本技術(shù)涉及老化測試，尤其涉及一種多通道風(fēng)扇老化自動控制電路。

背景技術(shù)：

1、風(fēng)扇老化檢測是一種評估風(fēng)扇性能穩(wěn)定性的測試方法，這種測試主要模擬風(fēng)扇在實際使用中的長時間運行狀態(tài)，以檢測風(fēng)扇的可靠性和可能存在的問題。測試過程中，需要監(jiān)控風(fēng)扇的運行情況，包括電機的溫度、風(fēng)扇葉片的轉(zhuǎn)速等參數(shù)，并使用傳感器進行實時數(shù)據(jù)采集。測試結(jié)束后，需要對測試數(shù)據(jù)進行分析和評估，以評估風(fēng)扇的可靠性和性能。

2、目前市場上對于風(fēng)扇的老化和質(zhì)量檢測主要依賴于使用直流電源的手動方式，盡管這種方法可以評估風(fēng)扇的質(zhì)量，但依然存在多處不足。首先，手動設(shè)置每個電源的電壓使得操作過程繁瑣，尤其是在處理多個產(chǎn)品時，需要配置多個直流電源，導(dǎo)致成本增加；其次，人工設(shè)置電壓時容易出錯，可能導(dǎo)致風(fēng)扇損壞；此外，這種方法在應(yīng)對產(chǎn)品故障時反應(yīng)不足，無法快速準確地診斷并采取保護措施；最后，此種無法有效地收集和保存每個產(chǎn)品的老化數(shù)據(jù)，這對于后續(xù)的產(chǎn)品問題分析和溯源構(gòu)成了障礙。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、為克服現(xiàn)有技術(shù)中的不足，本實用新型提供一種多通道風(fēng)扇老化自動控制電路，大大提高了風(fēng)扇老化測試的便捷性，同時提高了測試數(shù)據(jù)的準確性，降低了測試成本。

2、本實用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是：一種多通道風(fēng)扇老化自動控制電路，其改進之處在于，包括：單片機、多通道驅(qū)動控制電路、接口電路、地址選擇電路、信號采集電路、采集通道切換電路、adc采集電路以及通訊電路，其中，所述多通道驅(qū)動控制電路的輸入端與所述單片機連接，用于控制驅(qū)動風(fēng)扇的開啟與關(guān)閉，所述多通道驅(qū)動控制電路的輸出端與所述接口電路的輸入端連接；所述接口電路的輸出端與所述信號采集電路的輸入端連接；所述信號采集電路的輸出端與所述采集通道切換電路的輸入端連接，用于采集驅(qū)動風(fēng)扇工作中的電壓與電流；所述采集通道切換電路的輸入端還與所述單片機連接，所述采集通道切換電路的輸出端與所述adc采集電路的輸入端連接，用于切換信號采集通道；所述adc采集電路與所述單片機連接，用于所述單片機讀取轉(zhuǎn)換后的風(fēng)扇老化數(shù)據(jù)；所述地址選擇電路與所述單片機連接，用于所述單片機識別當(dāng)前地址；所述通訊電路與所述單片機連接，用于所述單片機與上位機通訊。

3、在上述電路中，所述多通道驅(qū)動控制電路包括電阻r36、電阻r37、電阻r38、電阻r39、電阻r40、電阻r41、電阻r42、電阻r43、電阻r44、電阻r45、電阻r46、電阻r47、場效應(yīng)管q1、場效應(yīng)管q2、場效應(yīng)管q3、場效應(yīng)管q4、三極管q7、三級管q8、三極管q9以及三級管q10，其中，所述電阻r44、電阻r45、電阻r46以及電阻r47的一端分別連接單片機輸出的控制信號，所述電阻r44、電阻r45、電阻r46以及電阻r47的另一端分別連接所述三極管q7、三級管q8、三極管q9以及三極管q10的基極，所述三極管q7、三級管q8、三極管q9以及三極管q10的發(fā)射極連接低電平，所述三極管q7的集電極連接所述電阻r39、r40的一端，所述電阻r39的另一端連接所述場效應(yīng)管q1的柵極，所述電阻r40的另一端連接所述場效應(yīng)管q1的源極，所述三極管q10的集電極連接所述電阻r36、r41的一端，所述電阻r36的另一端連接所述場效應(yīng)管q2的柵極，所述電阻r41的另一端連接所述場效應(yīng)管q2的源極，所述三極管q9的集電極連接所述電阻r37、電阻r42的一端，所述電阻r37的另一端連接所述場效應(yīng)管q3的柵極，所述電阻r42的另一端連接所述場效應(yīng)管q3的源極，所述三極管q8連接所述電阻r38、電阻r43的一端，所述電阻r38的另一端連接所述場效應(yīng)管q4的柵極，所述電阻r43的另一端連接所述場效應(yīng)管q4的源極。

4、在上述電路中，所述多通道驅(qū)動控制電路還包括pwm驅(qū)動電路，所述pwm驅(qū)動電路包括電阻r48、電阻r49、電阻r50、電阻r51、電阻r52、電阻r53、場效應(yīng)管q5、場效應(yīng)管q6、三極管q11以及三極管q12，其中，所述電阻r52以及電阻r53的一端連接單片機輸出的pwm波形，所述電阻r52的另一端連接所述三極管q11的基極，所述三極管q11的集電極連接所述電阻r48以及電阻r50的一端，所述三極管q11的發(fā)射極連接低電平，所述電阻r48以及電阻r50的另一端連接場效應(yīng)管q5的柵極，所述電阻r53的另一端連接所述三極管q12的基極，所述三極管q12的集電極連接所述電阻r49以及電阻r51的一端，所述三極管q12的發(fā)射極連接低電平，所述電阻r49以及電阻r51的另一端連接場效應(yīng)管q6的柵極。

5、在上述電路中，所述接口電路包括四個并聯(lián)的熱敏電阻pt1、pt2、pt3以及pt4，所述熱敏電阻pt1、pt2、pt3以及pt4的一端連接dc電源，所述pt1、pt2、pt3以及pt4的另一端連接所述多通道驅(qū)動控制電路。

6、在上述電路中，所述地址選擇電路包括6位撥碼開關(guān)s1以及電阻r1、電阻r3、電阻r6、電阻r7、電阻r8以及電阻r10，其中，所述電阻r1、電阻r3、電阻r6、電阻r7、電阻r8以及電阻r10的一端連接高電平，所述電阻r1、電阻r3、電阻r6、電阻r7、電阻r8以及電阻r10的另一端連接所述6位撥碼開關(guān)s1，通過改變所述6位撥碼開關(guān)s1的狀態(tài)改變與電阻連接的六根線的信號，并將這六根信號線與單片機連接，為電路提供地址信息。

7、在上述電路中，所述信號采集電路包括電壓采集電路以及電流采集電路，其中，所述電壓采集電路包括四組并聯(lián)的分壓電路，所述每組分壓電路包括兩個電阻以及個電容；所述電流采集電路包括四組并聯(lián)的電流采集單元，所述每組電流采集單元包括三個電容以及兩個電阻。

8、在上述電路中，所述采集通道切換電路包括電壓采集通道切換電路以及電流采集通道切換電路。

9、在上述電路中，所述adc采集電路包括電阻r14、電阻r18、電容c13、電容c17、電容c20以及ad轉(zhuǎn)換芯片u2，其中，所述電阻r14以及電阻r18的一端連接所述單片機，所述電阻r14的另一端連接所述電容c13、電容c17的一端以及ad轉(zhuǎn)換芯片u2，所述電容c13的另一端連接低電平；所述電阻r18的另一端連接所述電容c17的另一端、電容c20的一端以及ad轉(zhuǎn)換芯片u2，所述電容c20的另一端連接低電平。

10、在上述電路中，所述通訊電路包括兩個光耦芯片u6、u8，一個通訊芯片u7，所述光耦芯片u6、u8用于增加電路的抗干擾性，所述通訊芯片u7用于將單片機的ttl串口信號轉(zhuǎn)換為485通訊信號與上位機進行通訊。

11、在上述電路中，所述通訊電路還包括電阻r54、電阻r55、電阻r56、電阻r57、電阻r58、電阻r59、電阻r60、電阻r61、三極管q13、三極管q14以及電容c27，其中，所述光耦芯片u8的第3引腳連接所述三極管q14的集電極，所述三極管q14的基極通過電阻r61與單片機連接，所述光耦芯片u8的第7、8引腳通過電阻r56與所述通訊芯片u7的第2、3引腳以及三級管q13的集電極連接，所述三極管q13的基極與所述光耦芯片u8的第6引腳連接，所述三極管q13的發(fā)射極連接低電平。

12、本實用新型的有益效果是：通過上述多通道風(fēng)扇老化自動控制電路，配合上位機軟件遠程統(tǒng)一設(shè)置輸出電壓，實現(xiàn)一拖多個風(fēng)扇進行老化測試，同時風(fēng)扇間的老化數(shù)據(jù)相互獨立，數(shù)據(jù)實時經(jīng)過上位機生成數(shù)據(jù)報表進行保存，大大提高了風(fēng)扇老化測試的便捷性，同時提高了測試數(shù)據(jù)的準確性，降低了測試成本。