一種低滲氣井壓裂產(chǎn)水能力判斷方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明設(shè)及低滲氣井壓裂產(chǎn)水能力評價領(lǐng)域，特別設(shè)及一種低滲氣井壓裂產(chǎn)水能 力判斷方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 低滲氣藏在成藏時受到儲層物性W及充注程度的影響，氣水關(guān)系復(fù)雜。致使測井 解釋為氣層的層位，壓裂后會出現(xiàn)不同程度的產(chǎn)水。往往出現(xiàn)壓裂層位中測井解釋均為氣 層，但壓裂后部分井產(chǎn)出大量的水和少量的氣，嚴(yán)重影響對儲層的正確認(rèn)識和評價W及勘 探開發(fā)的進(jìn)度。
[0003] 壓裂氣井產(chǎn)水后對產(chǎn)能的影響比較大，主要體現(xiàn)在：一、氣藏產(chǎn)水后，由于地層水 沿裂縫（高滲透）竄入，分割氣藏，形成死氣區(qū)，使最終采收率降低。一般純氣驅(qū)氣藏的最終 采收率可高達(dá)90 %，而水驅(qū)氣藏的平均采收率僅為40 %?60 %。還有30 % W上的儲量由 于滲流區(qū)域的分隔而采不出來。二、氣井出水后，在毛管力的作用下，一方面侵入水向裂縫 兩側(cè)的孔隙介質(zhì)中滲吸，降低了基質(zhì)中氣體滲流通道；另一方面井筒中積液所產(chǎn)生的回壓 和微孔道毛管壓力作用下對近井地層形成反滲吸水鎖效應(yīng)，使氣井產(chǎn)能迅速降低。=、氣井 產(chǎn)水后降低了氣相的滲透率，在滲流過程中壓力損失增大，氣井產(chǎn)量迅速下降，提前進(jìn)入遞 減期。四、氣井產(chǎn)水后由于水在井底不斷聚集，造成氣井生產(chǎn)水氣比上升，會對氣井的產(chǎn)量 和產(chǎn)能，乃至整個氣田的儲量評估和開發(fā)方案的實(shí)施產(chǎn)生影響（影響對儲層的正確認(rèn)識）。
[0004] 準(zhǔn)確判斷氣井產(chǎn)水能力，指導(dǎo)優(yōu)選壓裂層位，降低壓裂風(fēng)險尤為重要。目前在產(chǎn)水 能力預(yù)測的方式主要有根據(jù)含水飽和度判斷壓裂產(chǎn)水能力和根據(jù)測井解釋的流體類型判 斷壓裂產(chǎn)水能力。
[0005] 1)當(dāng)采用巖屯、實(shí)驗(yàn)測井束縛水飽和度來判斷壓裂層出水風(fēng)險時，由于不同實(shí)驗(yàn)方 法得到的束縛水飽和度差別大，難W確定儲層的真實(shí)束縛水飽和度值，如圖1所示，得到的 不同滲透率對應(yīng)的束縛水飽和度相關(guān)性較差。且由于儲層分非均質(zhì)性，難W采用小段巖屯、 結(jié)果表征大段的儲層束縛水飽和，由于缺少精細(xì)解釋的測井資料，無法準(zhǔn)確判斷儲層的含 水和含氣性，故用該發(fā)方法定性判斷可靠性差。
[0006] 2)測井解釋依賴大量的巖電資料，對于探井而言由于缺少該方面的資料，致使測 井解釋結(jié)論多樣化，在不同時期不同解釋人員得出的解釋結(jié)果有較大的差別，甚至對流體 性質(zhì)判斷會出現(xiàn)大的變化，部分初期解釋為氣層，后期重新認(rèn)識后可能為氣水同層或者水 層。很多低滲氣井由于參考測井解釋成果，導(dǎo)致壓裂后產(chǎn)出的流體與預(yù)計結(jié)果出入較大。而 且在測井解釋時通常對大段砂巖籠統(tǒng)解釋一個屬性參數(shù)，由于有效儲層控制因素復(fù)雜，含 氣性定量評價難度大，探井缺少有效的巖電資料，部分氣層電性特征不明顯，儲層流體性質(zhì) 確定困難，測井定量解釋可信度低。對于縱向儲層跨度大、非均質(zhì)性強(qiáng)的層位，由于其物性 變化較大，導(dǎo)致氣水分布不均勻。該樣的解釋掩蓋了中間部分可能產(chǎn)水的小段層，致使對氣 井壓裂產(chǎn)水能力判斷不準(zhǔn)確。
[0007] 目前的方法在定性判斷低滲壓裂氣井產(chǎn)水能力時準(zhǔn)考慮因素少、確性較低，致使 壓裂前后對產(chǎn)能認(rèn)識的差別較大，影響了對儲層的準(zhǔn)確認(rèn)識和評價，增加了壓裂風(fēng)險。

【發(fā)明內(nèi)容】

[000引本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是：如何在低滲氣井壓裂產(chǎn)水能力判斷過程中降低對巖 屯、實(shí)驗(yàn)和測井解釋結(jié)果的依賴性，提高判斷低滲壓裂氣井產(chǎn)水能力的準(zhǔn)確性。
[0009] 為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種低滲氣井壓裂產(chǎn)水能力判斷方法，包 括：
[0010] 步驟A、測量待壓裂低滲氣井不同深度的自然伽馬值，并獲得所述自然伽馬值隨深 度的變化曲線；
[0011] 步驟B、根據(jù)自然伽馬值曲線的變化形態(tài)，確定所述待壓裂低滲氣井的地層水產(chǎn)狀 類型；
[0012] 步驟C、測量待壓裂低滲氣井不同深度的錄井全姪檢測數(shù)值，并獲得錄井全姪檢測 數(shù)值隨深度的變化曲線；
[0013] 步驟D、根據(jù)所述自然伽馬曲線隨深度的變化形態(tài)和所述錄井全姪檢測數(shù)值隨深 度的變化曲線，確定所述待壓裂低滲氣井的產(chǎn)水能力類型。
[0014] 進(jìn)一步地，步驟D后還包括：
[0015] 根據(jù)待壓裂低滲氣井的產(chǎn)水能力類型，確定壓裂氣井的產(chǎn)水能力范圍。
[0016] 進(jìn)一步地，所述步驟A中，還測量待壓裂低滲氣井不同深度的W下一項(xiàng)或者多項(xiàng) 巧幢項(xiàng)：數(shù)值電阻率、補(bǔ)償中子、密度的數(shù)值；獲得電阻率曲線和/或補(bǔ)償中子曲線和/或 密度曲線；
[0017] 所述步驟B中，還綜合所述電阻率曲線和/或補(bǔ)償中子曲線和/或密度曲線隨深 度的變化形態(tài)，確定所述待壓裂低滲氣井的產(chǎn)水能力類型；
[0018] 所述步驟D中，還綜合所述電阻率曲線和/或補(bǔ)償中子曲線和/或密度曲線隨深 度的變化形態(tài)，確定所述待壓裂低滲氣井的產(chǎn)水能力類型。
[0019] 進(jìn)一步地，地層水產(chǎn)狀類型包括束縛水、層間水、滯留水和自由水；
[0020] 其中，所述束縛水為儲層微孔隙發(fā)育造成的地層產(chǎn)水；
[0021] 所述層間水為儲層非均質(zhì)性造成的地層產(chǎn)水；
[0022] 所述滯留水為氣藏充注程度不足形成的地層產(chǎn)水；
[0023] 所述自由水為斷層破壞或者氣源不足形成的地層產(chǎn)水。
[0024] 進(jìn)一步地，產(chǎn)水能力類型包括弱含氣型、銀齒峰值含氣型、近飽滿含氣型、欠飽滿 含氣型和單峰值含氣型；
[0025] 其中，所述弱含氣型是由于儲層物性差，成藏時氣體充注壓力不夠，導(dǎo)致進(jìn)入儲層 的氣體量少，儲層含氣飽和度低，含水飽和度高；錄井時僅能見到微弱的氣測顯示.
[0026] 錄井形態(tài)表現(xiàn)為；含氣飽和度低于第一飽和度闊值，在所述錄井全姪數(shù)值隨深度 的變化曲線的錄井全姪數(shù)值全部低于第一全姪闊值；
[0027] 所述銀齒峰值含氣型是由于儲層非均質(zhì)，導(dǎo)致成藏時厚度較小的儲層含氣性好， 其余部位含氣性差，在錄井時氣測全姪顯示時高時低；
[002引錄井曲線形態(tài)表現(xiàn)為；同一套砂體中的含氣性不同，在所述錄井全姪數(shù)值隨深度 的變化曲線的錄井全姪數(shù)值大小交替變化；
[0029] 所述近飽滿含氣型是由于儲層物性好，成藏時氣體充注充分，整體的含氣性好，但 在某些部位出現(xiàn)含氣性稍差，氣測全姪顯示降低，但整體的氣測全姪顯示幅度較高，曲線形 態(tài)平滑飽滿；
[0030] 錄井曲線形態(tài)表現(xiàn)為：在所述錄井全姪數(shù)值隨深度的變化曲線的錄井全姪數(shù)值全 部高于第二全姪闊值，或者所述錄井全姪數(shù)值隨深度的變化曲線的某段的錄井全姪數(shù)值受 到儲層物性的影響降低，但其余部分高于第二全姪闊值，且錄井全姪數(shù)值顯示異常的井段 厚度大于砂巖段厚度；
[0031] 所述欠飽滿含氣型是由于成藏時氣源不充足，氣體未將儲層中的原始水全部驅(qū)替 出來，導(dǎo)致部分水可動，儲層的含氣性差，因此在氣測全姪實(shí)現(xiàn)上為平滑的低值；
[0032] 錄井曲線形態(tài)表現(xiàn)為：錄井全姪數(shù)值在儲層段都有顯示，在儲層段頂?shù)卒浘珚?數(shù)值小于第=全姪闊值；在中間部位錄井全姪數(shù)值高于第四全姪闊值；
[0033] 所述單峰值含氣型是由于儲層物性較好的部位厚度小，成藏時氣體優(yōu)先進(jìn)入該 層；但受到成藏因素影響，其余儲層段未被氣體完全充注，因此含氣性差；氣測全姪僅在物 性好的部分較高，其余部位基本無顯示；
[0034] 錄井曲線形態(tài)表現(xiàn)為：整個砂巖段錄井全姪數(shù)值小于第五全姪闊值，在所述錄井 全姪數(shù)值隨深度的變化曲線的某段的錄井全姪數(shù)值顯著升高，出現(xiàn)一個的峰值。
[0035] 進(jìn)一步地，步驟B中確定所述待壓裂低滲氣井的地層水產(chǎn)狀類型的步驟包括：
[0036] B1、將所述自然伽馬曲線的變化形態(tài)和所述電阻率曲線的變化形態(tài)和/或所述補(bǔ) 償中子曲線的變化形態(tài)和/或所述密度曲線的變化形態(tài)與產(chǎn)水能力識別模板中的特征曲 線逐一比較；
[0037] B2、確定與所述自然伽馬曲線的變化形態(tài)和所述電阻率曲線的變化形態(tài)和/或所 述補(bǔ)償中子曲線的變化形態(tài)和/或所述密度曲線的變化形態(tài)最接近的一組特征曲線，將所 述特征曲線對應(yīng)的地層水產(chǎn)狀類型作為所述待壓裂低滲氣井的地層水產(chǎn)狀類型。
[003引進(jìn)一步地，步驟D中確定所述待壓裂低滲氣井的產(chǎn)水能力類型的步驟包括：
[0039] D1、對比待壓裂層位的自然伽馬曲線，確定分析井段屬于砂巖段，將所述錄井氣測 全姪曲線數(shù)值隨深度的變化曲線與錄井全姪判斷壓裂產(chǎn)水能力識別模板中的特征曲線逐 一比較；
[0040] D2、確定與所述錄井全姪曲線隨深度的變化特征與錄井全姪判斷壓裂產(chǎn)水能力識 別模板中最接近的一組特征曲線，將所述特征曲線對應(yīng)的產(chǎn)水能力類型作為所述待壓裂低 滲氣井的產(chǎn)水能力類型。
[0041] 進(jìn)一步地，獲得所述產(chǎn)水能力識別模板的步驟包括：
[0042] 收集低滲氣井壓裂測試產(chǎn)能信息，統(tǒng)計壓裂段每種地層水產(chǎn)狀類型的自然伽馬曲 線隨深度的變化特征和所述電阻率曲線隨深度的變化特征和/或所述補(bǔ)償中子曲線隨深 度的變化特征和/或所述密度曲線隨深度的變化特征；
[0043] 根據(jù)統(tǒng)計信息，建立所述自然伽馬曲線和所述電阻率曲線和/或所述補(bǔ)償中子曲 線和/或所述密度曲線隨深度的變化特征與地層水產(chǎn)狀類型的對應(yīng)關(guān)系；
[0044] 步驟B中確定所述待壓裂低滲氣井的地層水產(chǎn)狀類型的步驟包括：
[0045] 根據(jù)所述待壓裂層位的自然伽馬曲線的變化形態(tài)確定砂巖段的位置；
[0046] 根據(jù)電阻率曲線和補(bǔ)償中子曲線的變化形態(tài)初步確定地層水產(chǎn)狀類型；
[0047] 當(dāng)電阻率曲線或者補(bǔ)償中子曲線的變化形態(tài)與所述產(chǎn)水能力識別模板只有一種 相符時，結(jié)合密度曲線的變化形態(tài)進(jìn)行判斷，當(dāng)密度值低于第一密度闊值時W電阻率曲線 確定的地層水產(chǎn)狀類型為準(zhǔn)，當(dāng)密度值高于第一密度闊值W補(bǔ)償中子曲線確定的地層水產(chǎn) 狀類型為準(zhǔn)。
[0048] 進(jìn)一步地，獲得所述壓裂產(chǎn)水能力識別模板的步驟包括：
[0049] 收集低滲氣井壓裂測試產(chǎn)能信息和錄井氣測全姪信息，統(tǒng)計壓裂段每種產(chǎn)水能力 類型的錄井全姪值隨深度的變化特征；
[0化0] 根據(jù)統(tǒng)計信息，建立所述錄井氣測全姪數(shù)值隨深度的變化特征與產(chǎn)水能力類型的 對應(yīng)關(guān)系。
[0化1] 進(jìn)一步地，第一飽和度闊值和第一全姪闊值為5%。
[0化2] 與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明提出的判斷方法，根據(jù)待壓裂層位的測井曲線的自然伽 馬、電