專利名稱：一種用于檢測浪涌、時序和紋波的測試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種用于電源微機測試系統(tǒng)中使用的參數(shù)測試 儀，尤其涉及一種用于檢測浪涌、時序和紋波的測試儀。
背景技術(shù)：
電源微機測試系統(tǒng)中使用各種參數(shù)測試儀，但測試儀測試參凄t單
一，浪涌測試儀、時序測試儀、紋波測試4義各成一體，存在以下問題 1、造成電源微機測試系統(tǒng)通訊連接過于繁多；2、造成電源微機測試 系統(tǒng)構(gòu)成繁瑣、體積龐大、不便組態(tài)。

實用新型內(nèi)容
基于現(xiàn)有技術(shù)的不足，本實用新型所要解決的問題是提供一種集 浪涌、時序、紋波測試功能為一體，通過串行通訊受控和發(fā)送檢測數(shù) 據(jù)的浪涌時序紋波測試儀，解決現(xiàn)有電源參數(shù)測試儀功能單一、不侵_ 在電源^L機測試系統(tǒng)中組態(tài)所存在的問題。
為解決上述問題，本實用新型提供一種用于檢測浪涌、時序和紋 波的測試儀，包括有電源插座和與之連接的變壓器，還包括有用于輸 入交流電流信號的交流電流信號連接件，用于輸入直流電壓信號的直 流電壓信號連接件，以及用于測試所述交流電流信號和直流電壓信號 浪涌和紋波的測試電路，用于將所述測試電路得到的測試數(shù)據(jù)與外界 串行交換的通訊接口 。
與現(xiàn)有技術(shù)相比較，本實用新型一種用于檢測浪涌、時序和紋波的 測試儀，通過在殼體上設(shè)置測試電路，集浪涌、時序、紋波測試功能 為一體，通過通訊接口受控和發(fā)送檢測凄t據(jù)，大大簡化了電源孩^U幾測試系統(tǒng)通訊連接， -使得測試系統(tǒng)構(gòu)造簡單、4更于組態(tài)。
作為本實用新型的 一個實施例，所述測試電路包括
與所述直流電壓信號連接件連接的直流放大電路，用于將直流電 壓信號同相放大，輸出至第一電子開關(guān)；
與所述直流電壓信號連接件連接的紋波放大電路，用于將交流紋 波信號放大，輸出至第一電子開關(guān)；
與所述交流電流信號連接件連接的互感器，用于將感應(yīng)的交流電 流信號輸出；
整流電路，用于將互感器輸出的交流電流信號變換為正半波信號；
峰值放大電路，將電流信號轉(zhuǎn)換為電壓信號并同相放大，并輸出 至第一電子開關(guān)；
微處理器模塊，用于控制所述第一電子開關(guān)選擇輸出被測信號， 以及輸出數(shù)字信號和操控整體電路的控制、檢測、數(shù)據(jù)處理和通訊；
跟隨器，用于變換由所述第一電子開關(guān)輸出的被測信號的輸出阻 抗，經(jīng)峰值保持電路輸出待測信號至第二電子開關(guān)；
DAC電路，用于將微處理器模塊輸出的數(shù)字信號轉(zhuǎn)換為模擬信號， 傳送至第二電子開關(guān)；
比較電路，用于比較所述峰值保持電路輸出的待測信號和DAC電 路輸出的信號，將比較結(jié)果傳送至微處理器模塊檢測； 與所述通訊接口連接的通訊電路，與微處理器模塊相接，用于與外界 串行交換數(shù)據(jù)。
作為本實用新型的另 一個實施例，所述測試電路還包括同步電 路，用于將同步信號傳送至所述微處理器模塊進行時序檢測，所述殼 體上固定有與所述同步電路連接的同步信號插座。
作為本實用新型的另 一個實施例，所述的直流放大電路是由第一 運算放大器、與第一運算放大器相接的三個電阻和兩個二極管構(gòu)成。
所述紋波放大電路是由第二運算放大器、與第二運算放大器相接的兩個電阻和三個二才及管構(gòu)成。
所述峰值放大電路是由第三運算放大器、與第三運算放大器相接 的三個電阻和兩個二才及管構(gòu)成。
所述峰值保持電路包括第一峰值保持電路和第二峰值保持電路， 第一峰值保持電路是由第四和第五運算放大器及與之相接的二極管、
兩個電容和電阻構(gòu)成；第二峰值保持電路是由第六和第七運算放大器 及與之相接的二極管、兩個電容和電阻構(gòu)成。
所述DAC電路包括第一 DAC電路和第二 DAC電路，由DAC轉(zhuǎn)換器 及與之相接的第八運算放大器、電壓基準(zhǔn)源和電阻構(gòu)成。
所述通訊電i 各是由光電耦合器及與之相接的三個電阻構(gòu)成；
所述微處理器模塊是由微處理器及與之相接的晶體、電容、二極 管、電阻、電阻排構(gòu)成。
作為本實用新型的另 一個實施例，所述同步電路是由光電耦合器 及與之相接的電阻構(gòu)成。
為使本實用新型更加容易理解，下面將結(jié)合附圖進一步闡述本實 用新型一種印刷電路板綠油曝光裝置。


圖1為本實用新型一種用于檢測浪涌、時序和紋波的測試儀在一個 實施例中的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2為本實用新型一種用于檢測浪涌、時序和紋波的測試4義中測試 電路的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖3為本實用新型一種用于檢測浪涌、時序和紋波的測試儀中測試 電路的電路圖。
具體實施方式
現(xiàn)參考附圖，描述實施例。本實用新型是一種用于電源微才幾測試系統(tǒng)中使用的參數(shù)測試儀，尤其是集浪涌、時序、紋波測試功能為一 體，通過串行通訊受控和發(fā)送檢測數(shù)據(jù)的浪涌時序紋波測試儀。
參考圖1,本實用新型一種用于檢測浪涌、時序和紋波的測試儀，
其包括有殼體1,在殼體1上固定有電源插座2及變壓器3，同步信號 插座4、交流電流信號連接件5和6、直流電壓信號連接件7和8、通 訊*接口 9及測試電路10。
如圖2所示所述的測試電路10設(shè)有與所述直流電壓信號連才妄件 7和8連接的直流電壓輸入101,和與之連接的直流;改大電路102，用 于將直流電壓信號同相放大，輸出至第一電子開關(guān)108;
與所述直流電壓輸入101連接的紋波》丈大電路103,用于將交流 紋波信號放大，輸出至第一電子開關(guān)108;
與所述交流電流信號連接件5和6連接的交流電源輸入104和與 之相連的互感器105，用于將感應(yīng)的交流電流信號輸出；
整流電路106,用于將互感器輸出的交流電流信號變換為正半波 信號；
峰值放大電路107,將電流信號轉(zhuǎn)換為電壓信號并同相放大，并 輸出至第一電子開關(guān)108;
微處理器模塊115，用于控制所述第一電子開關(guān)108選擇輸出被 測信號，以及輸出數(shù)字信號和操控整體電路的控制、檢測、數(shù)據(jù)處理 和通訊；
跟隨器109,用于變換由所述第一電子開關(guān)108輸出的被測信號 的輸出阻抗，經(jīng)峰值保持電路110和111輸出待測信號至第二電子開 關(guān)112;
DAC電路113和114,用于將孩t處理器才莫塊115輸出的數(shù)字4言號轉(zhuǎn) 換為模擬信號，傳送至第二電子開關(guān)112;
比較電路116和117,用于比較所述峰值保持電路輸出的待測信 號和DAC電路113和114輸出的信號，將比較結(jié)果傳送至微處理器才莫塊115檢測；
與所述通訊接口 9連接的通訊電路118，與孩i處理器才莫塊115相4矣，
用于與外界串行交換數(shù)據(jù)。
還包括同步電路119，用于將同步信號傳送至所述微處理器模塊115 進行時序檢測，該同步電路119與同步信號插座4連接。
與直流電壓相連接的直流放大電路和紋波;改大電路與第一電子開 關(guān)相接，交流電流輸入經(jīng)互感器、整流電路至峰值放大電路輸出至第 一電子開關(guān)，受控于微處理器的第一電子開關(guān)選擇輸出待測信號，經(jīng) 跟隨器至峰值保持電路輸出至第二電子開關(guān)相接，受控于微處理器的 DAC電路輸出模擬信號至與第二電子開關(guān)，受控于微處理器的第二電 子開關(guān)輸出信號，經(jīng)比較電路比較輸出信號至微處理器，同步電路和 通訊電路與微處理器相接。
圖3是測試電路10的具體電路，直流放大電路由運算放大器Ull 及與運算i文大器Ull( CA3140 )相接的電阻RIO ~ R13和二極管D9、 D10 構(gòu)成。紋波放大電路是由運算放大器U13及與運算放大器U13( CA3140) 相接的電阻R17、 R18和二才及管D13、 D14、 Cl構(gòu)成?；ジ衅魇怯山涣?電流互感器L1構(gòu)成；整流電路是由二極管D22 ~ D25構(gòu)成；峰值》文大 電路是由運算放大器U12及與運算放大器U12 (CA3140)相接的電阻 R14 ~ R16和二極管Dll、 D12構(gòu)成。電子開關(guān)1是由模擬電子開關(guān)U2
(CD4053 )構(gòu)成；跟隨器是由運算放大器U14 (CA3140)構(gòu)成。峰值 保持電路1是由運算放大器U15、 U17及與運算放大器U15 ( CA3140 )、 U17 ( CA3140 )相接的二極管D15、電容C15、 C17和電阻R23構(gòu)成； 峰值保持電路2是由運算》丈大器U16、 U18及與運算放大器U16
(CA3140)、 U18 ( CA3140 )相才妾的二才及管D16、電容C16、 C18和電阻 R24構(gòu)成。DAC電路1和DAC電路2是由DAC轉(zhuǎn)換器U21及與DAC轉(zhuǎn)換 器U21( AD5547 )相接的運算i文大器U19( LM258 )、電壓基準(zhǔn)源V4( TL431 ) 和電阻R25構(gòu)成。電子開關(guān)2是由模擬電子開關(guān)U3~ U5 ( CD4053 )構(gòu)
9比較器U7 ( LM393 )構(gòu)成。同步電 路是由光電耦合器U22及與光電耦合器U22 ( TLP521-1 )相接的電阻 R26構(gòu)成。通訊電路是由光電耦合器U8及與光電耦合器U8 ( 6N137 ) 相接的電阻R4、 R8和電阻R3構(gòu)成。孩t處理器電路是由孩史處理器Ul 及與微處理器Ul ( STC89C54RD+ )相接的晶體Yl、電容C19、 C26、 C27、 二極管D26、電阻R27、電阻排RP1構(gòu)成。
本實用新型 一種用于^f企測浪涌、時序和紋波的測試4義的工作原理如
下
直流電壓信號通過Ull、 R10 R13、 D9、 D10組成的放大電路，將直流電壓 信號同相放大，放大倍數(shù)為[R11/(R10+R11)] (l+R13/R12)。直流電壓上的紋波 信號通過U13、 R17、 R18、 D13、 D14、 Cl組成的i文大電路，將交流紋波信號》文 大，放大倍數(shù)為l+R18/R17?；ジ衅鞲袘?yīng)的交流電流信號輸出，經(jīng)由D22-D25 組成的整流電路變換為正半波信號，通過由U12、 R14 R16、 Dll、 D12組成的 放大電路，將電流信號轉(zhuǎn)換為電壓信號并同相放大，放大倍數(shù)為1+R16/R15,電 流電壓轉(zhuǎn)換比為R14。被測信號由U2組成的電子開關(guān)電路選擇輸出，經(jīng)由U14 組成的跟隨器變換輸出阻抗，通過U15、 U17、 D15、 C15、 C17、 R23組成峰值保 持電路和U16、 U18、 D16、 C16、 C18、 R24組成的峰值保持電路調(diào)理信號。微處 理器Ul輸出的凄t字信號，通過由U21、 U19、 V4和R25組成的DAC轉(zhuǎn)才灸電路， 轉(zhuǎn)換為模擬信號。待檢測信號和DAC輸出信號，通過由U3-U5組成的電子開關(guān) 電路，經(jīng)由U7組成的比較器比較，輸出至微處理器U1檢測。時序檢測同步信 號，通過由U22、 R26組成的同步電路，輸出至^f敖處理器Ul。 -微處理器Ul通過 由U8、 R3、 R4、 R8組成的通訊電路與外界串行交換數(shù)據(jù)。嵌入式微處理器電路 由U1、 Yl、 C19、 C26、 C27、 D26、 R27、 RP1組成，通過嵌入軟件，操控整體電 路的控制、檢測、數(shù)據(jù)處理和通訊。
以上所揭露的僅為本實用新型的較佳實施例而已，當(dāng)然不能以此來限 定本實用新型之權(quán)利范圍，因此依本實用新型申請專利范圍所作的等 同變化，仍屬本實用新型所涵蓋的范圍。
權(quán)利要求1、一種用于檢測浪涌、時序和紋波的測試儀，包括有電源插座和與之連接的變壓器，其特征在于，還包括有用于輸入交流電流信號的交流電流信號連接件，用于輸入直流電壓信號的直流電壓信號連接件，以及用于測試所述交流電流信號和直流電壓信號浪涌和紋波的測試電路，用于將所述測試電路得到的測試數(shù)據(jù)與外界串行交換的通訊接口。
2、 如一又利要求1所述的一種用于4企測浪涌、時序和紋波的測試4義， 其特征在于，所述測試電路包括與所述直流電壓信號連接件連接的直流放大電路，用于將直流電 壓信號同相放大，輸出至第一電子開關(guān)；與所述直流電壓信號連接件連接的紋波放大電路，用于將交流紋 波信號放大，輸出至第一電子開關(guān)；與所述交流電流信號連接件連接的互感器，用于將感應(yīng)的交流電 流信號輸出；整流電路，用于將互感器輸出的交流電流信號變換為正半波信號；峰值放大電路，將電流信號轉(zhuǎn)換為電壓信號并同相放大，并輸出 至第一電子開關(guān)；微處理器模塊，用于控制所述第一電子開關(guān)選擇輸出被測信號， 以及輸出數(shù)字信號和操控整體電路的控制、檢測、數(shù)據(jù)處理和通訊；跟隨器，用于變換由所述第一電子開關(guān)輸出的被測信號的輸出阻 抗，經(jīng)峰值保持電路輸出待測信號至第二電子開關(guān)；DAC電路，用于將微處理器模塊輸出的數(shù)字信號轉(zhuǎn)換為模擬信號， 傳送至第二電子開關(guān)；比較電路，用于比較所述峰值保持電路輸出的待測信號和DAC電 路輸出的信號，將比較結(jié)果傳送至微處理器模塊檢測；與所述通訊接口連接的通訊電路，與微處理器模塊相接，用于與 外界串行交換數(shù)據(jù)。
3、 如權(quán)利要求2所述的一種用于檢測浪涌、時序和紋波的測試儀， 其特征在于所述測試電路還包括同步電路，用于將同步信號傳送至 所述微處理器模塊進行時序檢測，所述殼體上固定有與所述同步電路 連接的同步信號插座。
4、 如權(quán)利要求2或3所述的一種用于檢測浪涌、時序和紋波的測 試儀，其特征在于所述的直流放大電路是由第一運算放大器、與第 一運算放大器相接的三個電阻和兩個二極管構(gòu)成。
5、 如權(quán)利要求3所述的一種用于檢測浪涌、時序和紋波的測試儀， 其特征在于所述紋波放大電路是由第二運算放大器、與第二運算放 大器相接的兩個電阻和三個二極管構(gòu)成。
6、 如權(quán)利要求2或3所述的一種用于檢測浪涌、時序和紋波的測 試儀，其特征在于所述峰值放大電路是由第三運算放大器、與第三 運算放大器相接的三個電阻和兩個二極管構(gòu)成。
7、 如4又利要求2或3所述的一種用于4全測浪涌、時序和紋波的測 試儀，其特征在于所述峰值保持電路包括第一峰值保持電路和第二 峰值保持電路，第一峰值保持電路是由第四和第五運算放大器及與之 相接的二極管、兩個電容和電阻構(gòu)成；第二峰值保持電路是由第六和 第七運算放大器及與之相接的二極管、兩個電容和電阻構(gòu)成。
8、 如權(quán)利要求2或3所述的一種用于檢測浪涌、時序和紋波的測 試儀，其特征在于所述DAC電路包括第一 DAC電路和第二 DAC電路， 由DAC轉(zhuǎn)換器及與之相接的第八運算放大器、電壓基準(zhǔn)源和電阻構(gòu)成。
9、 如權(quán)利要求2或3所述的一種用于檢測浪涌、時序和紋波的測 試儀，其特征在于所述通訊電路是由光電耦合器及與之相接的三個電阻構(gòu)成； 所述微處理器模塊是由微處理器及與之相接的晶體、電容、二極 管、電阻、電阻排構(gòu)成。
10、 如^又利要求3所述的一種用于4企測浪涌、時序和紋波的測試 儀，其特征在于所述同步電路是由光電耦合器及與之相接的電阻構(gòu) 成。
專利摘要本實用新型涉及一種用于檢測浪涌、時序和紋波的測試儀，其包括有殼體，其特征在于，在所述殼體上固定有電源插座和與之連接的變壓器、以及與變壓器連接的測試電路，所述殼體上還固定有分別與所述測試電路連接的通訊接口、交流電流信號連接件、以及直流電壓信號連接件。本實用新型通過設(shè)置測試電路，集浪涌、時序、紋波測試功能為一體，通過通訊接口受控和發(fā)送檢測數(shù)據(jù)，大大簡化了電源微機測試系統(tǒng)通訊連接，使得測試系統(tǒng)構(gòu)造簡單、便于組態(tài)。
文檔編號G01R15/12GK201373894SQ20092005117
公開日2009年12月30日 申請日期2009年2月13日 優(yōu)先權(quán)日2009年2月13日
發(fā)明者楊孝斌, 江培輝 申請人:深圳市聯(lián)欣科技有限公司