專利名稱：多波段勘驗采集儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及ー種利用光學(xué)手段進(jìn)行檢測的裝置，特別是涉及ー種用于痕跡提取的光學(xué)裝置。
背景技術(shù)：
目前，在刑事案件現(xiàn)場勘査中，對痕跡提取較為優(yōu)選的方法為激發(fā)熒光提取法，常采用紫外燈、多波段光源或激光激發(fā)熒光，紫外燈及多波段光源須在暗室操作，激光法裝置結(jié)構(gòu)復(fù)雜，不便于現(xiàn)場操作。中國專利CN2348380公開了ー種指紋檢測儀，主要由手持燈和截止波濾光片雙目觀察鏡組成，其中手持燈由光源及寬帶干涉濾光片構(gòu)成，使用時利用手持燈激發(fā)指紋表面附著的熒光物質(zhì)發(fā)出熒光，再通過特定波長的截止波濾光片消除背景光，以實現(xiàn)檢測。但是，該裝置在現(xiàn)場明視場環(huán)境下采集熒光時，外部環(huán)境的會對熒光痕跡產(chǎn)生干擾，甚至出現(xiàn)熒光湮沒，即便使用了截止波濾光片，所采集到的痕跡的質(zhì)量也不高。

實用新型內(nèi)容本實用新型要解決的技術(shù)問題是提供ー種結(jié)構(gòu)簡單、成本低、操作簡便的多波段勘驗采集儀，能夠在明視場的環(huán)境下高質(zhì)量的采集痕跡。本實用新型一種多波段勘驗采集儀，包括多波段光源和暗室倉組件，暗室倉組件包括暗室、濾色鏡和反光元件，暗室的上頂面設(shè)置有孔，濾色鏡固定安裝在暗室內(nèi)，暗室的右側(cè)開設(shè)有安裝孔，多波段光源固定安裝在暗室的右側(cè)外部，且多波段光源的出光鏡頭安裝在安裝孔內(nèi)，暗室的下底面開設(shè)有采集ロ，反光元件固定安裝在暗室內(nèi)，反光元件能夠改變多波段光源的發(fā)射光線的方向，使發(fā)射光線穿過采集ロ后均勻照射到目標(biāo)物上。本實用新型多波段勘驗采集儀，其中所述反光元件為燈罩形反光罩，反光罩的大ロ端固定安裝在固定安裝在暗室的下底面上，反光罩的小口端與濾色鏡相連接，采集ロ位于濾色鏡的正下方，反光罩的右側(cè)開設(shè)有鏡頭孔，多波段光源的出光鏡頭位于鏡頭孔內(nèi)。本實用新型多波段勘驗采集儀，其中所述反光元件包括圓臺形反光罩，反光罩的上下端面均敞ロ，反光罩的大端固定安裝在暗室的下底面上，反光罩的小端位于濾色鏡的正下方，反光罩的內(nèi)表面為粗糙面，反光罩的右側(cè)開設(shè)有鏡頭孔，多波段光源的出光鏡頭位于鏡頭孔內(nèi)。本實用新型多波段勘驗采集儀，其中所述反光元件還包括凸面反光鏡，反光罩的左側(cè)開設(shè)有反光孔，凸面反光鏡固定安裝在暗室的左側(cè)，凸面反光鏡的上端從左向右傾斜，凸面反光鏡正對反光孔。通過設(shè)置凸面反光鏡，使光線經(jīng)凸面反光鏡發(fā)散后，能夠使照射到痕跡表面的光線更加均勻。本實用新型多波段勘驗采集儀，其中所述反光元件為半反射半透射平面鏡，半反射半透射平面鏡的上端從左向右傾斜，半反射半透射平面鏡位于采集ロ的正上方。本實用新型多波段勘驗采集儀，其中所述暗室的底面固定安裝有暗室底蓋，采集ロ開設(shè)在暗室底蓋上。[0010]本實用新型多波段勘驗采集儀，其中所述暗室倉組件還包括固定筒，固定筒固定安裝在暗室的孔上，濾色鏡固定安裝在固定筒內(nèi)。本實用新型多波段勘驗采集儀，其中所述固定筒的上端固定安裝有數(shù)碼相機(jī)，數(shù)碼相機(jī)的鏡頭位于固定筒內(nèi)。本實用新型多波段勘驗采集儀，其中所述暗室倉組件還包括放大鏡，放大鏡固定安裝在固定筒內(nèi)。本實用新型多波段勘驗采集儀，其中所述多波段光源與暗室的連接方式為磁力連接、卡扣連接或螺栓連接。本實用新型多波段勘驗采集儀與現(xiàn)有技術(shù)不同之處在于本實用新型通過設(shè)置暗室，使該裝置在明視場環(huán)境下，能夠阻擋外部光線對多波段光源激發(fā)的痕跡熒光的干擾，實現(xiàn)高質(zhì)量的采集痕跡，解決在野外等明亮環(huán)境下熒光痕跡提取的難題。
以下結(jié)合附圖對本實用新型作進(jìn)ー步說明。

圖I為本實用新型多波段勘驗采集儀的主視剖視圖(實施例I)；圖2為本實用新型多波段勘驗采集儀的左視圖(實施例I)；圖3為本實用新型多波段勘驗采集儀的俯視圖(實施例I)；圖4為本實用新型多波段勘驗采集儀的分解圖(實施例I)；圖5為本實用新型多波段勘驗采集儀的暗室倉組件和數(shù)碼相機(jī)的立體圖；圖6為本實用新型多波段勘驗采集儀的多波段光源的立體圖；圖7為本實用新型多波段勘驗采集儀的主視剖視圖(實施例2)；圖8為本實用新型多波段勘驗采集儀的主視剖視圖(實施例3)。
具體實施方式
實施例I :如圖I、圖2、圖3、圖4所示，本實用新型多波段勘驗采集儀包括多波段光源I、暗室倉組件2和數(shù)碼相機(jī)16，其中暗室倉組件2包括暗室3、暗室底蓋14、固定筒15、濾色鏡
4、放大鏡17、反光元件和轉(zhuǎn)接筒19。本實施例中反光元件使用上下貫通的燈罩形反光罩9，反光罩9的內(nèi)表面為粗糙的反光面。暗室3呈長方體狀，暗室3的下底面敞ロ，暗室3的上頂面設(shè)置有孔5，孔5為螺紋孔，圓管狀固定筒15通過螺紋固定安裝在暗室3的孔5上，固定筒15的上端位于暗室3外部，固定筒15的下端位于暗室3內(nèi)部。濾色鏡4固定安裝在濾色鏡座21內(nèi)，濾色鏡4通過濾色鏡座21螺接在固定筒15的下端，放大鏡17固定安裝在放大鏡座20內(nèi)，放大鏡17通過放大鏡座20螺接在固定筒15內(nèi)，本實施例中放大鏡17位于濾色鏡4上方，實際使用中，放大鏡17也可以設(shè)置在濾色鏡4的下方。固定筒15的上端與轉(zhuǎn)接筒19的下端通過螺紋連接，數(shù)碼相機(jī)16通過轉(zhuǎn)接筒19固定在暗室3上，數(shù)碼相機(jī)16的相機(jī)鏡頭18位于固定筒15內(nèi)，且相機(jī)鏡頭18與固定筒15同軸。暗室底蓋14用螺釘固定安裝在暗室3上，使暗室3的下底面閉合，在暗室底蓋14上開設(shè)有采集ロ 8，反光罩9的大口端固定安裝在暗室底蓋14上，反光罩9的小口端與濾色鏡座21的下端相連接。在暗室3的右側(cè)開設(shè)有安裝孔6，在反光罩9的右側(cè)，與安裝孔6相対的位置開設(shè)有鏡頭孔10。結(jié)合圖5、圖6所示，在暗室3的右端面外側(cè)上設(shè)置有磁鐵22，在多波段光源I的左端面上也設(shè)置有磁鐵23，多波段光源I通過磁鐵23與暗室3的磁鐵22吸合，多波段光源I和暗室3接合面設(shè)置有定位孔和定位銷，多波段光源I的出光鏡頭7位于安裝孔6和鏡頭孔10內(nèi)，且出光鏡頭7與安裝孔6和鏡頭孔10均同軸。本實施例中多波段光源I與暗室3的連接方式為磁力連接，其連接方式還可是卡扣連接或螺栓連接。本實施例中的放大鏡17可以根據(jù)實際需要選擇不同的放大倍數(shù)，也可以不設(shè)置放大鏡17。若在提取痕跡中，不需要數(shù)碼照相，本裝置可以不安裝轉(zhuǎn)接筒19和數(shù)碼相機(jī)16，使用時，直接通過固定筒15觀察痕跡。本實施例中該裝置的工作原理是多波段光源I的出光鏡頭7射出的光線射入暗室3內(nèi)的反光罩9上，在反光罩9內(nèi)，入射的光線形成漫反射，光線穿過采集ロ 8后照射到底部的痕跡面上,痕跡面反射的熒光光線依次穿過采集ロ 8、反光罩9的小端的開ロ、濾色鏡4、放大鏡17后，進(jìn)入數(shù)碼相機(jī)16的相機(jī)鏡頭18或者人的視野，從而獲取痕跡數(shù)碼圖像，或不使用數(shù)碼相機(jī)，直接進(jìn)行觀察。實施例2:如圖7所示，本實用新型多波段勘驗采集儀包括多波段光源、暗室倉組件2和數(shù)碼相機(jī)16，其中暗室倉組件2包括暗室3、暗室底蓋14、固定筒15、濾色鏡4、放大鏡17、反光元件和轉(zhuǎn)接筒19。其中反光元件包括上下貫通的圓臺形反光罩9和凸面反光鏡12，反光罩9的內(nèi)表面為粗糖的反光面。暗室3呈長方體狀，由多塊面板通過螺釘固定，組合而成的中空腔體，暗室3的下底面敞ロ，暗室3的上頂面設(shè)置有螺紋圓孔5，圓管狀固定筒15通過螺紋固定安裝在暗室3的孔5上，固定筒15的上端位于暗室3外部，固定筒15的下端位于暗室3內(nèi)部。濾色鏡4固定安裝在濾色鏡座21內(nèi)，濾色鏡4通過濾色鏡座21螺接在固定筒15的上端，放大鏡17固定安裝在放大鏡座20內(nèi)，放大鏡17通過放大鏡座20螺接在固定筒15內(nèi)，放大鏡17位于濾色鏡4下方，實際使用中，放大鏡17也可以設(shè)置在濾色鏡4的上方。固定筒15的上端與轉(zhuǎn)接筒19的下端通過螺紋連接，數(shù)碼相機(jī)16通過緊固螺釘24和相機(jī)底孔螺釘25，固定連接在L形相機(jī)固定座26的豎面上，相機(jī)固定座26的橫面上開設(shè)有通孔27，相機(jī)固定座26的橫面的下表面上固定安裝有螺環(huán)28，其中相機(jī)固定座26橫面上的通孔27位于螺環(huán)28正上方，螺環(huán)28的上端焊接或用螺釘固定在相機(jī)固定座26上，螺環(huán)28的下端通過螺紋固定安裝在轉(zhuǎn)接筒19的上端，數(shù)碼相機(jī)16的相機(jī)鏡頭18穿過通孔27后，位于轉(zhuǎn)接筒19內(nèi)，且相機(jī)鏡頭18與轉(zhuǎn)接筒19同軸。暗室底蓋14用螺釘固定安裝在暗室3上，使暗室3的下底面閉合，在暗室底蓋14上開設(shè)有采集ロ 8，反光罩9的大端固定安裝在暗室底蓋14上，反光罩9的小端與固定筒15的下端相連接。在暗室3的右側(cè)開設(shè)有安裝孔6，在反光罩9的右側(cè)，與安裝孔6相対的暗室3的側(cè)面上開設(shè)有鏡頭孔10，反光罩9的左側(cè)開設(shè)有反光孔11，凸面反光鏡12用螺釘和固定架29固定安裝在暗室3的左側(cè)，凸面反光鏡12的上端從左向右傾斜，凸面反光鏡12正對著反光孔11。[0036]本實施例中多波段光源與暗室3的連接方式采用實施例I的磁力連接方式，連接方式還可是卡扣連接或螺栓連接，多波段光源的出光鏡頭位于安裝孔6和鏡頭孔10內(nèi)，且出光鏡頭與安裝孔6和鏡頭孔10均同軸。本實施例中該裝置的工作原理是多波段光源的出光鏡頭射出的光線射入反光罩9后，投射到凸面反光鏡12上，凸面反光鏡12向下有一定的傾角，對光線進(jìn)ー步發(fā)散后反射光經(jīng)采集ロ 8投射到需要采集的痕跡部位，同時暗室3內(nèi)設(shè)置的反光罩9讓暗室3內(nèi)的光進(jìn)ー步勻化。痕跡圖像激發(fā)的熒光光線依次穿過采集ロ 8、反光罩9的小端的開ロ、放大鏡17、濾色鏡4后，進(jìn)入數(shù)碼相機(jī)16的相機(jī)鏡頭18，從而獲取痕跡數(shù)碼圖像。本實施例也可以只使用凸面反光鏡12或反光罩9，多波段光源的出光鏡頭射出的光線經(jīng)凸面反光鏡12或反光罩9形成漫反射，均勻照射到需要采集的痕跡部位，激發(fā)熒光，從而達(dá)到獲取痕跡的目的。實施例3 如圖8所示，本實施例與實施例I的不同之處在于，本實施例的反光元件為半反射半透射平面鏡13，在暗室3內(nèi)由上至下設(shè)置有上端固定襯套30和下端固定襯套31，半反射半透射平面鏡13被夾持于上端固定襯套30和下端固定襯套31之間，半反射半透射平面鏡13與豎直面及水平面的夾角均為45度，上端固定襯套30的下端面、下端固定襯套31的上端面均與半反射半透射平面鏡13的表面平行，半反射半透射平面鏡13位于采集ロ 8的正上方，下端固定襯套31的右側(cè)開設(shè)有鏡頭孔10，上端固定襯套30通過暗室上端的臺階固定，下端固定襯套31通過螺接在暗室3下端的螺環(huán)32固定。本實施例中該裝置的工作原理是多波段光源的出光鏡頭射出的光線進(jìn)入暗室3的安裝孔6和下端固定襯套31的鏡頭孔10后，投射到半反射半透射平面鏡13上，其中部分光線經(jīng)過半反射半透射平面鏡13后，經(jīng)90°反射向下照射到底部的痕跡圖像上，痕跡反射的光線向上穿過半反射半透射平面鏡13繼續(xù)經(jīng)過放大鏡、濾色鏡后進(jìn)入數(shù)碼相機(jī)或視野，以獲取痕跡數(shù)碼圖像或目視觀察。以上所述的實施例僅僅是對本實用新型的優(yōu)選實施方式進(jìn)行描述，并非對本實用新型的范圍進(jìn)行限定，在不脫離本實用新型設(shè)計精神的前提下，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員對本實用新型的技術(shù)方案作出的各種變形和改進(jìn)，均應(yīng)落入本實用新型權(quán)利要求書確定的保護(hù)范圍內(nèi)。權(quán)利要求1.一種多波段勘驗采集儀，其特征在干包括多波段光源(I)和暗室倉組件(2)，所述暗室倉組件(2)包括暗室(3)、濾色鏡(4)和反光元件，所述暗室(3)的上頂面設(shè)置有孔(5)，所述濾色鏡(4)固定安裝在暗室(3)內(nèi)，所述暗室(3)的右側(cè)開設(shè)有安裝孔(6)，所述多波段光源(I)固定安裝在暗室(3)的右側(cè)外部，且多波段光源(I)的出光鏡頭(7)安裝在所述安裝孔(6)內(nèi)，所述暗室(3)的下底面開設(shè)有采集ロ(8)，所述反光元件固定安裝在暗室(3)內(nèi)，所述反光元件能夠改變多波段光源的發(fā)射光線的方向，使發(fā)射光線穿過所述采集ロ(8)后均勻照射到目標(biāo)物上。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的多波段勘驗采集儀，其特征在于所述反光元件為燈罩形反光罩(9)，所述反光罩(9)的大口端固定安裝在暗室(3)的下底面上，所述反光罩(9)的小ロ端與濾色鏡(4)相連接，所述采集ロ(8)位于濾色鏡(4)的正下方，所述反光罩(9)的右側(cè)開設(shè)有鏡頭孔(10)，所述多波段光源⑴的出光鏡頭(7)位于鏡頭孔(10)內(nèi)。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的多波段勘驗采集儀，其特征在于所述反光元件包括圓臺形反光罩(9)，所述反光罩(9)的上下端面均敞ロ，所述反光罩(9)的大端固定安裝在暗室(3)的下底面上，所述反光罩(9)的小端位于所述濾色鏡(4)的正下方，所述反光罩(9)的內(nèi)表面為粗糙面，所述反光罩(9)的右側(cè)開設(shè)有鏡頭孔(10)，所述多波段光源(I)的出光鏡頭(7)位于鏡頭孔(10)內(nèi)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的多波段勘驗采集儀，其特征在于所述反光元件還包括凸面反光鏡(12)，所述反光罩(9)的左側(cè)開設(shè)有反光孔(11)，所述凸面反光鏡(12)固定安裝在暗室(3)的左側(cè)，所述凸面反光鏡(12)的上端從左向右傾斜，所述凸面反光鏡(12)正對所述反光孔(11)。
5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的多波段勘驗采集儀，其特征在于所述反光元件為半反射半透射平面鏡(13)，所述半反射半透射平面鏡(13)的上端從左向右傾斜，與水平面45°夾角，所述半反射半透射平面鏡(13)位于采集ロ(8)的正上方。
6.根據(jù)權(quán)利要求I至5任一項所述的多波段勘驗采集儀，其特征在于所述暗室(3)的底面固定安裝有暗室底蓋(14)，所述采集ロ(8)開設(shè)在暗室底蓋(14)上。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的多波段勘驗采集儀，其特征在干所述暗室倉組件(2)還包括固定筒(15)，所述固定筒(15)固定安裝在暗室(3)的孔(5)上，所述濾色鏡⑷固定安裝在固定筒(15)內(nèi)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的多波段勘驗采集儀，其特征在干所述固定筒(15)的上端固定安裝有數(shù)碼相機(jī)(16)，所述數(shù)碼相機(jī)(16)的鏡頭(18)位于固定筒(15)內(nèi)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的多波段勘驗采集儀，其特征在于所述暗室倉組件(2)還包括放大鏡(17)，所述放大鏡(17)固定安裝在固定筒(15)內(nèi)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的多波段勘驗采集儀，其特征在干所述多波段光源(I)與所述暗室(3)的連接方式為磁力連接、卡扣連接或螺栓連接。
專利摘要本實用新型涉及一種用于痕跡提取的光學(xué)裝置。其目的是為了提供一種結(jié)構(gòu)簡單、成本低、操作簡便的多波段勘驗采集儀，能夠在明視場的環(huán)境下快速高質(zhì)量的采集痕跡。實用新型多波段勘驗采集儀，包括多波段光源和暗室倉組件，暗室倉組件包括暗室、濾色鏡和反光元件，濾色鏡固定安裝在暗室內(nèi)，暗室的右側(cè)開設(shè)有安裝孔，多波段光源固定安裝在暗室的右側(cè)外部，暗室的下底面開設(shè)有采集口，反光元件固定安裝在暗室內(nèi)，能夠改變多波段光源的發(fā)射光線方向，使發(fā)射光線穿過采集口后照射到目標(biāo)物上。本實用新型通過設(shè)置暗室，使該裝置在明視場環(huán)境下，能夠阻擋外部光線對多波段光源激發(fā)痕跡熒光產(chǎn)生的干擾，實現(xiàn)快速及高質(zhì)量的采集痕跡。
文檔編號G02B7/182GK202404026SQ20112054914
公開日2012年8月29日 申請日期2011年12月23日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月23日
發(fā)明者張建東, 朱雙全 申請人:張建東, 朱雙全