Ic外觀檢驗(yàn)裝置的制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種IC外觀檢驗(yàn)裝置，包括進(jìn)料模塊，第一移載軌道內(nèi)包括兩個(gè)運(yùn)輸模塊依序在不同時(shí)間點(diǎn)將進(jìn)料模塊內(nèi)不同的載盤移出并送至檢測區(qū)；第二移載軌道負(fù)責(zé)運(yùn)輸備料載盤；龍門架的兩側(cè)各安裝著第一、二取放模塊，第一取放模塊將載盤上的IC移至檢測區(qū)內(nèi)檢測，已完成檢驗(yàn)且移動(dòng)至第一移載軌道揀選分類位置的載盤，由第二取放模塊依據(jù)良品或不良品，將IC于載盤與備料載盤之間進(jìn)行交換；最后將承載良品或不良品的載盤送至不良品堆棧模塊、良品堆棧模塊而被收集。藉此本實(shí)用新型可由第一移載軌道同時(shí)承載兩個(gè)載盤，在一載盤進(jìn)行檢驗(yàn)時(shí)，另一載盤則可進(jìn)行挑選分類，藉此提升檢驗(yàn)效率，后續(xù)又可依客戶指示依不同方式包裝出貨，增加生產(chǎn)效率。
【專利說明】
1C外觀檢驗(yàn)裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實(shí)用新型涉及檢驗(yàn)裝置，尤其涉及1C(集成電路)外觀檢驗(yàn)裝置，為一種能提升檢測效率的設(shè)計(jì)?！颈尘凹夹g(shù)】
[0002]芯片于制作上，系將呈圓盤狀具有電路的晶圓切割成為復(fù)數(shù)個(gè)芯片，之后歷經(jīng)數(shù)道制程及封裝作業(yè)，完成芯片成品。廠商為確保產(chǎn)品的質(zhì)量，均會(huì)進(jìn)行芯片內(nèi)部電路檢測， 與外觀及引腳形狀的檢測，進(jìn)而揀選出良品與不良品。
[0003]目前1C外觀檢驗(yàn)裝置的工作，主要包括外形檢驗(yàn)及揀選分類兩部份，其中外形檢驗(yàn)至少包括引腳檢驗(yàn)與外觀檢驗(yàn)兩項(xiàng)，引腳檢驗(yàn)主要是檢驗(yàn)芯片的球柵陣列(Ball Grid Array，BGA)或引腳的缺陷，外觀檢驗(yàn)則是針對未設(shè)有引腳的表面外型進(jìn)行檢驗(yàn)。揀選分類會(huì)根據(jù)檢驗(yàn)結(jié)果將良品與不良品挑出，或是經(jīng)替換后分別放置于良品載盤與不良品載盤。 目前此類的外觀檢驗(yàn)裝置多數(shù)是由載盤承載1C，之后依序進(jìn)行外形檢驗(yàn)及揀選分類，其中外形檢驗(yàn)作業(yè)需將每個(gè)芯片吸取至相對應(yīng)檢驗(yàn)?zāi)K進(jìn)行檢驗(yàn)，所需工時(shí)較長，之后增加揀選分類的工時(shí)，造成生產(chǎn)效率無法有效提升。
[0004]再者，目前1C外觀檢驗(yàn)裝置通常僅提供單一種包裝方式，例如以載盤承載1C進(jìn)行檢驗(yàn)，當(dāng)檢驗(yàn)完成后也是透過載盤進(jìn)行良品或不良品的包裝收集，若廠商希望采不同包裝方式，例如改以料管收集良品，則須另外再購買一臺包裝設(shè)備，由包裝設(shè)備可將復(fù)數(shù)個(gè)堆棧配置的載盤依序移出，再吸取個(gè)別的1C進(jìn)入相對的料管內(nèi)，如此對廠商而言，不僅需要額外購買一臺包裝設(shè)備，廠房需要額外的空間用以容納該包裝設(shè)備。【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0005]為了解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型的目的在于提供一種1C外觀檢驗(yàn)裝置，主要可在機(jī)臺上同時(shí)承載二個(gè)載盤，一個(gè)載盤進(jìn)行揀選分類作業(yè)時(shí)，就能再移出另一載盤進(jìn)行外形驗(yàn)檢作業(yè)，藉此提升檢驗(yàn)效率。
[0006]為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型的技術(shù)方案如下:
[0007]一種1C外觀檢驗(yàn)裝置，
[0008]包括一進(jìn)料模塊，用于容納至少一待測1C之載盤；
[0009]—第一移載軌道，包括一對平行設(shè)置的運(yùn)輸模塊，所述進(jìn)料模塊位于所述第一移載軌道的最前段區(qū)段，兩個(gè)所述運(yùn)輸模塊依序在不同時(shí)間點(diǎn)將所述進(jìn)料模塊內(nèi)的不同載盤移出并送至檢測區(qū)；[001 〇]第二移載軌道，用以運(yùn)輸備料載盤;龍門架橫跨該第一移載軌道與第二移載軌道， 龍門架的不同側(cè)壁各安裝著第一取放模塊及第二取放模塊，所述第一取放模塊用以將該第一移載軌道上的載盤上的1C移至所述檢測區(qū)內(nèi)檢測，所述第二取放模塊用以將完成檢測的 1C，依據(jù)良品或不良品于所述第一移載軌道上的載盤與所述第二移載軌道的備料載盤之間進(jìn)行交換；
[0011]不良品堆棧模塊，位于所述第二移載軌道的最后區(qū)段，用以收集承載著檢測有缺失的1C的載盤；良品堆棧模塊，位于所述第一移載軌道的最后區(qū)段，用以收集承載著檢驗(yàn)合格的ic的載盤；
[0012]以及料管包裝模塊，于所述第一移載軌道外側(cè)，由所述第二取放模塊將檢驗(yàn)合格的1C移至料管內(nèi)而被收集。
[0013]優(yōu)選的，該1C外觀檢驗(yàn)裝置還包括有載盤取放模塊，該載盤取放模塊橫跨該第一移載軌道與第二移載軌道的后段區(qū)域，包括架體以及設(shè)于所述架體上并能夠沿所述架體移動(dòng)的夾取機(jī)構(gòu)，用以將位于該第一移載軌道上的載盤移至于該第二移載軌道上。
[0014]優(yōu)選的，所述檢驗(yàn)區(qū)分布于所述龍門架與所述第一移載軌道交匯區(qū)域，所述檢測區(qū)內(nèi)包括有引腳檢驗(yàn)?zāi)K及外觀檢驗(yàn)?zāi)K，所述引腳檢驗(yàn)?zāi)K與所述第一移載軌道并排配置，所述龍門架面對所述進(jìn)料模塊的側(cè)壁，安裝有可沿側(cè)壁移動(dòng)的所述第一取放模塊，所述引腳檢驗(yàn)?zāi)K位于此側(cè)壁方向的機(jī)臺上。[〇〇15]優(yōu)選的，所述外觀檢驗(yàn)?zāi)K安裝于所述龍門架上，位于所述第一移載軌道的路徑上方，采用雷射掃描模式來檢驗(yàn)1C外觀的缺陷。
[0016]優(yōu)選的，所述龍門架面對所述料管模塊的側(cè)壁，安裝著可沿側(cè)壁移動(dòng)的所述第二取放模塊，所述第二取放模塊可將所述第一移載軌道的載盤上已完成檢測的1C移至所述料管模塊的料管內(nèi)而被收集。
[0017]優(yōu)選的，所述運(yùn)輸模塊包括一輸送帶機(jī)構(gòu)及一夾持機(jī)構(gòu)，所述夾持機(jī)構(gòu)能夾持所述第一移載軌道上的載盤，由所述輸送帶機(jī)構(gòu)帶動(dòng)所述夾持機(jī)構(gòu)作線性移動(dòng)，所述夾持機(jī)構(gòu)包括一對鏡向設(shè)置的作動(dòng)缸，每個(gè)所述作動(dòng)缸能驅(qū)動(dòng)一夾件伸縮及旋轉(zhuǎn)，當(dāng)所述夾持機(jī)構(gòu)欲由所述第一移載軌道的最后區(qū)段移回最前區(qū)段，所述夾件會(huì)受所述作動(dòng)缸驅(qū)動(dòng)而旋轉(zhuǎn)，以降低所述夾件的高度。
[0018]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型提供的1C組件外觀檢驗(yàn)裝置至少具有以下優(yōu)點(diǎn):
[0019]1)本實(shí)用新型能提高檢驗(yàn)效率，由于第一移載軌道能同時(shí)承載兩個(gè)載盤，當(dāng)其中一載盤在進(jìn)彳丁費(fèi)時(shí)的外形檢驗(yàn)作業(yè)時(shí)，先如已成檢驗(yàn)的另一載盤則能進(jìn)彳丁良品與不良品的揀選分類作業(yè)，藉此提升檢驗(yàn)效率；
[0020]2)本實(shí)用新型提供的檢測裝置采自動(dòng)化檢驗(yàn)作業(yè)流程，減少人工搬動(dòng)載盤于第一移載軌道與第二移載軌移動(dòng)的動(dòng)作，也能提升生產(chǎn)效率；
[0021]3)單一機(jī)臺具為多種不同出貨方式可供選擇，例如料管或載盤的包裝方式，滿足廠商的需求且減少設(shè)備金錢的支出；
[0022]4)機(jī)臺雖具有多種功能，且設(shè)備尺寸并未增加，讓廠房空間能更有效運(yùn)用?！靖綀D說明】
[0023]為更清楚地說明本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)特征和技術(shù)要點(diǎn)，下面結(jié)合附圖和【具體實(shí)施方式】對本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)說明。
[0024]圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例所公開的電子組件外觀檢驗(yàn)裝置的俯視圖；
[0025]圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例所公開的電子組件外觀檢驗(yàn)裝置的前視立體圖；
[0026]圖3為本實(shí)用新型實(shí)施例所公開的電子組件外觀檢驗(yàn)裝置的后視立體圖；
[0027]圖4為本實(shí)用新型實(shí)施例所公開的第一移載軌道、進(jìn)料模塊、良品堆棧模塊的立體圖；
[0028]圖5為本實(shí)用新型實(shí)施例所公開的夾持機(jī)構(gòu)的放大立體圖。[〇〇29]附圖標(biāo)記說明:機(jī)臺11、供料模塊12、第一移載軌道13、第一運(yùn)輸模塊131、夾持機(jī)構(gòu)133、作動(dòng)缸1331、夾件1332、夾持槽1333、輸送帶機(jī)構(gòu)135、第二運(yùn)輸模塊132、夾持機(jī)構(gòu) 134、輸送帶機(jī)構(gòu)136、第二移載軌道14、良品堆棧模塊15、不品堆棧模塊16、料管包裝模塊 17、龍門架18、載盤取放模塊19、第一取放模塊20、第二取放模塊21、檢驗(yàn)區(qū)22、引腳檢驗(yàn)?zāi)K221、外觀檢驗(yàn)?zāi)K222?！揪唧w實(shí)施方式】
[0030]下面將結(jié)合本實(shí)施例中的附圖，對實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行具體、清楚、完整地描述。
[0031]請參閱圖1、2及3所示，本實(shí)用新型提供了一種1C外觀檢驗(yàn)裝置，包括一機(jī)臺11，機(jī)臺11的平臺上安裝著供料模塊12、第一移載軌道13、第二移載軌道14、良品堆棧模塊15、不品堆棧模塊16、以及料管包裝模塊17。另外在機(jī)臺11依配置方向不同安裝著橫跨第一移載軌道13及第二移載軌道14的龍門架18、及載盤取放模塊19,龍門架18上不同側(cè)壁各安裝著可沿架體移動(dòng)的第一取放模塊20與第二取放模塊21。[〇〇32]供料模塊12為立體機(jī)構(gòu)，采用垂直堆棧的方式承載著容納待測1C之至少一載盤。 供料模塊12設(shè)置于第一移載軌道13的最前區(qū)段。
[0033]第一移載軌道13負(fù)責(zé)將載盤由供料模塊12移出，在于軌道的不同位置依序處進(jìn)行 1C的檢測、揀選分類、以及收集。請一并參閱圖4所示，第一移載軌道13內(nèi)包括一對平行設(shè)置的兩個(gè)運(yùn)輸模塊，如第一運(yùn)輸模塊131及第二運(yùn)輸模塊132,兩個(gè)運(yùn)輸模塊會(huì)依序在不同時(shí)間點(diǎn)將進(jìn)料模塊12內(nèi)的不同載盤移出(圖4中并未將上下堆棧的載盤畫出)，之后依序進(jìn)行 1C的檢測、揀選分類，最后載盤則移至良品堆棧模塊15處被收集。換言之，假設(shè)由第一運(yùn)輸模塊131已將載盤移至第一移載軌道13后段區(qū)段進(jìn)行1C的揀選分類作業(yè)，則第二運(yùn)輸模塊 132就會(huì)被啟動(dòng)，載運(yùn)另一載盤開始移動(dòng)至第一移載軌道13前段區(qū)域進(jìn)行1C的外形檢驗(yàn)作業(yè)。藉由兩個(gè)不同載盤同時(shí)在第一移載軌道13進(jìn)行不同的作業(yè)，藉此提高檢測效率。
[0034]另外第一運(yùn)輸模塊131進(jìn)一步包括夾持機(jī)構(gòu)133及輸送帶機(jī)構(gòu)135,由輸送帶機(jī)構(gòu) 135負(fù)動(dòng)帶動(dòng)夾持機(jī)構(gòu)133移動(dòng)，輸送帶機(jī)構(gòu)135包括有皮帶、馬達(dá)、以及復(fù)數(shù)個(gè)傳動(dòng)輪等組件。相對地第二運(yùn)輸模塊132也包括夾持機(jī)構(gòu)134及輸送帶機(jī)構(gòu)136。為避免載盤卸載后，單一夾持機(jī)構(gòu)在移動(dòng)過程中部份構(gòu)件與仍在第一移載軌道13上的載盤產(chǎn)生干涉，本實(shí)用新型之夾持機(jī)構(gòu)亦有著特殊的設(shè)計(jì)。如圖5所示，圖中僅就夾持機(jī)構(gòu)133作說明，夾持機(jī)構(gòu)134也為相同結(jié)構(gòu)。夾持機(jī)構(gòu)133包括一對呈鏡向配置的作動(dòng)缸1331，每個(gè)作動(dòng)缸1331能驅(qū)動(dòng)一夾件1332伸縮及旋轉(zhuǎn)。每個(gè)夾件1332具有一夾持槽1333。當(dāng)欲夾持時(shí)，兩夾持槽1333面對面呈水平位置，接著兩個(gè)作動(dòng)缸1331作動(dòng)使兩個(gè)夾件1332同時(shí)縮回，由夾持槽1333卡掣于載盤兩側(cè)邊，便可達(dá)到固定的目的。當(dāng)卸載狀態(tài)下，夾件1332則被伸出并旋轉(zhuǎn)，此時(shí)夾持槽 1333呈垂直狀能，夾件13332最高位置亦低于作動(dòng)缸1331頂面，如此一來夾持機(jī)構(gòu)133之夾件1332在卸載后的移動(dòng)過程中，由第一移載軌道13的最后區(qū)段移回最前區(qū)段，就不會(huì)碰觸到其他載盤。
[0035]第二移載軌道14是與該第一移載軌道13平行設(shè)置，用以運(yùn)輸備料載盤，備料載盤可為由第一移載軌道13上所移載過來，此處的備料載盤是用以替換良品與不良品。
[0036]良品堆棧模塊15位于該第一移載軌道13的最后區(qū)段，如圖1中假想線所示區(qū)域，此處具有相關(guān)機(jī)構(gòu)，可采用垂直堆棧的方式承載復(fù)數(shù)個(gè)載盤，此處載盤為收納檢驗(yàn)為良品之 1C。
[0037]不良品堆棧模塊16位于該第二移載軌道14的最后段區(qū)域，如圖1中假想線所示區(qū)域，此處具有相關(guān)機(jī)構(gòu)，可采用垂直堆棧的方式承載復(fù)數(shù)個(gè)載盤，此處載盤為收納檢驗(yàn)為不良品之1C。
[0038]料管包裝模塊17,并排配置于該第一移載軌道13外側(cè)，檢驗(yàn)合格之1C可被移至此處的料管內(nèi)，進(jìn)而被包裝被收集。因此本機(jī)臺11具有載盤與料管等二種出貨包裝方式，一方面讓廠商便于選擇不同的出貨包裝方式，但機(jī)臺尺寸并不須相對增加，在有效的空間內(nèi)發(fā)生最大的生產(chǎn)效益。
[0039]機(jī)臺1的平臺上具有一檢驗(yàn)區(qū)22,如圖1中虛線所示區(qū)域。該檢驗(yàn)區(qū)22分布于龍門架18與第一移載軌道13交匯區(qū)域，檢測區(qū)22內(nèi)包括有引腳檢驗(yàn)?zāi)K221及外觀檢驗(yàn)?zāi)K 222。引腳檢驗(yàn)?zāi)K221安裝于機(jī)臺1平臺上與第一移載軌道13并排配置，能檢驗(yàn)1C引腳 (Lead)缺陷。外觀檢驗(yàn)?zāi)K222安裝于龍門架18上，位于該第一移載軌道12的路徑上方，采雷射掃描模式，檢驗(yàn)1C外觀的缺陷。
[0040]龍門架18面對進(jìn)料模塊12的側(cè)壁安裝著可移動(dòng)的第一取放模塊20,引腳檢驗(yàn)?zāi)K 221也位于此側(cè)壁方向的機(jī)臺11上。第一取放模塊20用以將第一移載軌道13載盤上的1C吸取移至引腳檢驗(yàn)?zāi)K221內(nèi)檢測，檢測完成再移回載盤原位并記錄。[〇〇41 ]龍門架18面對良品堆棧模塊15的側(cè)壁則安裝著可移動(dòng)的第二取放模塊21。第二取放模塊21具有多個(gè)不同運(yùn)作模式，模式一:吸取于第一移載軌道13上檢測完成之載盤上的不良品1C，移至第二移載軌道14的備料載盤，再將備料載盤上的良品1C移回第一移載軌道 13上的載盤，確保第一移載軌道13上載盤的1C皆為良品。模式二:將該第一移載軌道13上已完成檢測之1C吸取移至料管包裝模塊17的料管內(nèi)，由料管收集良品1C。[〇〇42]載盤取放模塊19橫跨該第一移載軌道13與第二移載軌道14的后段區(qū)域，包括架體以及設(shè)于架體上并能夠沿架體移動(dòng)的夾取機(jī)構(gòu)，用以將位于該第一移載軌道13上的載盤移至于該第二移載軌道14上，作為備料載盤。
[0043]接著就本實(shí)用新型提供的1C外觀檢驗(yàn)裝置的檢測方法作一說明，請配合參考圖1 之平面圖，在本實(shí)施例中，載盤是用以容納1C，進(jìn)行檢驗(yàn)，或供良品或不良品的1C置放用，為了便于本實(shí)用新型方法的解說，后續(xù)說明中，容納待測1C的載盤定義為待測載盤，容納已檢驗(yàn)完成1C的載盤定義為良品載盤，承載著供替換1C的載盤定義為備料載盤。待測載盤、良品載盤及備料載盤，可能為同一個(gè)載盤，只因在移動(dòng)至第一移載軌道或第二移載軌道后，因所在位置的不同而定義不同的名稱，但也可能為完全不相同的載盤。
[0044]本實(shí)用新型1C外觀檢驗(yàn)方法的步驟包括:
[0045]步驟601:由第一移載軌道13內(nèi)的第一輸送模塊131將待測載盤自進(jìn)料模塊12移出并送至機(jī)臺11的檢測區(qū)22,其中待測載盤容納著復(fù)數(shù)個(gè)待測1C;[〇〇46]步驟602:第一取放模塊20吸取待測載盤上的1C，移至檢測區(qū)22內(nèi)的引腳檢驗(yàn)?zāi)K221進(jìn)行檢驗(yàn)，完成后再送回待測載盤原位；[〇〇47]步驟603:第一輸送模塊131將待測載盤通過檢驗(yàn)區(qū)的外觀檢驗(yàn)?zāi)K222，進(jìn)行1C表面缺陷檢查，之后于第一移載軌道13的待測載盤則改稱為良品載盤;其中在進(jìn)行外觀檢驗(yàn)時(shí)該第二取放模塊21并不會(huì)作動(dòng)。[〇〇48] 接著同時(shí)執(zhí)行步驟604及步驟605;
[0049]步驟604,啟動(dòng)第一移載軌道13內(nèi)的第二輸送模塊132將進(jìn)料模塊12的另一待測載盤移出，送至機(jī)臺11的檢測區(qū)22,之后此待測載盤也會(huì)持著進(jìn)行步驟602、603;此時(shí)第一移載軌道13上會(huì)同時(shí)具有一個(gè)良品載盤及另一待測載盤；
[0050]步驟605:移動(dòng)良品載盤至第一移載軌道13的預(yù)定揀選分類位置；[〇〇511當(dāng)欲執(zhí)行，步驟605之前，若第二移載軌道14上并無補(bǔ)料載盤，則先執(zhí)行步驟605A， 良品載盤移至第一移載軌道13與該載盤取放模塊19交匯處，良品載盤塊經(jīng)由載盤取放模塊 19由第一軌移載道13移至第二移載軌道14上作為備料載盤，此狀況有兩種情形，一、最初裝置開始運(yùn)作時(shí);二、當(dāng)備料載盤上已載滿不良品，備料載盤被第二移載軌道14移至不良品堆棧模塊16被收集時(shí)。[〇〇52]步驟606:第二取放模塊21吸取良品載盤上的不良品，將不良品移至第二移載軌道14的備料載盤，再將備料載盤上的良品移回良品載盤，確保第一移載軌道13良品載盤上的1C皆為良品；[〇〇53] 之后依設(shè)定執(zhí)行步驟607A、步驟607B、或步驟607C[〇〇54]步驟607A:依預(yù)先設(shè)定方式(廠商選擇的出貨方式)，第二取放模塊21將良品載盤上之1C移至料管包裝模塊17，1C采料管模式包裝，最后空的良品載盤移至良品堆棧模塊15 處收集，完成后第一輸送模塊131再度移回起始位置。[〇〇55]步驟607B:依預(yù)先設(shè)定方式(廠商選擇的出貨方式)，將第一移載軌道13皆承載良品1C的良品載盤送入良品堆棧模塊15,依序堆棧收集，完成后第一輸送模塊131再度移回起始位置。[〇〇56] 步驟607C:當(dāng)備料載盤上已載滿不良品，備料載盤由該第二移載軌道14移至不良品堆棧模塊16被收集時(shí)。[〇〇57]綜合以上所述，本實(shí)用新型1C外觀檢驗(yàn)裝置具有下列幾項(xiàng)具體功效:
[0058]1)能提高檢驗(yàn)效率的裝置:本實(shí)用新型能由第一移載軌道能同時(shí)承載著待測載盤及良品載盤，分別進(jìn)彳丁1C的檢驗(yàn)作業(yè)、及良品與不良品的挑選作業(yè)，箱此提升檢驗(yàn)效率；
[0059]2)裝置采自動(dòng)化檢驗(yàn)作業(yè)流程:本實(shí)用新型能由載盤取放模塊自動(dòng)進(jìn)行載盤于第一移載軌道與第二移載軌移動(dòng)的動(dòng)作，減少人工搬的情形，能提升生產(chǎn)效率；
[0060]3)單一機(jī)臺具為多種不同出貨方式可供選擇:本實(shí)用新型于機(jī)臺安裝著良品堆棧模塊及料管包裝模塊，讓廠商能自由選擇由容納著良品1C的載盤出貨或料管的出貨模塊， 減少額外購買另一包裝設(shè)備的金錢支出，也能讓的包裝作業(yè)效率提升。[0061 ]4)具有多種功能但機(jī)臺尺寸并不相對應(yīng)增加:本實(shí)用新型將料管包裝模塊、良品堆棧模塊、不品堆棧模塊平行并列配合，良品、不良品分別容置于相對應(yīng)的所在區(qū)域，不僅機(jī)臺空間能被有效利用，且能減少檢驗(yàn)后1C的堆放儲(chǔ)放空間。
[0062]上述【具體實(shí)施方式】，僅為說明本實(shí)用新型的技術(shù)構(gòu)思和結(jié)構(gòu)特征，目的在于讓熟悉此項(xiàng)技術(shù)的相關(guān)人士能夠據(jù)以實(shí)施，但以上內(nèi)容并不限制本實(shí)用新型的保護(hù)范圍，凡是依據(jù)本實(shí)用新型的精神實(shí)質(zhì)所作的任何等效變化或修飾，均應(yīng)落入本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種1C外觀檢驗(yàn)裝置，其特征在于，包括:進(jìn)料模塊，容納著裝載有待測1C的至少一載盤；第一移載軌道，包括一對平行設(shè)置的運(yùn)輸模塊，所述進(jìn)料模塊位于所述第一移載軌道 的最前區(qū)段，兩個(gè)所述運(yùn)輸模塊依序在不同時(shí)間點(diǎn)將所述進(jìn)料模塊內(nèi)不同載盤移出并送至 檢測區(qū)；第二移載軌道，與所述第一移載軌道并排配置，用以運(yùn)輸備料載盤；龍門架橫跨所述第一移載軌道與所述第二移載軌道，所述龍門架的不同側(cè)壁各安裝著 第一取放模塊及第二取放模塊，所述第一取放模塊將所述第一移載軌道的載盤上的1C移至 所述檢測區(qū)內(nèi)檢測，已完成檢驗(yàn)且移動(dòng)至所述第一移載軌道揀選分類位置的載盤，由所述 第二取放模塊取依據(jù)良品或不良品，將1C于所述第一移載軌道的載盤與第二移載軌道的備 料載盤進(jìn)行交換；不良品堆棧模塊，位于所述第二移載軌道的最后區(qū)段，用于收集承載著檢測有缺失的 1C的載盤；良品堆棧模塊，位于所述第一移載軌道的最后區(qū)段，用于收集承載著檢驗(yàn)合格的1C的 載盤；以及料管包裝模塊，并排配置所述第一移載軌道的外側(cè)，所述第二抓取模塊可將檢驗(yàn) 合格之1C移至所述料管包裝模塊的料管內(nèi)。2.根據(jù)權(quán)利要求項(xiàng)1所述的1C外觀檢驗(yàn)裝置，其特征在于，該1C外觀檢驗(yàn)裝置還包括有 載盤取放模塊，所述載盤取放模塊橫跨所述第一移載軌道與所述第二移載軌道的后段區(qū) 域，包括架體以及設(shè)于架體上并能夠沿架體移動(dòng)的夾取機(jī)構(gòu)，用以將位于所述第一移載軌 道上的載盤移至于所述第二移載軌道上。3.根據(jù)權(quán)利要求項(xiàng)1所述的1C外觀檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述檢驗(yàn)區(qū)分布于所述龍門 架與所述第一移載軌道交匯區(qū)域，所述檢測區(qū)內(nèi)包括接點(diǎn)檢驗(yàn)?zāi)K及外觀檢驗(yàn)?zāi)K，所述 接點(diǎn)檢驗(yàn)?zāi)K與所述第一移載軌道并排配置，所述龍門架面對所述進(jìn)料模塊的側(cè)壁安裝著 所述第一取放模塊，所述接點(diǎn)檢驗(yàn)?zāi)K系位于所述側(cè)壁方向的機(jī)臺上。4.根據(jù)權(quán)利要求項(xiàng)3所述的1C外觀檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述外觀檢驗(yàn)?zāi)K安裝于所 述龍門架上，位于所述第一移載軌道的路徑上方。5.根據(jù)權(quán)利要求項(xiàng)3所述的1C外觀檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述龍門架面對所述料管包 裝模塊的側(cè)壁安裝著所述第二取放模塊，所述第二取放模塊可將所述第一移載軌道上已完 成檢測之1C移至所述料管模塊的料管內(nèi)而被收集。6.根據(jù)權(quán)利要求項(xiàng)1所述的1C外觀檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述龍門架面對所述料管包 裝模塊的側(cè)壁，安裝著可沿側(cè)壁移動(dòng)的所述第二取放模塊，所述第二取放模塊可將所述第 一移載軌道的載盤上已完成檢測的1C移至所述料管包裝模塊的料管內(nèi)而被收集。7.根據(jù)權(quán)利要求項(xiàng)1所述的1C外觀檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述第一移載軌道包括平行 設(shè)置的第一運(yùn)輸模塊及第二運(yùn)輸模塊。8.根據(jù)權(quán)利要求項(xiàng)7所述的1C外觀檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述第一運(yùn)輸模塊及所述第 二運(yùn)輸模塊包括夾持機(jī)構(gòu)及輸送帶機(jī)構(gòu)，所述夾持機(jī)構(gòu)具有一對呈鏡向配置的作動(dòng)缸，所 述作動(dòng)缸連接夾件，致使所述作動(dòng)缸驅(qū)動(dòng)所述夾件伸縮、旋轉(zhuǎn)以夾持或卸載載盤。
【文檔編號】B07C5/36GK205599539SQ201620243943
【公開日】2016年9月28日
【申請日】2016年3月28日
【發(fā)明人】陳年發(fā)
【申請人】京隆科技(蘇州)有限公司