專利名稱：溫度計校準(zhǔn)檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及計量技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種溫度計校準(zhǔn)檢測方法。
背景技術(shù)：
目前溫度計校準(zhǔn)檢測方法主要有比較法，將被校溫度計和標(biāo)準(zhǔn)溫度計同放在穩(wěn)定 的標(biāo)準(zhǔn)溫槽中，采用輪測方式分別對被校溫度計和標(biāo)準(zhǔn)溫度計進行比對測量?，F(xiàn)舉例說明， 被校溫度計為熱敏電阻溫度計，標(biāo)準(zhǔn)溫度計為一等標(biāo)準(zhǔn)鉬電阻溫度計，在某一恒溫下，分別 記錄同一時刻被校熱敏電阻溫度計和標(biāo)準(zhǔn)鉬電阻溫度計的測量值，各測量多個數(shù)據(jù)，再根 據(jù)數(shù)據(jù)描點作圖，得到如圖1所示的被校熱敏電阻溫度計測量數(shù)據(jù)圖和如圖2所示的標(biāo)準(zhǔn) 鉬電阻溫度計測量數(shù)據(jù)圖，圖1中，橫坐標(biāo)為時間(單位為秒)，縱坐標(biāo)為電阻值(單位為歐 姆)，圖2中，橫坐標(biāo)為時間(單位為秒)，縱坐標(biāo)為溫度值(單位為攝氏度)，在被校熱敏電 阻溫度計測量數(shù)據(jù)圖中，從電阻值波動范圍在0. 01 0. 05(單位歐姆)內(nèi)的數(shù)據(jù)區(qū)域中 選擇5到10個連續(xù)點，求電阻值平均值，然后求出標(biāo)準(zhǔn)鉬電阻溫度計測量數(shù)據(jù)圖中對應(yīng)點 的平均值，最后根據(jù)這兩個平均值求被校熱敏電阻溫度計的溫度系數(shù)。如選擇圖1中第10 個點到第15個點的電阻值求平均，對應(yīng)地，求出圖2中第10個點到第15個點的溫度平均 值，計算結(jié)果分別為3988. 052222歐姆和24. 992801攝氏度，得到被校熱敏電阻溫度計的溫 度系數(shù)為159. 568歐姆/攝氏度。現(xiàn)有技術(shù)的溫度計校準(zhǔn)檢測方法的缺點是，計算平均值時 取點的選擇沒有考慮標(biāo)準(zhǔn)溫度計和被校溫度計對溫度波動及熱平衡狀態(tài)的響應(yīng)存在差異， 檢測誤差較大。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種溫度計校準(zhǔn)檢測方法，可減小測量誤差，提高校準(zhǔn)精度。為了達到上述的目的，本發(fā)明提供一種溫度計校準(zhǔn)檢測方法，包括以下步驟步驟 1，在恒溫條件下，記錄被校溫度計和標(biāo)準(zhǔn)溫度計同一時刻的測量值，各記錄多個數(shù)據(jù)，并根 據(jù)記錄的數(shù)據(jù)分別繪制被校溫度計和標(biāo)準(zhǔn)溫度計的測量數(shù)據(jù)圖；步驟2，選擇有效數(shù)據(jù)區(qū)； 步驟3，在有效數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)選取特征點計算平均值；步驟4，根據(jù)平均值計算被校溫度計的溫 度系數(shù)。上述溫度計校準(zhǔn)檢測方法，其中，步驟1中得到的被校溫度計的測量數(shù)據(jù)圖和標(biāo) 準(zhǔn)溫度計的測量數(shù)據(jù)圖呈或近似呈正弦或余弦曲線。上述溫度計校準(zhǔn)檢測方法，其中，步驟2中，決定有效數(shù)據(jù)區(qū)的因素有被校溫度計 的特性。上述溫度計校準(zhǔn)檢測方法，其中，步驟2中，被校溫度計的有效數(shù)據(jù)區(qū)的第一個記 錄點與標(biāo)準(zhǔn)溫度計的有效數(shù)據(jù)區(qū)的第一個記錄點是同一時刻記錄的。上述溫度計校準(zhǔn)檢測方法，其中，步驟3中，計算平均值的特征點取相鄰波峰和波 谷之間包含的所有點，峰值和谷值也包含在內(nèi)。
上述溫度計校準(zhǔn)檢測方法，其中，步驟3中，計算平均值的特征點為一半周期內(nèi)的 所有記錄點。上述溫度計校準(zhǔn)檢測方法，其中，步驟3中，計算被校溫度計電阻平均值的特征點 所處的半周期數(shù)與計算標(biāo)準(zhǔn)溫度計溫度平均值的特征點所處的半周期數(shù)相同。本發(fā)明的溫度計校準(zhǔn)檢測方法由于根據(jù)被校溫度計的特性選擇有效數(shù)據(jù)區(qū)，在有 效數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)選取特征點計算平均值，消除了由于標(biāo)準(zhǔn)溫度計、被校溫度計對溫場波動及熱 平衡狀態(tài)響應(yīng)不同而導(dǎo)致的測量誤差，提高了校準(zhǔn)精度。


本發(fā)明的溫度計校準(zhǔn)檢測方法由以下的實施例及附圖給出。圖1是現(xiàn)有技術(shù)中被校熱敏電阻溫度計的測量數(shù)據(jù)圖。圖2是現(xiàn)有技術(shù)中標(biāo)準(zhǔn)鉬電阻溫度計的測量數(shù)據(jù)圖。圖3是本發(fā)明的溫度計校準(zhǔn)檢測方法的流程圖。圖4是本發(fā)明一實施例中被校熱敏電阻溫度計的有效數(shù)據(jù)區(qū)圖。圖5是本發(fā)明一實施例中標(biāo)準(zhǔn)鉬電阻溫度計的有效數(shù)據(jù)區(qū)圖。
具體實施例方式以下將結(jié)合圖3 圖5對本發(fā)明的溫度計校準(zhǔn)檢測方法作進一步的詳細描述。參見圖3，溫度計校準(zhǔn)檢測方法包括以下步驟步驟1，在恒溫條件下，記錄被校溫度計和標(biāo)準(zhǔn)溫度計同一時刻的測量值，各記錄 多個數(shù)據(jù)，并根據(jù)記錄的數(shù)據(jù)分別繪制被校溫度計和標(biāo)準(zhǔn)溫度計的測量數(shù)據(jù)圖；為保證恒溫條件，被校溫度計和標(biāo)準(zhǔn)溫度計同放在穩(wěn)定的標(biāo)準(zhǔn)溫槽中，仍采用輪 測方式分別對被校溫度計和標(biāo)準(zhǔn)溫度計進行比對測量；制圖可與記錄同步，也可以先記錄 數(shù)據(jù)，后制圖；被校溫度計的測量數(shù)據(jù)圖和標(biāo)準(zhǔn)溫度計的測量數(shù)據(jù)圖通常呈正弦或余弦曲 線，或者近似呈正弦或余弦曲線；步驟2，選擇有效數(shù)據(jù)區(qū)；決定有效數(shù)據(jù)區(qū)的因素有被校溫度計的特性；被校溫度計的有效數(shù)據(jù)區(qū)的第一個 記錄點與標(biāo)準(zhǔn)溫度計的有效數(shù)據(jù)區(qū)的第一個記錄點應(yīng)該是同一時刻記錄的；步驟3，在有效數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)選取特征點計算平均值；計算平均值的特征點選取相鄰波峰和波谷之間包含的所有點，峰值和谷值也包含 在內(nèi)，即為一個半周期內(nèi)所有的記錄點；且計算被校溫度計電阻平均值的特征點所處的半 周期數(shù)與計算標(biāo)準(zhǔn)溫度計溫度平均值的特征點所處的半周期數(shù)相同；步驟4，根據(jù)平均值計算被校溫度計的溫度系數(shù)。以標(biāo)準(zhǔn)鉬電阻溫度計校準(zhǔn)熱敏電阻溫度計為例，詳細說明本發(fā)明的溫度計校準(zhǔn)檢 測方法。本發(fā)明的溫度計校準(zhǔn)檢測方法包括以下步驟Sl 將被校熱敏電阻溫度計和標(biāo)準(zhǔn)鉬電阻溫度計同放在穩(wěn)定的標(biāo)準(zhǔn)溫槽中，記錄 被校熱敏電阻溫度計和標(biāo)準(zhǔn)鉬電阻溫度計同一時刻的測量值，各測量多個數(shù)據(jù)，并在記錄 的同時繪制被校熱敏電阻溫度計和標(biāo)準(zhǔn)鉬電阻溫度計的測量數(shù)木據(jù)圖，由于熱敏電阻溫度計呈負溫度系數(shù)，因此被校熱敏電阻溫度計的測量數(shù)據(jù)曲線與標(biāo)準(zhǔn)鉬電阻溫度計的測量數(shù) 據(jù)曲線應(yīng)當(dāng)相反，即一個曲線近似呈正弦曲線，另一個曲線近似呈余弦曲線，測量點的個數(shù) 應(yīng)當(dāng)滿足繪制的兩曲線能穩(wěn)定地呈上述相反關(guān)系；S2:除去兩曲線不呈相反關(guān)系的區(qū)段，剩下的即為所需要選擇的有效數(shù)據(jù)區(qū)，如圖 4、圖5所示，圖4所示為被校熱敏電阻溫度計的有效數(shù)據(jù)區(qū)圖，橫坐標(biāo)為時間，單位為秒， 縱坐標(biāo)為電阻值，單位為歐姆，圖5所示為標(biāo)準(zhǔn)鉬電阻溫度計的有效數(shù)據(jù)區(qū)圖，橫坐標(biāo)為時 間，單位為秒，縱坐標(biāo)為溫度值，單位為攝氏度，圖4中第一個記錄點的記錄時刻與圖5中第 一個記錄點的記錄時刻相同；從圖4、圖5可以看出，被校熱敏電阻溫度計的有效數(shù)據(jù)區(qū)圖 近似呈正弦曲線，標(biāo)準(zhǔn)鉬電阻溫度計的有效數(shù)據(jù)區(qū)圖近似呈余弦曲線；S3 在被校熱敏電阻溫度計的有效數(shù)據(jù)區(qū)圖中選取第1個點到第22個點為特征 點(包含相鄰波峰與波谷之間的所有點，即包含了半個周期內(nèi)的所有記錄點)，求平均值， 計算結(jié)果為3992. 07285Ω，在標(biāo)準(zhǔn)鉬電阻溫度計的有效數(shù)據(jù)區(qū)圖中選取第1個點到第17個 點為特征點求平均值(由于標(biāo)準(zhǔn)鉬電阻溫度計對溫場波動及熱平衡狀態(tài)的響應(yīng)與被校熱 敏電阻溫度計不同，因此計算平均值時包含的特征點的個數(shù)不同，這正是本發(fā)明溫度計校 準(zhǔn)檢測方法的優(yōu)點所在)，計算結(jié)果為24. 97011°C，在被校熱敏電阻溫度計的有效數(shù)據(jù)區(qū) 圖中選取的特征點與在標(biāo)準(zhǔn)鉬電阻溫度計的有效數(shù)據(jù)區(qū)圖中選取的特征點均處于各自曲 線的第一個半周期；S4 ；計算此時被校熱敏電阻溫度計的溫度系數(shù)為159. 874 Ω/°C。與背景技術(shù)中的現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的溫度計校準(zhǔn)檢測方法將校準(zhǔn)精度提高了 0. 2%。本發(fā)明的溫度計校準(zhǔn)檢測方法計算平均值時選取特征點，消除了由于標(biāo)準(zhǔn)溫度 計、被校溫度計對溫場波動及熱平衡狀態(tài)響應(yīng)不同而導(dǎo)致的測量誤差，因此校準(zhǔn)精度更高。
權(quán)利要求
一種溫度計校準(zhǔn)檢測方法，其特征在于，包括以下步驟步驟1，在恒溫條件下，記錄被校溫度計和標(biāo)準(zhǔn)溫度計同一時刻的測量值，各記錄多個數(shù)據(jù)，并根據(jù)記錄的數(shù)據(jù)分別繪制被校溫度計和標(biāo)準(zhǔn)溫度計的測量數(shù)據(jù)圖；步驟2，選擇有效數(shù)據(jù)區(qū)；步驟3，在有效數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)選取特征點計算平均值；步驟4，根據(jù)平均值計算被校溫度計的溫度系數(shù)。
2.如權(quán)利要求1所述的溫度計校準(zhǔn)檢測方法，其特征在于，步驟1中得到的被校溫度計 的測量數(shù)據(jù)圖和標(biāo)準(zhǔn)溫度計的測量數(shù)據(jù)圖呈或近似呈正弦或余弦曲線。
3.如權(quán)利要求1所述的溫度計校準(zhǔn)檢測方法，其特征在于，步驟2中，決定有效數(shù)據(jù)區(qū) 的因素有被校溫度計的特性。
4.如權(quán)利要求1所述的溫度計校準(zhǔn)檢測方法，其特征在于，步驟2中，被校溫度計的有 效數(shù)據(jù)區(qū)的第一個記錄點與標(biāo)準(zhǔn)溫度計的有效數(shù)據(jù)區(qū)的第一個記錄點是同一時刻記錄的。
5.如權(quán)利要求2所述的溫度計校準(zhǔn)檢測方法，其特征在于，步驟3中，計算平均值的特 征點取相鄰波峰和波谷之間包含的所有點，峰值和谷值也包含在內(nèi)。
6.如權(quán)利要求5所述的溫度計校準(zhǔn)檢測方法，其特征在于，步驟3中，計算平均值的特 征點為一半周期內(nèi)的所有記錄點。
7.如權(quán)利要求6所述的溫度計校準(zhǔn)檢測方法，其特征在于，步驟3中，計算被校溫度計 電阻平均值的特征點所處的半周期數(shù)與計算標(biāo)準(zhǔn)溫度計溫度平均值的特征點所處的半周 期數(shù)相同。
全文摘要
本發(fā)明的溫度計校準(zhǔn)檢測方法包括以下步驟步驟1，在恒溫條件下，記錄被校溫度計和標(biāo)準(zhǔn)溫度計同一時刻的測量值，各記錄多個數(shù)據(jù)，并根據(jù)記錄的數(shù)據(jù)分別繪制被校溫度計和標(biāo)準(zhǔn)溫度計的測量數(shù)據(jù)圖；步驟2，選擇有效數(shù)據(jù)區(qū)；步驟3，在有效數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)選取特征點計算平均值；步驟4，根據(jù)平均值計算被校溫度計的溫度系數(shù)。本發(fā)明的溫度計校準(zhǔn)檢測方法消除了由于標(biāo)準(zhǔn)溫度計、被校溫度計對溫場波動及熱平衡狀態(tài)響應(yīng)不同而導(dǎo)致的測量誤差，提高了校準(zhǔn)精度。
文檔編號G01K15/00GK101988857SQ200910055778
公開日2011年3月23日 申請日期2009年7月31日 優(yōu)先權(quán)日2009年7月31日
發(fā)明者袁志文 申請人:華東電力試驗研究院有限公司