專利名稱：顯示面板驅(qū)動(dòng)集成電路的測(cè)試裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種集成電路測(cè)試裝置及方法，特別是有關(guān)于一種用以測(cè)試顯示面板驅(qū)動(dòng)集成電路的測(cè)試裝置及方法。
背景技術(shù)：
在現(xiàn)今多樣化的電子產(chǎn)品當(dāng)中，各式各樣的顯示器裝置(如一般的冷陰極管顯示器、液晶顯示器以及電漿顯示器)的使用日漸普及。因?yàn)殡S著制造技術(shù)的進(jìn)步，顯示器裝置一方面能夠提供各種符合需求的顯示畫面尺寸以及更清晰的畫質(zhì)，另一方面也能提供更輕薄的重量以及更便宜的價(jià)格。
但不論是哪一種顯示器裝置，都不外乎是利用了各式各樣的顯示面板來顯示影像畫面。這些顯示面板大都具有多條縱橫交錯(cuò)的掃描線，只要在這些掃描線上加入適當(dāng)?shù)膾呙栊盘?hào)，便可在顯示面板上顯示出正確的影像。
請(qǐng)參閱圖1A所示，是在一般的顯示器裝置中，顯示面板與驅(qū)動(dòng)電路之間的關(guān)系示意圖。其中，顯示面板110具有多條縱向與橫向排列的電極線，分別為掃描電極112及資料(數(shù)據(jù))電極114。掃描電極112的作用是用以接收來自掃描驅(qū)動(dòng)集成電路120的掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)。所以在掃描驅(qū)動(dòng)集成電路120上會(huì)具有多條與掃描電極112相對(duì)應(yīng)的掃描驅(qū)動(dòng)輸出線路122。通過掃描電極112及掃描驅(qū)動(dòng)輸出線路122的連接，能夠?qū)呙栩?qū)動(dòng)輸出線路122所輸出的掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)一一地通過掃描電極112傳遞給顯示面板110。同樣的，資料電極114的作用是用以接收來自資料驅(qū)動(dòng)集成電路130的資料驅(qū)動(dòng)信號(hào)。所以在資料驅(qū)動(dòng)集成電路130上會(huì)具有多條與資料電極114相對(duì)應(yīng)的資料驅(qū)動(dòng)輸出線路132。通過資料電極114及資料驅(qū)動(dòng)輸出線路132的連接，能夠?qū)①Y料驅(qū)動(dòng)輸出線路132所輸出的資料驅(qū)動(dòng)信號(hào)一一地通過資料電極114傳遞給顯示面板110。
顯示面板110是由多條顯示列排列而成，其中，掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)的作用便是用以依序驅(qū)動(dòng)每一條顯示列。在一顯示列被驅(qū)動(dòng)的同時(shí)，會(huì)再經(jīng)由資料(數(shù)據(jù))驅(qū)動(dòng)信號(hào)來決定該條顯示列中所要點(diǎn)亮的畫素(pixel)。如此掃描過每一條顯示列，并將所有畫素組合起來便組成了一幅顯示畫面。由此可見，掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)及資料驅(qū)動(dòng)信號(hào)的正確性對(duì)于顯示面板110所顯示的畫面品質(zhì)來說，有非常大的影響。
所以在顯示器產(chǎn)品的制造過程中，勢(shì)必要對(duì)掃描驅(qū)動(dòng)集成電路以及資料驅(qū)動(dòng)集成電路這兩個(gè)部分進(jìn)行檢側(cè)，以確保此這兩個(gè)元件能夠正確地輸出所需要的掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)以及資料驅(qū)動(dòng)信號(hào)。圖1B中表示了目前一般所使用的測(cè)試方式，其作法便是利用人工對(duì)位的方式在測(cè)試治具142上將掃描電極112及掃描驅(qū)動(dòng)輸出線路122連接在一起，以及在測(cè)試治具144上將資料電極114以及資料驅(qū)動(dòng)輸出線路132連接在一起，并對(duì)掃描驅(qū)動(dòng)集成電路120及資料驅(qū)動(dòng)集成電路130輸入測(cè)試信號(hào)。此時(shí)，若顯示面板110正常動(dòng)作的話便代表掃描驅(qū)動(dòng)集成電路120及資料驅(qū)動(dòng)集成電路130是沒有問題的，但是當(dāng)顯示面板110所顯示的畫面不如預(yù)期，便代表了掃描驅(qū)動(dòng)集成電路120或/及資料驅(qū)動(dòng)集成電路130有問題。
這樣的檢測(cè)方式算是一種比較簡略的程序。首先是因?yàn)樵隍?qū)動(dòng)集成電路及顯示面板上的信號(hào)連接腳位都非常的多，利用人工對(duì)位的方式來連接顯示面板與驅(qū)動(dòng)集成電路不僅耗時(shí)耗力，而且出錯(cuò)的機(jī)會(huì)也比較大，常會(huì)因?yàn)榫€路連接不當(dāng)而造成電路元件的損壞。另外，一顯示面板通常會(huì)與多個(gè)驅(qū)動(dòng)集成電路連接，所以即使在測(cè)試畫面中發(fā)現(xiàn)出問題，也很難判斷出問題是發(fā)生在哪一個(gè)驅(qū)動(dòng)集成電路上。
另外，如在圖2中所示的例子。假設(shè)現(xiàn)在對(duì)一驅(qū)動(dòng)集成電路輸入用以開啟輸出信號(hào)的一邊緣觸發(fā)信號(hào)202，輸出信號(hào)會(huì)等待一延遲時(shí)間204才開啟，以至于輸出信號(hào)真正的開啟工作時(shí)間206并不如預(yù)期。同樣地，再對(duì)該驅(qū)動(dòng)集成電路輸入用以關(guān)閉輸出信號(hào)的一邊緣觸發(fā)信號(hào)208，輸出信號(hào)會(huì)等待一延遲時(shí)間210才關(guān)閉，以至于輸出信號(hào)真正的關(guān)閉工作時(shí)間212也會(huì)不如預(yù)期。如此，這些延遲時(shí)間204及210的產(chǎn)生雖不會(huì)使顯示面板產(chǎn)生錯(cuò)誤的顯示，但卻會(huì)降低顯示畫面的品質(zhì)，而這些缺陷卻是難以利用肉眼觀察出來的。
雖然在中國臺(tái)灣專利公告編號(hào)第432216號(hào)的發(fā)明專利中提供了一種能夠?qū)︱?qū)動(dòng)集成電路輸入測(cè)試信號(hào)波形的輸入裝置，但其并未對(duì)所輸出的測(cè)試結(jié)果多作說明。
綜觀以上所述，在顯示器裝置的制造過程中，確實(shí)需要一種能夠更快速、更全面檢測(cè)驅(qū)動(dòng)集成電路的測(cè)試裝置，以確保顯示面板驅(qū)動(dòng)訊號(hào)的品質(zhì)及正確性。
由此可見，上述現(xiàn)有的顯示面板驅(qū)動(dòng)集成電路的測(cè)試裝置在結(jié)構(gòu)與使用上，顯然仍存在有不便與缺陷，而亟待加以進(jìn)一步改進(jìn)。為了解決顯示面板驅(qū)動(dòng)集成電路的測(cè)試裝置存在的問題，相關(guān)廠商莫不費(fèi)盡心思來謀求解決之道，但長久以來一直未見適用的設(shè)計(jì)被發(fā)展完成，而一般產(chǎn)品又沒有適切的結(jié)構(gòu)能夠解決上述問題，此顯然是相關(guān)業(yè)者急欲解決的問題。因此如何能創(chuàng)設(shè)一種新的顯示面板驅(qū)動(dòng)集成電路的測(cè)試裝置，便成了當(dāng)前業(yè)界極需改進(jìn)的目標(biāo)。
有鑒于上述現(xiàn)有的顯示面板驅(qū)動(dòng)集成電路的測(cè)試裝置存在的缺陷，本發(fā)明人基于從事此類產(chǎn)品設(shè)計(jì)制造多年豐富的實(shí)務(wù)經(jīng)驗(yàn)及專業(yè)知識(shí)，并配合學(xué)理的運(yùn)用，積極加以研究創(chuàng)新，以期創(chuàng)設(shè)一種新的顯示面板驅(qū)動(dòng)集成電路的測(cè)試裝置及方法，能夠改進(jìn)一般現(xiàn)有的顯示面板驅(qū)動(dòng)集成電路的測(cè)試裝置，使其更具有實(shí)用性。經(jīng)過不斷的研究、設(shè)計(jì)，并經(jīng)反復(fù)試作樣品及改進(jìn)后，終于創(chuàng)設(shè)出確具實(shí)用價(jià)值的本發(fā)明。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于，克服現(xiàn)有的顯示面板驅(qū)動(dòng)集成電路的測(cè)試裝置存在的缺陷，而提供一種新型結(jié)構(gòu)的顯示面板驅(qū)動(dòng)集成電路的測(cè)試裝置，所要解決的技術(shù)問題是使其能夠檢測(cè)出不良的驅(qū)動(dòng)集成電路及驅(qū)動(dòng)信號(hào)電氣特性，并能夠提升顯示器產(chǎn)品的良率，從而更加適于實(shí)用。
本發(fā)明的另一目的在于，克服現(xiàn)有的顯示面板驅(qū)動(dòng)集成電路的測(cè)試方法存在的缺陷，而提供一種新的顯示面板驅(qū)動(dòng)集成電路的測(cè)試方法，所要解決的技術(shù)問題是使其能夠檢測(cè)出不良的驅(qū)動(dòng)集成電路及驅(qū)動(dòng)信號(hào)電氣特性，并能夠提升顯示器產(chǎn)品的良率，從而更加適于實(shí)用。
本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題是采用以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的。依據(jù)本發(fā)明提出的在符合本發(fā)明實(shí)施例的一顯示面板驅(qū)動(dòng)電路測(cè)試裝置中，主要包括了有一測(cè)試治具、一波形產(chǎn)生器、一信號(hào)擷取電路、一信號(hào)量測(cè)電路以及一分析電路。其中是將待測(cè)的驅(qū)動(dòng)集成電路置于測(cè)試治具中，并將波形產(chǎn)生器所產(chǎn)生的測(cè)試信號(hào)波形輸入位于測(cè)試治具中的驅(qū)動(dòng)集成電路。接著信號(hào)擷取電路會(huì)擷取由驅(qū)動(dòng)集成電路所輸出的實(shí)際信號(hào)波形，并將此實(shí)際信號(hào)波形交由信號(hào)量測(cè)電路與一標(biāo)準(zhǔn)波形的資料進(jìn)行比對(duì)。最后，分析電路會(huì)利用經(jīng)由信號(hào)量測(cè)電路比對(duì)量測(cè)后所產(chǎn)生的比對(duì)資料來判斷該驅(qū)動(dòng)集成電路的動(dòng)作及電氣特性是否合乎標(biāo)準(zhǔn)，并可將分析結(jié)果顯示于一顯示裝置上。
本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還采用以下技術(shù)措施來進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)。
前述的顯示面板驅(qū)動(dòng)集成電路的測(cè)試裝置，其更包括一元件辨識(shí)裝置，用以辨識(shí)該驅(qū)動(dòng)集成電路的種類，以利該分析電路能夠?qū)⒃摐y(cè)試結(jié)果紀(jì)錄于該驅(qū)動(dòng)集成電路的相關(guān)資料當(dāng)中。
前述的顯示面板驅(qū)動(dòng)集成電路的測(cè)試裝置，其中所述的元件辨識(shí)裝置為一條碼掃描裝置。
前述的顯示面板驅(qū)動(dòng)集成電路的測(cè)試裝置，其中所述的信號(hào)量測(cè)電路，其包括一衰減器，用以將該實(shí)際信號(hào)波形轉(zhuǎn)換為一數(shù)位邏輯信號(hào)；以及一比較器，用以比較該數(shù)位邏輯信號(hào)及該標(biāo)準(zhǔn)波形資料是否相同，并輸出該比對(duì)資料。
前述的顯示面板驅(qū)動(dòng)集成電路的測(cè)試裝置，其中所述的信號(hào)量測(cè)電路更包括一觸發(fā)開關(guān)電路連接于該信號(hào)擷取電路與該衰減器之間，該觸發(fā)開關(guān)電路在一般情況下為斷路狀態(tài)，當(dāng)該信號(hào)擷取電路輸出該實(shí)際信號(hào)波形時(shí)該觸發(fā)開關(guān)電路會(huì)轉(zhuǎn)變?yōu)橥窢顟B(tài)，用以將該實(shí)際信號(hào)波形傳送給該衰減器。
前述的顯示面板驅(qū)動(dòng)集成電路的測(cè)試裝置，其中所述的分析電路為一微處理器。
本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還采用以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)。依據(jù)本發(fā)明提出的一種顯示面板驅(qū)動(dòng)集成電路的測(cè)試方法，用以測(cè)試顯示器裝置的一驅(qū)動(dòng)集成電路，其包括以下步驟輸入一測(cè)試信號(hào)波形于該驅(qū)動(dòng)集成電路之中；擷取該驅(qū)動(dòng)集成電路所輸出的一實(shí)際信號(hào)波形；比對(duì)該實(shí)際信號(hào)波形與一標(biāo)準(zhǔn)波形資料，并產(chǎn)生一比對(duì)資料；以及判斷該驅(qū)動(dòng)集成電路是否為正常，其中是以該比對(duì)資料作為判斷基準(zhǔn)。
符合本發(fā)明實(shí)施例的測(cè)試裝置在執(zhí)行步驟上，會(huì)先對(duì)受測(cè)驅(qū)動(dòng)集成電路輸入一測(cè)試信號(hào)波形，接著將受測(cè)驅(qū)動(dòng)集成電路所輸出的實(shí)際信號(hào)波形擷取出來，并將此實(shí)際信號(hào)波形與一預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)波形進(jìn)行比對(duì)，經(jīng)由比對(duì)后的結(jié)果可判斷出該受測(cè)驅(qū)動(dòng)電路的動(dòng)作及功能特性是否正常。
另外，該分析電路可與一元件辨識(shí)裝置連接，用以辨識(shí)受測(cè)驅(qū)動(dòng)集成電路的種類為何，使該次的測(cè)試結(jié)果與該驅(qū)動(dòng)集成電路的相關(guān)資訊相結(jié)合，以利于后續(xù)的管理及追蹤。
本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還采用以下技術(shù)措施來進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)。
前述的顯示面板驅(qū)動(dòng)集成電路的測(cè)試方法，其更包括一顯示步驟，用以將該判斷步驟所產(chǎn)生的結(jié)果顯示出來。
前述的顯示面板驅(qū)動(dòng)集成電路的測(cè)試方法，其中所述的比對(duì)步驟中，包括轉(zhuǎn)換該實(shí)際信號(hào)波形成為一數(shù)位邏輯信號(hào)；以及比較該數(shù)位邏輯信號(hào)及該標(biāo)準(zhǔn)波形資料，以產(chǎn)生該比對(duì)資料借由上述技術(shù)方案，本發(fā)明顯示面板驅(qū)動(dòng)集成電路的測(cè)試裝置及方法至少具有下列優(yōu)點(diǎn)從以上所述的架構(gòu)中可以看出，本發(fā)明的做法是將驅(qū)動(dòng)集成電路所輸出的信號(hào)波形與一標(biāo)準(zhǔn)的信號(hào)波形直接進(jìn)行比對(duì)，與傳統(tǒng)的目測(cè)方式并不相同。因此，本發(fā)明的做法除了可檢測(cè)出驅(qū)動(dòng)集成電路是否可使顯示面板正常動(dòng)作之外，也可檢測(cè)出其他諸如波形以及信號(hào)延遲時(shí)間等電氣特性，從而確保受測(cè)驅(qū)動(dòng)集成電路的品質(zhì)能確實(shí)達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)而提升顯示器產(chǎn)品的制造良率。
綜上所述，本發(fā)明特殊的顯示面板驅(qū)動(dòng)集成電路的測(cè)試裝置及方法，能夠檢測(cè)出不良的驅(qū)動(dòng)集成電路及驅(qū)動(dòng)信號(hào)電氣特性，并能夠提升顯示器產(chǎn)品的良率。其具有上述諸多的優(yōu)點(diǎn)及實(shí)用價(jià)值，并在同類產(chǎn)品及方法中未見有類似的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及方法公開發(fā)表或使用而確屬創(chuàng)新，其不論在產(chǎn)品結(jié)構(gòu)、方法或功能上皆有較大的改進(jìn)，在技術(shù)上有較大的進(jìn)步，并產(chǎn)生了好用及實(shí)用的效果，且較現(xiàn)有的顯示面板驅(qū)動(dòng)集成電路的測(cè)試裝置具有增進(jìn)的多項(xiàng)功效，從而更加適于實(shí)用，而具有產(chǎn)業(yè)的廣泛利用價(jià)值，誠為一新穎、進(jìn)步、實(shí)用的新設(shè)計(jì)。
上述說明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術(shù)手段，而可依照說明書的內(nèi)容予以實(shí)施，并且為了讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更明顯易懂，以下特舉較佳實(shí)施例，并配合附圖，詳細(xì)說明如下。


圖1A為顯示器裝置中，顯示面板與驅(qū)動(dòng)集成電路的關(guān)系示意圖。
圖1B為檢測(cè)顯示器裝置時(shí)，測(cè)試治具的使用示意圖。
圖2為驅(qū)動(dòng)集成電路中，輸入與輸出信號(hào)的時(shí)序圖。
圖3為符合本發(fā)明實(shí)施例的驅(qū)動(dòng)集成電路測(cè)試裝置架構(gòu)圖。
圖4為符合本發(fā)明實(shí)施例的驅(qū)動(dòng)集成電路測(cè)試裝置的信號(hào)量測(cè)電路架構(gòu)圖。
110顯示面板 112掃描電極114資料電極 130掃描驅(qū)動(dòng)集成電路122掃描驅(qū)動(dòng)輸出線路 130資料驅(qū)動(dòng)集成電路132資料驅(qū)動(dòng)輸出線路 142、144測(cè)試治具202、208邊緣觸發(fā)信號(hào) 204開啟延遲時(shí)間206開啟工作時(shí)間 210關(guān)閉延遲時(shí)間212關(guān)閉工作時(shí)間 300驅(qū)動(dòng)集成電路測(cè)試裝置302測(cè)試治具 304波形產(chǎn)生器306信號(hào)擷取電路 308信號(hào)量測(cè)電路310標(biāo)準(zhǔn)波形資料 312分析電路314元件辨識(shí)裝置 316顯示裝置402觸發(fā)開關(guān)電路 404衰減器406比較器具體實(shí)施方式
為更進(jìn)一步闡述本發(fā)明為達(dá)成預(yù)定發(fā)明目的所采取的技術(shù)手段及功效，以下結(jié)合附圖及較佳實(shí)施例，對(duì)依據(jù)本發(fā)明提出的顯示面板驅(qū)動(dòng)集成電路的測(cè)試裝置及方法其具體實(shí)施方式
、結(jié)構(gòu)、方法、步驟、特征及其功效，詳細(xì)說明如后。
在習(xí)知的顯示面板驅(qū)動(dòng)集成電路測(cè)試方法中，是以人工的方式來進(jìn)行顯示面板及驅(qū)動(dòng)集成電路之間的連接對(duì)位，再對(duì)驅(qū)動(dòng)集成電路輸入測(cè)試信號(hào)，以目視顯示面板所顯示的畫面的方式來判斷該驅(qū)動(dòng)集成電路是否合乎標(biāo)準(zhǔn)。這樣的檢測(cè)程序雖然較為簡單，但其中有許多步驟卻相當(dāng)?shù)馁M(fèi)時(shí)費(fèi)工，容易發(fā)生錯(cuò)誤。而且只以目測(cè)判斷驅(qū)動(dòng)集成電路的好壞較不準(zhǔn)確也較不全面。因此本發(fā)明的基本構(gòu)想便是利用一系列的電子化比對(duì)及分析元件來建構(gòu)出一種顯示面板驅(qū)動(dòng)集成電路專屬的測(cè)試裝置，以達(dá)到快速、準(zhǔn)確及全面的測(cè)試結(jié)果。
請(qǐng)參閱圖3所示，是符合本發(fā)明實(shí)施例的一種顯示面板驅(qū)動(dòng)集成電路測(cè)試裝置300的架構(gòu)圖。此種驅(qū)動(dòng)集成電路測(cè)試裝置基本上包括了一測(cè)試治具302、一波形產(chǎn)生器304、一信號(hào)擷取電路306、一信號(hào)量測(cè)電路308以及一分析電路312。
其中，一受測(cè)驅(qū)動(dòng)集成電路會(huì)被安裝固定在測(cè)試治具302之中，以利后續(xù)測(cè)試步驟的進(jìn)行。
接著，測(cè)試裝置300中的波形產(chǎn)生器304會(huì)產(chǎn)生一測(cè)試信號(hào)波形，并且將此測(cè)試信號(hào)波形輸入位于測(cè)試治具302里的受測(cè)驅(qū)動(dòng)集成電路中。該測(cè)試信號(hào)波形是依據(jù)受測(cè)驅(qū)動(dòng)集成電路在實(shí)際應(yīng)用時(shí)，所可能接受到的輸入訊號(hào)模擬而成，所以該測(cè)試信號(hào)波形可能會(huì)具有多種形式。
當(dāng)受測(cè)驅(qū)動(dòng)集成電路接受了自波形產(chǎn)生器304而來的測(cè)試信號(hào)波形之后，會(huì)輸出一實(shí)際信號(hào)波形。因此，測(cè)試裝置300中的信號(hào)擷取電路306便是用以將此實(shí)際信號(hào)波形擷取出來，并將擷取出來的輸出信號(hào)波形傳遞給信號(hào)量測(cè)電路308以進(jìn)行后續(xù)的比對(duì)動(dòng)作。
在信號(hào)量測(cè)電路308之中，會(huì)進(jìn)行受測(cè)驅(qū)動(dòng)集成電路的實(shí)際信號(hào)波形的比對(duì)作業(yè)。因此，信號(hào)量測(cè)電路308會(huì)具有兩個(gè)輸入端，一輸入端用以接收自信號(hào)擷取電路306而來的實(shí)際信號(hào)波形，另一輸入端則用以接收一標(biāo)準(zhǔn)波形資料310。其中，標(biāo)準(zhǔn)波形資料310所紀(jì)錄存放的即為當(dāng)受測(cè)驅(qū)動(dòng)集成電路接收了波形產(chǎn)生器304所產(chǎn)生的波形之后，所應(yīng)該產(chǎn)生的理想信號(hào)波形。而自信號(hào)擷取電路306而來的信號(hào)波形則是受測(cè)驅(qū)動(dòng)集成電路接收了波形產(chǎn)生器304所產(chǎn)生的波形之后，所產(chǎn)生的實(shí)際信號(hào)波形。因此，標(biāo)準(zhǔn)波形資料310所紀(jì)錄的信號(hào)波形也可能會(huì)具有多種形式，但都應(yīng)與波形產(chǎn)生器304所產(chǎn)生的輸入信號(hào)波形相對(duì)應(yīng)。
在信號(hào)量測(cè)電路308當(dāng)中所要進(jìn)行的工作便是受測(cè)驅(qū)動(dòng)集成電路的實(shí)際信號(hào)波形與理想信號(hào)波形的比對(duì)，并將比對(duì)之后所產(chǎn)生的資料數(shù)據(jù)傳遞給分析電路312。在圖4中繪示了信號(hào)量測(cè)電路308于本實(shí)施例中所使用的架構(gòu)，其中包括了一觸發(fā)開關(guān)電路402、一衰減器404以及一比較器406。觸發(fā)開關(guān)電路402一般是呈現(xiàn)斷路狀態(tài)的，一直到信號(hào)擷取電路6輸出受測(cè)驅(qū)動(dòng)集成電路實(shí)際信號(hào)波形時(shí)，觸發(fā)開關(guān)電路402才會(huì)受到觸發(fā)而呈現(xiàn)通連狀態(tài)，用以將實(shí)際信號(hào)波形傳送給衰減器404。
因?yàn)閿?shù)位資料在比對(duì)上會(huì)比較容易且準(zhǔn)確，所以在本實(shí)施例中，標(biāo)準(zhǔn)波形資料310是以數(shù)位資料的形式存在，而衰減器404的作用便是將實(shí)際信號(hào)波形轉(zhuǎn)換為數(shù)位邏輯信號(hào)(即由1或0所組成的信號(hào))，然后再由比較器406來比對(duì)數(shù)位化的實(shí)際信號(hào)波形與標(biāo)準(zhǔn)波形資料310，并輸出一連串的比對(duì)資料給分析電路312。
請(qǐng)參閱圖3所示。當(dāng)分析電路312接收到了來自信號(hào)量測(cè)電路308的信號(hào)波形比對(duì)資料后，便有能力進(jìn)行分析并判斷此一受測(cè)驅(qū)動(dòng)集成電路的輸出訊號(hào)波形是否符合標(biāo)準(zhǔn)，并產(chǎn)生一分析結(jié)果。其中，可利用一微處理器元件來實(shí)現(xiàn)分析電路312的功能。
由分析電路312所產(chǎn)生的分析結(jié)果可徑行顯示于一顯示裝置316，以供檢測(cè)操作者確認(rèn)。或者也可將此分析結(jié)果輸入其他裝置之中，以對(duì)受測(cè)驅(qū)動(dòng)集成電路進(jìn)行其他的后續(xù)處理。另外，分析電路312也可與用以辨識(shí)受測(cè)元件種類的一元件辨識(shí)裝置314結(jié)合，使分析電路312于該次所產(chǎn)生的分析結(jié)果能夠直接紀(jì)錄于該受測(cè)元件的資料庫之中，以利于產(chǎn)品的后續(xù)追蹤及管理。在本實(shí)施例中，元件辨識(shí)裝置314可為一條碼掃描裝置。
從以上所述的架構(gòu)中可以看出，本發(fā)明的做法是將驅(qū)動(dòng)集成電路所輸出的信號(hào)波形與一標(biāo)準(zhǔn)的信號(hào)波形直接進(jìn)行比對(duì)，與傳統(tǒng)的目測(cè)方式并不相同。因此，本發(fā)明的做法除了可檢測(cè)出驅(qū)動(dòng)集成電路是否可使顯示面板正常動(dòng)作之外，也可檢測(cè)出其他諸如波形以及信號(hào)延遲時(shí)間等電氣特性，從而確保受測(cè)驅(qū)動(dòng)集成電路的品質(zhì)能確實(shí)達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)而提升顯示器產(chǎn)品的制造良率。
以上所述，僅是本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并非對(duì)本發(fā)明作任何形式上的限制，雖然本發(fā)明已以較佳實(shí)施例揭露如上，然而并非用以限定本發(fā)明，任何熟悉本專業(yè)的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明技術(shù)方案范圍內(nèi)，當(dāng)可利用上述揭示的方法及技術(shù)內(nèi)容作出些許的更動(dòng)或修飾為等同變化的等效實(shí)施例，但是凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案的內(nèi)容，依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上實(shí)施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種測(cè)試裝置，用以測(cè)試顯示器裝置的一驅(qū)動(dòng)集成電路，其特征在于其包括一測(cè)試治具，用以安裝該驅(qū)動(dòng)集成電路；一波形產(chǎn)生器，用以產(chǎn)生輸入該驅(qū)動(dòng)集成電路的一測(cè)試信號(hào)波形；一信號(hào)擷取電路，用以擷取該驅(qū)動(dòng)集成電路所輸出的一實(shí)際信號(hào)波形；一信號(hào)量測(cè)電路，用以進(jìn)行該實(shí)際信號(hào)波形與一標(biāo)準(zhǔn)波形資料的比對(duì)，并產(chǎn)生一比對(duì)資料；以及一分析電路，用以經(jīng)由該比對(duì)資料來判斷該驅(qū)動(dòng)集成電路是否為正常，并產(chǎn)生該驅(qū)動(dòng)集成電路的一測(cè)試結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于更包括一顯示裝置，用以顯示該測(cè)試結(jié)果。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于更包括一元件辨識(shí)裝置，用以辨識(shí)該驅(qū)動(dòng)集成電路的種類，以利該分析電路能夠?qū)⒃摐y(cè)試結(jié)果紀(jì)錄于該驅(qū)動(dòng)集成電路的相關(guān)資料當(dāng)中。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測(cè)試裝置，其特征在于其中所述的元件辨識(shí)裝置為一條碼掃描裝置。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其中該信號(hào)量測(cè)電路，其特征在于其包括一衰減器，用以將該實(shí)際信號(hào)波形轉(zhuǎn)換為一數(shù)位邏輯信號(hào)；以及一比較器，用以比較該數(shù)位邏輯信號(hào)及該標(biāo)準(zhǔn)波形資料是否相同，并輸出該比對(duì)資料。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)試裝置，其特征在于其中所述的信號(hào)量測(cè)電路更包括一觸發(fā)開關(guān)電路連接于該信號(hào)擷取電路與該衰減器之間，該觸發(fā)開關(guān)電路在一般情況下為斷路狀態(tài)，當(dāng)該信號(hào)擷取電路輸出該實(shí)際信號(hào)波形時(shí)該觸發(fā)開關(guān)電路會(huì)轉(zhuǎn)變?yōu)橥窢顟B(tài)，用以將該實(shí)際信號(hào)波形傳送給該衰減器。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于其中所述的分析電路為一微處理器。
8.一種測(cè)試方法，用以測(cè)試顯示器裝置的一驅(qū)動(dòng)集成電路，其特征在于其包括輸入一測(cè)試信號(hào)波形于該驅(qū)動(dòng)集成電路之中；擷取該驅(qū)動(dòng)集成電路所輸出的一實(shí)際信號(hào)波形；比對(duì)該實(shí)際信號(hào)波形與一標(biāo)準(zhǔn)波形資料，并產(chǎn)生一比對(duì)資料；以及判斷該驅(qū)動(dòng)集成電路是否為正常，其中是以該比對(duì)資料作為判斷基準(zhǔn)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于其更包括一顯示步驟，用以將該判斷步驟所產(chǎn)生的結(jié)果顯示出來。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于其中所述的比對(duì)步驟中，包括轉(zhuǎn)換該實(shí)際信號(hào)波形成為一數(shù)位邏輯信號(hào)；以及比較該數(shù)位邏輯信號(hào)及該標(biāo)準(zhǔn)波形資料，以產(chǎn)生該比對(duì)資料。
全文摘要
本發(fā)明是有關(guān)于一種顯示面板驅(qū)動(dòng)集成電路的測(cè)試裝置及方法。該種顯示面板驅(qū)動(dòng)集成電路測(cè)試裝置，包括一測(cè)試治具、一波形產(chǎn)生器、一信號(hào)擷取電路、一信號(hào)量測(cè)電路以及一分析電路。波形產(chǎn)生器會(huì)產(chǎn)生一測(cè)試信號(hào)波形，并將其輸入位于測(cè)試治具中的驅(qū)動(dòng)集成電路中。信號(hào)擷取電路用以擷取驅(qū)動(dòng)集成電路所輸出的實(shí)際信號(hào)波形，并將此實(shí)際信號(hào)波形交由信號(hào)量測(cè)電路與一標(biāo)準(zhǔn)波形資料進(jìn)行比對(duì)。最后，分析電路會(huì)利用信號(hào)量測(cè)電路所產(chǎn)生的比對(duì)資料來判斷該驅(qū)動(dòng)集成電路是否合乎標(biāo)準(zhǔn)。因此，在本測(cè)試裝置中，分別執(zhí)行了輸入測(cè)試信號(hào)波形、擷取實(shí)際信號(hào)波形、比對(duì)實(shí)際信號(hào)波形與標(biāo)準(zhǔn)波形資料以及判斷受測(cè)驅(qū)動(dòng)集成電路是否正常等步驟。
文檔編號(hào)G02F1/13GK1866039SQ200510070989
公開日2006年11月22日 申請(qǐng)日期2005年5月19日 優(yōu)先權(quán)日2005年5月19日
發(fā)明者洪綜富 申請(qǐng)人:臺(tái)朔光電股份有限公司