專利名稱：將特征值儲存區(qū)轉(zhuǎn)換為擷取數(shù)據(jù)擴(kuò)充區(qū)的系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種內(nèi)存的系統(tǒng)與內(nèi)存轉(zhuǎn)換的方法，尤指一種適用于將測 試機(jī)臺內(nèi)部的特征值儲存區(qū)轉(zhuǎn)換為擷取數(shù)據(jù)擴(kuò)充區(qū)的系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)：
請參閱圖1，圖1是本發(fā)明擷取數(shù)據(jù)存儲器重新配置前的系統(tǒng)架構(gòu)圖。
此圖亦為傳統(tǒng)測試設(shè)備的系統(tǒng)架構(gòu)圖。首先，由數(shù)字電路20自特征值儲 存區(qū)11讀取特征值，再通過驅(qū)動器30將特征值輸入至待測芯片4的輸入 腳41中。
隨后，待測芯片4的輸出腳42相應(yīng)地輸出測試數(shù)據(jù)，并通過比較器3， 將待測芯片回授信號運(yùn)算后儲存于系統(tǒng)擷取數(shù)據(jù)存儲器21中，以作為測 試紀(jì)錄，以利后續(xù)分析使用。
于現(xiàn)有技術(shù)中，其特征值儲存區(qū)11遠(yuǎn)大于擷取數(shù)據(jù)存儲器21的儲存 容量。就一般消費(fèi)性芯片而言，其輸出數(shù)據(jù)所需儲存容量并不大。因此， 將輸出數(shù)據(jù)儲存于現(xiàn)有的擷取數(shù)據(jù)存儲器21做為除錯(cuò)己是足夠。
但對于特殊的芯片測試而言，其輸出腳位的輸出值所需儲存容量很 大，而且需將芯片輸出數(shù)據(jù)做分析。因此，現(xiàn)有的擷取數(shù)據(jù)存儲器21其 容量配置遠(yuǎn)不敷使用。需再另外增購內(nèi)存，以擴(kuò)充擷取數(shù)據(jù)存儲器容21 的容量。不但提高測試成本、更占用測試機(jī)臺的空間。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明目的是提供一種將測試機(jī)臺內(nèi)部的特征值儲存區(qū)轉(zhuǎn)換為擷取 數(shù)據(jù)擴(kuò)充區(qū)的系統(tǒng)，其包括一可配置內(nèi)存、 一待測芯片、及一控制器。
可配置內(nèi)存包括有一特征值儲存區(qū)。待測芯片包括至少一輸入腳、及 至少一輸出腳?？刂破髌浞謩e與可配置內(nèi)存、待測芯片電性連接。
待測芯片的至少一輸入腳透過控制器對應(yīng)至特征值儲存區(qū)、及待測芯 片的至少一輸出腳透過控制器對應(yīng)至控制器的擷取數(shù)據(jù)存儲器。
其中，于測試期間控制器檢測待測芯片，其輸出值所需儲存容量，大 于控制器的擷取數(shù)據(jù)存儲器所能儲存最大容量，控制器指定可配置內(nèi)存的 特征值儲存區(qū)的部分內(nèi)存區(qū)塊為擷取數(shù)據(jù)存儲器，用以擴(kuò)充系統(tǒng)的擷取數(shù) 據(jù)存儲器的容量。
再者，上述的控制器包括一數(shù)字電路、 一比較器、及一驅(qū)動器。比較 器可與數(shù)字電路接受待測芯片輸出值的高低電位基準(zhǔn)。驅(qū)動器可與數(shù)字電 路電性連接，用以將可配置內(nèi)存的特征值儲存區(qū)的數(shù)據(jù)，驅(qū)動輸出至待測 芯片。除前述的系統(tǒng)架構(gòu)外，本發(fā)明的另一特色是在下列執(zhí)行方法，包括 下列步驟
(A) 提供一控制器、 一可配置內(nèi)存、及一待測芯片，可配置內(nèi)存包括 一特征值儲存區(qū)，特征值儲存區(qū)所儲存的數(shù)據(jù)透過控制器輸入至該待測芯 片的至少一輸入腳，待測芯片的透過至少一輸出腳將測試結(jié)果輸出并儲存 于控制器的一擷取數(shù)據(jù)存儲器內(nèi)；
(B) 控制器檢測該待測芯片，待測芯片的輸出值所需儲存容量，大于 擷取數(shù)據(jù)存儲器所能儲存最大容量；
(C) 控制器指定至少一特征值儲存區(qū)的部分內(nèi)存區(qū)塊為一擴(kuò)充儲存
區(qū)；(D) 令擴(kuò)充儲存區(qū)加上擷取數(shù)據(jù)存儲器，總?cè)萘看笥诖郎y芯片于測試 期間，輸出值所需儲存容量；以及
(E) 將擴(kuò)充儲存區(qū)配置為一擷取數(shù)據(jù)擴(kuò)充區(qū)，用以擴(kuò)充擷取數(shù)據(jù)存儲 器的容量。
上述方法可由軟件程序?qū)懗梢灾鸩綀?zhí)行的。因此，本發(fā)明的方法可以 以計(jì)算機(jī)語言撰寫后再加載一控制器中，以利執(zhí)行。


圖1是本發(fā)明擷取數(shù)據(jù)存儲器重新配置前的系統(tǒng)架構(gòu)圖； 圖2是本發(fā)明擷取數(shù)據(jù)存儲器重新配置后的系統(tǒng)架構(gòu)圖； 圖3是本發(fā)明一較佳實(shí)施例的流程圖4是本發(fā)明待測芯片輸/出入腳對應(yīng)至重新配置后的可配置內(nèi)存內(nèi)
對應(yīng)的儲存區(qū)塊示意圖。
主要組件符號說明
可配置內(nèi)存l
擴(kuò)充儲存區(qū)12 控制器2
擷取數(shù)據(jù)存儲器21 驅(qū)動器30 輸入腳41
特征值儲存區(qū)11 擷取數(shù)據(jù)擴(kuò)充區(qū)120 數(shù)字電路20 比較器3 待測芯片4 輸出腳4具體實(shí)施例方式
請一并參閱圖1及圖2，圖1為本發(fā)明擷取數(shù)據(jù)存儲器重新配置前的 系統(tǒng)架構(gòu)圖，圖2是本發(fā)明擷取數(shù)據(jù)存儲器重新配置后的系統(tǒng)架構(gòu)圖。如圖所示，本發(fā)明為一種將測試機(jī)臺內(nèi)部的特征值儲存區(qū)轉(zhuǎn)換為擷取數(shù)據(jù)擴(kuò)
充區(qū)的系統(tǒng)，主要包括-一可配置內(nèi)存l、 一待測芯片4、及一控制器2。而 且，控制器2包括一數(shù)字電路20、 一比較器3、及一驅(qū)動器30。
于本例中，可配置內(nèi)存l包括一特征值儲存區(qū)]丄待測芯片4，包括 至少一輸入腳41、及至少一輸出腳42?？刂破?，其分別與可配置內(nèi)存1、 待測芯片4電性連接?？刂破?包括一擷取數(shù)據(jù)存儲器21。待測芯片4 的輸入腳41透過控制器2將可配置內(nèi)存1的特征值儲存區(qū)11的數(shù)據(jù)送出； 待測芯片4的輸出腳42透過控制器2，將回授信號運(yùn)算后儲存于的擷取數(shù) 據(jù)存儲器21。
請一并參閱圖3。其是本發(fā)明一較佳實(shí)施例的流程圖。數(shù)字電路 如圖3所示，測試機(jī)臺記憶體重新整合、規(guī)化開始(步驟801)，此后， 于測試期間，數(shù)字電路20檢測待測芯片4其輸出值所能儲存最大容量， 是否大于數(shù)字電路20內(nèi)部的擷取數(shù)據(jù)存儲器21，所能儲存最大容量(歩驟 802)。
如果待測芯片4輸出值大于數(shù)字電路20內(nèi)部的擷取數(shù)據(jù)存儲器21所 能儲存最大容量。接著，數(shù)字電路20指定可配置內(nèi)存1的特征值儲存區(qū) 11，其部分內(nèi)存區(qū)塊作為一擴(kuò)充儲存區(qū)12(步驟804)。并令擴(kuò)充儲存區(qū)12 加上數(shù)字電路20的擷取數(shù)據(jù)存儲器21的總?cè)萘?，大于待測芯片4于測試 期間輸出值所需儲存容量(步驟805)。
當(dāng)擴(kuò)充儲存區(qū)12加上擷取數(shù)據(jù)存儲器21的總?cè)萘看笥诖郎y芯片4， 則數(shù)字電路20將可配置內(nèi)存1的擴(kuò)充儲存區(qū)12，配置為另一擷取數(shù)據(jù)擴(kuò) 充區(qū)120(步驟807)，用以擴(kuò)充控制器2的擷取數(shù)據(jù)存儲器21的容量。
請同時(shí)參閱圖4。圖4是本發(fā)明待測芯片輸/出入腳對應(yīng)至重新配置后 的可配置內(nèi)存內(nèi)對應(yīng)的儲存區(qū)塊示意圖。如圖4所示，可配置內(nèi)存l內(nèi)的 儲存區(qū)塊已重新配置為特征值儲存區(qū)ll、及擷取數(shù)據(jù)擴(kuò)充區(qū)120。待測芯
7片4的輸入腳41透過數(shù)字電路20，自可配置內(nèi)存1的特征值儲存區(qū)11， 讀取特征值后自待測芯片4的輸入腳41輸入至待測芯片4以供測試用； 隨后，待測芯片4的輸出腳42透過數(shù)字電路20，將待測芯片4的測試結(jié) 果數(shù)據(jù)輸入至至控制器2的擷取數(shù)據(jù)存儲器21、及擷取數(shù)據(jù)擴(kuò)充區(qū)120， 并儲存的，以利后續(xù)分析使用。
綜合上述，以本發(fā)明的一種將測試機(jī)臺內(nèi)部的特征值儲存區(qū)轉(zhuǎn)換為擷 取數(shù)據(jù)擴(kuò)充區(qū)的系統(tǒng)及方法，即使在現(xiàn)有的測試機(jī)臺的系統(tǒng)架構(gòu)，也不需 另外添加內(nèi)存的情況下，可以擷取數(shù)據(jù)擴(kuò)充區(qū)120來增加擷取數(shù)據(jù)存儲器 21的容量。因此，可以改善現(xiàn)有而達(dá)到結(jié)省成本及系統(tǒng)空間的目的。
上述實(shí)施例僅為了方便說明而舉例而已，本發(fā)明所主張的權(quán)利范圍自 應(yīng)以申請專利范圍所述為準(zhǔn)，而非僅限于上述實(shí)施例。
權(quán)利要求
1、一種將特征值儲存區(qū)轉(zhuǎn)換為擷取數(shù)據(jù)擴(kuò)充區(qū)的系統(tǒng)，其特征在于包括一可配置內(nèi)存，包括至少一特征值儲存區(qū)；一待測芯片，包括至少一輸入腳、及至少一輸出腳；以及一控制器，其分別與該可配置內(nèi)存、及該待測芯片電性連接，該控制器包括一擷取數(shù)據(jù)存儲器，該待測芯片的該至少一輸入腳透過該控制器對應(yīng)至該可配置內(nèi)存的該至少一特征值儲存區(qū)，該待測芯片的該至少一輸出腳對應(yīng)至該擷取數(shù)據(jù)存儲器；其中，當(dāng)該控制器檢測該待測芯片輸出值所需儲存容量，大于該擷取數(shù)據(jù)存儲器所能儲存最大容量時(shí)，該控制器指定該至少一特征值儲存區(qū)的部分內(nèi)存區(qū)塊為一擴(kuò)充儲存區(qū)，并令該擴(kuò)充儲存區(qū)加上該擷取數(shù)據(jù)存儲器其總?cè)萘?，大于該待測芯片輸出值所需儲存容量，進(jìn)而將該擴(kuò)充儲存區(qū)轉(zhuǎn)換為一擷取數(shù)據(jù)擴(kuò)充區(qū)，用以擴(kuò)充該擷取數(shù)據(jù)存儲器的容量。
2. 如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，該控制器包括一數(shù)字電路、 一比較器、及一驅(qū)動器。
3. 如權(quán)利要求2所述的系統(tǒng)，其特征在于，該比較器與該數(shù)字電路電 性連接，以將該待測芯片輸出的信號運(yùn)算后，并儲存至擷取數(shù)據(jù)存儲器。
4. 如權(quán)利要求2所述的系統(tǒng)，其特征在于，該驅(qū)動器與該數(shù)字電路電 性連接，用以將該至少一特征值儲存區(qū)其特征值，驅(qū)動輸出至該待測芯片。
5. —種將特征值儲存區(qū)轉(zhuǎn)換為擷取數(shù)據(jù)擴(kuò)充區(qū)的方法，其特征在于包 括下列步驟(A)提供一控制器、 一可配置內(nèi)存、及一待測芯片，該可配置內(nèi)存包 括一特征值儲存區(qū)，該特征值儲存區(qū)所儲存的數(shù)據(jù)透過該控制器輸入至該待測芯片的至少一輸入腳，該待測芯片的透過至少一輸出腳將測試結(jié)果輸出并儲存于該控制器的一擷取數(shù)據(jù)存儲器內(nèi)；(B) 該控制器檢測該待測芯片，該待測芯片的輸出值所需儲存容量， 大于該擷取數(shù)據(jù)存儲器所能儲存最大容量；(C) 該控制器指定該至少一特征值儲存區(qū)的部分內(nèi)存區(qū)塊為一擴(kuò)充儲存區(qū)；(D) 令該擴(kuò)充儲存區(qū)加上該擷取數(shù)據(jù)存儲器，總?cè)萘看笥谠摯郎y芯片 于測試期間，輸出值所需儲存容量；以及(E) 將該擴(kuò)充儲存區(qū)配置為一擷取數(shù)據(jù)擴(kuò)充區(qū)，用以擴(kuò)充該擷取數(shù)據(jù) 存儲器的容量。
6. 如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，該控制器包括一數(shù)字電路、 一比較器、及一驅(qū)動器。
7. 如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，該比較器與該數(shù)字電路電 性連接，以作為比較該待測芯片輸出信號于運(yùn)算后儲存至擷取數(shù)據(jù)存儲 器°
8. 如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，該驅(qū)動器與該數(shù)字電路電 性連接，用以將該可配置內(nèi)存的數(shù)據(jù)驅(qū)動輸出至該待測芯片。
全文摘要
本發(fā)明一種將特征值儲存區(qū)轉(zhuǎn)換為擷取數(shù)據(jù)擴(kuò)充區(qū)的系統(tǒng)及方法，包括一可配置內(nèi)存、一待測芯片、及一控制器。其中，于測試期間控制器檢測待測芯片，其輸出值所需儲存容量，大于系統(tǒng)擷取數(shù)據(jù)存儲器所能儲存最大容量時(shí)，則控制器指定特征值儲存區(qū)的部分內(nèi)存區(qū)塊轉(zhuǎn)換為擷取數(shù)據(jù)存儲器，使其容量大于待測芯片于測試期間輸出值所需儲存容量。控制器將特征值儲存區(qū)轉(zhuǎn)換為一擷取數(shù)據(jù)擴(kuò)充區(qū)，用以擴(kuò)充系統(tǒng)的擷取數(shù)據(jù)存儲器的容量。
文檔編號G01R31/28GK101477171SQ20081000190
公開日2009年7月8日 申請日期2008年1月3日 優(yōu)先權(quán)日2008年1月3日
發(fā)明者梁文山, 蔡佳宏 申請人:京元電子股份有限公司