專利名稱：恒溫控制零漂移磁通儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種高性能的磁性材料測(cè)試儀器，尤其是涉及一種恒溫控 制零漂移磁通儀。
背景技術(shù)：
磁通儀是一種用于空間磁場(chǎng)測(cè)量和磁性材料性能研究的測(cè)試儀器，目 前，常用的磁性材料測(cè)試儀器有磁電式、電子式和數(shù)字積分式結(jié)構(gòu)。但是， 目前巿場(chǎng)上所用的磁通儀均存在不同程度的零點(diǎn)漂移問題，因而在實(shí)際使 用過程中非常不方便，在測(cè)量的同時(shí)，還需隨時(shí)進(jìn)行調(diào)零，最終影響測(cè)量 精度及工作效率。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)中的不足，提供一 種恒溫控制零漂移磁通儀，其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、成本低廉且使用操作簡(jiǎn)便，能夠 有效解決現(xiàn)有磁通測(cè)量?jī)x器的零點(diǎn)漂移問題。
為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是 一種恒溫控制零漂移 磁通儀，包括金屬密封殼體、密封在金屬密封殼體內(nèi)部的用于測(cè)試磁性材 料磁通的主電路板、對(duì)主電路板的工作量程進(jìn)行設(shè)定的量程設(shè)置裝置、將 測(cè)試結(jié)果進(jìn)行同步顯示的數(shù)字顯示器、測(cè)試信號(hào)輸入端口以及對(duì)各用電單 元進(jìn)行供電的幵關(guān)穩(wěn)壓電源，所述量程設(shè)置裝置、數(shù)字顯示器和測(cè)試信號(hào) 輸入端口分別與主電路板相接且均設(shè)置在金屬密封殼體外側(cè)，其特征在 于所述金屬密封殼體內(nèi)側(cè)套裝有一層保溫層且其內(nèi)側(cè)底部還安裝有一個(gè) 由工作電源進(jìn)行供電的加熱裝置，工作電源由恒溫控制器進(jìn)行控制，金屬 密封殼體的內(nèi)部空腔中安裝有一個(gè)與恒溫控制器相接的溫度傳感器；所述恒溫控制器和工作電源均設(shè)置在金屬密封殼體外部。 所述加熱裝置為PTC陶瓷加熱片。 所述工作電源與開關(guān)穩(wěn)壓電源相接。 所述保溫層為聚氨酯保溫層。
本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比具有以下優(yōu)點(diǎn)，1、不僅結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、成本低廉， 加工制作方便且使用操作簡(jiǎn)便，其只需在現(xiàn)有磁通測(cè)試儀器的密封客體內(nèi) 部加入一個(gè)使該殼體內(nèi)部溫度恒定的加熱裝置，而無需對(duì)現(xiàn)有的磁通測(cè)試 儀器作其他任何改變；2、將磁通測(cè)試儀器的主電路板密封在一個(gè)恒溫的 金屬容器內(nèi)，有效克服了外界溫度變化使磁通測(cè)試儀器產(chǎn)生的零點(diǎn)漂移問
題；3、金屬密封殼體具備磁屏蔽作用，也克服了磁通測(cè)試過程中外界磁
場(chǎng)的干擾問題。綜上，本發(fā)明從磁通測(cè)量?jī)x器零點(diǎn)漂移問題的源頭入手， 有效解決了溫度漂移和外界干擾漂移的問題，使磁通測(cè)試儀器工作在恒溫 和屏蔽狀態(tài)下。
下面通過附圖和實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案做進(jìn)一步的詳細(xì)描述。


圖l為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2為本發(fā)明的電路原理圖。 附圖標(biāo)記說明
l一金屬密封殼體； 2 —主電路板； 3—量程設(shè)置裝置；
4一數(shù)字顯示器； 5—恒溫控制器； 6—溫度傳感器；
7—開關(guān)穩(wěn)壓電源； 8—工作電源； 9一PTC陶瓷加熱片；
IO—測(cè)試信號(hào)輸入端口。
具體實(shí)施例方式
如圖1所示，本發(fā)明包括金屬密封殼體1、密封在金屬密封殼體1內(nèi)部 的用于測(cè)試磁性材料磁通的主電路板2、對(duì)主電路板2的工作量程進(jìn)行設(shè) 定的量程設(shè)置裝置3、將測(cè)試結(jié)果進(jìn)行同步顯示的數(shù)字顯示器4、測(cè)試信號(hào)輸入端口 10以及對(duì)各用電單元進(jìn)行供電的開關(guān)穩(wěn)壓電源7。其中，所述 量程設(shè)置裝置3、數(shù)字顯示器4和測(cè)試信號(hào)輸入端口 10分別與主電路板2 相接且均設(shè)置在金屬密封殼體l外側(cè)。另外，所述金屬密封殼體l內(nèi)側(cè)套
裝有一層保溫層且其內(nèi)側(cè)底部還安裝有一個(gè)由工作電源8進(jìn)行供電的加熱 裝置，工作電源8由恒溫控制器5進(jìn)行控制，同時(shí)，金屬密封殼體l的內(nèi) 部空腔中安裝有一個(gè)與恒溫控制器5相接的溫度傳感器6。所述恒溫控制 器5和工作電源8均設(shè)置在金屬密封殼體1外部，并且工作電源8與開關(guān) 穩(wěn)壓電源7相接，開關(guān)穩(wěn)壓電源7分別為主電路板2和恒溫控制器5供電， 而工作電源8為所述加熱裝置供電。本實(shí)施例中，所述加熱裝置為安裝在 金屬密封殼體1內(nèi)側(cè)底部的PTC陶瓷加熱片9,金屬密封殼體1內(nèi)側(cè)套裝 的保溫層為聚氨酯保溫層。
本發(fā)明的工作過程是在磁通測(cè)試過程中，溫度傳感器6實(shí)時(shí)對(duì)金屬 密封殼體l內(nèi)部的溫度進(jìn)行檢測(cè)并將所檢測(cè)信號(hào)同步傳送至與其相接的恒 溫控制器5,恒溫控制器5根據(jù)所輸入的溫度信號(hào)相應(yīng)對(duì)工作電源8的電 流大小進(jìn)行控制，具體是當(dāng)溫度傳感器6檢測(cè)到金屬密封殼體1的內(nèi)部 溫度過高或過低時(shí)，通過恒溫控制器5相應(yīng)對(duì)工作電源8的電流進(jìn)行控制 調(diào)整，最終實(shí)現(xiàn)金屬密封殼體l內(nèi)部的恒溫狀態(tài)。
以上所述，僅是本發(fā)明的較佳實(shí)施例，并非對(duì)本發(fā)明作任何限制，凡是 根據(jù)本發(fā)明技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上實(shí)施例所作的任何簡(jiǎn)單修改、變更以及等效結(jié)構(gòu) 變化，均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案的保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1. 一種恒溫控制零漂移磁通儀，包括金屬密封殼體(1)、密封在金屬密封殼體(1)內(nèi)部的用于測(cè)試磁性材料磁通的主電路板(2)、對(duì)主電路板(2)的工作量程進(jìn)行設(shè)定的量程設(shè)置裝置(3)、將測(cè)試結(jié)果進(jìn)行同步顯示的數(shù)字顯示器(4)、測(cè)試信號(hào)輸入端口(10)以及對(duì)各用電單元進(jìn)行供電的開關(guān)穩(wěn)壓電源(7)，所述量程設(shè)置裝置(3)、數(shù)字顯示器(4)和測(cè)試信號(hào)輸入端口(10)分別與主電路板(2)相接且均設(shè)置在金屬密封殼體(1)外側(cè)，其特征在于所述金屬密封殼體(1)內(nèi)側(cè)套裝有一層保溫層且其內(nèi)側(cè)底部還安裝有一個(gè)由工作電源(8)進(jìn)行供電的加熱裝置，工作電源(8)由恒溫控制器(5)進(jìn)行控制，金屬密封殼體(1)的內(nèi)部空腔中安裝有一個(gè)與恒溫控制器(5)相接的溫度傳感器(6)；所述恒溫控制器(5)和工作電源(8)均設(shè)置在金屬密封殼體(1)外部。
2. 按照權(quán)利要求l所述的恒溫控制零漂移磁通儀，其特征在于所述 加熱裝置為PTC陶瓷加熱片(9)。
3. 按照權(quán)利要求l或2所述的恒溫控制零漂移磁通儀，其特征在于 所述工作電源(8)與開關(guān)穩(wěn)壓電源(7)相接。
4. 按照權(quán)利要求1或2所述的恒溫控制零漂移磁通儀，其特征在于 所述保溫層為聚氨酯保溫層。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種恒溫控制零漂移磁通儀，包括金屬密封殼體、密封在金屬密封殼體內(nèi)部的用于測(cè)試磁性材料磁通的主電路板、對(duì)主電路板工作量程進(jìn)行設(shè)定的量程設(shè)置裝置、數(shù)字顯示器、測(cè)試信號(hào)輸入端口及對(duì)各用電單元進(jìn)行供電的開關(guān)穩(wěn)壓電源，所述量程設(shè)置裝置、數(shù)字顯示器和測(cè)試信號(hào)輸入端口分別與主電路板相接且均設(shè)置在金屬密封殼體外側(cè)，金屬密封殼體內(nèi)側(cè)套裝有一層保溫層且其內(nèi)側(cè)底部還安裝有一個(gè)由工作電源進(jìn)行供電的加熱裝置，工作電源由恒溫控制器進(jìn)行控制，金屬密封殼體內(nèi)部安裝有一與恒溫控制器相接的溫度傳感器。本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、成本低廉且使用操作簡(jiǎn)便，能夠有效解決現(xiàn)有磁通測(cè)量?jī)x器的零點(diǎn)漂移問題。
文檔編號(hào)G01R33/02GK101430370SQ20081023194
公開日2009年5月13日 申請(qǐng)日期2008年10月27日 優(yōu)先權(quán)日2008年10月27日
發(fā)明者鄒光榮 申請(qǐng)人:西安西工大思強(qiáng)科技有限公司