專利名稱：面板測試結(jié)構的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種利用薄膜探針的特性所制成的面板測試結(jié)構，特別涉及 一種可測試面板彩度的面板測試結(jié)構。
背景技術：
不論是何種顯示器，于現(xiàn)今信息社會中已是一個不可或缺的配備，其用以呈 現(xiàn)畫面與文字信號的輸出裝置，在顯示器中一個影像的輸出由許多具不同顏色及明
亮度的像素(pixel)所構成，且每一像素中包括有紅(R)、綠(G)及藍(B)三 個子像素(sub-pixel )，而相鄰二子像素之間的最短距離即所謂的間距(pitch ), 當間距越小時，顯示器的畫面將越為清晰。
每一個像素中的每一子像素分別受一條信號掃描線(common)及一條數(shù)據(jù)信 號線(segment)連接，且每一信號掃描線并受一信號掃描線驅(qū)動電路供應掃描信 號，而每一數(shù)據(jù)信號線則受一數(shù)據(jù)信號線驅(qū)動電路供應影像數(shù)據(jù)，并使數(shù)據(jù)信號線 及信號掃瞄線分別與設置于面板邊緣的驅(qū)動電路連接，以藉由驅(qū)動電路來控制驅(qū)動 信號快速且反復的掃瞄過各子像素，進而控制每一子像素的亮與暗，以經(jīng)由三原色 依比例調(diào)和而顯示出全彩模式的色彩。
已知在對顯示器面板進行點燈測試時，即是針對每一像素中的子像素進行測 試，乃在安裝前述的驅(qū)動電路以及完成面板接合之后，先以點燈測試機臺對此面板 進行測試，以確保產(chǎn)品妥善。然，于高顯示度的顯示面板其電極終端區(qū)的輸入電極 排線相當密集，以致于利用傳統(tǒng)探針方式來進行點測試時遇到很大的困難，且此種 利用點燈測試機臺進行測試的方式使用有所限制，亦無法分別單獨測試各原色子像 素。

實用新型內(nèi)容
本實用新型的一目的是提供一種面板測試結(jié)構，其利用不同導電結(jié)構上的導 電凸塊分別與任一相同原色子像素形成電性接觸，且將待側(cè)面板上的相同原色子像素全都連接至同 一測試點，以藉此進行面板像素測試。
本實用新型的另一目的是提供一種面板點燈測試結(jié)構，其可針對三原色，紅
綠藍(RGB)，分別單獨測試其彩度，應用更為廣泛。
本實用新型的再一目的是提供一種面板測試結(jié)構，其使用單面的測試薄膜探 針即可進行點燈測試，故易于制造及維修。
本實用新型的又一 目的是提供一種可降低成本的面板測試結(jié)構。
為達到上述的目的，本實用新型的一實施例提出一種面板測試結(jié)構將導電結(jié) 構布設于薄膜或軟性片上而形成薄膜探針。其用以測試一面板上的多個像素，且每 一像素含有多個子像素；以及一薄膜探針設有多個導電結(jié)構。其中導電結(jié)構具有多 個導電凸塊凸設于薄膜上的導電線表面，且任一導電結(jié)構的導電凸塊分別與任一相 同顏色子像素形成電性連接。此外，導電凸塊利用至少一導電線路連接至一對外接 點，因此可藉由對外接點做面板測試。
以下藉由具體實施例配合所附的附圖詳加說明，當更容易了解本實用新型的 目的、技術內(nèi)容、特點及其所達成的功效。


圖1為依據(jù)本實用新型的一實施例的待測面板的示意圖。
圖2a為依據(jù)本實用新型的一實施例的薄膜或軟性片上電線的結(jié)構示意圖。
圖2b為圖2a的局部側(cè)視示意圖。
圖3為依據(jù)本實用新型的一實施例的進行面板測試的結(jié)構俯視圖。 圖4為依據(jù)本實用新型的一實施例的進行面板測試的結(jié)構側(cè)視圖。 圖5為依據(jù)本實用新型的又一實施例的進行面板測試的結(jié)構俯視圖。
主要元件符號說明
100面板
110像素
112、114、116子像素
200薄膜探針
210、220、230導電結(jié)構
212、222、232導電凸塊
214、224、234導電線路Cl、 C2、 C3…
Sll、 S12、 S13、
216、 226、 236
240、 250
對外接點 控制線路 信號掃描線 數(shù)據(jù)傳輸線
S21、 S22、 S23…
具體實施方式
其詳細說明如下，所述較佳實施例僅做一說明非用以限定本實用新型。
首先，請先參考圖1，圖1繪示本實用新型的一實施例所使用的待測面板示意 圖。如圖所示， 一面板100具有成矩陣排列的多個像素110，且每一個像素110分 為多個子像素，于一實施例中，子像素可區(qū)分為三原色子像素，分別為紅色(R) 子像素112、綠色(G)子像素114及藍色(B)子像素116等三原色。其中多個信 號掃瞄線(Common line)(如C1、 C2、 C3…)設置于面板的一側(cè)邊，且任一信號掃 瞄線電性連接面板100上任一橫向排列的像素110;而多個數(shù)據(jù)傳輸線(Segment line)(如Sll、 S12、 S13…)設置于面板100的另 一側(cè)邊，且任一數(shù)據(jù)傳輸線電性 連接面板100上任一縱向排列的子像素(112、 114或116)以方便面板100進行測試、 電性導通與數(shù)據(jù)傳輸用。
接著，請參考圖2a及圖2b，圖2a繪示本實用新型的一實施例的薄膜或軟性 片上電線的結(jié)構示意圖；圖2b為圖2a的局部側(cè)視示意圖。請先參考圖2a, —薄 膜探針200,例如由薄膜或不導電的可撓式材質(zhì)所構成，其上含有多個導電結(jié)構， 于一實施例中，導電結(jié)構可由異方向性導電膠或是鎳合金的金屬導線所構成。且任 一導電結(jié)構中，含有多個導電凸塊(如212、 222或232)凸出于薄膜探針200表面， 且任一導電結(jié)構的導電凸塊(212、 222或232)利用至少一導電線路(如214、 224 或234)連接至一對外接點(如216、 226或236)。其中導電凸塊212、 222、 232經(jīng) 由導電線路(圖中僅顯示導電線路234)連接并凸出薄膜探針的示意圖可參考圖2b。
接續(xù)上述，于一實施例中，薄膜探針200具有三組導電結(jié)構，其為一紅色子 像素導電結(jié)構、 一綠色子像素導電結(jié)構及一藍色子像素導電結(jié)構，分別用以測試不 同原色的子像素。于又一實施例中，紅色子像素導電結(jié)構210由多個導電凸塊212、 至少一導電線路214及一對外接點216組成；綠色子像素導電結(jié)構220由多個導電凸塊222、至少一導電線路224及一對外接點226組成；以及藍色子像素導電結(jié)構 230由多個導電凸塊232、至少一導電線路234及一對外接點236組成。如圖2a 所示，于此實施例中，薄膜探針200上紅色子像素導電結(jié)構210的多個導電凸塊 212凸出于薄膜探針200表面，且利用導電線路214連接至對外接點216。同理， 綠色子像素導電結(jié)構220的導電凸塊222亦凸出于薄膜探針200表面，且利用導電 線路224連接至對外接點226;以及藍色子像素導電結(jié)構230的導電凸塊232凸設 于薄膜探針200表面，且利用導電線路234連接至對外接點236。其中三組導電結(jié) 構分別經(jīng)由對外接點216、 226、 236連接外部測試信號(如測試機臺信號產(chǎn)生品)， 即可將待側(cè)信號轉(zhuǎn)接出去，進行面板100 (如圖1所示)的點燈測試。
再來，使用如圖2a所示的薄膜探針200對如圖1所示的待測面板100進行測 試時，請同時參閱圖3及圖4，圖3及圖4繪示本實用新型的一實施例的進行面板 測試的結(jié)構俯視圖及其結(jié)構側(cè)視圖。如圖所示，將薄膜探針200設置于面板100 上，且利用薄膜探針200上的導電凸塊與面板100電性接觸。于此實施例中，例如 紅色子像素導電結(jié)構210上的任一導電凸塊212與面板100上任一紅色子像素112 的數(shù)據(jù)傳輸線電性接觸，再經(jīng)由導電線路214連接至對外接點216,藉由對外接點 216對面板100中紅色子像素112做點燈測試；而綠色子像素導電結(jié)構220上的任 一導電凸塊222與面板100上任一綠色子像素114的數(shù)據(jù)傳輸線電性導通，再經(jīng)由 導電線路224連接至對外接點226,藉由對外接點226對綠色子像素114做點燈測 試；同理，藍色子像素導電結(jié)構230上的任一導電凸塊232與面板100上任一藍色 子像素116的數(shù)據(jù)傳輸線電性連接，再經(jīng)由導電線路234連接至對外接點236,藉 由對外接點236對藍色子像素116做點燈測試。此外，對外接點216、 226及236 可受一開關線路(圖中未示)控制以分別進行個別單色點亮及全點亮的面板測試。圖 4繪示其結(jié)構側(cè)視圖，薄膜探針200上的導電凸塊212、 222與232分別與面板100 上的數(shù)據(jù)傳輸線(Sll、 S12、 S13、 S21、 S22、 S23…)電性接觸以測試面板100在各
別亮與全點亮狀態(tài)下的彩度。
接續(xù)上述說明，于又一實施例中，如圖5所示，薄膜探針200上更可含有一 控制線路(240或250)，其上亦具有凸出薄膜探針200表面的導電凸塊(242或252) 可與面板100上任一列的信號掃瞄線電性接觸。如圖所示，于此實施例中，兩控制 線路240與250可分別與奇數(shù)列與偶數(shù)列的各組信號掃瞄線電性連接以控制面板 IOO在半點亮狀況下檢查其像素是否正常。但，可以理解的是，圖中所繪式的薄膜 探針200與面板100的樣式僅為一實施例，并不限制本實用新型的范疇。根據(jù)上述，本實用新型提供一種面板測試結(jié)構，利用薄膜探針上導電凸塊即 可分別測試面板像素全點亮、半點亮及各別點亮的面板測試而達到面板全功能的斷
路/短路(open/short)測試。其可應用于小型顯示面板與大型顯示面板，應用相當 廣泛。另，導電凸塊設計可使測試薄膜探針與面板線路接觸性更為良好。
綜合上述，本實用新型的一實施例所提出的面板測試結(jié)構，利用三組導電結(jié) 構上的多個導電凸塊，藉由導電凸塊電性接觸待測面板上任一相同原色子像素的數(shù) 據(jù)傳輸線并電性連接至一對外接點，故可針對三原色，例如紅綠藍(RGB)，分別 單獨測試其彩度。再者，使用單面薄膜探針即可進行點燈測試，且因薄膜探針上的 接點間距較大，故易于制造及維修，成本亦可相對降低。
以上所述藉由實施例說明本實用新型的特點，其目的在使熟習該技術者能了 解本實用新型的內(nèi)容并據(jù)以實施，而非限定本實用新型的專利范圍，故，凡其他未 脫離本實用新型所揭示的精神所完成的等效修飾或修改，仍應包含在以下所述的權
利要求書中。
權利要求1.一種面板測試結(jié)構，其特征在于，包括一面板，包含多個像素，且任一該些像素具有多個子像素；以及一薄膜探針，設有多個導電結(jié)構，其中任一該導電結(jié)構包含多個導電凸塊凸設于該薄膜探針表面；任一該導電結(jié)構的該些導電凸塊分別與相同顏色的任一該些子像素形成電性連接，且該些導電凸塊利用至少一導電線路連接至一對外接點。
2. 如權利要求1所述的面板測試結(jié)構，其特征在于，該薄膜探針為不導電的 撓性材質(zhì)所構成。
3. 如權利要求1所述的面板測試結(jié)構，其特征在于，該些導電凸塊為異方向 性導電膠或鎳合金所構成。
4. 如權利要求1所述的面板測試結(jié)構，其特征在于，該些子像素為三原色子 像素。
5. 如權利要求4所述的面板測試結(jié)構，其特征在于，該些導電結(jié)構為一紅色 子像素導電結(jié)構、 一綠色子像素導電結(jié)構及一藍色子像素導電結(jié)構。
6. 如權利要求5所述的面板測試結(jié)構，其特征在于，該紅色子像素導電結(jié)構 的該些導電凸塊與該面板上的任一該紅色子像素形成電性接觸；該綠色子像素導電 結(jié)構上的該些導電凸塊與該面板上的任一該綠色子像素形成電性接觸；以及該藍色 子像素導電結(jié)構上的該些導電凸塊與該面板上的任一該藍色子像素形成電性接觸。
7. 如權利要求1所述的面板測試結(jié)構，其特征在于，該面板更含有多個信號 掃瞄線于該面板的一側(cè)邊，且任一該些信號掃瞄線電性連接該面板上任一橫向排列 的該些像素。
8. 如權利要求7所述的面板測試結(jié)構，其特征在于，更包含至少一控制線路設置于該薄膜探針上與至少一該些信號掃瞄線電性連接。
9. 如權利要求8所述的面板測試結(jié)構，其特征在于，更包含多個導電凸塊凸 出該控制線路并與至少 一該些信號掃瞄線電性接觸。
10. 如權利要求1所述的面板測試結(jié)構，其特征在于，該面板更含有多個數(shù)據(jù)傳輸線于該面板的另 一側(cè)邊，且任一該些數(shù)據(jù)傳輸線電性連接該面板上任一縱向排 列的該些子像素。
11. 如權利要求10所述的面板測試結(jié)構，其特征在于，該薄膜探針上的該些導電凸塊與該些數(shù)據(jù)傳輸線電性接觸。
專利摘要一種面板測試結(jié)構，其利用含有多個導電結(jié)構的一薄膜或軟性片與一面板電性接觸來作像素測試，其中任一導電結(jié)構具有多個導電凸塊凸設于薄膜探針或軟性片的表面，且任一導電結(jié)構的導電凸塊分別與任一相同原色子像素形成電性接觸并導通至一對外接點，以進行點燈測試而達到面板全功能的斷路/短路(open/short)測試。利用不同導電結(jié)構上的導電凸塊可分別或同時測試各原色的彩度，且使用單片薄膜或軟性片即可進行測試，故易于制造及維修。
文檔編號G09G3/00GK201138366SQ20082000123
公開日2008年10月22日 申請日期2008年1月10日 優(yōu)先權日2008年1月10日
發(fā)明者鄭秋雄, 鄭至均 申請人:環(huán)國科技股份有限公司