專利名稱：一種可改善Moiré條紋的像素結(jié)構(gòu)及像素檢測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及液晶面板，尤其涉及液晶面板中的可改善Moir6條紋的像素結(jié)構(gòu)及像素檢測(cè)方法。
背景技術(shù)：
當(dāng)前，液晶面板的背光模組中的棱鏡片為規(guī)則性排列，并且該液晶面板的玻璃基板上的像素也呈現(xiàn)規(guī)則性排列(即像素陣列)，當(dāng)規(guī)則排列的棱鏡片與像素相重疊后，會(huì)在人眼的視覺上產(chǎn)生Moir6條紋(或稱為摩爾干涉條紋)。該Moir6條紋在不同因素的影響下，其條紋形狀也不盡相同，這些因素大致包括棱鏡片的間距、像素的大小、液晶面板的穿透程度以及不同的視角等。在一些情形下，兩種不同周期的結(jié)構(gòu)重疊時(shí)，圖案或亮度在空間上就產(chǎn)生了不均勻的分布。例如，像素的遮黑區(qū)與棱鏡片的結(jié)合就會(huì)形成上述的Moir6條紋。為了改善或消除液晶面板中的Moir6條紋，現(xiàn)有技術(shù)中的一種解決方式是在于， 針對(duì)單位子像素(如Red子像素、Green子像素或Blue子像素)，在平行于棱鏡片的方向上， 使得任意一行的所有遮黑區(qū)段的長度總和相等。例如，某一行所對(duì)應(yīng)的遮黑區(qū)段有兩個(gè)，分別為LI和L2 ;而另一行所對(duì)應(yīng)的遮黑區(qū)段有四個(gè)，分別為L3、L4、L5和L6，則保證LI與L2 之和等于L3、L4、L5和L6之和，即可有效改善上述Moir6效應(yīng)。然而，采用上述現(xiàn)有的舉措，并不能從根本上解決Moir6條紋的相關(guān)問題。有鑒于此，如何設(shè)計(jì)一種可改善Moir6條紋的像素結(jié)構(gòu)及像素檢測(cè)方法，藉由新穎的像素結(jié)構(gòu)和像素檢測(cè)方法來徹底消除Moir6條紋，提升面板的性能和用戶的視覺體驗(yàn)，是相關(guān)技術(shù)人員亟待解決的一項(xiàng)課題。

發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中的液晶面板在解決Moir6條紋時(shí)所存在的上述缺陷，本發(fā)明提供了一種新穎的、可改善Moir6條紋的像素結(jié)構(gòu)及像素檢測(cè)方法。依據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種可改善Moir6條紋的像素結(jié)構(gòu)，包括多條掃描線，被設(shè)置為沿水平方向延伸；多條數(shù)據(jù)線，被設(shè)置為沿豎直方向延伸，并且與所述多條掃描線相正交；以及一第一遮黑區(qū)域和一第二遮黑區(qū)域，所述第一遮黑區(qū)域與所述第二遮黑區(qū)域相對(duì)設(shè)置，并且分別位于所述數(shù)據(jù)線的兩側(cè)；其中，所述第一遮黑區(qū)域與所述第二遮黑區(qū)域在水平方向上交錯(cuò)排列。在一實(shí)施例中，所述第一遮黑區(qū)域和所述第二遮黑區(qū)域均為黑矩陣。在一實(shí)施例中，該像素結(jié)構(gòu)還包括一像素電極，設(shè)置于所述第一遮黑區(qū)域和第二遮黑區(qū)域之間。此外，該像素電極為一透明電極，并且所述透明電極采用ITO或ITZ材料制成。此外，所述像素電極呈“Z”型結(jié)構(gòu)。在另一實(shí)施例中，該像素結(jié)構(gòu)適用于一 3D液晶面板。
依據(jù)本發(fā)明的又一個(gè)方面，提供了一種可改善Moir6條紋的像素檢測(cè)方法，包括以下步驟a)檢測(cè)藉由像素結(jié)構(gòu)中的棱鏡所看到的多個(gè)遮黑區(qū)；b)計(jì)算所述多個(gè)遮黑區(qū)中的位置種類數(shù)目P以及所述多個(gè)遮黑區(qū)中位置種類之間的差異數(shù)目N;c)根據(jù)上述位置種類數(shù)目P和差異數(shù)目N，調(diào)整所述像素結(jié)構(gòu)的遮黑區(qū)位置；d)重復(fù)上述步驟a) c),直至Moir6條紋達(dá)到液晶面板的預(yù)設(shè)規(guī)格。在一實(shí)施例中，于上述步驟a之前，該像素檢測(cè)方法還包括將分別位于數(shù)據(jù)線兩側(cè)的一遮黑區(qū)域和另一遮黑區(qū)域在水平方向上交錯(cuò)排列。在一實(shí)施例中，位置種類數(shù)目P和差異數(shù)目N越小，Moire條紋越輕微。較佳地， 該位置種類數(shù)目P小于或等于5。采用本發(fā)明的可改善Moir6條紋的像素結(jié)構(gòu)及像素檢測(cè)方法，將像素的第一遮黑區(qū)域和第二遮黑區(qū)域分別設(shè)置于數(shù)據(jù)線的兩側(cè)且在水平方向上交錯(cuò)排列，藉由該交錯(cuò)排列的兩個(gè)遮黑區(qū)域來徹底消除Moir6條紋，提升面板的性能和用戶的視覺體驗(yàn)。


讀者在參照附圖閱讀了本發(fā)明的具體實(shí)施方式
以后，將會(huì)更清楚地了解本發(fā)明的各個(gè)方面。其中，圖I示出依據(jù)本發(fā)明的一具體實(shí)施方式
，在液晶面板中可改善Moir6條紋的像素結(jié)構(gòu)示意圖；以及圖2示出依據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施方式，在液晶面板中可改善Moir6條紋的像素檢測(cè)方法的流程圖。
具體實(shí)施例方式為了使本申請(qǐng)所揭示的技術(shù)內(nèi)容更加詳盡與完備，可參照附圖以及本發(fā)明的下述各種具體實(shí)施例，附圖中相同的標(biāo)記代表相同或相似的組件。然而，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，下文中所提供的實(shí)施例并非用來限制本發(fā)明所涵蓋的范圍。此外，附圖僅僅用于示意性地加以說明，并未依照其原尺寸進(jìn)行繪制。如前所述，在現(xiàn)有的液晶面板中，針對(duì)單位子像素，在平行于棱鏡片的方向上，使得任意一行的所有遮黑區(qū)段的長度總和相等，以改善Moir6效應(yīng)。然而，該舉措并不能從根本上消除Moir6條紋。下面參照附圖，對(duì)本發(fā)明各個(gè)方面的具體實(shí)施方式
作進(jìn)一步的詳細(xì)描述。圖I示出依據(jù)本發(fā)明的一具體實(shí)施方式
，在液晶面板中可改善Moir6條紋的像素結(jié)構(gòu)示意圖。參照?qǐng)D1，該像素結(jié)構(gòu)包括多條掃描線、多條數(shù)據(jù)線和兩個(gè)遮黑區(qū)域，其中，這些掃描線被設(shè)置為沿水平方向延伸，這些數(shù)據(jù)線被設(shè)置為沿豎直方向延伸，并且與多條掃描線相正交。需要特別指出的，兩個(gè)遮黑區(qū)域(即第一遮黑區(qū)域和第二遮黑區(qū)域)相對(duì)設(shè)置，分別位于豎直方向的數(shù)據(jù)線的兩側(cè)，并且第一遮黑區(qū)域和第二遮黑區(qū)域在水平方向上交錯(cuò)排列。例如，該第一和第二遮黑區(qū)域均為黑矩陣(Black Matrix) 0在一具體實(shí)施例中，該像素結(jié)構(gòu)還包括一像素電極，設(shè)置于第一遮黑區(qū)域和第二遮黑區(qū)域之間。此外，該像素電極為一透明電極，并且該透明電極采用ITO或ITZ材料制成。 較佳地，該像素電極呈“Z”型結(jié)構(gòu)，以便使第一遮黑區(qū)域和第二遮黑區(qū)域在水平方向上更方便地交錯(cuò)排列。在一具體實(shí)施例中，該像素結(jié)構(gòu)適用于一 3D液晶面板，藉由該3D液晶面板可選擇 2D模式或3D模式，以對(duì)應(yīng)地顯示平面圖像或立體圖像。為了更好地設(shè)計(jì)像素結(jié)構(gòu)，以改善Moir6條紋，以下借助于一示意性實(shí)施例加以簡(jiǎn)要說明。例如，將透過棱鏡片所看到的遮黑區(qū)(等間距取10個(gè)點(diǎn))進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，如圖I所示，P為人眼透過棱鏡片所看到遮黑區(qū)的位置種類數(shù)，N為每個(gè)遮黑區(qū)的位置種類之間的差異數(shù)目。Y表示每個(gè)點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的多個(gè)遮黑區(qū)段的長度。然后，計(jì)算多個(gè)遮黑區(qū)中的位置種類數(shù)目P以及多個(gè)遮黑區(qū)中位置種類之間的差異數(shù)目N，并且根據(jù)位置種類數(shù)目P(例如，Pl 和P2對(duì)應(yīng)于位置種類為2的情形)和差異數(shù)目N(例如，NI和N2對(duì)應(yīng)于位置種類的差異數(shù)目為2的情形)，調(diào)整像素結(jié)構(gòu)的遮黑區(qū)位置，以徹底消除Moir6條紋。在一實(shí)施例中，可使分別位于數(shù)據(jù)線兩側(cè)的遮黑區(qū)域交錯(cuò)排列，以使得P和N的分布更均勻，也就是說，位置種類數(shù)目P和差異數(shù)目N越小，Moir6條紋越輕微。例如，遮黑區(qū)的位置種類數(shù)目P小于或等于5。圖2示出依據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施方式，在液晶面板中可改善Moir6條紋的像素檢測(cè)方法的流程圖。參照?qǐng)D2，在該像素檢測(cè)方法中，首先執(zhí)行步驟SI，檢測(cè)藉由像素結(jié)構(gòu)中的棱鏡所看到的多個(gè)遮黑區(qū)。然后，在步驟S2中，計(jì)算所述多個(gè)遮黑區(qū)中的位置種類數(shù)目P以及所述多個(gè)遮黑區(qū)中位置種類之間的差異數(shù)目N。接著，在步驟S3中，根據(jù)上述位置種類數(shù)目 P和差異數(shù)目N，調(diào)整所述像素結(jié)構(gòu)的遮黑區(qū)位置。最后，執(zhí)行步驟S4，重復(fù)上述步驟，直至 Moire條紋達(dá)到液晶面板的預(yù)設(shè)規(guī)格。在一實(shí)施例中，于上述步驟SI之前，該像素檢測(cè)方法還包括將分別位于數(shù)據(jù)線兩側(cè)的一遮黑區(qū)域和另一遮黑區(qū)域在水平方向上交錯(cuò)排列，以使得位置種類數(shù)目P和位置種類的差異數(shù)目N的分布更加均勻。采用本發(fā)明的可改善Moir6條紋的像素結(jié)構(gòu)及像素檢測(cè)方法，將像素的第一遮黑區(qū)域和第二遮黑區(qū)域分別設(shè)置于數(shù)據(jù)線的兩側(cè)且在水平方向上交錯(cuò)排列，藉由該交錯(cuò)排列的兩個(gè)遮黑區(qū)域來徹底消除Moir6條紋，提升面板的性能和用戶的視覺體驗(yàn)。上文中，參照附圖描述了本發(fā)明的具體實(shí)施方式
。但是，本領(lǐng)域中的普通技術(shù)人員能夠理解，在不偏離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，還可以對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施方式
作各種變更和替換。這些變更和替換都落在本發(fā)明權(quán)利要求書所限定的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種可改善Moir6條紋的像素結(jié)構(gòu)，其特征在于，該像素結(jié)構(gòu)包括多條掃描線，被設(shè)置為沿水平方向延伸；多條數(shù)據(jù)線，被設(shè)置為沿豎直方向延伸，并且與所述多條掃描線相正交；以及一第一遮黑區(qū)域和一第二遮黑區(qū)域，所述第一遮黑區(qū)域與所述第二遮黑區(qū)域相對(duì)設(shè)置，并且分別位于所述數(shù)據(jù)線的兩側(cè)；其中，所述第一遮黑區(qū)域與所述第二遮黑區(qū)域在水平方向上交錯(cuò)排列。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的像素結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述第一遮黑區(qū)域和所述第二遮黑區(qū)域均為黑矩陣。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的像素結(jié)構(gòu)，其特征在于，該像素結(jié)構(gòu)還包括一像素電極，設(shè)置于所述第一和第二遮黑區(qū)域之間。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的像素結(jié)構(gòu)，其特征在于，該像素電極為一透明電極，并且所述透明電極采用ITO或ITZ材料制成。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的像素結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述像素電極呈“Z”型結(jié)構(gòu)。
6.根據(jù)權(quán)利要求I所述的像素結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述像素結(jié)構(gòu)適用于一3D液晶面板。
7.一種可改善Moir6條紋的像素檢測(cè)方法，其特征在于，該像素檢測(cè)方法包括以下步驟a)檢測(cè)藉由像素結(jié)構(gòu)中的棱鏡所看到的多個(gè)遮黑區(qū)；b)計(jì)算所述多個(gè)遮黑區(qū)中的位置種類數(shù)目P以及所述多個(gè)遮黑區(qū)中位置種類之間的差異數(shù)目N ；c)根據(jù)上述位置種類數(shù)目P和差異數(shù)目N，調(diào)整所述像素結(jié)構(gòu)的遮黑區(qū)位置；d)重復(fù)上述步驟a) c)，直至Moir6條紋達(dá)到液晶面板的預(yù)設(shè)規(guī)格。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的像素檢測(cè)方法，其特征在于，在上述步驟a之前，該像素檢測(cè)方法還包括將分別位于數(shù)據(jù)線兩側(cè)的一遮黑區(qū)域和另一遮黑區(qū)域在水平方向上交錯(cuò)排列。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的像素檢測(cè)方法，其特征在于，所述位置種類數(shù)目P和差異數(shù)目 N越小，Moire條紋越輕微。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的像素檢測(cè)方法，其特征在于，所述位置種類數(shù)目P小于或等于5。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種可改善Moiré條紋的像素結(jié)構(gòu)及像素檢測(cè)方法。該像素檢測(cè)方法包括檢測(cè)藉由像素結(jié)構(gòu)中的棱鏡所看到的多個(gè)遮黑區(qū)；計(jì)算所述多個(gè)遮黑區(qū)中的位置種類數(shù)目P以及所述多個(gè)遮黑區(qū)中位置種類之間的差異數(shù)目N；根據(jù)上述位置種類數(shù)目P和差異數(shù)目N，調(diào)整所述像素結(jié)構(gòu)的遮黑區(qū)位置；重復(fù)上述步驟，直至Moiré條紋達(dá)到液晶面板的預(yù)設(shè)規(guī)格。采用本發(fā)明，將像素的第一遮黑區(qū)域和第二遮黑區(qū)域分別設(shè)置于數(shù)據(jù)線的兩側(cè)且在水平方向上交錯(cuò)排列，藉由該交錯(cuò)排列的兩個(gè)遮黑區(qū)域來徹底消除Moiré條紋，提升面板的性能和用戶的視覺體驗(yàn)。
文檔編號(hào)G02F1/1362GK102591082SQ201210062708
公開日2012年7月18日 申請(qǐng)日期2012年3月7日 優(yōu)先權(quán)日2012年3月7日
發(fā)明者何升儒, 吳信穎, 曹正翰, 陳宛婷 申請(qǐng)人:友達(dá)光電股份有限公司