專利名稱：光纖衰減均勻性測試方法
技術領域：
本發(fā)明涉及光纖測試技術，特別涉及應用光時域反射計對光纖衰減進行測量的技術。
本發(fā)明解決其技術問題所采用的技術方案是，提供一種光纖衰減測試方法，用計算機從光時域反射計采集數(shù)據(jù)，分析后再顯示于顯示器，所述分析包括以下步驟a、定義滑動窗口長度L和滑動步長x；b、確定某一點A位置為滑動窗口的起點；c、測量滑動窗口在光纖上以步長x滑動時L長度內(nèi)的衰減系數(shù)；d、步驟c測得的多個衰減系數(shù)與被測光纖段整體長度的平均衰減系數(shù)相比較。
所述標尺長L不大于1公里，所述步長x不大于1公里。
所述A點為標尺長L的一個端點。測量時，所述光時域反射計的光標A與光標B交替移動，每次移動的距離為2L。還包括步驟f測量整盤光纖的整體衰減并計算出單位長度L內(nèi)的平均值，并與各次步驟b、c測得的值比較。
本發(fā)明的有益效果是，不但能夠測量整盤光纖的整體衰減，還準確表現(xiàn)了在特定位置光纖段的衰減，以及光纖衰減特性的分布，為光纖質(zhì)量評定提供了重要的參考。
以下結(jié)合附圖和具體實施方式
對本發(fā)明作進一步的說明。
圖2是本發(fā)明所述的光時域反射計提供的對某一段光纖測試結(jié)果示意圖。
圖3是本發(fā)明第一個實施例測試結(jié)果分析后的示意圖。
圖4是光時域反射計測量曲線放大后的示意圖。


圖1是一整盤光纖的測試結(jié)果?？梢钥吹絆TDR曲線、光纖編號、兩個標桿的準確位置。
圖2顯示了對兩標桿之間的光纖段進行分段分析(如1km段長分析)的情形。圖形顯示了該單位段長上的衰減值曲線，可以同時以圖形和數(shù)值顯示。
實施例1計算機通過OTDR的數(shù)據(jù)接口控制OTDR并讀取測試數(shù)據(jù)，分析后顯示于顯示器。計算機通過以下步驟分析a、定義標尺長L＝1Km，步長x＝1Km，以標尺長作為單位長度；b、確定光纖的一個端點為滑動窗口的起點A；c、測量滑動窗口L長度內(nèi)的衰減系數(shù)并記錄，A點向光纖的一端移動1Km，再測量以A點為起點的L長度內(nèi)，即窗口內(nèi)的衰減系數(shù)；A點再滑動步長x，再測量，直到窗口滑動到光纖的另一個端點。
d、以最小二乘法計算各次測量值，與整段光纖的平均衰減系數(shù)比較，判斷是否任意一段1km長的衰減系數(shù)與整段長度的平均衰減系數(shù)之差都不大于某一確定的標準值。
也可將OTDR顯示的靠近光纖某一端的標桿位置作為參照點A。由于本實施例的步長與標尺長度相等，都是1Km，為了準確定位和減少誤差，采用以下方式移動第一次測量完成后，將標桿a1直接移動到標桿a2之后1Km處，再進行第二次測量；然后將標桿a2移動到標桿a1之后1Km處，進行第三次測量，其他依次類推。本實施例中，參照點A的移動方向總是從光纖的一端向另一端移動，也就是說，被測量的光纖段總是向同一方向移動的。
對于各次測量所得到結(jié)果，一方面，將其以圖3的圖表方式表現(xiàn)。另一方面，需要測量整盤光纖的整體衰減并計算出單位長度L內(nèi)的平均值，并與各次步驟b、c測得的值比較，以量化和判斷衰減分布的均勻性。作為一個實施例，圖3所示的光纖段總長度25km，每一小格為一公里，也就是所述的標尺長為1km，滑動步長也是1km，共測量25次。圖中的直線表示光纖的衰減系數(shù)均勻性良好，各段的衰減系數(shù)相等，因此表現(xiàn)為一條直線。
當然，1Km并非唯一取值，無論是標尺長L還是步長x，都可以取其他適當?shù)臄?shù)值。
通常OTDR為數(shù)據(jù)傳輸提供了GPIB和RS-232接口。本實施例中，使用了一塊GPIB控制卡來適配OTDR所提供的GPIB接口，并與其進行控制通信。本發(fā)明通過計算機對OTDR進行面板上操作，通過計算機設置參數(shù)。一些參數(shù)，如光纖編號，可以利用條碼輸入。
實施例2與第一個實施例不同之處在于，每次滑動窗口位移x小于標尺長L，例如，標尺長L為1Km，步長x為500m。每次移動的距離即為500m。標桿a1、a2都向后方移動步長x，即窗口滑動了x的距離。
實施例3在OTDR上，其采樣并非連續(xù)的，而是存在著間隔，如果將圖1所示的曲線部分放大，如圖4所示，即可見其實際是階梯狀分布，也就是說，對光纖而言，相鄰兩個采樣點之間存在距離d，相鄰兩次采樣之間經(jīng)過了一段長度d，在此段長度d內(nèi)并未被測量，而此段長度d的具體數(shù)值很顯然可以推算出來。此距離即為光時域反射計能測量的最小距離。為了提高精度，將步長x定義為d的數(shù)值，即令x＝d，這樣，最大可能的提高了測量的精度。本實施例的其他步驟與實施例1相同。
實施例4由于一臺計算機可以同時運行多個程序，因此，作為一個實施例，以同一臺計算機同時控制多臺OTDR進行操作和測試。
以上實施方式的內(nèi)容不應理解為對本發(fā)明要求保護的權(quán)利范圍的限制，本發(fā)明權(quán)利范圍延及基于本發(fā)明構(gòu)思的類似上述實施例的其他實施方式。
權(quán)利要求
1.光纖衰減均勻性測試方法，其特征在于，用計算機通過數(shù)據(jù)端口從光時域反射計采集數(shù)據(jù)，并對采集的數(shù)據(jù)進行分析，所述分析包括以下步驟a、定義滑動窗口長度L和滑動步長x；b、確定某一點A位置為滑動窗口的起點；c、測量滑動窗口在光纖上以步長x滑動時L長度內(nèi)的衰減系數(shù)；d、步驟c測得的多個衰減系數(shù)與被測光纖段整體長度的平均衰減系數(shù)相比較。
2.如權(quán)利要求1所述的光纖衰減均勻性測試方法，其特征在于，步驟c包括以下兩個循環(huán)的步驟c1、測量窗口L長度內(nèi)的平均衰減系數(shù)；c2、窗口向光纖一端滑動步長x。
3.如權(quán)利要求1所述的光纖衰減均勻性測試方法，其特征在于，所述標尺長L不大于1公里，所述步長x不大于1公里。
4.如權(quán)利要求1或2所述的光纖衰減均勻性測試方法，其特征在于，所述A點為標尺長L的一個端點。
5.如權(quán)利要求3所述的光纖衰減均勻性測試方法，其特征在于，所述標尺長為1公里，所述步長x為1公里。
6.如權(quán)利要求3所述的光纖衰減均勻性測試方法，其特征在于，測量時，所述光時域反射計的光標A與光標B交替移動，每次移動的距離為2L。
7.如權(quán)利要求3所述的光纖衰減均勻性測試方法，其特征在于，所述步長x等于光時域反射計可以測量的最小距離。
8.如權(quán)利要求3所述的光纖衰減均勻性測試方法，其特征在于，所述步驟c中，A點總是向光纖的同一端移動。
全文摘要
本發(fā)明涉及光纖測試技術，特別涉及應用光時域反射計對光纖衰減進行測量的技術。本發(fā)明提供一種光纖衰減均勻性測試方法，用計算機通過數(shù)據(jù)端口從光時域反射計采集數(shù)據(jù)，并對采集的數(shù)據(jù)進行分析，所述分析包括以下步驟a.定義滑動窗口長度L和滑動步長x；b.確定某一點A位置為滑動窗口的起點；c.測量滑動窗口在光纖上以步長x滑動時L長度內(nèi)的衰減系數(shù)；d.步驟c測得的多個衰減系數(shù)與被測光纖段整體長度的平均衰減系數(shù)相比較。本發(fā)明不但能夠測量整盤光纖的整體衰減，還準確表現(xiàn)了在特定位置光纖段的衰減，以及光纖衰減特性的分布，為光纖質(zhì)量評定提供了重要的參考。
文檔編號G01M11/02GK1475784SQ0313533
公開日2004年2月18日 申請日期2003年7月2日 優(yōu)先權(quán)日2003年7月2日
發(fā)明者袁健, 劉文早, 楊梅, 曾春洪, 高虎軍, 涂昌偉, 陳新建, 袁 健 申請人:成都中住光纖有限公司