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一種lcd產(chǎn)品響應(yīng)速度測試儀器的制作方法

文檔序號:2625962閱讀:345來源:國知局
專利名稱:一種lcd產(chǎn)品響應(yīng)速度測試儀器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種響應(yīng)速度測試儀器,特別涉及一種LCD產(chǎn)品響應(yīng)速度測試儀器。
背景技術(shù)
顯示技術(shù)日新月異,隨著LCD產(chǎn)品更新?lián)Q代的速度越來越快,客戶對產(chǎn)品的響應(yīng)速度的要求也越來越高,現(xiàn)已有方案主要通過購買專用的測試儀器,這些儀器不但費用昂貴,而且操作起來需要專業(yè)的人才能操作。測試時耗費的時間也比較長。所謂響應(yīng)時間是液晶顯示器各象素點對輸入信號反應(yīng)的速度,即象素由暗轉(zhuǎn)亮或由亮轉(zhuǎn)暗所需要的時間。響應(yīng)時間越小則使用者看動態(tài)畫面越不會有尾影拖曳的感覺。其原始是在液晶盒內(nèi)施加電壓,使液晶分子扭轉(zhuǎn)與回復(fù)。一般響應(yīng)時間分為兩個部分上升時間和下降時間;我們所說的響應(yīng)時間指的就是兩者之和。究其原理為給液晶顯示器一個電壓信號后測試出該液晶顯示器在電場作用下的透過率由90%降到10%和由10%升到90%所需要的時間?,F(xiàn)有響應(yīng)速度測試技術(shù)是通過專業(yè)的測試設(shè)備對液晶顯示器給一個測試電壓,液晶顯示器盒內(nèi)的液晶分子通過自身的光雙折射特性來表現(xiàn)出液晶分子的扭轉(zhuǎn)和回復(fù)快慢。因為采用專業(yè)的設(shè)備來測試響應(yīng)速度,所以存在著測試儀器結(jié)構(gòu)復(fù)雜,操作繁瑣,成本高,測試速度慢的問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種LCD產(chǎn)品響應(yīng)速度測試儀器,解決現(xiàn)有LCD產(chǎn)品響應(yīng)速度測試儀器結(jié)構(gòu)復(fù)雜,操作繁瑣,成本高,測試速度慢的問題。本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是一種LCD產(chǎn)品響應(yīng)速度測試儀器,包括墊板,設(shè)置在墊板上的背光源,設(shè)置在背光源兩側(cè)的支撐結(jié)構(gòu),設(shè)置在支撐結(jié)構(gòu)上端的帶感光電路的娃光電池,娃光電池位于背光源的正上方,感光電路與不波器相連接;測試時,將閃爍狀態(tài)的待測試IXD產(chǎn)品放置在硅光電池和背光源之間,背光源保持常亮狀態(tài),背光源的光透過LCD產(chǎn)品傳給硅光電池,硅光電池將光信號轉(zhuǎn)換成電信號并通過感光電路將電信號傳給示波器,通過示波器波形的變換來檢測LCD產(chǎn)品的響應(yīng)速度。優(yōu)選的,所述娃光電池底面積大于IXD產(chǎn)品底面積。優(yōu)選的,所述的背光源的覆蓋面積大于IXD產(chǎn)品的底面積。本發(fā)明的有益效果通過含背光源、IXD、帶硅光電池的感光電路、示波器的測試設(shè)備來實現(xiàn)LCD響應(yīng)速度的測試,測試設(shè)備結(jié)構(gòu)簡單,易操作,成本低,且測試速度較快。硅光電池底面積大于LCD產(chǎn)品底面積,背光源的覆蓋面積大于LCD產(chǎn)品底面積,使得測試效果更好,且精確。本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡單,易操作,成本低,且測試速度快可廣泛應(yīng)用于LCD響應(yīng)速度測試領(lǐng)域。下面結(jié)合附圖和實施例,對本發(fā)明作進一步詳細說明。


圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施例方式請參閱圖1,如圖所示,一種IXD產(chǎn)品響應(yīng)速度測試儀器,包括墊板1,設(shè)置在墊板I上的背光源2,設(shè)置在背光源2兩側(cè)的支撐結(jié)構(gòu)3,設(shè)置在支撐結(jié)構(gòu)3上端的帶感光電路6的娃光電池5,娃光電池5位于背光源2的正上方,感光電路6與不波器相連接;測試時,將閃爍狀態(tài)的待測試IXD產(chǎn)品4放置在硅光電池5和背光源2之間,背光源2保持常亮狀態(tài),背光源2的光透過LCD產(chǎn)品4傳給硅光電池5,硅光電池5將光信號轉(zhuǎn)換成電信號并通過感光電路6將電信號傳給示波器,通過示波器波形的變換來檢測LCD產(chǎn)品4的響應(yīng)速度。所述娃光電池5底面積大于IXD產(chǎn)品4底面積。所述的背光源2的覆蓋面積大于IXD產(chǎn)品4的底面積。LCD產(chǎn)品4的閃爍指的是LCD產(chǎn)品4由暗到亮和由亮到暗的狀態(tài)變化。響應(yīng)速度的測試應(yīng)在標(biāo)準暗室中進行,亮度信號測試點通常選取在LCD的中心位置。驅(qū)動信號發(fā)生器產(chǎn)生可反轉(zhuǎn)的平場信號驅(qū)動顯示器由暗到亮和由亮到暗。
權(quán)利要求
1.一種IXD產(chǎn)品響應(yīng)速度測試儀器,其特征在于包括墊板(1),設(shè)置在墊板(I)上的背光源(2),設(shè)置在背光源(2)兩側(cè)的支撐結(jié)構(gòu)(3),設(shè)置在支撐結(jié)構(gòu)(3)上端的帶感光電路(6)的娃光電池(5),娃光電池(5)位于背光源(2)的正上方,感光電路(6)與不波器相連接;測試時,將閃爍狀態(tài)的待測試IXD產(chǎn)品(4)放置在娃光電池(5)和背光源(2)之間,背光源(2 )保持常亮狀態(tài),背光源(2 )的光透過IXD產(chǎn)品(4 )傳給硅光電池(5 ),硅光電池(5 )將光信號轉(zhuǎn)換成電信號并通過感光電路(6)將電信號傳給示波器,通過示波器波形的變換來檢測IXD產(chǎn)品(4)的響應(yīng)速度。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LCD產(chǎn)品響應(yīng)速度測試儀器,其特征在于所述硅光電池(5)底面積大于LCD產(chǎn)品(4)底面積。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LCD產(chǎn)品響應(yīng)速度測試儀器,其特征在于所述的背光源(2)的覆蓋面積大于IXD產(chǎn)品(4)的底面積。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種LCD產(chǎn)品響應(yīng)速度測試儀器,其特征在于包括墊板,設(shè)置在墊板上的背光源,設(shè)置在背光源兩側(cè)的支撐結(jié)構(gòu),設(shè)置在支撐結(jié)構(gòu)上端的帶感光電路的硅光電池,硅光電池位于背光源的正上方,感光電路與示波器相連接;測試時,將閃爍狀態(tài)的待測試LCD產(chǎn)品放置在硅光電池和背光源之間,背光源保持常亮狀態(tài),背光源的光透過LCD產(chǎn)品傳給硅光電池,硅光電池將光信號轉(zhuǎn)換成電信號并通過感光電路將電信號傳給示波器,通過示波器波形的變換來檢測LCD產(chǎn)品的響應(yīng)速度。本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡單,易操作,成本低,且測試速度快可廣泛應(yīng)用于LCD響應(yīng)速度測試領(lǐng)域。
文檔編號G09G3/00GK103063405SQ201210552120
公開日2013年4月24日 申請日期2012年12月18日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月18日
發(fā)明者黃獎華, 尹康杰, 吳建琴 申請人:黃山市中顯微電子有限公司
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