專利名稱：顆粒缺陷檢測(cè)器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬于生產(chǎn)產(chǎn)品檢測(cè)裝置，特別涉及一種顆粒缺陷檢測(cè)器。
背景技術(shù)：
在生產(chǎn)藥物顆粒的外形檢測(cè)上，此前檢測(cè)裝置均勻單一線陣檢測(cè)方式， 多采用組合光敏器件，檢測(cè)精度低，在藥粒下落姿態(tài)與檢測(cè)面近似垂直時(shí)很 難判斷出缺損藥粒，只可撿出外形差異較大的異物。
發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種顆粒缺陷檢測(cè)'器。 本實(shí)用新型的技術(shù)方案是
一種顆粒缺陷檢測(cè)器，其特征在于有一對(duì)相互垂直的投光燈，在每個(gè) 投光燈的對(duì)面各設(shè)置一臺(tái)線陣CCD視覺探頭檢測(cè)器，兩個(gè)線陣CCD視覺探 頭檢測(cè)器分別連接計(jì)算機(jī)。
本實(shí)用新型效果是
顆粒缺陷檢測(cè)器該檢測(cè)器以兩個(gè)線陣CCD視覺探頭為檢測(cè)器件，組成兩 個(gè)相互垂直的二維檢測(cè)圖像，經(jīng)軟件處理可以描繪藥粒輪廓，與標(biāo)準(zhǔn)輪廓對(duì) 比撿出有缺陷的藥粒(缺損或半片)和異物，經(jīng)執(zhí)行機(jī)構(gòu)可將其剔除，同時(shí) 對(duì)正常與缺損藥粒分別計(jì)數(shù)。本裝置可檢測(cè)一切產(chǎn)品的外形缺陷。


圖1是顆粒缺陷檢測(cè)器的結(jié)構(gòu)示意圖
圖2是顆粒缺陷檢測(cè)器的檢測(cè)例一示意圖 圖3是顆粒缺陷檢測(cè)器的檢測(cè)例二示意圖具體實(shí)施方式
如圖1所示的一種顆粒缺陷檢測(cè)器，有一對(duì)相互垂直的投光燈左右方 向的投光燈4、前后方向的投光燈5，在每個(gè)投光燈的對(duì)面各設(shè)置一臺(tái)線陣
3CCD檢測(cè)器視覺探頭左右方向的線陣CCD檢測(cè)器視覺探頭1、前后方向的 線陣CCD檢測(cè)器視覺探頭2 。兩個(gè)線陣CCD視覺探頭檢測(cè)器分別連接計(jì)算機(jī)。 圖中3是被測(cè)物體，如藥粒。
如圖2、 3是檢測(cè)時(shí)所遇到的兩種狀態(tài)。圖2藥粒6—般姿態(tài)，圖3藥粒 7與檢測(cè)面垂直姿態(tài)。
顆粒缺陷檢測(cè)器設(shè)置在藥粒檢測(cè)線上垂直下落的通道上，該檢測(cè)器以兩 個(gè)線陣CCD視覺探頭為檢測(cè)器件，組成兩個(gè)相互垂直的二維檢測(cè)圖像，經(jīng)計(jì) 算機(jī)軟件處理可以描繪藥粒輪廓，與標(biāo)準(zhǔn)輪廓對(duì)比檢出有缺陷的藥粒(缺損 或半片)和異物，經(jīng)執(zhí)行機(jī)構(gòu)可將其剔除，同時(shí)對(duì)正常與缺損藥粒分別計(jì)數(shù)。
本裝置可檢測(cè)一切產(chǎn)品的外形缺陷。
權(quán)利要求1、一種顆粒缺陷檢測(cè)器，其特征在于有一對(duì)相互垂直的投光燈，在每個(gè)投光燈的對(duì)面各設(shè)置一臺(tái)線陣CCD視覺探頭檢測(cè)器，兩個(gè)線陣CCD視覺探頭檢測(cè)器分別連接計(jì)算機(jī)。
專利摘要一種顆粒缺陷檢測(cè)器，有一對(duì)相互垂直的投光燈，在每個(gè)投光燈的對(duì)面各設(shè)置一臺(tái)線陣CCD視覺探頭檢測(cè)器，兩個(gè)線陣CCD視覺探頭檢測(cè)器分別連接計(jì)算機(jī)。本顆粒缺陷檢測(cè)器以兩個(gè)線陣CCD為檢測(cè)器件，組成兩個(gè)相互垂直的二維檢測(cè)圖像，經(jīng)軟件處理可以描繪藥粒輪廓，與標(biāo)準(zhǔn)輪廓對(duì)比檢出有缺陷的藥粒(缺損或半片)和異物，經(jīng)執(zhí)行機(jī)構(gòu)可將其剔除，同時(shí)對(duì)正常與缺損藥粒分別計(jì)數(shù)。本裝置還可檢測(cè)一切產(chǎn)品的外形缺陷。
文檔編號(hào)G01N21/88GK201402249SQ200920095808
公開日2010年2月10日 申請(qǐng)日期2009年3月9日 優(yōu)先權(quán)日2009年3月9日
發(fā)明者賀智勇 申請(qǐng)人:天津市恒源傳感器技術(shù)有限公司