專利名稱：一種二維坐標(biāo)尺的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種文具，具體是一種二維坐標(biāo)尺。
背景技術(shù)：
學(xué)生特別是高中學(xué)生在學(xué)習(xí)數(shù)學(xué)課程時，經(jīng)常需要確定坐標(biāo)系，精確的描點，作函數(shù)圖像等，而目前學(xué)生大都使用兩把直尺或三角尺完成上述作業(yè)，顯然，使用直尺或三角尺不僅不方便，而且不夠精確，不能滿足學(xué)生的需求。
實用新型內(nèi)容本實用新型的目的在于提供一種新型的二維坐標(biāo)尺，它能方便的確定坐標(biāo)系、描點及做函數(shù)圖像。 本實用新型解決其技術(shù)問題所采取的技術(shù)方案是一種二維坐標(biāo)尺，包括具有刻度的二維坐標(biāo)尺本體，其特征是，所述二維坐標(biāo)尺本體為矩形框，所述刻度位于矩形框的內(nèi)框邊緣，所述矩形框的內(nèi)框和外框之間具有環(huán)繞內(nèi)框的滑槽，所述二維坐標(biāo)尺本體上還設(shè)有相互垂直的具有刻度的橫坐標(biāo)尺和縱坐標(biāo)尺，所述橫坐標(biāo)尺和縱坐標(biāo)尺的兩端具有滑輪，所述滑輪可以在滑槽內(nèi)滑動。使用時，只需要將橫坐標(biāo)尺和縱坐標(biāo)尺沿滑槽滑動便可以準(zhǔn)確定位。 本實用新型的有益效果是本實用新型的橫坐標(biāo)尺和縱坐標(biāo)尺可以沿滑槽滑動，準(zhǔn)確定位，從而能方便的確定坐標(biāo)系、描點及做函數(shù)圖像。
圖1為本實用新型的俯視圖。圖2為本實用新型自滑槽部位橫向剖開的主視圖。[0007] 圖中1 二維坐標(biāo)尺本體，2滑槽，3橫坐標(biāo)尺，4縱坐標(biāo)尺，5刻度，6滑輪。
具體實施方式如圖1所示， 一種二維坐標(biāo)尺，包括具有刻度5的二維坐標(biāo)尺本體1和相互垂直的具有刻度5的橫坐標(biāo)尺3和縱坐標(biāo)尺4，所述二維坐標(biāo)尺本體1為矩形框，所述刻度5位于矩形框的內(nèi)框邊緣，所述矩形框的內(nèi)框和外框之間具有環(huán)繞內(nèi)框的滑槽2 。[0009] 如圖2所示，橫坐標(biāo)尺3和縱坐標(biāo)尺4的兩端具有滑輪5，所述滑輪5可以在滑槽內(nèi)2滑動。使用時，只需要將橫坐標(biāo)尺和縱坐標(biāo)尺沿滑槽滑動便可以準(zhǔn)確定位。
權(quán)利要求一種二維坐標(biāo)尺，包括具有刻度的二維坐標(biāo)尺本體，其特征是，所述二維坐標(biāo)尺本體為矩形框，所述刻度位于矩形框的內(nèi)框邊緣，所述矩形框的內(nèi)框和外框之間具有環(huán)繞內(nèi)框的滑槽，所述二維坐標(biāo)尺本體上還設(shè)有相互垂直的具有刻度的橫坐標(biāo)尺和縱坐標(biāo)尺，所述橫坐標(biāo)尺和縱坐標(biāo)尺的兩端具有滑輪，所述滑輪可以在滑槽內(nèi)滑動。
專利摘要本實用新型公開了一種二維坐標(biāo)尺，它包括具有刻度的二維坐標(biāo)尺本體，其特征是，所述二維坐標(biāo)尺本體為矩形框，所述刻度位于矩形框的內(nèi)框邊緣，所述矩形框的內(nèi)框和外框之間具有環(huán)繞內(nèi)框的滑槽，所述二維坐標(biāo)尺本體上還設(shè)有相互垂直的具有刻度的橫坐標(biāo)尺和縱坐標(biāo)尺，所述橫坐標(biāo)尺和縱坐標(biāo)尺的兩端具有滑輪，所述滑輪可以在滑槽內(nèi)滑動。本實用新型的橫坐標(biāo)尺和縱坐標(biāo)尺可以沿滑槽滑動，準(zhǔn)確定位，從而能方便的確定坐標(biāo)系、描點及做函數(shù)圖像。
文檔編號B43L13/00GK201544650SQ20092025351
公開日2010年8月11日 申請日期2009年11月16日 優(yōu)先權(quán)日2009年11月16日
發(fā)明者侯培宇 申請人:侯培宇