專利名稱：顯示裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及檢測(cè)顯示畫面上的位置信息的顯示裝置。
背景技術(shù)：
近年來，例如液晶顯示裝置等薄型的顯示裝置，在個(gè)人計(jì)算機(jī)、便攜式電話、PDA和游戲機(jī)等各種設(shè)備中廣泛使用。另外，還已知通過與顯示面板重疊地設(shè)置觸摸面板來檢測(cè)顯示畫面上的位置信息的顯示裝置。作為觸摸面板的方式，一般已知有例如電阻膜方式和光學(xué)方式等。電阻膜方式中，在粘貼于顯示面板的基板的表面和與該基板的表面隔著微小的間隔粘貼的薄膜的基板一側(cè)表面兩者，粘貼有透明導(dǎo)電膜。而且，在以手指或筆尖等按壓的位置上，上述各透明導(dǎo)電膜接觸而流通電流，由此檢測(cè)該位置。不過，在與顯示面板重疊地配置觸摸面板的結(jié)構(gòu)中，存在顯示質(zhì)量容易降低且顯示裝置整體難以薄型化的問題。因此，提出使顯示面板與觸摸面板形成為一體的方案(例如，參照專利文獻(xiàn)I和2等)。專利文獻(xiàn)I中公開了這樣的內(nèi)容，與構(gòu)成液晶顯示面板的TFT基板的柵極配線和源極配線重疊地配置第一觸摸電極，另一方面，與對(duì)置基板的黑矩陣重疊地配置第二觸摸電極，由此將上述第一觸摸電極和第二觸摸電極形成為格子狀。專利文獻(xiàn)2中公開了以下內(nèi)容將一組接觸電極在TFT基板上呈矩陣狀配置而形成多個(gè)，使一個(gè)接觸電極與在X方向上延伸的檢測(cè)線連接，另一方面，使另一個(gè)接觸電極與在Y方向上延伸的檢測(cè)線連接。這樣，當(dāng)形成于對(duì)置基板的共用電極在按壓位置(也稱觸摸位置)與上述一組接觸電極接觸時(shí)，經(jīng)由接觸電極和檢測(cè)線檢測(cè)該共用電極的電壓，由此來檢測(cè)按壓位置。另外，專利文獻(xiàn)3中公開了一種顯示裝置，在對(duì)置基板上形成多個(gè)突起狀的檢查用間隔物，另一方面，在TFT基板上形成多個(gè)以與上述檢查用間隔物相對(duì)的方式配置的探測(cè)部檢查線，并使各探測(cè)部檢查線的表面高度互不相同。在檢查用間隔物的表面形成有共用電極。這樣，通過使多個(gè)檢查用間隔物的一部分預(yù)先與探測(cè)部檢查線接觸，試圖使探測(cè)按壓位置的探測(cè)元件的動(dòng)作容易檢查?，F(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)I :日本特開2001-075074號(hào)公報(bào)專利文獻(xiàn)2 :日本特開2008-122913號(hào)公報(bào)專利文獻(xiàn)3 :日本特開2007-199718號(hào)公報(bào)

發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明要解決的問題不過，在上述專利文獻(xiàn)I的結(jié)構(gòu)中，存在不能同時(shí)檢測(cè)顯示畫面上的2點(diǎn)以上的多、點(diǎn)的位置的問題。此外，上述專利文獻(xiàn)2的結(jié)構(gòu)中，如圖20即接觸位置(按壓位置)的說明圖所示，在X-Y坐標(biāo)下，當(dāng)同時(shí)觸摸按壓點(diǎn)A(a，c)和B(b，d)這2點(diǎn)的情況下，可能會(huì)誤檢測(cè)成觸摸了點(diǎn)C(a，d)和點(diǎn)D(b，c)。另外，在觸摸了點(diǎn)A和點(diǎn)B的狀態(tài)下，即使觸摸點(diǎn)C和點(diǎn)D，也不能檢測(cè)出它們。這樣，即使是專利文獻(xiàn)2的結(jié)構(gòu)，也存在難以高精度地同時(shí)檢測(cè)2點(diǎn)以上的多個(gè)位置的問題。此外，專利文獻(xiàn)3的結(jié)構(gòu)中，關(guān)于用于檢測(cè)按壓位置的檢測(cè)電路，為了檢查有無斷線等缺陷，必須先將形成有上述檢測(cè)電路和探測(cè)部檢查線的第一基板和形成有檢查用間隔物的第二基板相互貼合。因而，當(dāng)檢查的結(jié)果是檢測(cè)電路存在缺陷時(shí)，必須廢棄已相互貼合的第一基板和第二基板的整體，存在部件的浪費(fèi)變 得嚴(yán)重的問題。本發(fā)明鑒于以上問題點(diǎn)而完成，其目的在于，關(guān)于顯示裝置，使其能夠高精度地檢測(cè)多個(gè)按壓位置，并減少檢查中的部件的浪費(fèi)而降低成本。解決問題的手段為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的對(duì)象為一種顯示裝置，包括第一基板；第二基板，其與上述第一基板相對(duì)配置，并且形成有對(duì)置電極；和多個(gè)像素，該多個(gè)像素形成于上述第一基板，并且分別形成有與上述對(duì)置電極相對(duì)的像素電極和與該像素電極連接的開關(guān)元件。另外，上述顯示裝置還包括檢測(cè)部，其分別配置于上述多個(gè)像素，用于檢測(cè)上述第一基板或第二基板被按壓的位置；多個(gè)掃描線和多個(gè)檢測(cè)線，該多個(gè)掃描線和多個(gè)檢測(cè)線形成于上述第一基板，與上述檢測(cè)部連接；掃描驅(qū)動(dòng)器，其形成于上述第一基板，并且與上述多個(gè)掃描線連接，對(duì)該多個(gè)掃描線依次供給掃描電壓；和檢測(cè)驅(qū)動(dòng)器，其形成于上述第一基板，并且與上述多個(gè)檢測(cè)線連接，其中，上述檢測(cè)驅(qū)動(dòng)器構(gòu)成為在上述第一基板或第二基板被按壓且該被按壓的區(qū)域的上述檢測(cè)部被上述掃描線掃描時(shí)，經(jīng)由與該檢測(cè)部連接的上述檢測(cè)線檢測(cè)出施加于該檢測(cè)部的電壓，在上述第一基板形成有輸入或輸出檢查用信號(hào)的檢查用線，上述多個(gè)掃描線和上述多個(gè)檢測(cè)線中的至少一種并聯(lián)連接于該檢查用線。-作用-接著說明本發(fā)明的作用。本發(fā)明中，上述顯示裝置通過按各像素由開關(guān)元件驅(qū)動(dòng)像素電極，在像素電極與對(duì)置電極之間產(chǎn)生規(guī)定的電位差來進(jìn)行顯示。配置于各像素的檢測(cè)部，通過從掃描驅(qū)動(dòng)器依次供給掃描電壓而被掃描。當(dāng)顯示裝置的第一基板或第二基板被按壓且該被按壓的區(qū)域的檢測(cè)部被掃描時(shí)，由檢測(cè)驅(qū)動(dòng)器經(jīng)由與該檢測(cè)部連接的檢測(cè)線檢測(cè)出施加在該檢測(cè)部的電壓。由此，檢測(cè)出顯示裝置上的按壓位置。另外，由于按各像素設(shè)置檢測(cè)部，并且在各檢測(cè)部連接掃描線和檢測(cè)線，所以能夠高精度且同時(shí)檢測(cè)多個(gè)按壓位置。此處，例如在多個(gè)掃描線并聯(lián)連接于檢查用線的情況下，在顯示裝置的制造階段，輸入到掃描線的檢查用信號(hào)，被輸出到與該掃描線連接的檢查用線上，因此通過按各掃描線依次檢測(cè)該輸出的信號(hào)，能夠檢測(cè)出各掃描線上有無斷線或配線電阻不良。另一方面，在多個(gè)檢測(cè)線并聯(lián)連接于檢查用線的情況下，在顯示裝置的制造階段，輸入到檢查用線的檢查用信號(hào)，被輸入到與該檢查用線連接的檢測(cè)線上，因此通過在各檢測(cè)線上檢測(cè)該輸入的信號(hào)，能夠檢測(cè)出各檢測(cè)線上有無斷線或配線電阻不良。
由此，根據(jù)本發(fā)明，通過依次掃描各掃描線，能夠按各檢測(cè)部高精度地檢測(cè)多個(gè)按壓位置(觸摸位置)。除此之外，能夠在顯示裝置的制造階段，在第一基板與第二基板沒有貼合的狀態(tài)下進(jìn)行該第一基板的配線檢查，因此無需廢棄沒有不良的第二基板，所以能夠減少檢查中的部件的浪費(fèi)，降低制造成本。發(fā)明的效果根據(jù)本發(fā)明，不僅能夠利用按各像素設(shè)置的檢測(cè)部來高精度地檢測(cè)多個(gè)按壓位置，而且通過在第一基板上形成輸入或輸出檢查用信號(hào)的檢查用線，并使多個(gè)掃描線和多個(gè)檢測(cè)線中的至少一種并聯(lián)連接于該檢查用線，利用該掃描線或檢查線的檢查，不再需要白白廢棄第二基板，因此能夠大幅降低制造成本。


圖I是概略性地表示構(gòu)成本發(fā)明實(shí)施方式I的液晶顯示裝置的TFT基板的電路結(jié)構(gòu)的俯視圖。 圖2是概略性地表示構(gòu)成本發(fā)明實(shí)施方式I的液晶顯示裝置的對(duì)置基板的俯視圖。圖3是將本發(fā)明實(shí)施方式I的液晶顯示裝置的像素放大表示的電路圖。圖4是表示本發(fā)明實(shí)施方式I的液晶顯示裝置的概略結(jié)構(gòu)的截面圖。圖5是將本發(fā)明實(shí)施方式I的對(duì)置基板的一部分放大表示的截面圖。圖6是表示對(duì)各掃描線供給的電壓的波形圖。圖7是表示被觸摸的位置與根據(jù)該被觸摸的位置檢測(cè)到的檢測(cè)線的輸出的說明圖。圖8是表示本發(fā)明實(shí)施方式I中按壓位置的檢測(cè)系統(tǒng)的電路圖。圖9是表不本發(fā)明實(shí)施方式I中I個(gè)掃描期間內(nèi)在檢測(cè)系統(tǒng)中輸入輸出的電壓的波形圖。圖10是概略性地表示制造階段的TFT基板的電路結(jié)構(gòu)的俯視圖。圖11是表示輸入到掃描線的檢查用信號(hào)和輸出到檢查用線的檢查用信號(hào)的時(shí)序圖。圖12是概略性地表示構(gòu)成本發(fā)明實(shí)施方式2的液晶顯示裝置的TFT基板的電路結(jié)構(gòu)的俯視圖。圖13是概略性地表示構(gòu)成本發(fā)明實(shí)施方式2的液晶顯示裝置的對(duì)置基板的俯視圖。圖14是概略性地表示制造階段的TFT基板的電路結(jié)構(gòu)的俯視圖。圖15是表示輸入到掃描線的檢查用信號(hào)和輸出到檢查用線的檢查用信號(hào)的時(shí)序圖。圖16是概略性地表示構(gòu)成本發(fā)明實(shí)施方式3的液晶顯示裝置的TFT基板的電路結(jié)構(gòu)的俯視圖。圖17是概略性地表示構(gòu)成本發(fā)明實(shí)施方式4的液晶顯示裝置的TFT基板的電路結(jié)構(gòu)的俯視圖。圖18是概略性地表示構(gòu)成本發(fā)明實(shí)施方式5的液晶顯示裝置的TFT基板的電路結(jié)構(gòu)的俯視圖。圖19是表示本發(fā)明實(shí)施方式5的液晶顯示裝置的概略結(jié)構(gòu)的截面圖。圖20是表示現(xiàn)有的顯示裝置中被觸摸的位置的說明圖。
具體實(shí)施例方式以下基于附圖對(duì)本發(fā)明的實(shí)施方式進(jìn)行詳細(xì)說明。另外，本發(fā)明不限定于以下的實(shí)施方式。[發(fā)明的實(shí)施方式I]
圖I 圖11表示本發(fā)明的實(shí)施方式I。圖I是表示構(gòu)成本實(shí)施方式I的液晶顯示裝置I的TFT基板11的電路結(jié)構(gòu)的俯視圖。圖2是概略性地表示構(gòu)成本實(shí)施方式I的液晶顯示裝置I的對(duì)置基板12的俯視圖。圖3是將本實(shí)施方式I的液晶顯示裝置I的像素5放大表示的電路圖。此外，圖4是表示本實(shí)施方式I的液晶顯示裝置I的概略結(jié)構(gòu)的截面圖。圖5是將本實(shí)施方式I的對(duì)置基板12的一部分放大表不的截面圖。圖6是表不對(duì)各掃描線17供給的電壓的波形圖。-液晶顯示裝置的結(jié)構(gòu)-本實(shí)施方式I中，以液晶顯示裝置為例進(jìn)行說明。本實(shí)施方式I的液晶顯示裝置1，例如構(gòu)成為進(jìn)行透過顯示的透過型的液晶顯示裝置。液晶顯示裝置I如圖4所示，包括作為第一基板的TFT基板11 ;與TFT基板11相對(duì)配置的作為第二基板的對(duì)置基板12 ;和設(shè)置在該對(duì)置基板12和TFT基板11之間的液晶層10。而且，液晶顯示裝置I如圖I所示，具有例如矩形狀的顯示區(qū)域20和在該顯示區(qū)域20的周圍形成為框狀的作為非顯示區(qū)域的邊框區(qū)域21。(對(duì)置基板的結(jié)構(gòu))對(duì)置基板12如圖5所示，例如包括厚度為O. 7mm以下的玻璃基板25、形成在玻璃基板25的液晶層10側(cè)的彩色濾光片層26、作為遮光膜的黑矩陣29和對(duì)置電極(共用電極)27。在黑矩陣29的表面的一部分，形成有由與彩色濾光片層26的著色層相同的材料以相同的厚度形成的間隔物基座部24。對(duì)置電極27例如包含ITO(Indium Tin Oxide，銦錫氧化物)等的透明導(dǎo)電膜，在大致整個(gè)顯示區(qū)域20上均勻地形成。上述間隔物基座部24、彩色濾光片層26和黑矩陣29，被通過蒸鍍上述ITO而形成的對(duì)置電極27覆蓋。在對(duì)置電極27的表面，在設(shè)置有間隔物基座部24的區(qū)域，通過光刻法形成有用于限定液晶層10的厚度(所謂單元間隙)的柱狀間隔物31。另外，在對(duì)置電極27的表面，在形成有黑矩陣29的區(qū)域，形成有觸摸傳感器用突起32。觸摸傳感器用突起32由與上述柱狀間隔物31相同的感光性材料以相同的長(zhǎng)度形成。觸摸傳感器用突起32與柱狀間隔物31同時(shí)通過光刻法形成。由于上述間隔物基座部24位于柱狀間隔物31和黑矩陣29之間，所以柱狀間隔物31的前端配置得比觸摸傳感器用突起32靠近TFT基板11 一側(cè)。在上述對(duì)置電極27的液晶層10 —側(cè)的表面，以覆蓋柱狀間隔物31和觸摸傳感器用突起32的方式，形成有取向膜30。取向膜30例如包含聚酰亞胺等。另外，圖4中省略了取向膜30的圖示。此外，在玻璃基板25的與液晶層10相反的一側(cè)的表面，粘貼有省略了圖不的偏光板。(TFT基板的結(jié)構(gòu))另一方面，TFT基板11如圖I所示，構(gòu)成為所謂的有源矩陣基板。TFT基板。TFT基板11如圖4所示，例如具有厚度為O. 7mm以下的玻璃基板34，如圖I所示，多個(gè)作為掃描配線的柵極線13彼此平行地延伸著形成。另外，在TFT基板11，以與上述柵極線13交叉著延伸的方式形成有多個(gè)作為信號(hào)配線的源極線14。由此，在TFT基板11上，包含柵極線13和源極線14的配線形成為格子狀的圖案。各像素5如圖I所示，例如由通過上述柵極線13和源極線14劃分的矩形狀的區(qū)域形成。即，在TFT基板11的顯示區(qū)域20，形成有呈矩陣狀配置的多個(gè)像素5。
在各像素5分別形成有與對(duì)置電極27相對(duì)的像素電極15 ;和與像素電極15連接，用于對(duì)液晶層10進(jìn)行開關(guān)驅(qū)動(dòng)的作為開關(guān)元件的TFT (Thin-Film Transistor,薄膜晶體管)16。TFT16包括例如配置在像素5中圖I和圖3的左上角部分，與柵極線13連接的柵極電極(未圖示)；與源極線14連接的源極電極(未圖示)；和與像素電極15連接的漏極電極(未圖示)。即，柵極線13和源極線14與TFT16連接。另一方面，在TFT基板11的邊框區(qū)域21，沿著TFT基板11的各邊分別設(shè)置有■ 與上述柵極線13連接的柵極驅(qū)動(dòng)器(未圖示)；與上述源極線14連接的源極驅(qū)動(dòng)器(未圖示)；與后述的掃描線17連接的掃描驅(qū)動(dòng)器53 ;和與后述的檢測(cè)線18連接的檢測(cè)驅(qū)動(dòng)器54。這樣，在從柵極驅(qū)動(dòng)器(未圖示)經(jīng)由柵極線13對(duì)TFT16的柵極電極(未圖示)施加了掃描電壓的狀態(tài)下，信號(hào)電壓自源極驅(qū)動(dòng)器(未圖示)從源極線14經(jīng)由TFT16的源極電極(未圖示)和漏極電極(未圖示)被供給到像素電極15，由此，該像素電極15與對(duì)置電極27間產(chǎn)生的電位差驅(qū)動(dòng)液晶層10，進(jìn)行期望的圖像顯示。(檢測(cè)部)并且，如圖I和圖3所示，在TFT基板11形成有分別配置在多個(gè)像素5中，并用于檢測(cè)TFT基板11或?qū)χ没?2被按壓的位置的檢測(cè)部40。檢測(cè)部40包括與像素電極15電絕緣地設(shè)置的檢測(cè)用電極41、42 ;和與該檢測(cè)用電極41、42連接的檢測(cè)用元件22。檢測(cè)用電極41、42具有以彼此電絕緣的狀態(tài)排列配置的第一電極41和第二電極42。另一方面，本實(shí)施方式I的檢測(cè)用元件22與第二電極42連接。(檢測(cè)用電極)S卩，在TFT基板11，如圖I、圖3和圖4所示，在玻璃基板34上形成有多個(gè)第一電極41 ;和與各第一電極41電絕緣且分別與各第一電極41排列配置的多個(gè)第二電極42。本實(shí)施方式I中，在各像素5分別配置有一組第一電極41和第二電極42。第一電極41和第二電極42分別由與像素電極15相同的材料即ITO等形成，并且形成得比像素電極15小。像素電極15被取向膜(未圖示)覆蓋，而第一電極41和第二電極42沒有被取向膜(未圖示)覆蓋，是露出的。(掃描線和檢測(cè)線)
另外，在TFT基板11，如圖I和圖3所示，形成有分別與檢測(cè)部40連接的多個(gè)掃描線17和多個(gè)檢測(cè)線18。各掃描線17沿著柵極線13形成。另一方面，各檢測(cè)線18沿著源極線14形成。即，該掃描線17和檢測(cè)線18，整體形成為格子狀。(檢測(cè)用元件)如圖3所示，第一電極41與掃描線17連接，第二電極42經(jīng)作為檢測(cè)用元件22的TFD (Thin-Film Diode，薄膜二極管)22與檢測(cè)線18連接。TFD22允許從第二電極42前往檢測(cè)線18的電流的流動(dòng)。本實(shí)施方式I中，對(duì)在第二電極42和檢測(cè)線18之間設(shè)置有TFD22的例子進(jìn)行說明，但本發(fā)明并不限于此，也可以使允許從掃描線17 —側(cè)前往檢測(cè)線18—側(cè)的電流的流動(dòng)的TFD22，位于第一電極41和掃描線17之間以及第二電極42和檢測(cè)線18之間中的至少一個(gè)。換而言之，檢測(cè)用元件22能夠采用與第一電極41或第二電極42連接的結(jié)構(gòu)。(導(dǎo)電層)、另一方面，如圖2、圖4和圖5所不,在對(duì)置基板12,形成有多個(gè)以與第一電極41和第二電極42兩者相對(duì)的方式按各像素5分別配置的導(dǎo)電層43。上述多個(gè)導(dǎo)電層43彼此電絕緣。此外，各導(dǎo)電層43與對(duì)置電極27也電絕緣。上述導(dǎo)電層43形成在上述觸摸傳感器用突起32的前端側(cè)(TFT基板11 一側(cè))，沒有被取向膜30覆蓋，是露出的。導(dǎo)電層43例如由在取向膜30上蒸鍍的ITO等形成。此夕卜，導(dǎo)電層43也能夠由例如具有導(dǎo)電性的樹脂形成。(掃描驅(qū)動(dòng)器和檢測(cè)驅(qū)動(dòng)器)此外，如圖I所示，在TFT基板11的邊框區(qū)域21，形成有與多個(gè)掃描線17連接的掃描驅(qū)動(dòng)器53。掃描驅(qū)動(dòng)器53構(gòu)成為經(jīng)由掃描線17對(duì)第一電極41依次施加掃描電壓的電壓供給部。另一方面，在TFT基板11的邊框區(qū)域21，形成有與多個(gè)檢測(cè)線18連接的檢測(cè)驅(qū)動(dòng)器54。檢測(cè)驅(qū)動(dòng)器54構(gòu)成為在TFT基板11或?qū)χ没?2被按壓而導(dǎo)致導(dǎo)電層43與第一電極41和第二電極42兩者接觸，且該被按壓的區(qū)域的檢測(cè)部40被掃描線17掃描時(shí)，經(jīng)由與該檢測(cè)部40連接的檢測(cè)線18，檢測(cè)出施加在該檢測(cè)部40的第一電極41上的電壓。檢測(cè)驅(qū)動(dòng)器54如圖8所示，包括經(jīng)由DET開關(guān)61與檢測(cè)線18連接的比較電路部62 ;和與上述DET開關(guān)61并聯(lián)連接到檢測(cè)線18上的RST開關(guān)63。此外，比較電路部62的輸入側(cè)與基準(zhǔn)電壓源連接。DET開關(guān)61在導(dǎo)通狀態(tài)下將檢測(cè)線18與比較電路部62連接，另一方面，RST開關(guān)63在導(dǎo)通狀態(tài)下將檢測(cè)線18電接地。(檢查用電路)并且，在TFT基板11的邊框區(qū)域21，形成有用于對(duì)檢測(cè)按壓位置用的電路中有無不良進(jìn)行檢查的檢查用電路70。在本實(shí)施方式I中的TFT基板11上，用于檢測(cè)掃描線17中有無斷線或電阻不良的檢查用電路70，隔著顯示區(qū)域20形成在與掃描驅(qū)動(dòng)器53相反的一側(cè)。檢查用電路70包括檢查用線81和電路部82，其中該檢查用線81輸出檢查用信號(hào)，并且多個(gè)掃描線17并聯(lián)連接于該檢查用線81，電路部82位于檢查用線81與掃描線17之間。另外，如后文所述，只要在TFT基板11上形成有輸入或輸出檢查用信號(hào)的檢查用線81，并且多個(gè)掃描線17和多個(gè)檢測(cè)線18中的至少一種并聯(lián)連接于該檢查用線81即可。另外，電路部82位于檢查用線81和掃描線17或檢測(cè)線18之間即可。電路82如圖4所示，包括與第一電極41具有相同結(jié)構(gòu)的第一虛擬電極(dummyeIectrode) 71、與第二電極42具有相同結(jié)構(gòu)的第二虛擬電極72和與作為檢測(cè)用元件的TFD22具有相同結(jié)構(gòu)的虛擬元件73。即，第一虛擬電極71和第二虛擬電極72分別包含ITO等的透明導(dǎo)電膜。此外，本實(shí)施方式I的虛擬元件73包含TFD。并且，第一虛擬電極71和第二虛擬電極72通過包含導(dǎo)電層的連接部74彼此電連接。-按壓位置的檢測(cè)方法_接著，對(duì)上述液晶顯示裝置I的按壓位置的檢測(cè)方法進(jìn)行說明。 此處，圖7是表示被觸摸而被按壓的位置與根據(jù)該被按壓的位置檢測(cè)到的檢測(cè)線18的輸出的說明圖。圖8是表示本實(shí)施方式I中按壓位置的檢測(cè)系統(tǒng)的電路圖。圖9是表示本實(shí)施方式I中I個(gè)掃描期間內(nèi)在檢測(cè)系統(tǒng)中輸入輸出的電壓的波形圖。當(dāng)TFT基板11或?qū)χ没?2被觸摸而被按壓時(shí)，被按壓的基板在其按壓方向上彎曲，形成于對(duì)置基板12的導(dǎo)電層43與形成于TFT基板11的第一電極41和第二電極42兩者接觸。由此,第一電極41和第二電極42通過導(dǎo)電層43導(dǎo)通。另一方面，整個(gè)顯示區(qū)域20中，如圖6所示，掃描線17按各行被依次掃描，從掃描驅(qū)動(dòng)器53供給Hi電壓(掃描電壓)45。檢測(cè)驅(qū)動(dòng)器54如圖8和圖9所示，在某一行中掃描線17被供給Hi電壓45之前，使與檢測(cè)線18連接的DET開關(guān)61為斷開狀態(tài)且使RST開關(guān)63為導(dǎo)通狀態(tài)，預(yù)先除去該檢測(cè)線18中的電荷進(jìn)行復(fù)位。之后，使RST開關(guān)63為斷開狀態(tài)，開始該掃描線17的掃描。此處，圖9的橫軸表示時(shí)間，縱軸表示電壓值的大小。此外，I個(gè)掃描期間是指按每一行的掃描線17進(jìn)行的一系列的處理期間。當(dāng)開始了上述掃描的一行的掃描線17被供給Hi電壓45時(shí)，與該掃描線17連接的各第一電極41 一起被供給Hi電壓45。此時(shí)，如果TFT基板11或?qū)χ没?2被觸摸而被按壓，上述第一電極41中的任意個(gè)通過導(dǎo)電層43與第二電極42導(dǎo)通，則該按壓處的第一電極41的Hi電壓45通過導(dǎo)電層43和第二電極42被供給到檢測(cè)線18。此時(shí)，供給到檢測(cè)線18的電壓值如圖9所示逐漸增加。然后，供給到檢測(cè)線18的足夠的電壓，通過使上述DET開關(guān)61為導(dǎo)通狀態(tài)而被供給到比較電路部62，經(jīng)AD變換，結(jié)果被檢測(cè)驅(qū)動(dòng)器54檢測(cè)到。另一方面，如果開始了上述掃描的一行的掃描線17上沒有被觸摸,則第一電極41的Hi電壓45不會(huì)被供給到檢測(cè)線18，如圖9所示，不會(huì)被檢測(cè)驅(qū)動(dòng)器54檢測(cè)到。換而言之，由檢測(cè)驅(qū)動(dòng)器54檢測(cè)到未接觸。該一系列的處理按各行的掃描線17進(jìn)行。由此，在整個(gè)顯示區(qū)域20進(jìn)行按壓位置的檢測(cè)。此處，參照?qǐng)D7對(duì)2點(diǎn)被同時(shí)觸摸的情況下的位置檢測(cè)進(jìn)行說明。圖7中，掃描線17a 17c在行方向上配置，檢測(cè)線18a 18f在列方向上配置。并且，在點(diǎn)Pl和P2上，TFT基板11或?qū)χ没?2被觸摸而被按壓。點(diǎn)Pl位于包含與掃描線17b連接的第一電極41和與檢測(cè)線18b連接的第二電極42的一組電極41、42的附近位置。另一方面，點(diǎn)P2位于包含與掃描線17c連接的第一電極41和與檢測(cè)線18f連接的第二電極42的一組電極41、42的附近位置。圖7中，從上方的行開始掃描掃描線17a 17c。首先，在掃描掃描線17a時(shí)，檢測(cè)線18a 18f中沒有檢測(cè)到電壓值。接著，在掃描掃描線17a時(shí)，由于在點(diǎn)Pl第一電極41和第二電極42經(jīng)由導(dǎo)電層43導(dǎo)通，所以檢測(cè)到通過檢測(cè)線18b供給到第一電極41的電壓48。然后，在掃描掃描線17c時(shí)，由于在點(diǎn)P2第一電極41和第二電極42經(jīng)由導(dǎo)電層43導(dǎo)通，所以檢測(cè)到通過檢測(cè)線18f供給到第一電極41的電壓49。其結(jié)果，點(diǎn)Pl和點(diǎn)P2分別被可靠地檢測(cè)出來。-制造方法和檢查方法_接著，對(duì)液晶顯示裝置I的制造方法和檢查方法進(jìn)行說明。 此處，圖10是概略性地表示制造階段的TFT基板11的電路結(jié)構(gòu)的俯視圖。圖11是表示輸入到掃描線17的檢查用信號(hào)和輸出到檢查用線81的檢查用信號(hào)的時(shí)序圖。液晶顯示裝置I是通過以下方法制造的，即在TFT基板11或?qū)χ没?2形成框狀的密封部件(未圖示)，在該密封部件的內(nèi)側(cè)滴下液晶后，將上述TFT基板11和對(duì)置基板12彼此貼合。特別是，在制造TFT基板11的工序中，檢查用線81與檢測(cè)線18在同一工序中同時(shí)形成。另外，第一電極41、第二電極42、第一虛擬電極71、第二虛擬電極72分別與像素電極15在同一工序中同時(shí)形成。另外，虛擬電極73與TFD22在同一工序中同時(shí)形成。而且，在對(duì)TFT基板11上的作為按壓位置的檢測(cè)電路的掃描線17進(jìn)行檢查的工序中，首先，與通常的按壓位置檢測(cè)時(shí)相同地，對(duì)多個(gè)掃描線17依次施加Hi電壓作為檢查用信號(hào)。例如，如圖10和圖11所示，對(duì)掃描線17的端子S1、S2、S3依次施加脈沖狀的檢查用信號(hào)。此時(shí)，按各掃描線17，檢查用信號(hào)經(jīng)由電路部82輸出到檢查用線81。S卩，如圖11所示，在檢查用線81的端子K，當(dāng)掃描線17正常時(shí)，根據(jù)來自各掃描線17的端子S1、S2、S3的輸入，分別檢測(cè)到檢查用信號(hào)的輸出，而另一方面，在例如具有端子S2的掃描線17上存在異常的情況下，在從其端子S2輸入了檢查用信號(hào)的定時(shí)，在檢查用線81的端子K檢測(cè)不到檢查用信號(hào)，或檢測(cè)到電壓值與正常時(shí)不同的檢查用信號(hào)。像這樣，在檢查用線81的端子K正常地檢測(cè)到檢查用信號(hào)的情況下，可知掃描線17正常。而另一方面，在上述端子K檢測(cè)不到檢查用信號(hào)或檢測(cè)到與正常時(shí)不同的電壓值的檢查用信號(hào)的情況下，可知在該檢測(cè)的定時(shí)被輸入了檢查用信號(hào)的掃描線17中存在異
堂
巾O在該檢查工序之后，將掃描線17正常的TFT基板11隔著液晶層10與對(duì)置基板12貼合，制造液晶顯示裝置I。另一方面，掃描線17中存在異常的TFT基板11則被廢棄，或者可能的話將異常修復(fù)。-實(shí)施方式I的效果_因此，根據(jù)本實(shí)施方式I，不僅能夠利用按各像素5設(shè)置的檢測(cè)部40來高精度地檢測(cè)多個(gè)按壓位置，而且通過在TFT基板11上形成輸出檢查用信號(hào)的檢查用線81，并使多個(gè)掃描線17并聯(lián)連接于該檢查用線81，利用該掃描線17的檢查，不再需要白白廢棄對(duì)置基板12，因此能夠大幅降低制造成本。
即，首先，按每個(gè)彼此排列配置的第一電極41和第二電極42的組，設(shè)置與該電極41、42相對(duì)的導(dǎo)電層43和TFD22，并經(jīng)由多個(gè)掃描線17對(duì)第一電極41供給掃描驅(qū)動(dòng)器53的電壓，利用檢測(cè)驅(qū)動(dòng)器54經(jīng)由導(dǎo)電層43、第二電極42和檢測(cè)線18檢測(cè)在按壓位置上供給到第一電極41的電壓，因此，通過依次掃描各掃描17，即使2點(diǎn)以上的點(diǎn)被同時(shí)觸摸，也不會(huì)檢測(cè)出錯(cuò)誤的按壓位置，能夠按第一電極41和第二電極42的各組來高精度地檢測(cè)各按壓位置。進(jìn)一步，由于將掃描線17和檢測(cè)線18獨(dú)立于柵極線13和源極線14另外設(shè)置，所以能夠獨(dú)立于柵極線13和源極線14的顯示的控制，始終檢測(cè)按壓位置，因此 能夠進(jìn)一步提高檢測(cè)精度。除此之外，還將多個(gè)掃描線17分別經(jīng)由電路部82并聯(lián)連接于檢查用線81，因此在TFT基板11的檢查工序中，通過對(duì)各掃描線17依次輸入檢查用信號(hào)，在存在沒有檢查用信號(hào)輸出到檢查用線81的定時(shí)，或輸出到檢查用線81的檢查用信號(hào)沒有達(dá)到規(guī)定的電壓的情況下，能夠檢測(cè)到與該定時(shí)相應(yīng)的掃描線17中發(fā)生斷線，或該掃描線17的配線電阻過大等不良。若這些掃描線17的不良?xì)埩粼诔善返囊壕э@示裝置I中，則會(huì)沿著該掃描線17呈線狀產(chǎn)生不能檢測(cè)按壓位置的區(qū)域，不能作為商品采用。在現(xiàn)有的液晶顯示裝置中，在將TFT基板11與對(duì)置基板12彼此貼合后的檢查中才首次判明不良，而相對(duì)地，本實(shí)施方式中在將上述各基板貼合之前就能夠預(yù)先檢查TFT基板11，不會(huì)將作為不良品的TFT基板11與作為良品的對(duì)置基板12貼合，能夠大幅降低制造成本。另外，本實(shí)施方式中，在掃描線17和檢查用線81之間存在與實(shí)際的檢測(cè)部40具有相同電路結(jié)構(gòu)的虛擬的電路部82，因此能夠在與實(shí)際的檢測(cè)部40的按壓位置的檢測(cè)驅(qū)動(dòng)相同的條件下對(duì)檢查信號(hào)的波形進(jìn)行檢查，因此能夠高精度地檢查掃描線17的配線電阻的異常。此外，在成品的液晶顯示裝置I的通常動(dòng)作中，通過忽視檢查用線81的輸出，不將其用于任何控制中，能夠進(jìn)行通常的液晶顯示和按壓位置的檢測(cè)。[發(fā)明的實(shí)施方式2]圖12 圖15表不本發(fā)明的實(shí)施方式2。圖12是表示構(gòu)成本實(shí)施方式2的液晶顯示裝置I的TFT基板11的電路結(jié)構(gòu)的俯視圖。圖13是概略性地表示構(gòu)成本實(shí)施方式2的液晶顯示裝置I的對(duì)置基板12的俯視圖。圖14是概略性地表示制造階段的TFT基板11的電路結(jié)構(gòu)的俯視圖。圖15是表示輸入到掃描線17的檢查用信號(hào)和輸出到檢查用線81的檢查用信號(hào)的時(shí)序圖。另外，以后的各實(shí)施方式中，對(duì)與圖I 圖11相同的部分標(biāo)記相同的附圖標(biāo)記并省略其詳細(xì)說明。上述實(shí)施方式I中，檢查用電路70與多個(gè)掃描線17連接，而本實(shí)施方式2中，檢查用電路70與多個(gè)檢測(cè)線18連接。如圖12和圖13所示，本實(shí)施方式2的檢查用電路70，隔著顯示區(qū)域20形成在與檢測(cè)驅(qū)動(dòng)器54相反的一側(cè)的邊框區(qū)域21。此外，各檢測(cè)線18經(jīng)由虛擬的電路部82并聯(lián)連接于檢查用線81。
電路部82與上述實(shí)施方式I同樣地，具有與檢測(cè)部40同樣的結(jié)構(gòu)，包括與檢測(cè)用元件22相同的TFD73和由連接部74彼此連接的第一虛擬電極(未圖示)和第二虛擬電極(未圖示)。在對(duì)本實(shí)施方式2的TFT基板11進(jìn)行檢查的情況下，如圖14和圖15所示，對(duì)檢查用線81的端子K輸入檢查用信號(hào)。這樣，如果各檢測(cè)線18中不存在斷線等不良，則檢查用信號(hào)自檢查用線81經(jīng)由電路部82從各檢測(cè)線18的端子D1、D2、D3、D4輸出。通過檢測(cè) 至IJ它們的輸出值為相同值，可知各檢測(cè)線18正常。另一方面，在多個(gè)檢測(cè)線18中的任意個(gè)存在不良的情況下，在與該檢測(cè)線18對(duì)應(yīng)的端子沒有檢查用信號(hào)的輸出，或檢測(cè)到與正常值不同的輸出值。由此，能夠判別存在不良的檢測(cè)線18。-實(shí)施方式2的效果-因而，根據(jù)本實(shí)施方式2，能夠獲得與上述實(shí)施方式I相同的效果，不僅能夠高精度地檢測(cè)多個(gè)按壓位置，通過在TFT基板11上形成用于輸出檢查用信號(hào)的檢查用線81，并使多個(gè)掃描線17并聯(lián)連接于該檢查用線81，利用該檢測(cè)線18的檢查，不再需要白白廢棄對(duì)置基板12，因此能夠大幅降低制造成本。此外，在成品的液晶顯示裝置I的通常動(dòng)作中，通過對(duì)檢查用線81始終施加通常動(dòng)作時(shí)對(duì)掃描線17輸入的OFF電壓(低電壓)，使得檢查用電路70不工作，能夠進(jìn)行通常的液晶顯示和按壓位置的檢測(cè)。[發(fā)明的實(shí)施方式3]圖16表示本發(fā)明的實(shí)施方式3。圖16是概略性地表示構(gòu)成本實(shí)施方式3的液晶顯示裝置I的TFT基板11的電路結(jié)構(gòu)的俯視圖。上述實(shí)施方式I中，將檢查用電路70與多個(gè)掃描線17連接，而本實(shí)施方式3中，將檢查用電路70與多個(gè)掃描線17和多個(gè)檢測(cè)線18兩者連接。S卩，如圖16所示，多個(gè)掃描線17并聯(lián)連接于第一檢查用電路70a。而另一方面，多個(gè)檢測(cè)線18并聯(lián)連接于第二檢查用電路70b。第一檢查用電路70a具有與上述實(shí)施方式I中的檢查用電路70相同的結(jié)構(gòu)。另外，第二檢查用電路70b具有與上述實(shí)施方式2中的檢查用電路70相同的結(jié)構(gòu)。-實(shí)施方式3的效果-因而，根據(jù)本實(shí)施方式3，能夠獲得與上述實(shí)施方式I相同的效果，并且與上述實(shí)施方式I同樣地能夠利用第一檢查用電路70a檢查多個(gè)掃描線17,另一方面,與上述實(shí)施方式2同樣地能夠利用第二檢查用電路70b檢查多個(gè)檢測(cè)線18。[發(fā)明的實(shí)施方式4]圖17表示本發(fā)明的實(shí)施方式4。圖17是概略性地表示構(gòu)成本實(shí)施方式4的液晶顯示裝置I的TFT基板11的電路結(jié)構(gòu)的俯視圖。上述實(shí)施方式3中，由TFD22構(gòu)成檢測(cè)部40的檢查用元件，由TFD73構(gòu)成電路部82的虛擬元件73。而相對(duì)地，本實(shí)施方式4中，由作為薄膜晶體管的TFT35構(gòu)成檢測(cè)部40的檢查用元件，由TFT75構(gòu)成電路部82的虛擬元件73。即，本實(shí)施方式4中，電路部82的虛擬元件73也與檢測(cè)部40的檢查用元件35具有相同的結(jié)構(gòu)。在檢測(cè)按壓位置的情況下，通過掃描掃描線17，與該掃描線17連接的TFT35成為導(dǎo)通狀態(tài)，允許從第二電極42前往檢測(cè)線18的電流的流動(dòng)。因而，與上述實(shí)施方式I同樣地，能夠檢測(cè)按壓位置。與此相同地，在檢查掃描線17 的情況下，當(dāng)檢查用信號(hào)輸入掃描線17時(shí)，與該掃描線17連接的TFT75成為導(dǎo)通狀態(tài)，因此與上述實(shí)施方式I同樣地，能夠檢查各掃描線17。另一方面，在檢查檢測(cè)線18的情況下，當(dāng)檢查用信號(hào)輸入檢查用線81時(shí)，與該檢查用線81連接的TFT75成為導(dǎo)通狀態(tài)，允許從檢查用線81前往檢測(cè)線18的電流的流動(dòng)，因此與實(shí)施方式2同樣地，能夠檢查各檢測(cè)線18。-實(shí)施方式4的效果-因而，根據(jù)本實(shí)施方式4，能夠獲得與上述實(shí)施方式I相同的效果，并且與上述實(shí)施方式3同樣地，能夠利用第一和第二檢查用電路70a、70b檢查多個(gè)掃描線17和多個(gè)檢測(cè)線18。[發(fā)明的實(shí)施方式5]圖18和圖19表不本發(fā)明的實(shí)施方式5。圖18是概略性地表示構(gòu)成本實(shí)施方式5的液晶顯示裝置I的TFT基板11的電路結(jié)構(gòu)的俯視圖。圖19是表示本實(shí)施方式5的液晶顯示裝置I的概略結(jié)構(gòu)的截面圖。上述實(shí)施方式4中，采用了使設(shè)置于對(duì)置基板12的導(dǎo)電層43與設(shè)置于TFT基板11的第一電極41和第二電極42相對(duì)配置的結(jié)構(gòu)，而相對(duì)地，本實(shí)施方式5中，使對(duì)置基板12的對(duì)置電極27與設(shè)置于TFT基板11的檢測(cè)用電極48相對(duì)配置。S卩，本實(shí)施方式5中的檢測(cè)部40如圖18所示，具有按各像素5設(shè)置的一個(gè)檢測(cè)用電極48。檢測(cè)用電極48與像素電極15相同地，由ITO等的透明導(dǎo)電膜形成。此外，各像素5中設(shè)置有作為檢測(cè)用元件22的TFT36，與上述檢測(cè)用電極48連接。另外，TFT36還與掃描線17和檢測(cè)線18連接。這樣，在掃描線17被掃描時(shí)，TFT36成為導(dǎo)通狀態(tài)，允許從檢測(cè)用電極48前往檢測(cè)線18的電流的流動(dòng)。另一方面，在對(duì)置基板12，如圖19所示，在與檢測(cè)用電極48相對(duì)的區(qū)域形成有觸摸傳感器用突起32。該觸摸傳感器用突起32被對(duì)置電極27覆蓋。另外，本實(shí)施方式5中，與上述實(shí)施方式4同樣地，多個(gè)掃描線17并聯(lián)連接于第一檢查用電路70a。另一方面，多個(gè)檢測(cè)線18并聯(lián)連接于第二檢查用電路70b。第一檢查用電路70a包括檢查用線81 ;與該檢查用線81連接的作為虛擬元件的TFT76 ;與TFT76連接的虛擬電極77 ;和經(jīng)由虛擬電極77與TFT76連接的基準(zhǔn)電壓線83。虛擬電極77具有與檢測(cè)用電極48相同的結(jié)構(gòu)。掃描線17與TFT76的柵極電極連接。第二檢查用電路70b與第一檢查用電路70a同樣地，具有檢查用線81、TFT76、虛擬電極77和基準(zhǔn)電壓線83。檢測(cè)線18與TFT76的柵極電極連接。-按壓位置的檢測(cè)方法-在檢測(cè)按壓位置的情況下，通過從掃描驅(qū)動(dòng)器53對(duì)各掃描線17依次供給Hi電壓，來掃描各掃描線17。與被掃描的掃描線17連接的TFT36成為導(dǎo)通狀態(tài)。此時(shí)，TFT基板11或?qū)χ没?2被按壓，覆蓋觸摸傳感器用突起32的對(duì)置電極27和與其相對(duì)的檢測(cè)用電極48接觸而彼此導(dǎo)通，由此，施加在對(duì)置電極27上的電壓經(jīng)由檢測(cè)用電極48和導(dǎo)通狀態(tài)的TFT36輸出到檢測(cè)線18。由此，檢測(cè)到按壓位置。-檢查方法-在檢查掃描線17時(shí)，對(duì)與其連接的基準(zhǔn)電壓線83預(yù)先施加規(guī)定的基準(zhǔn)電壓。然后，當(dāng)檢查用信號(hào)被依次輸入到各掃描線17時(shí)，與該掃描線17連接的TFT76成為導(dǎo)通狀態(tài)。由此，基準(zhǔn)電壓線83的電壓經(jīng)由虛擬電極77和TFT76被輸出到檢查用線81。這樣，根據(jù)檢查信號(hào)是否被輸出到檢查用線81和其輸出電壓值的大小，來檢查掃描線17中有無不良。另一方面，在檢查檢測(cè)線18的情況下，也對(duì)與其連接的基準(zhǔn)電壓線83預(yù)先施加規(guī)定的電壓。當(dāng)檢查用信號(hào)被輸入到檢查用線81時(shí)，各TFT76分別成為導(dǎo)通狀態(tài)，因此基準(zhǔn) 電壓線83的電壓經(jīng)由虛擬電極77和TFT76被分別輸出到檢測(cè)線18。這樣，根據(jù)檢查信號(hào)是否被輸出到檢測(cè)線18和其輸出電壓值的大小，來檢查檢測(cè)線18中有無不良。-實(shí)施方式5的效果-因而，根據(jù)本實(shí)施方式5，也與上述實(shí)施方式I同樣地，不僅能夠利用按各像素5設(shè)置的檢測(cè)部40來高精度地檢測(cè)多個(gè)按壓位置，通過掃描線17和檢測(cè)線18的檢查，不再需要白白廢棄對(duì)置基板12，因此能夠大幅降低制造成本。[其它實(shí)施方式]上述各實(shí)施方式中，掃描線17和檢查用線81之間設(shè)置有虛擬的電路部82，但也可以不設(shè)置這樣的電路部82，將掃描線17直接與檢查用線81連接。這樣做也能夠檢查掃描線17中有無不良。另外，上述各實(shí)施方式中以液晶顯示裝置為例進(jìn)行了說明，但對(duì)于其它的例如顯示介質(zhì)層為發(fā)光層的有機(jī)EL顯示裝置等其它的顯示裝置，也同樣地能夠應(yīng)用本發(fā)明。工業(yè)利用性如以上說明，本發(fā)明對(duì)于檢測(cè)顯示畫面上的位置信息的顯示裝置是有用的。附圖標(biāo)記說明I液晶顯示裝置5像素11TFT基板(第一基板)12對(duì)置基板(第二基板)15像素電極16TFT (開關(guān)元件)17掃描線18檢測(cè)線22TFD (檢測(cè)用元件)27對(duì)置電極35、36 TFT (檢查用元件)40檢測(cè)部41第一電極(檢測(cè)用電極)42第二電極(檢測(cè)用電極)43導(dǎo)電層
48檢測(cè)用電極53掃描驅(qū)動(dòng)器54檢測(cè)驅(qū)動(dòng)器71第一虛擬電極72第二虛擬電極
73TFD (虛擬元件)74連接部75、76 TFT (虛擬元件)77虛擬電極81檢查用線82電路部
權(quán)利要求
1.一種顯示裝置，其特征在于，包括 第一基板； 第二基板，其與所述第一基板相對(duì)配置，并且形成有對(duì)置電極；和多個(gè)像素，該多個(gè)像素形成于所述第一基板，并且分別形成有與所述對(duì)置電極相対的像素電極和與 該像素電極連接的開關(guān)元件， 所述顯示裝置還包括 檢測(cè)部，其分別配置于所述多個(gè)像素，用于檢測(cè)所述第一基板或第二基板被按壓的位置； 多個(gè)掃描線和多個(gè)檢測(cè)線，該多個(gè)掃描線和多個(gè)檢測(cè)線形成于所述第一基板，與所述檢測(cè)部連接； 掃描驅(qū)動(dòng)器，其形成于所述第一基板，并且與所述多個(gè)掃描線連接，對(duì)該多個(gè)掃描線依次供給掃描電壓；和 檢測(cè)驅(qū)動(dòng)器，其形成于所述第一基板，并且與所述多個(gè)檢測(cè)線連接，其中， 所述檢測(cè)驅(qū)動(dòng)器構(gòu)成為在所述第一基板或第二基板被按壓且該被按壓的區(qū)域的所述檢測(cè)部被所述掃描線掃描時(shí)，經(jīng)由與該檢測(cè)部連接的所述檢測(cè)線檢測(cè)出施加于該檢測(cè)部的電壓， 在所述第一基板形成有輸入或輸出檢查用信號(hào)的檢查用線，所述多個(gè)掃描線和所述多個(gè)檢測(cè)線中的至少ー種并聯(lián)連接于該檢查用線。
2.如權(quán)利要求I所述的顯示裝置，其特征在干 所述檢測(cè)部包括與所述像素電極電絕緣設(shè)置的檢測(cè)用電極；和與該檢測(cè)用電極連接的檢測(cè)用元件， 所述檢測(cè)用電極具有以彼此電絕緣的狀態(tài)排列配置的第一電極和第二電極， 在所述第二基板上，形成有多個(gè)以與所述第一電極和第二電極兩者相対的方式按所述各像素分別配置的導(dǎo)電層， 所述檢測(cè)用元件與所述第一電極或第二電極連接。
3.如權(quán)利要求2所述的顯示裝置，其特征在于 在所述檢查用線與所述掃描線或所述檢測(cè)線之間存在電路部， 所述電路部包括與所述第一電極具有相同結(jié)構(gòu)的第一虛擬電極；與所述第二電極具有相同結(jié)構(gòu)的第二虛擬電扱；和與所述檢測(cè)用元件具有相同結(jié)構(gòu)的虛擬元件， 所述第一虛擬電極和所述第二虛擬電極，經(jīng)由連接部彼此電連接。
4.如權(quán)利要求2或3所述的顯示裝置，其特征在于 所述檢測(cè)用元件是薄膜ニ極管或薄膜晶體管。
全文摘要
顯示裝置包括檢測(cè)部，其分別配置于多個(gè)像素，用于檢測(cè)按壓位置；形成于第一基板的掃描線和檢測(cè)線；和與檢測(cè)線連接的檢測(cè)驅(qū)動(dòng)器。檢測(cè)驅(qū)動(dòng)器在第一基板或第二基板被按壓且該按壓區(qū)域的檢測(cè)部被掃描線掃描時(shí)，經(jīng)由檢測(cè)線檢測(cè)出施加在該檢測(cè)部的電壓。此外，在第一基板上形成有檢查用線，掃描線和檢測(cè)線中的至少一種并聯(lián)連接于該檢查用線。
文檔編號(hào)G02F1/133GK102667679SQ20108005207
公開日2012年9月12日 申請(qǐng)日期2010年11月5日 優(yōu)先權(quán)日2009年12月28日
發(fā)明者山本圭一 申請(qǐng)人:夏普株式會(huì)社