專(zhuān)利名稱(chēng)：Igbt橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)電路檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種由IGBT構(gòu)成的功率開(kāi)關(guān)橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)電路的快速檢測(cè)裝 置，尤其是地面核磁共振找水儀發(fā)射機(jī)的系統(tǒng)快速檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)：
CN1917369公開(kāi)了一種IGBT驅(qū)動(dòng)器，包括整形電路、C P L D邏輯控制器、 脈沖調(diào)制放大電路、隔離變壓器、脈沖解調(diào)電路和輸出放大電路；輸入的PWM 信號(hào)經(jīng)整形電路，變?yōu)榫匦尾?，再進(jìn)入CPLD邏輯控制器實(shí)現(xiàn)邏輯處理，輸出后 經(jīng)調(diào)制放大電路，產(chǎn)生尖脈沖信號(hào)經(jīng)隔離變壓器耦合到次級(jí)，由解調(diào)電路還原成 PWM脈沖信號(hào)，最后通過(guò)輸出放大電路驅(qū)動(dòng)IGBT。
CN1171649公布了一種全橋電路IGBT的門(mén)極驅(qū)動(dòng)方法及其電路。該方法是 使全橋電路中一支對(duì)角臂上的其中一只主控開(kāi)關(guān)相對(duì)另一只主控開(kāi)關(guān)延時(shí)AT 關(guān)斷；使全橋電路中另一支對(duì)角臂上的其中一只主控開(kāi)關(guān)也相對(duì)另一只主控開(kāi)關(guān) 延時(shí)A T關(guān)斷。這只需分別在現(xiàn)有全橋硬開(kāi)關(guān)PWMDC / DC變換器中的每一對(duì) 角臂上的兩只主控開(kāi)關(guān)之一的隔離驅(qū)動(dòng)電路前增加一關(guān)斷延時(shí)電路便可實(shí)現(xiàn)。
CN03200451公開(kāi)了一種IGBT過(guò)流保護(hù)電路。它基于主控芯片UC3875,其 中一個(gè)比較器的同向輸入端接一個(gè)可變電阻，反向輸入端接信號(hào)采樣電路的輸出 端，輸出端接觸發(fā)器的觸發(fā)端。觸發(fā)器的輸出端與主控芯片的5腳之間經(jīng)過(guò)電阻 相連接。同時(shí)觸發(fā)器的輸出端經(jīng)電阻接一個(gè)三極管的基極，三極管的射極接地， 集電極接一個(gè)二極管的陰極，二極管的陽(yáng)極接主控芯片的6腳，三極管的基極與 與之連接的電阻之間接有旁路電容。
CN10119181提供了一種短路檢測(cè)裝置，包括彼此串聯(lián)的直流電源、限流 電阻和至少一個(gè)顯示單元，各顯示單元并聯(lián)有短路檢測(cè)端子。其中，所述顯示單 元為發(fā)光二極管。本發(fā)明所述的短路檢測(cè)裝置設(shè)置有直流電源、限流電阻，在被 測(cè)信號(hào)沒(méi)有上電的情況下，就能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)被測(cè)的任意信號(hào)間是否存在短路的檢 測(cè)，且檢測(cè)結(jié)果指示明顯。
上述公布的專(zhuān)利，對(duì)IGBT驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)，保護(hù)電路以及全橋構(gòu)成等做了詳細(xì) 闡述，并公布了一種短路檢測(cè)裝置。但是上述各公布的電路在上電測(cè)試過(guò)程中， 當(dāng)橋路存在邏輯連接錯(cuò)誤或者部分元件工作不正常時(shí)，會(huì)出現(xiàn)橋路直通短路等永 久性損壞，該直通短路無(wú)法用CN10119181中公布的檢測(cè)方法檢測(cè)，導(dǎo)致浪費(fèi)大 量的人力和時(shí)間用在故障排除上。因此，需要一種IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)模塊檢 測(cè)裝置，在保證不損壞IGBT橋路模塊的情況下，快速檢査出電路連接中存在的 邏輯錯(cuò)誤及元件損壞，并對(duì)待測(cè)IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)模塊的參數(shù)進(jìn)行全面測(cè)試。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種能夠用于IGBT橋路及 驅(qū)動(dòng)保護(hù)電路的快速檢測(cè)裝置。降低對(duì)批量制作的IGBT橋路的檢測(cè)時(shí)間和人力， 提高檢測(cè)的安全性。
本發(fā)明的目的是通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的
上位機(jī)9經(jīng)主控單元1與控制信號(hào)端口轉(zhuǎn)換單元2連接，主控單元1通過(guò)端 口 N14與顯示單元4連接，主控單元1通過(guò)端口 Nil與模擬故障信號(hào)轉(zhuǎn)換單元 5連接，主控單元1通過(guò)端口 N16與測(cè)量電源6連接，主控單元1經(jīng)邏輯切換單 元3、隔離探頭陣列8與模擬負(fù)載單元7連接，隔離探頭陣列8與控制信號(hào)端口 轉(zhuǎn)換單元2連接構(gòu)成。
本發(fā)明的目的還可以通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)
主控單元1是由通訊端口經(jīng)MCU與可編程分頻器連接，編程分頻器連接高 頻時(shí)鐘，控制信息輸入單元經(jīng)通訊端口經(jīng)MCU與故障信號(hào)同步產(chǎn)生單元連接組 成；隔離探頭是由衰減器經(jīng)光電耦合驅(qū)動(dòng)器與高速光電耦合器連接構(gòu)成；模擬負(fù) 載單元7采用星形連接；隔離探頭陣列8由IO個(gè)參數(shù)一致，彼此獨(dú)立的隔離探 頭T1-T10組成，Tl-T6探頭用于IGBT驅(qū)動(dòng)性能及連接邏輯檢測(cè)，T7-T9用于對(duì) 模擬負(fù)載單元電壓進(jìn)行檢測(cè)。
有益效果IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)電路檢測(cè)裝置用于對(duì)由IGBT構(gòu)成的橋路 及驅(qū)動(dòng)保護(hù)電路進(jìn)行快速、全面的工作性能檢測(cè)，在保證不損壞橋路關(guān)鍵器件的 前提下，檢査出電路連線，端口順序等方面的錯(cuò)誤，并定量檢測(cè)驅(qū)動(dòng)延遲時(shí)間、 IGBT開(kāi)關(guān)時(shí)間等電路參數(shù)，在進(jìn)行批量化功率橋路制作時(shí)，可以在幾分鐘內(nèi)對(duì) IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)模塊的工作參數(shù)進(jìn)行安全、全面的檢測(cè)；模擬負(fù)載單元7 采用星形連接能滿(mǎn)足不同IGBT橋路的要求；本發(fā)明既能滿(mǎn)足由IGBT構(gòu)成的H 橋路檢測(cè)，又能檢測(cè)三相全橋的橋路檢測(cè)需要；


附圖1:為IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)電路檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)框圖
附圖2:為附圖l主控單元l結(jié)構(gòu)框圖
附圖3:為附圖1隔離探頭陣列8子探頭結(jié)構(gòu)框圖
附圖4:為附圖l模擬負(fù)載單元7結(jié)構(gòu)圖
附圖5:為IGBT構(gòu)成的H橋路及驅(qū)動(dòng)電路檢測(cè)電路圖 附圖6:為IGBT構(gòu)成的三相全橋及驅(qū)動(dòng)電路檢測(cè)電路圖 附圖7:為IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)模塊過(guò)流故障保護(hù)功能檢測(cè)框圖 l主控單元，2控制信號(hào)接口轉(zhuǎn)換單元，3邏輯切換單元，4顯示單元，5模 擬故障信號(hào)轉(zhuǎn)換單元，6測(cè)量電源，7模擬負(fù)載單元，8隔離探頭陣列，9上位機(jī)。Ol測(cè)量電源端口， 02驅(qū)動(dòng)板卡的保護(hù)功能端口， 03控制信號(hào)輸入端口， 04橋路輸出端口， 05隔離檢測(cè)探頭端口， 06裝置電源端口
具體實(shí)施例方式
下面結(jié)合附圖和實(shí)施例作進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明
上位機(jī)9經(jīng)主控單元1與控制信號(hào)端口轉(zhuǎn)換單元2連接，主控單元1通過(guò)端 口 N14與顯示單元4連接，主控單元1通過(guò)端口 Nil與模擬故障信號(hào)轉(zhuǎn)換單元 5連接，主控單元1通過(guò)端口N16與測(cè)量電源6連接，主控單元l經(jīng)邏輯切換單 元3、隔離探頭陣列8與模擬負(fù)載單元7連接，隔離探頭陣列8與控制信號(hào)端口 轉(zhuǎn)換單元2連接構(gòu)成。主控單元1是由通訊端口經(jīng)MCU與可編程分頻器連接， 編程分頻器連接高頻時(shí)鐘，控制信息輸入單元經(jīng)通訊端口經(jīng)MCU與故障信號(hào)同 步產(chǎn)生單元連接組成；隔離探頭是由衰減器經(jīng)光電耦合驅(qū)動(dòng)器與高速光電耦合器 連接構(gòu)成；模擬負(fù)載單元7采用星形連接；隔離探頭陣列8由10個(gè)參數(shù)一致， 彼此獨(dú)立的隔離探頭T1-T10組成，Tl-T6探頭用于IGBT驅(qū)動(dòng)性能及連接邏輯 檢測(cè)，T7-T9用于對(duì)模擬負(fù)載單元電壓進(jìn)行檢測(cè)。
主控單元1通過(guò)N15端口的通訊總線與上位機(jī)9連接，主控單元1通過(guò)端 口 N14與顯示單元4連接，主控單元1通過(guò)端口 Nil與模擬故障信號(hào)轉(zhuǎn)換單元 5連接，主控單元1通過(guò)N12端口與控制信號(hào)接口轉(zhuǎn)換單元2連接，主控單元l 通過(guò)端口 N13與邏輯切換單元3連接，控制信號(hào)接口轉(zhuǎn)換單元2通過(guò)端口 N22 與隔離探頭陣列8的Tl-T6探頭連接，模擬故障信號(hào)轉(zhuǎn)換單元5通過(guò)N52端口 與隔離探頭陣列8的T10探頭連接，隔離探頭陣列8另一端與邏輯切換單元3 連接，隔離探頭陣列8與模擬負(fù)載單元7連接，主控單元l與測(cè)量電源6連接， IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)模塊檢測(cè)裝置自檢測(cè)時(shí)，主控單元1不與測(cè)量電源6連接， IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)模塊檢測(cè)裝置進(jìn)行控制信號(hào)及探頭連接邏輯自檢測(cè)時(shí)，信 號(hào)流向?yàn)?—1—2—8—3—1—4。
控制信號(hào)接口轉(zhuǎn)換單元2主要完成將主控單元1產(chǎn)生的控制信號(hào)轉(zhuǎn)換為不同 的待測(cè)IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)模塊所需求的電氣標(biāo)準(zhǔn)和邏輯的輸入控制信號(hào)，通 過(guò)輸出端口 N21端口輸出。同時(shí)，控制信號(hào)接口轉(zhuǎn)換單元2給出了用于系統(tǒng)自 檢測(cè)的端口 N22，該端口的邏輯關(guān)系與輸出到待測(cè)IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)模塊的 邏輯關(guān)系相同，但是電氣規(guī)范符合隔離檢測(cè)探頭陣列的電氣檢測(cè)規(guī)范。
模擬故障信號(hào)轉(zhuǎn)換單元5負(fù)責(zé)將主控單元1產(chǎn)生的參數(shù)一定的模擬故障信號(hào) 轉(zhuǎn)換為能夠施加于待測(cè)IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)模塊的信號(hào)，并通過(guò)N51端口輸出 用于待測(cè)IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)模塊10的保護(hù)功能檢測(cè)。N52端口為自檢測(cè)模 擬故障信號(hào)輸出端口，該端口的另外一個(gè)功能是用來(lái)對(duì)隔離探頭陣列中的探頭 (T1-T10)進(jìn)行自檢測(cè)。
模擬負(fù)載單元(7)由三個(gè)參數(shù)一致的阻抗元件構(gòu)成，各阻抗元件的一端連接到一起。自檢測(cè)模式，模擬負(fù)載阻抗不連入整個(gè)裝置。正常檢測(cè)模式下，模擬 負(fù)載單元通過(guò)N71端口與待測(cè)IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)模塊連接，N72端口與隔離 探頭T7-T9連接，用來(lái)對(duì)負(fù)載端電壓波形進(jìn)行檢測(cè)。 檢測(cè)裝置自檢測(cè)與標(biāo)定
第一步探頭陣列功能檢測(cè)及延時(shí)參數(shù)標(biāo)定。主控單元l產(chǎn)生頻率、時(shí)間長(zhǎng)
度、死區(qū)時(shí)間、邏輯等參數(shù)固定的控制信號(hào)，經(jīng)端口 Nil送入模擬故障信號(hào)轉(zhuǎn) 換單元5，并通過(guò)其自檢測(cè)端口N52輸出。將隔離探頭陣列8中的T1-T10探頭 依次連接到N52端口進(jìn)行檢測(cè)，探頭檢測(cè)信號(hào)經(jīng)過(guò)邏輯切換單元3轉(zhuǎn)換，送入 到主控單元1中，主控單元1通過(guò)計(jì)算控制信號(hào)發(fā)送時(shí)刻與探頭檢測(cè)到控制信號(hào) 返回到主控單元1的時(shí)刻的時(shí)間差，對(duì)探頭的正常檢測(cè)功能進(jìn)行驗(yàn)證，并標(biāo)定每 一個(gè)探頭的自身測(cè)量延遲參數(shù)，該參數(shù)用來(lái)對(duì)正常檢測(cè)時(shí)的測(cè)量結(jié)果進(jìn)行修正。 自檢測(cè)結(jié)果送入顯示單元4顯示。
第二步探頭陣列連接邏輯自檢測(cè)。將經(jīng)過(guò)標(biāo)定后的隔離探頭T1-T6按照實(shí) 際測(cè)量時(shí)的邏輯順序連接到測(cè)量控制信號(hào)接口轉(zhuǎn)換單元2的N22自檢測(cè)端口， 隔離探頭的輸出信號(hào)，經(jīng)過(guò)邏輯切換單元3轉(zhuǎn)換，輸入主控單元l的N13端口， 主控單元1對(duì)多路返回信號(hào)的驅(qū)動(dòng)邏輯關(guān)系進(jìn)行判斷，完成正常檢測(cè)模式下的裝 置端口輸出邏輯檢測(cè)，檢測(cè)結(jié)果送入顯示單元4顯示。
第三步IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)模塊的保護(hù)檢測(cè)功能自檢測(cè)，主控單元l產(chǎn) 生模擬故障觸發(fā)信號(hào)，該故障觸發(fā)信號(hào)觸發(fā)模擬故障信號(hào)轉(zhuǎn)換單元5，通過(guò)N52 端口產(chǎn)生模擬故障系統(tǒng)自檢測(cè)信號(hào)，隔離探頭陣列8的T10探頭接到N52端口 。 T10探頭輸出自檢測(cè)信號(hào)經(jīng)邏輯切換單元3后，送入主控單元l中進(jìn)行計(jì)算，得 到裝置的保護(hù)功能檢測(cè)回路自檢測(cè)延時(shí)等參數(shù)，用于對(duì)正常檢測(cè)時(shí)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行 修正。測(cè)量結(jié)果送入顯示單元4顯示。
IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)電路檢測(cè)
將檢測(cè)裝置的Ol、 02、 03、 04、 05、端口通過(guò)導(dǎo)線與被檢測(cè)裝置的Ol、 02、 03、 04、 05、對(duì)應(yīng)連接。
1、 IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)模塊控制邏輯及死區(qū)時(shí)間檢測(cè) 在對(duì)IGBT構(gòu)成的H橋路進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，測(cè)量裝置與待測(cè)模塊的硬件連接關(guān)系 如附圖5所示，工作流程敘述如下主控單元1產(chǎn)生模擬控制信號(hào)，通過(guò)控制信 號(hào)接口轉(zhuǎn)換單元2的N21接口 ，產(chǎn)生相應(yīng)的驅(qū)動(dòng)信號(hào)送入待測(cè)IGBT橋路及驅(qū)動(dòng) 保護(hù)模塊10的O3端口 (驅(qū)動(dòng)器控制信號(hào)輸入端口)，探頭T1、 T2、 T4、 T5分 別按照?qǐng)D5所示連接于IGBT的柵極和源極檢測(cè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)。將一端橋臂的檢測(cè)探 頭T1、 T3分別與另外一個(gè)橋臂的檢測(cè)探頭T2、 T4進(jìn)行邏輯與，邏輯與的結(jié)果 為高，表明驅(qū)動(dòng)邏輯存在錯(cuò)誤，由主控單元1識(shí)別并送入顯示單元4顯示。將 Tl、 T3分別與T2、 T4進(jìn)行邏輯異或后，輸出結(jié)果送入主控單元1后，由主控單元對(duì)兩個(gè)橋臂的死區(qū)時(shí)間以及橋臂參數(shù)一致性進(jìn)行測(cè)量和計(jì)算。上述測(cè)量步驟 完成后，運(yùn)用自檢測(cè)模式下獲得的系統(tǒng)自身延遲時(shí)間對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行修正并將測(cè) 量結(jié)果送入顯示單元4顯示。
在裝置對(duì)三相IGBT全橋功率模塊進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，主控單元產(chǎn)生用于三相全橋 電路檢測(cè)的六路三相驅(qū)動(dòng)信號(hào)，通過(guò)N12端口輸出到控制信號(hào)接口轉(zhuǎn)換單元2， 并經(jīng)由其N(xiāo)21端口輸出到待測(cè)IGBT橋路的03端口 。隔離探頭陣列的Tl-T6探 頭分別連接到三相全橋的每個(gè)IGBT的柵極和源極，測(cè)量驅(qū)動(dòng)信號(hào)。探頭測(cè)量輸 出連接到邏輯切換單元3中，邏輯切換單元3按照主控單元發(fā)送的指令，將上管 (Tl、 T2、 T3)驅(qū)動(dòng)檢測(cè)探頭輸出分別與下管(T4、 T5、 T6)驅(qū)動(dòng)檢測(cè)探頭輸 出進(jìn)行邏輯運(yùn)算，運(yùn)算結(jié)果送入主控單元1進(jìn)行判斷，并根據(jù)發(fā)射頻率確定三相 控制信號(hào)的相位關(guān)系。具體判斷過(guò)程為分別將上管探頭檢測(cè)結(jié)果與下管探頭檢 測(cè)結(jié)果進(jìn)行邏輯與和邏輯異或，邏輯與結(jié)果用來(lái)判斷屬于同一橋臂的一對(duì)上下 管，并用此結(jié)果判斷實(shí)際連接邏輯是否存在邏輯連接錯(cuò)誤，其結(jié)果送入主控單元 1。邏輯異或信號(hào)作為死區(qū)時(shí)間測(cè)量信號(hào)和三相全橋輸入邏輯信號(hào)相位關(guān)系檢測(cè) 的依據(jù)，由主控單元1完成測(cè)量計(jì)算。完成上述檢測(cè)后，測(cè)量結(jié)果輸出到顯示單 元4顯示。
2、 驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)性能檢測(cè)
主要檢測(cè)驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)延時(shí)、不同頻率下驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)性能和驅(qū)動(dòng)器長(zhǎng)時(shí)間工作 可靠性。
主控單元1根據(jù)上位機(jī)9設(shè)置的參數(shù)和待測(cè)IGBT電路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)電路10 的電路形式，產(chǎn)生模擬實(shí)際工作時(shí)的控制信號(hào)，該信號(hào)經(jīng)過(guò)控制信號(hào)接口轉(zhuǎn)換單 元2的N21端口輸出到待測(cè)IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)模塊的03端口。隔離探頭 Tl-T6按照待測(cè)橋路形式連接于待測(cè)IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)模塊的05端口，探 頭T7-T10不連接。附圖5和附圖6分別給出了檢測(cè)IGBT構(gòu)成的H橋路與三相 全橋電路驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)性能檢測(cè)的裝置硬件連接示意圖。邏輯切換單元3將隔離探 頭陣列8的Tl-T6探頭輸出信號(hào)進(jìn)行切換后按照順序分別送入主控單元1進(jìn)行檢 測(cè)，測(cè)量結(jié)果送入顯示單元顯示。
完成延時(shí)測(cè)量后，主控單元l按照順序產(chǎn)生多組頻率不同，脈沖數(shù)相同的控 制信號(hào)，并按照前一步驟中的檢測(cè)過(guò)程，完成對(duì)驅(qū)動(dòng)器的工作性能隨頻率變化的 驅(qū)動(dòng)性能檢測(cè)。同時(shí)，主控單元l對(duì)驅(qū)動(dòng)器板卡驅(qū)動(dòng)輸出信號(hào)的延時(shí)與脈沖個(gè)數(shù) 進(jìn)行測(cè)量，檢測(cè)長(zhǎng)時(shí)間工作時(shí)待測(cè)IGBT驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)性能。
3、 IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)模塊過(guò)流保護(hù)功能檢測(cè)
需要將驅(qū)動(dòng)板卡與IGBT的集電極的連接線斷開(kāi)，并分別將模擬故障信號(hào)轉(zhuǎn) 換單元的兩個(gè)輸出端子連接到每一塊驅(qū)動(dòng)板卡與對(duì)應(yīng)IGBT的集電極和E極連接 的端子，附圖7給出了具體的連接方法。該步驟中測(cè)量電源6未待測(cè)模塊連接，模擬負(fù)載單元未與待測(cè)模塊04端口連接。探頭T10連接到N52端口， T7-T9不 連接，隔離探頭陣列8其余探頭按照步驟b中的連接順序連接。連線完畢后，主 控單元l產(chǎn)生模擬的控制信號(hào)，送入待測(cè)驅(qū)動(dòng)器，整套檢測(cè)裝置處于正常工作狀 態(tài)。主控單元1產(chǎn)生模擬故障信號(hào)觸發(fā)信號(hào)，該信號(hào)送入模擬故障信號(hào)轉(zhuǎn)換單元 5，通過(guò)N51接口產(chǎn)生模擬故障信號(hào)并輸出到待測(cè)驅(qū)動(dòng)板卡上。此時(shí)，保護(hù)電路 在檢測(cè)到模擬故障信號(hào)后，橋路驅(qū)動(dòng)信號(hào)會(huì)自動(dòng)關(guān)閉，檢測(cè)驅(qū)動(dòng)板卡驅(qū)動(dòng)信號(hào)的 隔離探頭Tl-T6實(shí)時(shí)反饋驅(qū)動(dòng)信號(hào)進(jìn)行保護(hù)動(dòng)作的過(guò)程。探頭傳回的橋路驅(qū)動(dòng)信 號(hào)經(jīng)過(guò)邏輯切換單元3的邏輯切換，送入主控單元l，檢測(cè)保護(hù)電路是否正常動(dòng) 作，并測(cè)量保護(hù)電路的動(dòng)作時(shí)間。根據(jù)裝置自檢測(cè)時(shí)獲得的裝置本身延時(shí)信息， 得到校正后的測(cè)量結(jié)果并送到顯示單元4顯示。
4、待測(cè)IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)模塊整體運(yùn)行性能檢測(cè)
主控單元1產(chǎn)生控制信號(hào)經(jīng)過(guò)控制信號(hào)端口轉(zhuǎn)接單元2的N21端口，連接 到待測(cè)IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)模塊10的03端口 ，并在模擬負(fù)載單元7上形成電 壓波形。當(dāng)待測(cè)IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)模塊為H橋路形式時(shí)，將探頭Tl 、 T2并 聯(lián)反接置于模擬負(fù)載單元7兩端(Ll與L4端)，Tl、 T2的輸出信號(hào)經(jīng)過(guò)邏輯切 換單元3送入到主控單元1進(jìn)行檢測(cè)，主控單元結(jié)合前幾步的延遲時(shí)間測(cè)量結(jié)果 并測(cè)量模擬負(fù)載單元7返回的信號(hào)與控制信號(hào)間的延遲時(shí)間，測(cè)量IGBT橋路的 開(kāi)關(guān)動(dòng)作時(shí)間，并將測(cè)量結(jié)果送入顯示單元4顯示。在對(duì)三相全橋電路進(jìn)行檢測(cè) 時(shí)，檢測(cè)方法如下按照順序編號(hào)的隔離檢測(cè)探頭T7-T9分別連接于L1、 L4， L2、 L4， L3、 L4端。三路探頭檢測(cè)信號(hào)經(jīng)過(guò)邏輯切換單元3，送入主控單元1 進(jìn)行檢測(cè)與判斷，通過(guò)檢測(cè)三相負(fù)載上的電壓波形的時(shí)間與相位關(guān)系，對(duì)三相全 橋IGBT電路的整體工作性能及IGBT開(kāi)關(guān)時(shí)間進(jìn)行檢測(cè)與標(biāo)定。
完成上述4個(gè)步驟后，IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)模塊檢測(cè)裝置完成了對(duì)一套待 測(cè)裝置的檢測(cè)過(guò)程，按照規(guī)定流程操作，幾分鐘即可完成檢測(cè)過(guò)程，獲得用戶(hù)關(guān) 心的待測(cè)IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)模塊的參數(shù)。
權(quán)利要求
1、一種IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)電路的檢測(cè)裝置，其特征在于，上位機(jī)(9)經(jīng)主控單元(1)與控制信號(hào)端口轉(zhuǎn)換單元(2)連接，主控單元(1)通過(guò)端口N14與顯示單元(4)連接，主控單元(1)通過(guò)端口N11與模擬故障信號(hào)轉(zhuǎn)換單元(5)連接，主控單元(1)通過(guò)端口N16與測(cè)量電源(6)連接，主控單元(1)經(jīng)邏輯切換單元(3)、隔離探頭陣列(8)與模擬負(fù)載單元(7)連接，隔離探頭陣列(8)與控制信號(hào)端口轉(zhuǎn)換單元(2)連接構(gòu)成。
2、 按照權(quán)利要求1所述的IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)電路的檢測(cè)裝置，其特征 在于，主控單元(1)是由通訊端口經(jīng)MCU與可編程分頻器連接，編程分頻器 連接高頻時(shí)鐘，控制信息輸入單元經(jīng)通訊端口經(jīng)MCU與故障信號(hào)同步產(chǎn)生單元 連接組成。
3、 按照權(quán)利要求1所述的IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)電路的檢測(cè)裝置，其特征 在于，隔離探頭是由衰減器經(jīng)光電耦合驅(qū)動(dòng)器與高速光電耦合器連接構(gòu)成。
4、 按照權(quán)利要求1所述的IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)電路的檢測(cè)裝置，其特征 在于，模擬負(fù)載單元(7)采用星形連接。
5、 按照權(quán)利要求1所述的IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)電路的檢測(cè)裝置，其特征 在于，隔離探頭陣列(8)由IO個(gè)參數(shù)一致，彼此獨(dú)立的隔離探頭T1-T10組成， Tl-T6探頭用于IGBT驅(qū)動(dòng)性能及連接邏輯檢測(cè)，T7-T9用于對(duì)模擬負(fù)載單元電 壓進(jìn)行檢測(cè)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)電路檢測(cè)裝置，上位機(jī)經(jīng)通訊總線與主控單元連接，主控單元產(chǎn)生控制信號(hào)經(jīng)過(guò)驅(qū)動(dòng)接口連接到待測(cè)單元，通過(guò)隔離探頭陣列返回測(cè)量信息并實(shí)現(xiàn)對(duì)IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)電路檢測(cè)。IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)電路檢測(cè)裝置檢測(cè)流程，包括檢測(cè)裝置自檢測(cè)、IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)電路驅(qū)動(dòng)性能檢測(cè)、IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)電路控制邏輯檢測(cè)、IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)電路故障保護(hù)功能檢測(cè)、IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)電路整體運(yùn)行性能檢測(cè)，實(shí)現(xiàn)了在保證不損壞橋路關(guān)鍵器件的前提下，檢查出電路連線，接口順序等方面的錯(cuò)誤，并定量檢測(cè)驅(qū)動(dòng)延遲時(shí)間，IGBT開(kāi)關(guān)時(shí)間等電路參數(shù)，在進(jìn)行批量化功率橋路制作時(shí)，可以快速對(duì)IGBT橋路及驅(qū)動(dòng)保護(hù)電路的參數(shù)一致性進(jìn)行檢測(cè)。
文檔編號(hào)G01R31/02GK101413983SQ200810051520
公開(kāi)日2009年4月22日 申請(qǐng)日期2008年12月4日 優(yōu)先權(quán)日2008年12月4日
發(fā)明者尚新磊, 李曉朋, 君 林, 段清明, 王中興, 王應(yīng)吉, 榮亮亮 申請(qǐng)人:吉林大學(xué)