本發(fā)明屬于顯微成像技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種光學(xué)顯微成像設(shè)備及其成像方法。
背景技術(shù):
光學(xué)顯微成像技術(shù)的兩大發(fā)展趨勢(shì)是:一、高的空間分辨率,即能獲取清晰的樣品細(xì)節(jié)信息;二、大的成像視野,即能同時(shí)看到一個(gè)面積大的樣品空間內(nèi)多個(gè)或全部的區(qū)域。
高的空間分辨率需要物鏡具有高的數(shù)字孔徑來保證光學(xué)分辨率,同時(shí)需要探測(cè)陣列(相機(jī)光敏面)的像元尺寸小來保證采樣分辨率。而大的成像視野需要探測(cè)陣列(相機(jī)光敏面)的面積足夠大。最直觀的方法就是一個(gè)分辨率非常高(像元數(shù)量非常多)的探測(cè)陣列(相機(jī))。
目前高分辨率大光敏面積的相機(jī)也在快速發(fā)展之中,但目前最高配的相機(jī)在很多應(yīng)用中仍無法同時(shí)滿足人們對(duì)高的空間分辨率和大視野的需求,更高分辨率的相機(jī)的出現(xiàn)還需要一段時(shí)間的發(fā)展。
一個(gè)大的成像視野中,人們感興趣的可能只是其中若干個(gè)區(qū)域,只是這些區(qū)域的水平位置跨度很大,而且很可能位于不同軸向位置上。因此,一般的相機(jī)不能獲得較為清晰的圖像。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
有鑒于此,有必要提供一種能夠?qū)υ诓煌S向位置上的多個(gè)區(qū)域清晰成像的光學(xué)顯微成像設(shè)備及其成像方法。
一種光學(xué)顯微成像設(shè)備,包括相機(jī)光敏面和物鏡陣列,通過物鏡陣列采集的圖像在所述相機(jī)光敏面上成像;
所述物鏡陣列包括呈陣列排列的多個(gè)物鏡,所述物鏡陣列的光軸垂直于所述相機(jī)光敏面,所述多個(gè)物鏡的采集端不在同一水平面上,所述多個(gè)物鏡在光軸方向上的安裝位置可調(diào)。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述物鏡陣列的排列方式為線陣并排排列、矩陣排列或同心圓排列。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,相鄰所述物鏡的間距不超過單個(gè)所述物鏡的直徑。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,每?jī)蓚€(gè)所述物鏡所成的像在所述相機(jī)光敏面上相互重疊的面積不超過成像本身大小的20%。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述物鏡陣列與相機(jī)光敏面之間包括中繼光路。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述中繼光路包括至少一個(gè)透鏡。
一種采用上述光學(xué)顯微成像設(shè)備的成像方法,包括如下步驟:
將所述物鏡陣列的采集端置于位于不同三維空間位置的多個(gè)樣品區(qū)域的上方;
分別調(diào)節(jié)所述多個(gè)物鏡在光軸方向上的安裝位置,使所述多個(gè)物鏡采集的多個(gè)樣品區(qū)域在所述相機(jī)光敏面上的成像。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述物鏡陣列的排列方式為線陣并排排列、矩陣排列或同心圓排列。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,相鄰所述物鏡的間距不超過單個(gè)所述物鏡的直徑。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,每?jī)蓚€(gè)所述物鏡所成的像在所述相機(jī)光敏面上相互重疊的面積不超過成像本身大小的20%。
上述光學(xué)顯微成像設(shè)備和成像方法,將多個(gè)物鏡緊密排列成一個(gè)物鏡陣列,通過調(diào)節(jié)物鏡陣列的物鏡在光軸方向上的安裝位置,物鏡陣列能將分布在不同三維空間位置的多個(gè)樣品區(qū)域成像到同一個(gè)相機(jī)光敏面上,從而實(shí)現(xiàn)多個(gè)樣品區(qū)域的同時(shí)觀察。該光學(xué)顯微成像設(shè)備和成像方法能在成像空間跨度大的多個(gè)樣品區(qū)域的同時(shí)獲取高空間分辨率的樣品結(jié)構(gòu)信息。能應(yīng)用在顯微成像相關(guān)的領(lǐng)域。
附圖說明
圖1為一實(shí)施方式的光學(xué)顯微成像設(shè)備。
圖2為另一實(shí)施方式的光學(xué)顯微成像設(shè)備。
圖3為一實(shí)施方式的3乘3矩陣排列的物鏡陣列的截面示意圖。
圖4為圖3所示的3乘3矩陣排列物鏡陣列對(duì)應(yīng)的多個(gè)樣品區(qū)域。
圖5為圖3所示的3乘3矩陣排列物鏡陣列對(duì)應(yīng)的多個(gè)樣品區(qū)域的成像。
具體實(shí)施方式
為了便于理解本發(fā)明,下面將參照相關(guān)附圖對(duì)本發(fā)明進(jìn)行更全面的描述。附圖中給出了本發(fā)明的較佳實(shí)施方式。以上僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例,并非因此限制本發(fā)明的專利范圍,凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換,或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域,均同理包括在本發(fā)明的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
除非另有定義,本文所使用的所有的技術(shù)和科學(xué)術(shù)語與屬于本發(fā)明的技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員通常理解的含義相同。本文中在本發(fā)明的說明書中所使用的術(shù)語只是為了描述具體的實(shí)施方式的目的,不是旨在于限制本發(fā)明。本文所使用的術(shù)語“及/或”包括一個(gè)或多個(gè)相關(guān)的所列項(xiàng)目的任意的和所有的組合。
請(qǐng)參閱圖1,一實(shí)施方式的光學(xué)顯微成像設(shè)備100,包括物鏡陣列10和相機(jī)光敏面30,通過物鏡陣列10采集的圖像在相機(jī)光敏面30上成像。
物鏡陣列10包括呈陣列排列的多個(gè)物鏡,物鏡陣列的光軸垂直于相機(jī)光敏面30,多個(gè)物鏡的采集端不在同一水平面上,多個(gè)物鏡在光軸方向上的安裝位置可調(diào)。光軸方向如圖1中箭頭方向所示。
樣品焦平面20位于物鏡陣列10的采集端。樣品焦平面20可以分為處于不同三維空間位置的多個(gè)樣品區(qū)域。物鏡陣列10的多個(gè)物鏡對(duì)應(yīng)的多個(gè)樣品區(qū)域位于不同三維空間位置。物鏡在光軸方向上的安裝位置能根據(jù)其對(duì)應(yīng)的樣品區(qū)域的軸向位置進(jìn)行調(diào)整,使物鏡陣列10的成像位于同一個(gè)相機(jī)光敏面30上。物鏡陣列10將位于不同三維空間位置的多個(gè)樣品區(qū)域成像到同一個(gè)相機(jī)光敏面30上,從而實(shí)現(xiàn)多個(gè)樣品區(qū)域的同時(shí)觀察。
由于是只獲取多個(gè)樣品區(qū)域的信息而不是所有樣品空間的信息,因此相機(jī)光敏面30的面積足夠獲取這些樣品區(qū)域的信息,并且成像分辨率足夠高。這些樣品區(qū)域的空間跨度與相機(jī)光敏面30直徑大小相當(dāng)。
可以理解,根據(jù)樣品區(qū)域的分布特點(diǎn),物鏡列陣10的排列方式可以為線陣并排排列、矩陣排列或同心圓排列等多類型的排列方式。此外,為保證相機(jī)光敏面30的利用率,相鄰物鏡的間距最好不超過單個(gè)物鏡的直徑。
在其中一個(gè)實(shí)施方式中,每?jī)蓚€(gè)物鏡所成的像在相機(jī)光敏面30上互不重疊。在其他實(shí)施方式中,為保證像的圖像質(zhì)量,控制物鏡的放大率使每?jī)蓚€(gè)物鏡所成的像在相機(jī)光敏面30上相互重疊的面積不超過成像本身大小的20%。
在其中一個(gè)實(shí)施方式中,物鏡列陣10中的物鏡的參數(shù)相同,此時(shí),能夠降低制造難度。可以理解,在其他實(shí)施方式中,由于實(shí)際情況下,每個(gè)感興趣的樣品區(qū)域面積并不雷同,因此并不要求構(gòu)成物鏡列陣10的每一個(gè)物鏡參數(shù)相同,不要求每個(gè)物鏡對(duì)應(yīng)的樣品區(qū)域的面積和對(duì)應(yīng)像的面積相等。
請(qǐng)參考圖2,光學(xué)顯微成像設(shè)備的物鏡陣列與相機(jī)光敏面之間可以加入中繼光路40。用以增加樣品與相機(jī)之間的距離,或進(jìn)一步增加成像放大倍率。中繼光路40包括至少一個(gè)透鏡。具體的,圖2所示的實(shí)施例中,中激光路40包括兩個(gè)透鏡41和42。
上述光學(xué)顯微成像設(shè)備100,將多個(gè)物鏡緊密排列成一個(gè)物鏡陣列10,通過調(diào)節(jié)物鏡陣列10的物鏡在光軸方向上的安裝位置,物鏡陣列10能將分布在不同三維空間位置的多個(gè)樣品區(qū)域成像到同一個(gè)相機(jī)光敏面30上,從而實(shí)現(xiàn)多個(gè)樣品區(qū)域的同時(shí)觀察。該光學(xué)顯微成像設(shè)備100能在成像空間跨度大的多個(gè)樣品區(qū)域的同時(shí)獲取高空間分辨率的樣品結(jié)構(gòu)信息。能應(yīng)用在顯微成像相關(guān)的領(lǐng)域。
此外,還提供一種成像方法,該成像方法采用上述光學(xué)顯微成像設(shè)備100成像,包括如下步驟:
s10、將物鏡陣列的采集端置于位于不同三維空間位置的多個(gè)樣品區(qū)域的上方。
可以理解,根據(jù)樣品區(qū)域的分布特點(diǎn),物鏡列陣10的排列方式可以為線陣并排排列、矩陣排列或同心圓排列等多類型的排列方式。此外,為保證相機(jī)光敏面30的利用率,相鄰物鏡的間距最好不超過單個(gè)物鏡的直徑。
在其中一個(gè)實(shí)施方式中,每?jī)蓚€(gè)物鏡所成的像在相機(jī)光敏面30上互不重疊。在其他實(shí)施方式中,為保證像的圖像質(zhì)量,控制物鏡的放大率使每?jī)蓚€(gè)物鏡所成的像在相機(jī)光敏面30上相互重疊的面積不超過成像本身大小的20%。
在其中一個(gè)實(shí)施方式中,物鏡列陣中的物鏡的參數(shù)相同,此時(shí),能夠降低制造難度??梢岳斫猓谄渌麑?shí)施方式中,由于實(shí)際情況下,每個(gè)感興趣的樣品區(qū)域面積并不雷同,因此并不要求構(gòu)成物鏡列陣的每一個(gè)物鏡參數(shù)相同,不要求每個(gè)物鏡對(duì)應(yīng)的樣品區(qū)域的面積和對(duì)應(yīng)像的面積相等。
s20、分別調(diào)節(jié)多個(gè)物鏡在光軸方向上的安裝位置,使多個(gè)物鏡采集的多個(gè)樣品區(qū)域在相機(jī)光敏面上的成像。
物鏡陣列與相機(jī)光敏面之間可以加入中繼光路。用以增加樣品與相機(jī)之間的距離,或進(jìn)一步增加成像放大倍率。中繼光路包括至少一個(gè)透鏡。
上述成像方法,通過調(diào)節(jié)物鏡陣列10的物鏡在光軸方向上的安裝位置,物鏡陣列10能將分布在不同三維空間位置的多個(gè)樣品區(qū)域成像到同一個(gè)相機(jī)光敏面30上,從而實(shí)現(xiàn)多個(gè)樣品區(qū)域的同時(shí)觀察。該方法能在成像空間跨度大的多個(gè)樣品區(qū)域的同時(shí)獲取高空間分辨率的樣品結(jié)構(gòu)信息。能應(yīng)用在顯微成像相關(guān)的領(lǐng)域。
下面為一個(gè)具體實(shí)施例。
請(qǐng)參考圖1,為本實(shí)施例提供的一種物鏡陣列,該物鏡陣列由并排的四個(gè)物鏡構(gòu)成,分別是物鏡11、物鏡12、物鏡13、物鏡14。
為保證相機(jī)光敏面的利用率,要求相鄰物鏡的間距最好不超過單個(gè)物鏡的直徑,如圖1中物鏡11的直徑為d,物鏡11與物鏡12的間距為d,最好需要滿足d>d。
樣品區(qū)域21、22、23、24分別為物鏡11、12、13、14在樣品焦平面上對(duì)應(yīng)的樣品區(qū)域。物鏡陣列將多個(gè)樣品區(qū)域放大成像于相機(jī)光敏面上,從而同時(shí)獲取多個(gè)樣品區(qū)域的結(jié)構(gòu)信息。像31、32、33、34分別是樣品區(qū)域21、22、23、24在相機(jī)光敏面上的像。
物鏡排列方法除了線陣并排排列,還包括矩陣排列、同心圓排列等多種類型排列方式。圖3提供的實(shí)施例為一種3乘3矩陣排列的物鏡陣列。
圖3中的3乘3矩陣排列的物鏡陣列由物鏡11、12、13、14、15、16、17、18、19構(gòu)成。它們每3個(gè)一排,每3個(gè)一列,構(gòu)成了一個(gè)3乘3矩陣排列的物鏡陣列。
圖4為圖3的3乘3矩陣排列物鏡陣列對(duì)應(yīng)的在樣品焦平面上的多個(gè)樣品區(qū)域。圖中樣品區(qū)域21、22、23、24、25、26、27、28、29分別為圖3中物鏡11、12、13、14、15、16、17、18、19在樣品焦平面上對(duì)應(yīng)的樣品區(qū)域,它們?cè)跇悠方蛊矫嬉渤?乘3矩陣排列。
圖5為圖3的3乘3矩陣排列物鏡陣列對(duì)應(yīng)的在相機(jī)光敏面上的多個(gè)樣品區(qū)域的像。像31、32、33、34、35、36、37、38、39分別是樣品區(qū)域21、22、23、24、25、26、27、28、29經(jīng)過物鏡陣列后成像在相機(jī)光敏面上的像,它們?cè)谙鄼C(jī)光敏面也呈3乘3矩陣排列。
圖1所示的光學(xué)顯微成像設(shè)備中,樣品區(qū)域21、22、23、24除了水平方向上的位置不同外,也可以位于不同的軸向位置,這時(shí)各個(gè)物鏡在光軸方向上的安裝位置需要根據(jù)其對(duì)應(yīng)的樣品區(qū)域的軸向位置進(jìn)行調(diào)整,使像31、32、33、34位于同一個(gè)平面上。
圖2所示的光學(xué)顯微成像設(shè)備中具有中繼光路40。與圖1相似,物鏡11、12、13、14組成物鏡陣列分別將樣品區(qū)域21、22、23、24成像為像31、32、33、34。透鏡41與透鏡42構(gòu)成了一組中繼光路,物鏡陣列的像平面位于透鏡41的焦平面上,相機(jī)光敏面位于透鏡42的焦平面上。像31、32、33、34經(jīng)過透鏡41與透鏡42進(jìn)行二次成像,二次像位于相機(jī)光敏面上,分別為像51、52、53、54。
為保證像的圖像質(zhì)量,控制物鏡的放大率使每?jī)蓚€(gè)樣品區(qū)域的像在相機(jī)光敏面上盡量不相互重疊。如果無法避免相互重疊,其相互重疊的面積最好不超過成像本身大小的20%。
圖2所示的光學(xué)顯微成像設(shè)備中,樣品區(qū)域21、22、23、24除了水平方向上的位置不同外,也可以位于不同的軸向位置,這時(shí)各個(gè)物鏡在光軸方向上的安裝位置需要根據(jù)其對(duì)應(yīng)的樣品區(qū)域的軸向位置進(jìn)行調(diào)整,使像31、32、33、34仍然位于同一個(gè)平面上,進(jìn)而二次像51、52、53、54也位于同一個(gè)相機(jī)光敏面上。
以上所述實(shí)施例僅表達(dá)了本發(fā)明的幾種實(shí)施方式,其描述較為具體和詳細(xì),但并不能因此而理解為對(duì)本發(fā)明專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是,對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下,還可以做出若干變形和改進(jìn),這些都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。因此,本發(fā)明專利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。