先權(quán)日2009年7月15日
發(fā)明者戚元平 申請(qǐng)人:戚元平