專利名稱：Ph計(jì)、離子計(jì)自?；バＱb置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及電子儀器類產(chǎn)品，是用于PH計(jì)、離子計(jì)以及MV計(jì)、MV信號(hào)發(fā)生器等儀器自校互校的裝置。
背景技術(shù)：
PH計(jì)、離子計(jì)是生產(chǎn)科研中常用的儀器之一，由于各種因素的影響，例如儀器的使用時(shí)間增長(zhǎng)后，當(dāng)儀器中的某個(gè)電子元件性能老化或參數(shù)改變，儀器的整體技術(shù)參數(shù)就會(huì)顯著下降；嚴(yán)重時(shí)使儀器的測(cè)量示值誤差較大。但使用人員無法知道這一誤差的存在，在毫不知情的情況下，采用了這一較大誤差的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)，這將有可能會(huì)給生產(chǎn)或科研帶來無法估量的損失。有時(shí)儀器本身的技術(shù)性能是正常的，由于配套傳感器老化(例如復(fù)合電極老化或玻璃甘汞電極老化)，或使用了劣質(zhì)電極，使測(cè)量值出現(xiàn)不穩(wěn)或不準(zhǔn)的故障現(xiàn)象，使用人員只會(huì)錯(cuò)誤地認(rèn)為是儀器出現(xiàn)了故障而束手無策，從而影響了測(cè)量工作的正常進(jìn)行，進(jìn)而影響生產(chǎn)或科研工作的正常進(jìn)行。

發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的就是要解決PH計(jì)、離子計(jì)由于元器件老化、故障，致使測(cè)量示值誤差較大給生產(chǎn)科研帶來?yè)p失的問題，提供一種及時(shí)發(fā)現(xiàn)故障，使儀器時(shí)刻處于準(zhǔn)確度極高的PH計(jì)、離子計(jì)自?；バＱb置。
本實(shí)用新型的具體方案是它具有普通儀器的電源輸入端口和mV輸出端口，特別是電源輸入端口接有基準(zhǔn)電壓源IC1，基準(zhǔn)電壓源IC11輸出端連接有兩個(gè)以上的分壓電阻，mV輸出端口從分壓電阻的電路中引出。
為給出多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)mV信號(hào)，提高儀器自?；バ５臏?zhǔn)確度和可靠性，本實(shí)用新型中，在所述的分壓電阻電路中接入一模擬開關(guān)IC2和一控制器IC3，并配有一個(gè)微動(dòng)開關(guān)。
本實(shí)用新型可產(chǎn)生一序列已知的，準(zhǔn)確度和穩(wěn)定度極高的標(biāo)準(zhǔn)mV信號(hào)。這一標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)可通過儀器上的mV輸出端口輸出，供人工自校和對(duì)同類型其它儀器進(jìn)行互校。人工自校、互校時(shí)，被校儀器對(duì)這一序列的已知標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)進(jìn)行測(cè)量，當(dāng)被校儀器顯示值與標(biāo)準(zhǔn)值不同時(shí)，即儀器有誤差時(shí)，通過對(duì)儀器的示值誤差校正元件進(jìn)行調(diào)整，使儀器示值與標(biāo)準(zhǔn)值相同；自動(dòng)自校時(shí)，通過CPU自校系統(tǒng)，從儀器內(nèi)部取得標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)對(duì)儀器的示值誤差進(jìn)行自動(dòng)化校正。這樣通過自校可對(duì)儀器自身的示值誤差進(jìn)行校正；通過互?？蓪?duì)同一類型的其它儀器示值誤差進(jìn)行校正。因此，本實(shí)用新型可使儀器自身的示值誤差和同類型的其它儀器的示值誤差得以校正，時(shí)刻處于準(zhǔn)確度極高的工作狀態(tài)，徹底避免了普通PH計(jì)、離子計(jì)等儀器沒有本發(fā)明前的上述缺陷。
本實(shí)用新型能夠間接地判斷所使用的電極是否已經(jīng)老化。
當(dāng)儀器在自?；蚧バr(shí)示值很準(zhǔn)、很穩(wěn)，用電極進(jìn)行實(shí)際測(cè)量時(shí)示值不穩(wěn)或不準(zhǔn)，這就說明此時(shí)的不穩(wěn)或不準(zhǔn)等不良現(xiàn)象是由于所使用的電極老化(或被測(cè)溶液有問題)所造成。即利用本實(shí)用新型還能間接地判斷傳感器是否老化或失效。
利用本實(shí)用新型輸出的標(biāo)準(zhǔn)mV信號(hào)，還能夠判斷酸度計(jì)的定位調(diào)節(jié)器、溫度補(bǔ)償器和斜率調(diào)節(jié)器是否符合要求或內(nèi)部接觸不良。


圖1是本實(shí)用新型最基本的結(jié)構(gòu)電路圖；圖2是本實(shí)用新型的原理方框圖；圖3是本實(shí)用新型加強(qiáng)型的電路圖。
具體實(shí)施方式
參見圖1，這是本實(shí)用新型最基本的結(jié)構(gòu)之一，本實(shí)用新型主要由基準(zhǔn)電壓源IC1(選用MC1403或LM399)和與之電連接的兩個(gè)分壓電阻R1、R2(電阻值分別為2K和1K)組成；且在本實(shí)用新型中與基準(zhǔn)電壓源IC1外配有電源輸入端口，而在分壓電阻R1、R2的連接線上引出有mV輸出端口(圖中Uo)，即構(gòu)成本實(shí)用新型。
本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)原理參見圖2的原理方框圖。本實(shí)用新型主要由基準(zhǔn)電壓源IC1提供穩(wěn)定性極高的直流電壓信號(hào)，經(jīng)電阻R1和R2(或更多電阻)，分壓，獲得已知的標(biāo)準(zhǔn)mV信號(hào)，該mV信號(hào)從mV輸出端口輸出，經(jīng)導(dǎo)線與被校儀器的電極輸入端連接，使被校儀器能夠進(jìn)行自?；蚧バ?。
本實(shí)用新型還可設(shè)計(jì)成加強(qiáng)型結(jié)構(gòu)，可輸出多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)mV信號(hào)，以提高儀器自?；バ５臏?zhǔn)確度和可靠性。參見圖3，本實(shí)用新型具有一個(gè)基準(zhǔn)電壓源IC1(選用MC1403)，外配電源輸入端口，與基準(zhǔn)電壓源IC1電連接有四個(gè)串聯(lián)分壓電阻R1、R2、R3、R4(其電阻值分別為10K、11K、2K、2K)，在串聯(lián)分壓電阻電路中接入一個(gè)模擬開關(guān)IC2(選用CD4066)和一個(gè)控制器IC3(選用CD017)，并配有微動(dòng)開關(guān)AN，且在IC2與分壓電阻電路中引出mV輸出端口(CK)。
本實(shí)用新型的工作原理是由基準(zhǔn)電壓源IC1提供穩(wěn)定度極高的直流電壓信號(hào)，經(jīng)電阻分壓，獲得已知標(biāo)準(zhǔn)mV信號(hào)。當(dāng)被校儀器的電極輸入端與插孔CK聯(lián)接好后，按一下微動(dòng)開關(guān)AN，IC3控制IC2使插孔CK輸出一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)，再按一下微動(dòng)開關(guān)AN，插孔CK輸出另一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)，不斷按下AN，插孔CK可輸出一系列不同的已知標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)，被校儀器測(cè)量該已知標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)后，就可知道其示值誤差情況，并對(duì)其進(jìn)行誤差校準(zhǔn)。
權(quán)利要求1.一種PH計(jì)、離子計(jì)自校互校裝置，包括有電源輸入端口，和mV輸出端口，其特征是電源輸入端口接有基準(zhǔn)電壓源IC1，基準(zhǔn)電壓源IC1輸出端連接有兩個(gè)以上的分壓電阻，mV輸出端口從分壓電阻的電路中引出。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種PH計(jì)、離子計(jì)自?；バＱb置，其特征是在分壓電阻電路中接入模擬開關(guān)IC2和控制器IC3，并配有一個(gè)微動(dòng)開關(guān)。
專利摘要本實(shí)用新型是一種PH計(jì)、離子計(jì)自校互校裝置，它包括有電源輸入端口，和mV輸出端口，特別是電源輸入端口接有基準(zhǔn)電壓源IC1，基準(zhǔn)電壓源IC1輸出端連接有兩個(gè)以上的分壓電阻，mV輸出端口從分壓電阻的電路中引出；本實(shí)用新型可及時(shí)發(fā)現(xiàn)PH計(jì)、離子計(jì)因元器件老化、故障致使測(cè)量誤差較大的問題，避免給生產(chǎn)或科研帶來?yè)p失，通過自?；蚧バ?，使儀器時(shí)刻處于準(zhǔn)確度極高的工作狀態(tài)，特別適合于PH計(jì)、離子計(jì)的自校互校，也可用于mV計(jì)以及mV信號(hào)發(fā)生器等儀器的自?；バ?。
文檔編號(hào)G01D18/00GK2809595SQ20052009725
公開日2006年8月23日 申請(qǐng)日期2005年7月19日 優(yōu)先權(quán)日2005年7月19日
發(fā)明者談國(guó)民 申請(qǐng)人:談國(guó)民