專利名稱：雙測(cè)試天線的測(cè)試室的制作方法
雙測(cè)試天線的測(cè)試室
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明關(guān)于一種用以進(jìn)行電磁波相關(guān)測(cè)試的測(cè)試室，特別是一種雙測(cè)試天 線的測(cè)試室。背景技術(shù)：
隨著科技的進(jìn)步，各式各樣地計(jì)算機(jī)(Computer)、通訊(Co腿unication) 和消費(fèi)性電子(Customer Electronic)的整合系統(tǒng)設(shè)備快速發(fā)展，以帶給人們 更方便的生活。然而，隨著電子電機(jī)設(shè)備的相關(guān)產(chǎn)品的廣泛使用相對(duì)造成復(fù)雜 電磁噪聲環(huán)境。
因此，所有電子電機(jī)設(shè)備的相關(guān)產(chǎn)品都符合相關(guān)的電磁兼容性 (Electromagnetic Compatibility; EMC)標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范，才能進(jìn)行銷售。電磁
兼容測(cè)試分為電磁干擾及電磁耐受度測(cè)試，于是在產(chǎn)品的整個(gè)研發(fā)過程中，就 必須反復(fù)進(jìn)行電磁干擾及電磁耐受度測(cè)試，以驗(yàn)證其是否符合相關(guān)的EMC標(biāo)準(zhǔn) 和規(guī)范，進(jìn)而找出產(chǎn)品設(shè)計(jì)及生產(chǎn)過程中EMC上的盲點(diǎn)，以使生產(chǎn)的電子電機(jī) 設(shè)備的相關(guān)產(chǎn)品都符合相關(guān)的EMC標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范。
故促使EMC測(cè)試場(chǎng)地的快速成長，目前，在較大規(guī)模的信息廠都趨向自行 籌建EMC測(cè)試室(chamber),以節(jié)省成品并加速產(chǎn)生研發(fā)。
此外，隨著無線電信通訊技術(shù)與無線數(shù)據(jù)通訊技術(shù)，許多產(chǎn)品都還具備無 線傳輸功能，例如手機(jī)、無線網(wǎng)絡(luò)卡、藍(lán)芽、無線鼠標(biāo)、無線鍵盤、橋接器、 路由器及其它無線產(chǎn)品等，此些產(chǎn)品除了需進(jìn)行EMC測(cè)試還需進(jìn)行射頻 (radio-frequency; RF)測(cè)試，以測(cè)試其電磁波的收發(fā)功能是否正常。由于架 構(gòu)一間測(cè)試室所需非用相當(dāng)龐大，因此為節(jié)省生產(chǎn)成本，大部分的測(cè)試室多是 EMC測(cè)試和RF測(cè)試共享。
請(qǐng)參照?qǐng)D1，圖1為現(xiàn)有的測(cè)試室，主要包括一隔離室110、 一測(cè)試桌120、 -一測(cè)試天線130和數(shù)個(gè)吸波材料(Absorber) 140。測(cè)試天線130朝向測(cè)試桌120 且相距一既定距離而擺置在隔離室110中，并且在隔離室110的內(nèi)側(cè)壁面上覆 蓋吸波材料140。此隔離室110具有提供屏蔽效果，可降低外界的電磁干擾。測(cè) 試桌120用以擺置待測(cè)的電子裝置102。測(cè)試天線130可發(fā)射測(cè)試訊號(hào)，以進(jìn)行 測(cè)試。而吸波材料140可吸收射向隔離室110的內(nèi)側(cè)壁面的測(cè)試訊號(hào)，以防止 四周壁面反射測(cè)試訊號(hào)而造成干擾。在測(cè)試時(shí)，測(cè)試人員將待測(cè)的電子裝置102 擺置在測(cè)試桌120上，然后，根據(jù)欲測(cè)試的電磁波相關(guān)測(cè)試種類而擺置測(cè)試天 線130，即是當(dāng)欲進(jìn)行EMC測(cè)試時(shí)則設(shè)置EMC測(cè)試用的測(cè)試天線130，而當(dāng)欲進(jìn)
行RF測(cè)試時(shí)則設(shè)置RF測(cè)試用的測(cè)試天線130。然后再借由測(cè)試天線130進(jìn)行此 待測(cè)的電子裝置102的EMC測(cè)試或RF測(cè)試。
也就是說，在現(xiàn)有的測(cè)試室中，測(cè)試人員會(huì)在測(cè)試時(shí)更換測(cè)試天線以進(jìn)行 EMC測(cè)試或RF測(cè)試，然而RF測(cè)試的靈敏度相當(dāng)高，即使是些許移動(dòng)亦會(huì)對(duì)測(cè)試 結(jié)果造成相當(dāng)大的差異，因此所得到的測(cè)試結(jié)果易被質(zhì)疑其準(zhǔn)確性。
發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上的問題，本發(fā)明的主要目的在于提供一種雙測(cè)試天線的測(cè)試室， 借以大體上解決先前技術(shù)所存在的問題。
本發(fā)明所揭露的雙測(cè)試天線的測(cè)試室，可減少搬動(dòng)測(cè)試天線所產(chǎn)生的測(cè)試 誤差。
本發(fā)明所揭露的雙測(cè)試天線的測(cè)試室，可使射頻測(cè)試和電磁兼容性測(cè)試共
享一測(cè)試室。
本發(fā)明所揭露的雙測(cè)試天線的測(cè)試室，可降低研發(fā)及生產(chǎn)成本。
因此，為達(dá)上述目的，本發(fā)明所揭露的雙測(cè)試天線的測(cè)試室，用以進(jìn)行一 電子裝置的電磁波相關(guān)測(cè)試，其包括 一隔離室、 一測(cè)試桌、 一第一測(cè)試天線、 一天線架和數(shù)個(gè)吸波材料。
因此測(cè)試桌、第一測(cè)試天線、天線架和吸波材料均設(shè)置在隔離室內(nèi)，且此 隔離室具有屏蔽效果，可降低外界的電磁干擾。其中，測(cè)試桌、天線架和第-一 測(cè)試天線依序設(shè)置在隔離室內(nèi)，且第一測(cè)試天線與測(cè)試桌之間以及天線架與測(cè) 試桌之間分別相距第一和第二既定距離，而此第一和第二既定距離由進(jìn)行測(cè)試 的電磁波相關(guān)測(cè)試類別的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范所定義。因此，天線架可用以選擇性 裝設(shè)一第二測(cè)試天線。
當(dāng)天線架未裝設(shè)第二測(cè)試天線時(shí)，擺置在測(cè)試桌上的電子裝置借由第一測(cè) 試天線進(jìn)行電磁波相關(guān)測(cè)試；反之，當(dāng)天線架有裝設(shè)第二測(cè)試天線時(shí)，擺置在 測(cè)試桌上的電子裝置則借由第二測(cè)試天線進(jìn)行電磁波相關(guān)測(cè)試。且吸波材料會(huì) 設(shè)置在隔離室的內(nèi)側(cè)壁面，以避免隔離室的內(nèi)側(cè)壁面反射測(cè)試用的電磁波。
因此，第一測(cè)試天線和天線架固定在隔離室的內(nèi)側(cè)底面上，并且在第一測(cè) 試天線和天線架的底座上設(shè)置吸波材料。
其中，天線架的頂部具有一凹槽并且在第二測(cè)試天線的底部具有可與凹槽 密合的一插栓，因此可將插栓插入凹槽中以穩(wěn)固地裝設(shè)第二測(cè)試天線?；蛘呤?， 在第二測(cè)試天線的底部亦具有一凹槽，而天線架則借由一插栓來裝設(shè)第二測(cè)試 天線，并且此插栓的兩端分別與天線架和第二測(cè)試天線上的凹槽密合的。
另外，測(cè)試桌具有一轉(zhuǎn)動(dòng)裝置，以轉(zhuǎn)動(dòng)測(cè)試桌來進(jìn)行電子裝置個(gè)方向的測(cè)試。
有關(guān)本發(fā)明的特征與實(shí)作，茲配合圖示作最佳實(shí)施例詳細(xì)說明如下。

圖1為說明現(xiàn)有的測(cè)試室的概要架構(gòu)圖。
圖2為說明根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施例的雙測(cè)試天線的測(cè)試室的概要架構(gòu)圖。
圖3為說明圖2中的天線架裝設(shè)一實(shí)施例的第二測(cè)試天線的示意圖。 圖4為說明圖2中的天線架裝設(shè)另一實(shí)施例的第二測(cè)試天線的示意圖。 圖5為說明根據(jù)本發(fā)明的第二實(shí)施例的雙測(cè)試天線的測(cè)試室的概要架構(gòu)圖。 圖6為說明根據(jù)本發(fā)明的第三實(shí)施例的雙測(cè)試天線的測(cè)試室的概要架構(gòu)圖。
具體實(shí)施方式
以下舉出具體實(shí)施例以詳細(xì)說明本發(fā)明的內(nèi)容，并以圖示作為輔助說明。 說明中提及的符號(hào)參照?qǐng)D式符號(hào)。
請(qǐng)參照?qǐng)D2，為根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的雙測(cè)試天線的測(cè)試室，用以進(jìn)行一電 子裝置的電磁波相關(guān)測(cè)試，主要包括一隔離室210、 一測(cè)試桌220、 一第一測(cè)試 天線230、數(shù)個(gè)吸波材料(Absorber) 240和一天線架250。測(cè)試桌120、天線 架250和第一測(cè)試天線230依序設(shè)置在隔離室210中。其中，第一測(cè)試天線230 與測(cè)試桌120相距一第一既定距離Dl，且天線架250亦與測(cè)試桌120相距一第 二既定距離D2，其中此第一和第二既定距離D1、 D2由進(jìn)行測(cè)試的電磁波相關(guān) 測(cè)試類別的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范所定義。并且在隔離室210的內(nèi)側(cè)壁面上設(shè)置吸波 材料240。此隔離室210具有屏蔽效果，可降低外界的電磁干擾。測(cè)試桌220用 以擺置待測(cè)的電子裝置202。第一測(cè)試天線230可發(fā)射第一測(cè)試訊號(hào)，借以進(jìn)行 待測(cè)的電子裝置202的測(cè)試。而吸波材料240可吸收射向隔離室210的內(nèi)側(cè)壁 面的測(cè)試訊號(hào)，以防止四周壁面反射測(cè)試訊號(hào)而造成干擾。其中，第一測(cè)試天 線230和天線架250可借由各種固定裝置來固定于隔離室210的地面，以避免 位置偏移而影響到測(cè)試結(jié)果，并且在其底座上亦設(shè)置吸波材料240以避免固定 裝置反射測(cè)試訊號(hào)而造成干擾。天線架250可用以架設(shè)第二測(cè)試天線，并在未 架設(shè)第二測(cè)試天線可以吸波材料240覆蓋。并且，天線架250的高度低在地面 上的吸波材料240的高度。
另外，可在第一測(cè)試天線230和天線架250的底座上可利用L形支撐鐵片 來加強(qiáng)其支撐強(qiáng)度。
第一測(cè)試天線230可為靈敏性高的測(cè)試天線，如，射頻(radio-frequency; RF)測(cè)試天線。而利用天線架250架設(shè)的第二測(cè)試天線可為一電磁兼容性 (Electromagnetic Compatibility; EMC)測(cè)試天線。
此外，此測(cè)試桌220可借由一轉(zhuǎn)動(dòng)裝置而轉(zhuǎn)動(dòng)，因此當(dāng)進(jìn)行測(cè)試時(shí)不需移 動(dòng)擺置在測(cè)試桌220的待測(cè)的電子裝置202即可借由測(cè)試桌220轉(zhuǎn)動(dòng)待測(cè)的電 子裝置202而改變待測(cè)的電子裝置202的方向以進(jìn)行各個(gè)方向的待測(cè)的電子裝 置202的測(cè)試。
其中，在天線架250的頂部具有一凹槽252，且此凹槽252具有一定的深度。 而在第二測(cè)試天線260的底部可為一插栓262，且此插栓262可插入凹槽252內(nèi)
并與凹槽252密合，借以穩(wěn)固地架設(shè)第二測(cè)試天線260，如圖3所示。
或者是，在天線架250的頂部和第二測(cè)試天線260的底部分別具有一凹槽 252、 264，且此二凹槽252、 264均具有一定的深度。可借由一插栓254兩端分 別插入二凹槽252、 264內(nèi)并與二凹槽252、 264密合，借以穩(wěn)固地架設(shè)第二測(cè) 試天線260，如圖4所示。
舉例來說，假設(shè)第一測(cè)試天線為一RF測(cè)試天線，而第二天線為一EMC測(cè)試 天線。當(dāng)欲進(jìn)行一電子裝置的RF測(cè)試時(shí)，測(cè)試人員會(huì)先確認(rèn)天線架是否有裝設(shè) EMC測(cè)試天線，當(dāng)有架設(shè)時(shí)則將EMC測(cè)試天線取下并取出測(cè)試室，并將天線架以 吸波材料覆蓋，接著再將待測(cè)試的電子裝置擺置在測(cè)試桌上，即可借由RF測(cè)試 天線進(jìn)行此電子裝置的RF測(cè)試。而當(dāng)欲進(jìn)行一電子產(chǎn)品的EMC測(cè)試時(shí)，測(cè)試人 員會(huì)先確認(rèn)天線架是否有裝設(shè)EMC測(cè)試天線，當(dāng)未架設(shè)時(shí)則將EMC測(cè)試天線架 設(shè)在天線架上，接著再將待測(cè)試的電子產(chǎn)品擺置在測(cè)試桌上，即可借由EMC測(cè) 試天線進(jìn)行此電子裝置的EMC測(cè)試。
另外，此測(cè)試室以可具有一第一定位器270，設(shè)置相對(duì)于測(cè)試桌220的中心 的隔離室210的內(nèi)側(cè)上壁面，而覆蓋在壁面上的吸波材料240會(huì)避開此定位器 270而擺設(shè)，如圖5所示。此第一定位器可用以確認(rèn)待測(cè)的電子裝置202擺放在 測(cè)試桌220上的位置。
除此之外，測(cè)試桌220相對(duì)于第一測(cè)試天線230的一側(cè)的隔離室210的內(nèi) 側(cè)壁面上可再設(shè)置一第二定位器272，同樣地覆蓋在壁面上的吸波材料240會(huì)避 開此第二定位器272而擺設(shè)，如圖6所示。借由二定位器270、 272的搭配使用 可更加確定待測(cè)的電子裝置202擺放在測(cè)試桌220上的位置及方向。
此二定位器270、 272可為一雷射光源，用以發(fā)出點(diǎn)狀或線狀的一雷射光線。 在測(cè)試時(shí)，以此二定位器270、 272所發(fā)出的雷射光線作為二基準(zhǔn)線，因而在擺 放待測(cè)的電子裝置202時(shí)可參考此二基準(zhǔn)線來確認(rèn)待測(cè)的電子裝置202的擺放 位置與方向。
權(quán)利要求
1、一種雙測(cè)試天線的測(cè)試室，用以進(jìn)行一電子裝置的電磁波相關(guān)測(cè)試，其特征在于其包括一隔離室，具有屏蔽效果；一測(cè)試桌，設(shè)置在該隔離室內(nèi)，用以擺置該電子裝置；一第一測(cè)試天線，設(shè)置在該隔離室內(nèi)且與該測(cè)試桌相距一第一既定距離；一天線架，設(shè)置在該測(cè)試桌和該第一測(cè)試天線之間且與該測(cè)試桌相距一第二既定距離，用以選擇性裝設(shè)一第二測(cè)試天線，其中，當(dāng)該天線架未裝設(shè)該第二測(cè)試天線時(shí)，該電子裝置借由該第一測(cè)試天線進(jìn)行電磁波相關(guān)測(cè)試；以及當(dāng)該天線架裝設(shè)該第二測(cè)試天線時(shí)，該電子裝置借由該第二測(cè)試天線進(jìn)行電磁波相關(guān)測(cè)試；數(shù)個(gè)吸波材料，設(shè)置在該隔離室的內(nèi)側(cè)壁面，用以避免該隔離室的內(nèi)側(cè)壁面反射測(cè)試用的電磁波。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙測(cè)試天線的測(cè)試室，其特征在于該天線架的 頂部具有一凹槽，且在該第二測(cè)試天線的底部具有可與該凹槽密合的一插栓。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙測(cè)試天線的測(cè)試室，其特征在于該天線架的 頂部和該第二測(cè)試天線的底部分別具有一凹槽，并且該天線架可借由兩端分別 與該凹槽密合的一插栓來裝設(shè)該第二測(cè)試天線。
4、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙測(cè)試天線的測(cè)試室，其特征在于該測(cè)試桌具 有一轉(zhuǎn)動(dòng)裝置，以轉(zhuǎn)動(dòng)該測(cè)試桌。
5、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的雙測(cè)試天線的測(cè)試室，其特征在于該第一測(cè)試 天線和該天線架固定在該隔離室的內(nèi)側(cè)底面上，并且在該第一測(cè)試天線和該天 線架的底座上設(shè)置該吸波材料。
6、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙測(cè)試天線的測(cè)試室，其特征在于該第一測(cè)試 天線為一射頻測(cè)試天線。
7、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙測(cè)試天線的測(cè)試室，其特征在于該第二測(cè)試 天線為一電磁兼容性測(cè)試天線。
8、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙測(cè)試天線的測(cè)試室，其特征在于該第一測(cè)試 天線和該天線架的底座上具有數(shù)個(gè)L形鐵片，以強(qiáng)化該第一測(cè)試天線和該天線， 并且在該第一測(cè)試天線和該天線架的底座上設(shè)置該吸波材料。
9、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙測(cè)試天線的測(cè)試室，其特征在于該第一和第 二既定距離由進(jìn)行的電磁波相關(guān)測(cè)試的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范所定義。
10、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的雙測(cè)試天線的測(cè)試室，其特征在于其還包括: 一第一定位器，設(shè)置在相對(duì)該測(cè)試桌中心的該隔離室的內(nèi)側(cè)上壁面，借以確定該電子裝置在該測(cè)試桌的擺放位置。
11、根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙測(cè)試天線的測(cè)試室，其特征在于其還包括: 一第一定位器，設(shè)置在相對(duì)該測(cè)試桌中心的該隔離室的內(nèi)側(cè)上壁面，借以確定該電子裝置在該測(cè)試桌的擺放位置；以及一第二定位器，設(shè)置在該測(cè)試桌相對(duì)該第一測(cè)試天線的另一側(cè)的該隔離室 的內(nèi)側(cè)壁面，借以確定該電子裝置在該測(cè)試桌的擺放位置及方向。
全文摘要
一種雙測(cè)試天線的測(cè)試室，用以進(jìn)行一電子裝置的電磁波相關(guān)測(cè)試，主要具有一天線架可選擇性裝設(shè)一測(cè)試天線，使電子裝置的二電磁波相關(guān)測(cè)試可共享一測(cè)試室，并且能減少搬動(dòng)測(cè)試天線所產(chǎn)生的測(cè)試誤差。
文檔編號(hào)G01R31/00GK101097234SQ20061003630
公開日2008年1月2日 申請(qǐng)日期2006年6月30日 優(yōu)先權(quán)日2006年6月30日
發(fā)明者楊華青 申請(qǐng)人:佛山市順德區(qū)順達(dá)電腦廠有限公司;神達(dá)電腦股份有限公司