一種用于模擬牙齒根管測量環(huán)境的阻抗電路的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及牙科技術(shù)領(lǐng)域，尤其是一種用于模擬牙齒根管測量環(huán)境的阻抗電路。
【背景技術(shù)】
[0002]根管長度測量儀(簡稱“根測儀”)是一種用于測量牙齒根管長度的口腔科輔助設(shè)備，用于幫助醫(yī)生在進(jìn)行牙齒根管治療前測量出牙齒根管到達(dá)牙齒根尖區(qū)的實(shí)際長度。根管長度測量儀使用時將根管銼插入到牙齒根管中，然后將根管銼與根管長度測量儀主機(jī)的電路連接；根管長度測量儀主機(jī)的另一電極與掛在口腔中的唇掛鉤電路連接。根管銼在牙齒根管內(nèi)發(fā)出兩個不同頻率的電流，主機(jī)測量兩個電流通過根管的電阻值的比值(該比值不受根管內(nèi)電解質(zhì)的影響)，確定根管銼尖在根管內(nèi)的位置。當(dāng)根管銼到達(dá)根尖區(qū)時，根管長度測量儀的主機(jī)上可實(shí)時顯示并發(fā)出警報(bào)，醫(yī)生拿出根管銼測量進(jìn)入到牙齒根管中的實(shí)際長度，便可測量出牙齒根管實(shí)際長度。在進(jìn)行根管測量時根管長度測量儀會在測試端送出一個8K高頻信號和一個400Hz低頻信號，并分別得到與這兩個頻率對應(yīng)的阻抗，再根據(jù)這兩個頻率下的阻抗的大小來查對一個已知的測量結(jié)果對應(yīng)表，從而得到測量結(jié)果。
[0003]根管長度測量儀生產(chǎn)出廠前和醫(yī)生使用前，通常需要對根管長度測量儀的測量準(zhǔn)確性進(jìn)行檢測和判斷，傳統(tǒng)的方法是找一位試驗(yàn)的患者，通過手工測量與根管長度測量儀的測量結(jié)果進(jìn)行比較來完成。這種傳統(tǒng)的測試方法準(zhǔn)確性較差，在測量過程會對患者造成一定的痛苦，同時無法滿足生產(chǎn)時批量應(yīng)用的需求。
[0004]現(xiàn)有的一種根管長度測量儀測試用的牙齒根管模擬器，這種根管模擬器需要使用到實(shí)體牙，實(shí)體牙通常為醫(yī)院從患者的口腔中取下的病體牙，殘留有大量的病毒、細(xì)菌，需要進(jìn)行消毒后才能使用，但還可能會對使用者心理造成影響，且實(shí)體牙的數(shù)量是無法滿足大批量的生產(chǎn)使用的。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0005]本實(shí)用新型提供一種用于模擬牙齒根管測量環(huán)境的阻抗電路，所要解決的技術(shù)問題是現(xiàn)有的對根管長度測量儀的測量準(zhǔn)確性進(jìn)行檢測和判斷方法中存在的準(zhǔn)確性差、對試驗(yàn)患者和使用者造成一定傷害和無法大批量生產(chǎn)使用的問題。
[0006]本實(shí)用新型解決上述技術(shù)問題的技術(shù)方案如下:一種用于模擬牙齒根管測量環(huán)境的阻抗電路，包括測量A端、幅度調(diào)整電路、高頻信號阻抗調(diào)整電路、低頻信號阻抗調(diào)整電路和測量B端；所述測量A端與所述幅度調(diào)整電路的一端連接，所述高頻信號阻抗調(diào)整電路與所述低頻信號阻抗調(diào)整電路并聯(lián)，所述幅度調(diào)整電路的另一端連接所述高頻信號阻抗調(diào)整電路與所述低頻信號阻抗調(diào)整電路的其中一個公共端，所述高頻信號阻抗調(diào)整電路與所述低頻信號阻抗調(diào)整電路的另一個公共端連接所述測量B端。
[0007]所述幅度調(diào)整電路，用于調(diào)整高頻信號和低頻信號的幅度大小。
[0008]所述高頻信號阻抗調(diào)整電路，用于調(diào)整在所述高頻信號激勵下的電路阻抗的大小。
[0009]所述低頻信號阻抗調(diào)整電路，用于調(diào)整在所述低頻信號激勵下的電路阻抗的大小。
[0010]本實(shí)用新型的有益效果是:1)使用本實(shí)用新型來模擬根管長度的測量環(huán)境，相對于在人體上進(jìn)行測量來說，更容易實(shí)現(xiàn)；2)把復(fù)雜的根管測量環(huán)境用簡單的阻抗電路模型模擬出來，可用于檢測根管長度測量儀的好壞；3)本實(shí)用新型可供根管長度測量儀機(jī)器的研發(fā)；4)本實(shí)用新型方便學(xué)校用于開展教學(xué)研宄課題，價格便宜，且生產(chǎn)簡單。
[0011]在上述技術(shù)方案的基礎(chǔ)上，本實(shí)用新型還可以做如下改進(jìn)。
[0012]進(jìn)一步，所述測量A端與所述測量B端均為所述阻抗電路的接線端子。
[0013]進(jìn)一步，所述幅度調(diào)整電路包括第一電阻和第一可調(diào)電阻；所述第一電阻的一端連接所述測量A端，另一端連接所述第一可調(diào)電阻的一端；所述第一可調(diào)電阻的另一端連接所述高頻信號阻抗調(diào)整電路與所述低頻信號阻抗調(diào)整電路的其中一個公共端。
[0014]進(jìn)一步，所述高頻信號阻抗調(diào)整電路包括電容；所述電容與所述低頻信號阻抗調(diào)整電路并聯(lián)。
[0015]進(jìn)一步所述低頻信號阻抗調(diào)整電路包括第二可調(diào)電阻和第二電阻；所述第二可調(diào)電阻和所述第二電阻串聯(lián)后與所述高頻信號阻抗調(diào)整電路并聯(lián)。
【附圖說明】
[0016]圖1本實(shí)用新型一種用于模擬牙齒根管測量環(huán)境的阻抗電路的原理框圖；
[0017]圖2為本實(shí)用新型一種用于模擬牙齒根管測量環(huán)境的阻抗電路的電路圖。
[0018]附圖中，各標(biāo)號所代表的部件列表如下:
[0019]1、幅度調(diào)整電路，2、高頻信號阻抗調(diào)整電路，3、低頻信號阻抗調(diào)整電路，R1、第一電阻，R2、第一可調(diào)電阻，R3、第二可調(diào)電阻，R4、第二電阻，Cl、電容。
【具體實(shí)施方式】
[0020]以下結(jié)合附圖對本實(shí)用新型的原理和特征進(jìn)行描述，所舉實(shí)例只用于解釋本實(shí)用新型，并非用于限定本實(shí)用新型的范圍。
[0021]在一【具體實(shí)施方式】中，如圖1所示，一種用于模擬牙齒根管測量環(huán)境的阻抗電路，包括測量A端、幅度調(diào)整電路1、高頻信號阻抗調(diào)整電路2、低頻信號阻抗調(diào)整電路3和測量B端；所述測量A端與所述幅度調(diào)整電路I的一端連接，所述高頻信號阻抗調(diào)整電路2與所述低頻信號阻抗調(diào)整電路3并聯(lián)，所述幅度調(diào)整電路I的另一端連接所述高頻信號阻抗調(diào)整電路2與所述低頻信號阻抗調(diào)整電路3的其中一個公共端，所述高頻信號阻抗調(diào)整電路2與所述低頻信號阻抗調(diào)整電路3的另一個公共端連接所述測量B端。
[0022]所述幅度調(diào)整電路1，用于調(diào)整高頻信號和低頻信號的幅度大小。
[0023]所述高頻信號阻抗調(diào)整電路2，用于調(diào)整在所述高頻信號激勵下的電路阻抗的大小。
[0024]所述低頻信號阻抗調(diào)整電路3，用于調(diào)整在所述低頻信號激勵下的電路阻抗的大小。
[0025]所述測量A端與所述測量B端均為所述阻抗電路的接線端子。
[0026]如圖2所示，所述幅度調(diào)整電路I包括第一電阻Rl和第一可調(diào)電阻R2 ;所述第一電阻Rl的一端連接所述測量A端，另一端連接所述第一可調(diào)電阻R2的一端；所述第一可調(diào)電阻R2的另一端連接所述高頻信號阻抗調(diào)整電路2與所述低頻信號阻抗調(diào)整電路3的其中一個公共端。
[0027]所述高頻信號阻抗調(diào)整電路2包括電容Cl ;所述電容Cl與所述低頻信號阻抗調(diào)整電路3并聯(lián)。
[0028]所述低頻信號阻抗調(diào)整電路3包括第二可調(diào)電阻R3和第二電阻R4 ;所述第二可調(diào)電阻R3和所述第二電阻R4串聯(lián)后與所述高頻信號阻抗調(diào)整電路2并聯(lián)。
[0029]幅度調(diào)整電路I阻值的大小主要影響高頻8KHz和低頻400Hz的幅度范圍，調(diào)節(jié)第一可調(diào)電阻R2的大小可以使對應(yīng)的信號幅度范圍在0.1V-2.0V之間變化。
[0030]電容Cl的大小主要影響8KHz高頻信號的幅度大小。
[0031]所述低頻信號阻抗調(diào)整電路3阻值的大小主要影響400Hz低頻信號的幅度，阻值越大，對400Hz信號的阻抗就越大；反之，阻值越小，對400Hz信號的阻抗就越小。
[0032]本實(shí)用新型通過分析對比實(shí)體牙的實(shí)際阻抗數(shù)據(jù)，利用電路模型模擬出實(shí)際的口腔環(huán)境，可作為根管測量儀的準(zhǔn)確性測試檢測環(huán)境使用。
[0033]測量的時候根管長度測量儀的兩根測量線分別接在該模型的測量A端和測量B端上。
[0034]I)調(diào)節(jié)電容Cl時，對8KHz高頻信號的阻抗影響較大，從而根據(jù)電容Cl的大小不同可以得到多組阻抗模型，可取電容Cl為0.1uFo
[0035]2)電容Cl為0.1uF下時，調(diào)節(jié)第一可調(diào)電阻R2，在8KHz高頻信號激勵下得到的阻抗值會在4ΚΩ到15ΚΩ之間變化，變化規(guī)律為在8KHz高頻信號激勵下，阻抗大小與R2的阻值成正比；而在400Hz低頻信號激勵下，阻抗大小基本不變。
[0036]3)在第一可調(diào)電阻R2和電容Cl大小固定的情況下，調(diào)節(jié)第二可調(diào)電阻R3，在400Hz低頻信號激勵下得到的阻抗值會在5ΚΩ到20ΚΩ之間變化，變化規(guī)律為在400Hz低頻信號激勵下，阻抗大小與R3的阻值成正比；而在SKHz高頻信號激勵下，阻抗大小基本不變。
[0037]4)同時調(diào)節(jié)電容Cl、第一可調(diào)電阻R2、第二可調(diào)電阻R3的大小，可以得到在多種SKHz高頻信號和400Hz低頻信號激勵下的兩種阻抗值，從而模擬出不同的根管測量環(huán)境。
[0038]以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例，并不用以限制本實(shí)用新型，凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種用于模擬牙齒根管測量環(huán)境的阻抗電路，其特征在于，包括測量A端、幅度調(diào)整電路(1)、高頻信號阻抗調(diào)整電路(2)、低頻信號阻抗調(diào)整電路(3)和測量B端；所述測量A端與所述幅度調(diào)整電路(I)的一端連接，所述高頻信號阻抗調(diào)整電路(2)與所述低頻信號阻抗調(diào)整電路(3)并聯(lián)，所述幅度調(diào)整電路(I)的另一端連接所述高頻信號阻抗調(diào)整電路(2)與所述低頻信號阻抗調(diào)整電路(3)的其中一個公共端，所述高頻信號阻抗調(diào)整電路(2)與所述低頻信號阻抗調(diào)整電路(3)的另一個公共端連接所述測量B端。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種用于模擬牙齒根管測量環(huán)境的阻抗電路，其特征在于，所述測量A端與所述測量B端均為所述阻抗電路的接線端子。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述一種用于模擬牙齒根管測量環(huán)境的阻抗電路，其特征在于，所述幅度調(diào)整電路(I)包括第一電阻(Rl)和第一可調(diào)電阻(R2);所述第一電阻(Rl)的一端連接所述測量A端，另一端連接所述第一可調(diào)電阻(R2)的一端；所述第一可調(diào)電阻(R2)的另一端連接所述高頻信號阻抗調(diào)整電路(2)與所述低頻信號阻抗調(diào)整電路(3)的其中一個公共端。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述一種用于模擬牙齒根管測量環(huán)境的阻抗電路，其特征在于，所述高頻信號阻抗調(diào)整電路(2)包括電容(Cl);所述電容(Cl)與所述低頻信號阻抗調(diào)整電路⑶并聯(lián)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述一種用于模擬牙齒根管測量環(huán)境的阻抗電路，其特征在于，所述低頻信號阻抗調(diào)整電路(3)包括第二可調(diào)電阻(R3)和第二電阻(R4);所述第二可調(diào)電阻(R3)和所述第二電阻(R4)串聯(lián)后與所述高頻信號阻抗調(diào)整電路(2)并聯(lián)。
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種用于模擬牙齒根管測量環(huán)境的阻抗電路，包括測量A端、幅度調(diào)整電路、高頻信號阻抗調(diào)整電路、低頻信號阻抗調(diào)整電路和測量B端；測量A端連接幅度調(diào)整電路的一端，高頻信號阻抗調(diào)整電路與低頻信號阻抗調(diào)整電路并聯(lián)，幅度調(diào)整電路的另一端連接高頻信號阻抗調(diào)整電路與低頻信號阻抗調(diào)整電路的其中一個公共端，高頻信號阻抗調(diào)整電路與低頻信號阻抗調(diào)整電路的另一個公共端連接測量B端。本實(shí)用新型模擬根管長度的測量環(huán)境，相對于在人體上進(jìn)行測量更容易實(shí)現(xiàn)；把復(fù)雜的根管測量環(huán)境用簡單的阻抗電路模擬出來，可用于檢測根管長度測量儀的好壞；還可供根管長度測量儀機(jī)器的研發(fā)，方便學(xué)校用于開展教學(xué)研究課題，價格便宜，且生產(chǎn)簡單。
【IPC分類】A61C19-04
【公開號】CN204484386
【申請?zhí)枴緾N201520094216
【發(fā)明人】黎若, 張金品, 張三軍, 代哲
【申請人】桂林市啄木鳥醫(yī)療器械有限公司
【公開日】2015年7月22日
【申請日】2015年2月10日