專利名稱：一種oled顯示屏電光性能測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬于電子技術(shù)領(lǐng)域，涉及一種對OLED顯示屏進(jìn)行光電性能測試的裝置。
背景技術(shù)：
有機(jī)電致發(fā)光二極管(Organic Light-Emitting Diode,簡稱0LED)是一種新型平板顯示器件。相比于傳統(tǒng)的CRT、IXD，OLED具有低功耗、高亮度、主動發(fā)光、響應(yīng)速度快、無視角問題及柔性化顯示等優(yōu)勢，具有廣闊的應(yīng)用前景，被認(rèn)為是最有可能替代液晶顯示(LED)的器件。OLED顯示屏制作完成后，需要對OLED顯示屏進(jìn)行光電性能檢測。通過測試OLED器件的電流-電壓特性、發(fā)光亮度-電壓特性、溫度-電流特性、發(fā)光效率-電壓特性、色坐標(biāo)以及電致發(fā)光光譜等，來判斷器件發(fā)光性能和電學(xué)性能的好壞。目前較為普遍的是采用直流電壓表、電流表來測定OLED顯示屏的電流、電壓特性；利用微弱光光度計(jì)測定OLED顯示屏的發(fā)光亮度，利用溫度采集儀測量OLED顯示屏的溫度。然后將測試數(shù)據(jù)輸入到計(jì)算機(jī)進(jìn)行后續(xù)分析處理，獲得樣品的電光性能。這種測量方法，電壓、電流、亮度、溫度等物理量無法實(shí)現(xiàn)同時(shí)測量，且誤差大、效率低；數(shù)據(jù)采集量及采集密度也大大受到限制，無法準(zhǔn)確地反映樣品的性能。日本的OTSUKA公司雖然研制出基于上述方法的大型OLED光電特性一體化檢測設(shè)備，但是這種大型的OLED檢測設(shè)備、結(jié)構(gòu)復(fù)雜、制作成本高、容易損壞，且操作過于復(fù)雜。在科研生產(chǎn)中，有時(shí)只是需要確定顯示屏的好壞，并不需要檢測出詳細(xì)的電光特性，使用大型檢測設(shè)備成本太高，因此就需要一個簡單、實(shí)用、方便、價(jià)錢便宜的OLED電光性能測試機(jī)，以對OLED顯示屏的好壞作出直觀迅速的判斷。
發(fā)明內(nèi)容為了克服市面上的OLED電光性能測試裝置結(jié)構(gòu)復(fù)雜、制作成本高、容易損壞、且使用不方便的缺點(diǎn)，本實(shí)用新型提供一種OLED顯示屏電光性能測試機(jī)，該OLED顯示屏電光性能測試機(jī)基于ARM7控制芯片，可以快速檢測出OLED顯示屏的好壞，具有單色顯示、灰度條顯示和全彩顯示的測試功能。本實(shí)用新型的技術(shù)方案是一種OLED顯示屏電光性能測試裝置，如圖1至4所示，包括一個木質(zhì)黑盒1、主電路板、控制板6、OLED顯示屏接口板5和測試夾具；所述木質(zhì)黑盒I的盒面開有兩個長方形窗口 7和8 ;所述OLED顯示屏接口板5安裝于第一長方形窗口 7處，并采用DIP40插針與主板電路的DIP40插槽連接；所述主板電路由電源電路、RAM7系LPC2138芯片及外圍電路、復(fù)位電路、JTAG下載電路以及接口電路組成，并固定安裝于木質(zhì)黑盒I內(nèi)部；所述控制板6安裝于第二長方形窗口 8處，控制板6上具有一個三檔開關(guān)和電源指示燈，控制板6采用6針插腳和跳線與主電路板連接。所述OLED顯示屏測試夾具包括一個壓桿3，所述壓桿3的一端采用固定座2固定于木質(zhì)黑盒的盒面，且壓桿3能夠圍繞固定端翻轉(zhuǎn)；測試時(shí)，將待測OLED顯示屏置于木質(zhì)黑盒I的盒面上，并使待測OLED顯示屏上的集成電路與OLED顯示屏接口板5相接觸；壓上壓桿3，壓桿3與待測OLED顯示屏的接觸面具有連接泡沫刷9，以保證待測OLED顯示屏上的集成電路與OLED顯示屏接口板5形成良好的電接觸；壓上壓桿3后，壓桿3的另一端通過固定于木質(zhì)黑盒I盒面的卡扣予以固定。所述控制板6的不同檔位控制待測OLED顯示屏顯示單色、灰度條、全彩圖片，對待測OLED顯示屏進(jìn)行快速直觀的檢測。所述電源電路由LM1117、MC7805和LM317三個穩(wěn)壓模塊組成，實(shí)現(xiàn)市電輸入到12V和3. 3V的直流輸出。其中3. 3V和12V給SSD1355模組供，3. 3V給LPC2138供電。所述復(fù)位電路采用較為簡單的組容復(fù)位電路，以MAX706為核心，實(shí)現(xiàn)上電復(fù)位和手動復(fù)位。所述RAM7系LPC2138芯片及外圍電路采用外部11. 0592MHZ晶振；LPC2138的PO. 2,PO. 3,PO. 11和PO. 141/0 口為開漏輸出，在用作I2C總線以及其他功能時(shí)，需要加I IOK的上拉電阻；LPC2138芯片的PO. 15、PO. 17、PO. 18和PO. 20 口外接控制板6，作為顯示
檔位的控制信號。所述JTAG下載電路采用ARM公司提出的標(biāo)準(zhǔn)20腳JTAG仿真調(diào)試接口。所述接口電路選用8080并行時(shí)序接口。其中BSO = 0，BS1 = 1，BS2 = 1，VCC外接，故⑶R，RESE，F(xiàn)B，Vbref懸空。選用內(nèi)部提供時(shí)鐘，故CL懸空。RD#, WR#, CS#, DC#, RES#為8080并行時(shí)序接口，接LPC2138的P2 口，D15 DO接LPC2138的PO 口。下載電路采用AR公司提出的標(biāo)準(zhǔn)20腳JTAG仿真調(diào)試接口，完成對LPC2138片上FLASH的燒寫。本實(shí)用新型的有益效果是，本實(shí)用新型在科研生產(chǎn)中，可以快速讓待測OLED顯示屏顯示單色、灰度條和全彩圖片，使OLED顯示屏的測試更加簡便、快速，解決現(xiàn)有OLED顯示屏測試的產(chǎn)能效率低問題，節(jié)約制造成本和檢測成本。
圖1、圖2分別是本實(shí)用新型提供的OLED顯示屏電光性能測試裝置壓桿扣上和打開時(shí)的結(jié)構(gòu)示意圖。圖3、圖4分別是本實(shí)用新型提供的OLED顯示屏電光性能測試裝置的前視圖和右視圖。圖5是本實(shí)用新型提供的OLED顯示屏電光性能測試裝置的主板電路框圖。圖6是本實(shí)用新型提供的OLED顯示屏電光性能測試裝置的電源電路、LPC2138外圍電路以及LPC2138與控制板的連接電路。圖7是本實(shí)用新型提供的OLED顯示屏電光性能測試裝置的復(fù)位電路。圖8是本實(shí)用新型提供的OLED顯示屏電光性能測試裝置的主板JTAG下載電路。圖9是本實(shí)用新型提供的OLED顯示屏電光性能測試裝置的主板與OLED模組接口電路。圖10是本實(shí)用新型提供的OLED顯示屏電光性能測試裝置的控制板電路圖。
具體實(shí)施方式
一種OLED顯示屏電光性能測試裝置，如圖1至4所示，包括一個木質(zhì)黑盒1、主電路板、控制板6、OLED顯示屏接口板5和測試夾具；所述木質(zhì)黑盒I的盒面開有兩個長方形窗口 7和8 ;所述OLED顯示屏接口板5安裝于第一長方形窗口 7處，并采用DIP40插針與主板電路的DIP40插槽連接；所述主板電路由電源電路、RAM7系LPC2138芯片及外圍電路、復(fù)位電路、JTAG下載電路以及接口電路組成，并固定安裝于木質(zhì)黑盒I內(nèi)部；所述控制板6安裝于第二長方形窗口 8處，控制板6上具有一個三檔開關(guān)和電源指示燈，控制板6采用6針插腳和跳線與主電路板連接。所述OLED顯示屏測試夾具包括一個壓桿3，所述壓桿3的一端采用固定座2固定于木質(zhì)黑盒的盒面，且壓桿3能夠圍繞固定端翻轉(zhuǎn)；測試時(shí)，將待測OLED顯示屏置于木質(zhì)黑盒I的盒面上，并使待測OLED顯示屏上的集成電路與OLED顯示屏接口板5相接觸；壓上壓桿3，壓桿3與待測OLED顯示屏的接觸面具有連接泡沫刷9，以保證待測OLED顯示屏上的集成電路與OLED顯示屏接口板5形成良好的電接觸；壓上壓桿3后，壓桿3的另一端通過固定于木質(zhì)黑盒I盒面的卡扣予以固定。所述控制板6的不同檔位控制待測OLED顯示屏顯示單色、灰度條、全彩圖片，對待測OLED顯示屏進(jìn)行快速直觀的檢測。所述電源電路由LM1117、MC7805和LM317三個穩(wěn)壓模塊組成，實(shí)現(xiàn)市電輸入到12V和3. 3V的直流輸出。其中3. 3V和12V給SSD1355模組供，3. 3V給LPC2138供電。所述復(fù)位電路采用較為簡單的組容復(fù)位電路，以MAX706為核心，實(shí)現(xiàn)上電復(fù)位和手動復(fù)位。所述RAM7系LPC2138芯片及外圍電路采用外部11. 0592MHZ晶振；LPC2138的PO. 2,PO. 3,PO. 11和PO. 141/0 口為開漏輸出，在用作I2C總線以及其他功能時(shí)，需要加I IOK的上拉電阻；LPC2138芯片的PO. 15、PO. 17、PO. 18和PO. 20 口外接控制板6，作為顯示
檔位的控制信號。所述JTAG下載電路采用ARM公司提出的標(biāo)準(zhǔn)20腳JTAG仿真調(diào)試接口。所述接口電路選用8080并行時(shí)序接口。其中BSO = 0，BS1 = 1，BS2 = 1，VCC外接，故⑶R，RESE，F(xiàn)B，Vbref懸空。選用內(nèi)部提供時(shí)鐘，故CL懸空。RD#, WR#, CS#, DC#, RES#為8080并行時(shí)序接口，接LPC2138的P2 口，D15 DO接LPC2138的PO 口。下載電路采用ARM公司提出的標(biāo)準(zhǔn)20腳JTAG仿真調(diào)試接口，完成對LPC2138片上FLASH的燒寫。在圖5中，市電通過經(jīng)過三個三端穩(wěn)壓模塊產(chǎn)生12V和3. 3V電壓，給LPC2138和SSD1355模組供電。通過JTAG接口將程序下載到LPC2138的片上FLASH中，產(chǎn)生數(shù)據(jù)信號和控制信號來控制SSD1355模組。再通過控制板的不同檔位，來控制OLED裸屏的顯示。圖6是LPC2138外圍電路以及電源電路。電源電路通過三個三端穩(wěn)壓模塊，產(chǎn)生12V和3. 3V電源信號。LPC2138給SSD1355提供數(shù)據(jù)信號和控制信號，并通過PO. 15,PO. 17，PO. 18，PO. 20腳外接控制板來達(dá)到對OLED顯示屏畫面的控制。圖7是復(fù)位電路。實(shí)現(xiàn)對LPC2138的上電自動復(fù)位和在該芯片運(yùn)行過程中按鍵復(fù)位。圖8是JTAG下載電路。將程序燒寫到LPC2138的片上FLASH中。[0037]圖9是LPC2138和SSD1355的接口電路。選用8080并行時(shí)序接口，故BSO = 0，BSl = 1，BS2 = I。VCC外接，故⑶R，RESE, FB, Vbref懸空。選用內(nèi)部提供時(shí)鐘，故CL懸空。RD#, WR#, CS#, DC#, RS# 為 8080 并行時(shí)序接口，接 LPC2138 的 P2 口，D15 DO 接 PO 口。圖10是控制板電路圖。一個開關(guān)和電源相接。三個控制按鈕接收LPC2138通過6針插腳送來的控制信號，實(shí)現(xiàn)三個檔位的選擇。
權(quán)利要求1.一種OLED顯示屏電光性能測試裝置，其特征在于，包括一個木質(zhì)黑盒(I)、主電路板、控制板(6)、0LED顯示屏接口板(5)和測試夾具；所述木質(zhì)黑盒(I)的盒面開有兩個長方形窗口(7和8);所述OLED顯示屏接口板(5)安裝于第一長方形窗口(7)處，并采用DIP40插針與主板電路的DIP40插槽連接；所述主板電路由電源電路、RAM7系LPC2138芯片及外圍電路、復(fù)位電路、JTAG下載電路以及接口電路組成，并固定安裝于木質(zhì)黑盒(I)內(nèi)部；所述控制板(6)安裝于第二長方形窗口(8)處，控制板(6)上具有一個三檔開關(guān)和電源指示燈，控制板(6)采用6針插腳和跳線與主電路板連接； 所述OLED顯示屏測試夾具包括一個壓桿(3)，所述壓桿(3)的一端采用固定座(2)固定于木質(zhì)黑盒的盒面，且壓桿(3)能夠圍繞固定端翻轉(zhuǎn)；測試時(shí)，將待測OLED顯示屏置于木質(zhì)黑盒(I)的盒面上，并使待測OLED顯示屏上的集成電路與OLED顯示屏接口板(5)相接觸；壓上壓桿(3)，壓桿(3)與待測OLED顯示屏的接觸面具有連接泡沫刷(9)，以保證待測OLED顯示屏上的集成電路與OLED顯示屏接口板(5)形成良好的電接觸；壓上壓桿(3)后，壓桿(3)的另一端通過固定于木質(zhì)黑盒(I)盒面的卡扣予以固定。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的OLED顯示屏電光性能測試裝置，其特征在于，所述控制板(6)的不同檔位控制待測OLED顯示屏顯示單色、灰度條、全彩圖片，對待測OLED顯示屏進(jìn)行快速直觀的檢測。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的OLED顯示屏電光性能測試裝置，其特征在于，所述電源電路由LM1117、MC7805和LM317三個穩(wěn)壓模塊組成，實(shí)現(xiàn)市電輸入到12V和3. 3V的直流輸出。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的OLED顯示屏電光性能測試裝置，其特征在于，所述復(fù)位電路采用簡單的組容復(fù)位電路，以MAX706為核心，實(shí)現(xiàn)上電復(fù)位和手動復(fù)位。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的OLED顯示屏電光性能測試裝置，其特征在于，所述RAM7系LPC2138芯片及外圍電路采用外部11. 0592MHZ晶振；LPC2138的PO. 2、PO. 3、PO. 11和PO. 141/0 口為開漏輸出，在用作I2C總線以及其他功能時(shí)，需要加I IOK的上拉電阻；LPC2138 芯片的 PO. 15、PO. 17、PO. 18 和 PO. 20 口外接控制板(6)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的OLED顯示屏電光性能測試裝置，其特征在于，所述JTAG下載電路采用ARM公司提出的標(biāo)準(zhǔn)20腳JTAG仿真調(diào)試接口，完成對LPC2138芯片中FLASH的燒寫。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的OLED顯示屏電光性能測試裝置，其特征在于，所述接口電路選用8080并行時(shí)序接口。
專利摘要一種OLED顯示屏電光性能測試裝置，屬于電子技術(shù)領(lǐng)域。采用LPC2138作為主控芯片，控制主板由電源電路，JTAG下載電路，復(fù)位電路，LPC2138外圍電路以及接口電路組成。控制主板用螺絲固定在黑盒內(nèi)部，將待測OLED顯示屏裸屏的IC放在接口板的引腳處，壓上壓桿，通過連接泡沫刷壓緊，扣上卡扣，接通電源，即可由盒上的控制子板控制OLED屏幕的顯示單色、灰度圖、全彩圖片，對裸屏進(jìn)行快速直觀的檢測。本實(shí)用新型可以快速讓待測OLED顯示屏顯示單色、灰度條和全彩圖片，使OLED顯示屏的測試更加簡便、快速，解決現(xiàn)有OLED顯示屏測試的產(chǎn)能效率低問題，節(jié)約制造成本和檢測成本。
文檔編號G09G3/00GK202905107SQ20122067193
公開日2013年4月24日 申請日期2012年12月7日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月7日
發(fā)明者張翔, 張霖, 鄧元勛 申請人:張翔, 張霖, 鄧元勛