液晶模組老化測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了液晶模組老化測試系統(tǒng)，它的降壓型開關(guān)電源分別連接液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊、液晶模組屏幕主供電電源模塊和液晶模組背光主供電電源模塊，第一撥碼開關(guān)連接液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊；第二撥碼開關(guān)連接液晶模組屏幕主供電電源模塊；第三撥碼開關(guān)連接液晶模組背光主供電電源模塊；液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊分別連接第一牛角座的第一信號輸入接口和第二牛角座的第一信號輸入接口；液晶模組屏幕主供電電源模塊分別連接第一牛角座的第二信號輸入接口和第二牛角座的第二信號輸入接口；液晶模組背光主供電電源模塊分別連接第一連接座和第二連接座的信號輸入端。本實(shí)用新型保證了老化測試效率與測試質(zhì)量。
【專利說明】液晶模組老化測試系統(tǒng)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及液晶模組的測試【技術(shù)領(lǐng)域】，具體地指一種液晶模組老化測試系統(tǒng)。

【背景技術(shù)】
[0002]近年來由于消費(fèi)者的消費(fèi)意識提高，對于產(chǎn)品的品質(zhì)要求也愈益嚴(yán)苛，使得液晶顯示器面板的制造業(yè)者不僅要在產(chǎn)品設(shè)計(jì)上下工夫，更要在制造工藝上有所提升才能在如此競爭的市場上一爭長短。對液晶顯示器面板的制造者而言，產(chǎn)品的壽命周期一直是業(yè)者所關(guān)注的對象，老化測試(burn-1n)提供給制造者一種制造工藝認(rèn)證及提升產(chǎn)品可靠度的途徑之一。經(jīng)過老化測試過后的產(chǎn)品，不只可以確保產(chǎn)品的可靠度與壽命周期，更可使出廠的產(chǎn)品不會輕易故障。
[0003]由于液晶顯示器面板很容易在用過一段不確定的時(shí)間后就會發(fā)生故障，因此老化檢測為了解決這種缺陷而發(fā)展出來的一種檢測方法。這種方法可以使可能有缺陷的產(chǎn)品在老化測試的過程中加速老化，并在測試過程中早早就被淘汰。
[0004]目前液晶模組老化大多數(shù)采用大型的并且結(jié)構(gòu)復(fù)雜的液晶模組檢測系統(tǒng)進(jìn)行老化測試，該系統(tǒng)如圖1所示，包括AC-DC(交流轉(zhuǎn)直流)電源模塊、連接座、牛角座、FPGA (Field 一 Programmable Gate Array,現(xiàn)場可編程門陣列)、ARM 處理器、三個(gè) DC-DC 模塊(電源開關(guān)模塊)和三個(gè)MCU (Micro Control Unit,微控制單元)，這種結(jié)構(gòu)存在以下缺陷:
[0005](I)上述的液晶模組老化測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜(其內(nèi)部包含MCU、ARM、FPGA等芯片，涉及芯片較多，程序復(fù)雜，導(dǎo)致了現(xiàn)有裝置成本較高)，采用多個(gè)芯片組以及大型的軟件系統(tǒng)作為支持，此外其裝置體積較大，功耗高，設(shè)備壽命短，導(dǎo)致液晶模組老化檢測設(shè)備成本較高。
[0006](2)現(xiàn)有的液晶模組老化測試系統(tǒng)由于其內(nèi)部芯片較多，需加載多個(gè)芯片程序才能使用，且需要使用電腦搭配上層軟件使用，操作步驟過于繁瑣，導(dǎo)致用戶體檢不佳。
[0007](3)現(xiàn)有裝置由于內(nèi)部有FPGA等核心信號處理芯片，故其使用環(huán)境受限制，無法在75度或更高的環(huán)境下使用。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0008]本實(shí)用新型的目的就是要提供一種液晶模組老化測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)能夠解決液晶模組原有的測試背景下，設(shè)備復(fù)雜，成本高，穩(wěn)定性差，使用時(shí)對老化環(huán)境要求高，以及對操作步驟復(fù)雜等問題。
[0009]為實(shí)現(xiàn)此目的，本實(shí)用新型所設(shè)計(jì)的液晶模組老化測試系統(tǒng)，其特征在于:它包括降壓型開關(guān)電源、液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊、液晶模組屏幕主供電電源模塊、液晶模組背光主供電電源模塊、第一撥碼開關(guān)、第二撥碼開關(guān)、第三撥碼開關(guān)、第一牛角座、第二牛角座、第一連接座和第二連接座，其中，所述降壓型開關(guān)電源的供電信號輸出端分別連接液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊、液晶模組屏幕主供電電源模塊和液晶模組背光主供電電源模塊的信號輸入端，所述第一撥碼開關(guān)的控制信號輸出端連接液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊的控制信號輸入端；
[0010]所述第二撥碼開關(guān)的控制信號輸出端連接液晶模組屏幕主供電電源模塊的控制信號輸入端；
[0011]所述第三撥碼開關(guān)的控制信號輸出端連接液晶模組背光主供電電源模塊的控制信號輸入端；
[0012]所述液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊的信號輸出端分別連接第一牛角座的第一信號輸入接口和第二牛角座的第一信號輸入接口；
[0013]所述液晶模組屏幕主供電電源模塊的信號輸出端分別連接第一牛角座的第二信號輸入接口和第二牛角座的第二信號輸入接口；
[0014]所述液晶模組背光主供電電源模塊的信號輸出端分別連接第一連接座和第二連接座的信號輸入端。
[0015]本實(shí)用新型的有益效果:
[0016]1、本實(shí)用新型中有兩個(gè)牛角和兩個(gè)連接座可以接兩個(gè)液晶模組同時(shí)做老化實(shí)驗(yàn)，提升了批量液晶模組老化測試的效率:解決了目前批量液晶模組測試方法中，搭建測試環(huán)境需耗費(fèi)較多時(shí)間與人力，測試環(huán)境穩(wěn)定性差，使用步驟繁瑣等問題。
[0017]2、本實(shí)用新型的裝置取消了原有的MCU、ARM、FPGA等芯片，使得結(jié)構(gòu)明顯簡化，顯著降低了老化試驗(yàn)成本，同時(shí)保證了測試效率與測試質(zhì)量。
[0018]3、本實(shí)用新型通過在第一牛角座、第二牛角座、第一連接座和第二連接座輸出端設(shè)置轉(zhuǎn)接線的方式，使得本實(shí)用新型能對非標(biāo)準(zhǔn)定義接口的液晶模組進(jìn)行老化測試，實(shí)現(xiàn)更多各類的液晶模組老化測試。
[0019]4、由于本實(shí)用新型中取消了原有的MCU、ARM、FPGA等芯片，使得本實(shí)用新型的使用環(huán)境限制大幅降低，可以在75度或更高的環(huán)境下進(jìn)行相關(guān)老化試驗(yàn)。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0020]圖1為現(xiàn)有液晶模組檢測系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖；
[0021]圖2為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)框圖；
[0022]其中，I一降壓型開關(guān)電源、2—液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊、3—液晶模組屏幕主供電電源模塊、4 一液晶模組背光主供電電源模塊、5—第一撥碼開關(guān)、6—第二撥碼開關(guān)、7—第二撥碼開關(guān)、8—第一牛角座、9一第二牛角座、10—第一連接座、11一第二連接座、12—轉(zhuǎn)接線。

【具體實(shí)施方式】
[0023]以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對本實(shí)用新型作進(jìn)一步的詳細(xì)說明:
[0024]如圖1所示液晶模組老化測試系統(tǒng)，它包括降壓型開關(guān)電源1、液晶模組通用輸入輸出(GP1, General Purpose Input Output,通用輸入/輸出)端口電源模塊2、液晶模組屏幕主供電電源模塊3、液晶模組背光主供電電源模塊4、第一撥碼開關(guān)5、第二撥碼開關(guān)6、第三撥碼開關(guān)7、第一牛角座8、第二牛角座9、第一連接座10和第二連接座11，其中，所述降壓型開關(guān)電源I的供電信號輸出端分別連接液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊2、液晶模組屏幕主供電電源模塊3和液晶模組背光主供電電源模塊4的信號輸入端，所述第一撥碼開關(guān)5的控制信號輸出端連接液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊2的控制信號輸入端;
[0025]所述第二撥碼開關(guān)6的控制信號輸出端連接液晶模組屏幕主供電電源模塊3的控制信號輸入端；
[0026]所述第三撥碼開關(guān)7的控制信號輸出端連接液晶模組背光主供電電源模塊4的控制信號輸入端；
[0027]所述液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊2的信號輸出端分別連接第一牛角座8的第一信號輸入接口和第二牛角座9的第一信號輸入接口 ；
[0028]所述液晶模組屏幕主供電電源模塊3的信號輸出端分別連接第一牛角座8的第二信號輸入接口和第二牛角座9的第二信號輸入接口 ；
[0029]所述液晶模組背光主供電電源模塊4的信號輸出端分別連接第一連接座10和第二連接座11的信號輸入端。
[0030]上述技術(shù)方案中，所述第一牛角座8和第二牛角座9均為50Pin牛角座(即有50個(gè)管腳)，所述第一連接座10和第二連接座11均為16pin連接座(即有16個(gè)管腳)。
[0031]上述技術(shù)方案中，所述液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊2的信號輸出端輸出的電壓為3.3V或5V,所述液晶模組屏幕主供電電源模塊3的信號輸出端輸出的電壓為5V或12V,所述液晶模組背光主供電電源模塊4的信號輸出端輸出的電壓為12V或24V。
[0032]上述技術(shù)方案中，所述降壓型開關(guān)電源I的供電信號輸出端輸出的電壓為24V。
[0033]上述技術(shù)方案中，所述第一牛角座8、第二牛角座9、第一連接座10和第二連接座11的輸出端均連接有對應(yīng)的轉(zhuǎn)接線12。若待測模組線材接口與裝置接口類型不匹配或者定義不匹配則需使用轉(zhuǎn)接線12轉(zhuǎn)接。
[0034]本實(shí)用新型工作時(shí):
[0035]所述第一牛角座8的信號輸出端連接第一臺被測液晶模組的主電源接口，第一連接座10的信號輸出端連接第一臺被測液晶模組的背光電源；第二牛角座9的信號輸出端連接第二臺被測液晶模組的主電源接口，第二連接座11的信號輸出端連接第二臺被測液晶模組的背光電源，具體來說牛角座的輸出端連接測液晶模組的WNJ2.54-50P-B接口，連接座的輸出端連接測液晶模組的WD4.2X5.5-12P接口。
[0036]降壓型開關(guān)電源I將外部220V交流電源轉(zhuǎn)換為24V直流電源，降壓型開關(guān)電源I分別將24V直流電源供應(yīng)給液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊2、液晶模組屏幕主供電電源模塊3和液晶模組背光主供電電源模塊4，基于所需要測試的液晶模組的型號，通過第一撥碼開關(guān)5控制液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊2輸出3.3V或者5V的電壓；同時(shí)，通過第二撥碼開關(guān)6控制液晶模組屏幕主供電電源模塊3輸出5V或12V的電壓；同時(shí)，通過第三撥碼開關(guān)7控制液晶模組背光主供電電源模塊4輸出12V或者24V的電壓；
[0037]通電老化測試開始，液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊2通過第一牛角座8和第二牛角座9分別向第一臺被測液晶模組的主電源接口和第二臺被測液晶模組的主電源接口提供液晶模組通用輸入輸出端口的參考電壓；
[0038]液晶模組屏幕主供電電源模塊3通過第一牛角座8和第二牛角座9分別向第一臺被測液晶模組的主電源接口和第二臺被測液晶模組的主電源接口提供液晶模組屏幕主供電信號(提供使能電壓)；
[0039]液晶模組背光主供電電源模塊4通過第一連接座10和第二連接座11分別向第一臺被測液晶模組的主電源接口和第二臺被測液晶模組的背光電源接口提供液晶模組背光供電信號；
[0040]這樣使兩臺被測液晶模組可以穩(wěn)定的運(yùn)行其自帶的BIST (內(nèi)建自測信號，Built-1n Self Test)畫面,進(jìn)行老化測試。
[0041]通過一定的測試時(shí)間后，觀察測試的現(xiàn)象，記錄下測試的結(jié)果，完成液晶模組測試。
[0042]上述技術(shù)方案中，液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊2通過第一撥碼開關(guān)5切換輸出連接點(diǎn)來實(shí)現(xiàn)輸出電壓選擇；液晶模組屏幕主供電電源模塊3通過第二撥碼開關(guān)6切換反饋分壓電阻來實(shí)現(xiàn)輸出電壓選擇。液晶模組背光主供電電源模塊4通過第三撥碼開關(guān)7切換輸出電路(直連輸出或降壓輸出)。
[0043]本說明書未作詳細(xì)描述的內(nèi)容屬于本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員公知的現(xiàn)有技術(shù)。
【權(quán)利要求】
1.一種液晶模組老化測試系統(tǒng)，其特征在于:它包括降壓型開關(guān)電源(I)、液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊(2)、液晶模組屏幕主供電電源模塊(3)、液晶模組背光主供電電源模塊(4)、第一撥碼開關(guān)(5)、第二撥碼開關(guān)(6)、第三撥碼開關(guān)(7)、第一牛角座(8)、第二牛角座(9)、第一連接座(10)和第二連接座(11)，其中，所述降壓型開關(guān)電源(I)的供電信號輸出端分別連接液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊(2)、液晶模組屏幕主供電電源模塊⑶和液晶模組背光主供電電源模塊⑷的信號輸入端，所述第一撥碼開關(guān)(5)的控制信號輸出端連接液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊(2)的控制信號輸入端； 所述第二撥碼開關(guān)(6)的控制信號輸出端連接液晶模組屏幕主供電電源模塊(3)的控制信號輸入端； 所述第三撥碼開關(guān)(7)的控制信號輸出端連接液晶模組背光主供電電源模塊(4)的控制信號輸入端； 所述液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊(2)的信號輸出端分別連接第一牛角座(8)的第一信號輸入接口和第二牛角座(9)的第一信號輸入接口 ； 所述液晶模組屏幕主供電電源模塊(3)的信號輸出端分別連接第一牛角座(8)的第二信號輸入接口和第二牛角座(9)的第二信號輸入接口 ； 所述液晶模組背光主供電電源模塊(4)的信號輸出端分別連接第一連接座(10)和第二連接座(11)的信號輸入端。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶模組老化測試系統(tǒng)，其特征在于:所述第一牛角座(8)和第二牛角座(9)均為50Pin牛角座，所述第一連接座(10)和第二連接座(11)均為16pin連接座。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶模組老化測試系統(tǒng)，其特征在于:所述液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊(2)的信號輸出端輸出的電壓為3.3V或5V，所述液晶模組屏幕主供電電源模塊(3)的信號輸出端輸出的電壓為5V或12V,所述液晶模組背光主供電電源模塊(4)的信號輸出端輸出的電壓為12V或24V。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或3所述的液晶模組老化測試系統(tǒng)，其特征在于:所述降壓型開關(guān)電源(I)的供電信號輸出端輸出的電壓為24V。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述的液晶模組老化測試系統(tǒng)，其特征在于:所述第一牛角座(8)、第二牛角座(9)、第一連接座(10)和第二連接座(11)的輸出端均連接有對應(yīng)的轉(zhuǎn)接線(12)。
【文檔編號】G02F1/13GK204086738SQ201420566052
【公開日】2015年1月7日 申請日期:2014年9月28日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月28日
【發(fā)明者】彭騫, 袁帥, 徐夢銀, 肖家波, 胡磊, 陳凱, 沈亞非 申請人:武漢精測電子技術(shù)股份有限公司