11，所述第二準(zhǔn)直層12具有一第二接表面和與所述第二對接表面121相對設(shè)置的一第二自由表面122，所述第三準(zhǔn)直層13具有與所述第一對接表面111吻合的一上對接表面132，以及與所述第二對接表面121吻合的一下對接表面131，即所述第一對接表面111與所述上對接表面132相互平行且相向設(shè)置，所述第二對接表面121與所述下對接表面131相互平行且相向設(shè)置，所述第一自由表面112與所述第二自由表面平行122，優(yōu)選所述第一對接表面111、所述第二對接表面121和所述上對接表面132以及所述下對接表面131均為平直表面，且均與所述堆疊方向呈銳角或鈍角夾角。所述第一自由表面112與所述第二自由表面122也均為平直表面，優(yōu)選所述第一自由表面112和所述第二自由表面122均垂直于所述堆疊方向。所述第三準(zhǔn)直層13為固定準(zhǔn)直層，所述第一準(zhǔn)直層11和所述第二準(zhǔn)直層12為可動準(zhǔn)直層，所述第一準(zhǔn)直層11和所述第二準(zhǔn)直層12可相對所述第三準(zhǔn)直層13運(yùn)動，且所述第一對接表面111中至少有局部區(qū)域和所述第二對接表面121中的至少局部區(qū)域落在同一堆疊區(qū)。運(yùn)動所述第一準(zhǔn)直層11和/或所述第二準(zhǔn)直層12，選擇適當(dāng)?shù)乃龅谝粚颖砻?11、所述第二對接表面121和所述上對接表面132 (或所述下對接表面131)共同處于的堆疊區(qū)，該堆疊區(qū)內(nèi)的若干所述準(zhǔn)直孔2堆疊后具有相等的有效孔深，這樣，既可以使所述第一準(zhǔn)直層11和所述第二準(zhǔn)直層12發(fā)生錯位耦合，又可以選擇所述準(zhǔn)直器I堆疊區(qū)(或工作區(qū))的有效孔深。
[0067]使用時，首先根據(jù)需要通過相對運(yùn)動調(diào)整好所述準(zhǔn)直器I的有效孔深，然后再通過相對運(yùn)動使所述準(zhǔn)直器I發(fā)生對齊耦合或者錯位耦合以調(diào)整好所述準(zhǔn)直器I的有效孔徑。然后再整體調(diào)整所述準(zhǔn)直器I的位置和方向使所述準(zhǔn)直器I適當(dāng)?shù)亩询B區(qū)與所述檢測裝置對準(zhǔn)(或者調(diào)整所述檢測裝置的位置和方向使所述檢測裝置與所述準(zhǔn)直器I適當(dāng)?shù)亩询B區(qū)對準(zhǔn))，以構(gòu)成所需的所述探測裝置，所述探測裝置安裝于所述機(jī)架，并被所述機(jī)架驅(qū)動以采集分布于空間的射線，獲得不同角度的二維放射性強(qiáng)度分布圖，進(jìn)而通過圖像重建，可以得到反映人體或動物體放射性藥物分布的三維圖像。
[0068]本發(fā)明相對現(xiàn)有技術(shù)具有以下的有益效果:
[0069](I)所述第一準(zhǔn)直層11上的若干所述準(zhǔn)直孔2具有不等的孔深，以及所述第一準(zhǔn)直層11和所述第二準(zhǔn)直層12可相對運(yùn)動的結(jié)構(gòu)特征，使所述準(zhǔn)直器I的孔深具有可選性和可控性，進(jìn)而可以改變和調(diào)整所述準(zhǔn)直器I至少局部區(qū)域的空間分辨率或者靈敏度，在臨床上，醫(yī)師可以適當(dāng)?shù)恼{(diào)整和選擇所述準(zhǔn)直器I的工作區(qū)域以滿足對不同準(zhǔn)直性能的需求。
[0070](2)所述第一準(zhǔn)直層11和所述第二準(zhǔn)直層12可相對運(yùn)動的結(jié)構(gòu)特征，使所述第一準(zhǔn)直層11上的若干所述準(zhǔn)直孔2和所述第二準(zhǔn)直層12上的若干所述準(zhǔn)直孔2可以發(fā)生對齊耦合或者錯位耦合，使所述準(zhǔn)直器I的孔徑和孔型具有可選性和可控性，進(jìn)而可以改變和調(diào)整所述準(zhǔn)直器I至少局部區(qū)域的空間分辨率或者靈敏度，在臨床上，醫(yī)師可以適當(dāng)?shù)恼{(diào)整和選擇所述準(zhǔn)直器I的所述準(zhǔn)直孔2的有效孔徑以滿足對不同準(zhǔn)直性能的需求。
[0071](3)所述準(zhǔn)直器I的堆疊區(qū)的若干堆疊的所述準(zhǔn)直孔2的有效孔深相等，該有效孔深相等的堆疊區(qū)屬于所述準(zhǔn)直器I的工作區(qū)域。因為該工作區(qū)域內(nèi)堆疊后的若干所述準(zhǔn)直孔2的有效孔深相等，所以該工作區(qū)域各處具有相同的空間分辨率和靈敏度。
[0072]上述說明是針對本發(fā)明較佳的實施例的詳細(xì)說明，但上述實施例并非用以限定本發(fā)明的專利申請范圍，凡在本發(fā)明所揭示的技術(shù)精神下所完成的同等變化或修飾變更，均屬于本發(fā)明所涵蓋的專利范圍。
【主權(quán)項】
1.一種準(zhǔn)直器，包括堆疊設(shè)置的第一準(zhǔn)直層和第二準(zhǔn)直層，所述第一準(zhǔn)直層和所述第二準(zhǔn)直層均設(shè)有若干準(zhǔn)直孔，其特征在于:其中所述第一準(zhǔn)直層上的若干所述準(zhǔn)直孔具有不盡相同的孔深，且所述第一準(zhǔn)直層和所述第二準(zhǔn)直層可相對運(yùn)動以改變所述第一準(zhǔn)直層和所述第二準(zhǔn)直層上的若干所述準(zhǔn)直孔堆疊后的有效孔深和/或有效孔徑使所述準(zhǔn)直器的堆疊區(qū)的準(zhǔn)直性能改變。
2.如權(quán)利要求1所述的準(zhǔn)直器，其特征在于:所述第二準(zhǔn)直層上的若干所述準(zhǔn)直孔也具有不盡相同的孔深，且所述第一準(zhǔn)直層和所述第二準(zhǔn)直層均具有一對接表面，若干所述準(zhǔn)直孔或若干所述準(zhǔn)直孔的延伸方向貫穿對應(yīng)的所述對接表面，二所述對接表面相向設(shè)置且能夠相互吻合。
3.如權(quán)利要求2所述的準(zhǔn)直器，其特征在于:所述第一準(zhǔn)直層和所述第二準(zhǔn)直層的所述對接表面均為一平直表面，且所述平直表面相互平行。
4.如權(quán)利要求3所述的準(zhǔn)直器，其特征在于:所述平直表面與堆疊方向呈銳角或鈍角夾角。
5.如權(quán)利要求2所述的準(zhǔn)直器，其特征在于:所述第一準(zhǔn)直層的所述對接表面包括若干第一階梯表面，相鄰兩所述第一階梯表面之間具有躍變的高度差，所述第二準(zhǔn)直層的所述對接表面包括若干第二階梯表面，相鄰兩所述第二階梯表面之間具有躍變的高度差，每一所述第一階梯表面均平行于每一所述第二階梯表面，若干所述第一階梯表面可相對若干所述第二階梯表面運(yùn)動并與相應(yīng)數(shù)目的若干所述第二階梯表面堆疊。
6.如權(quán)利要求2所述的準(zhǔn)直器，其特征在于:所述第一準(zhǔn)直層的所述對接表面包括若干第一階梯表面，相鄰兩所述第一階梯表面之間具有躍變的高度差，所述第二準(zhǔn)直層的所述對接表面為平行于若干所述第一階梯表面的一平直表面，且該平直表面可相對若干所述第一階梯表面運(yùn)動并與其中任一所述第一階梯表面堆疊。
7.利要求5或6所述的準(zhǔn)直器，其特征在于:每一所述第一階梯表面或者與堆疊方向呈銳角或鈍角夾角，或者垂直于所述堆疊方向。
8.如權(quán)利要求2所述的準(zhǔn)直器，其特征在于:所述第一準(zhǔn)直層的所述對接表面包括若干第一弧形表面，一所述第一弧形表面的末端與與之相鄰的另一所述第一弧形表面的起端重合，所述第二準(zhǔn)直層的所述對接表面包括與若干所述第一弧形表面吻合的若干第二弧形表面，一所述第二弧形表面的末端與與之相鄰的另一所述第二弧形表面的起端重合，若干所述第一弧形表面可相對若干所述第二弧形表面運(yùn)動并與相應(yīng)數(shù)目的若干所述第二弧形表面堆疊。
9.如權(quán)利要求2所述的準(zhǔn)直器，其特征在于:所述第一準(zhǔn)直層的所述對接表面包括若干第一弧形表面，一所述第一弧形表面和與之相鄰的另一所述第一弧形表面之間具有躍變的高度差，所述第二準(zhǔn)直層的所述對接表面包括與若干所述第一弧形表面吻合的若干第二弧形表面，一所述第二弧形表面和與之相鄰的另一所述第二弧形表面之間具有躍變的高度差，若干所述第一弧形表面可相對若干所述第二弧形表面運(yùn)動并與相應(yīng)數(shù)目的若干所述第二弧形表面堆疊。
10.如權(quán)利要求2所述的準(zhǔn)直器，其特征在于:所述第一準(zhǔn)直層和所述第二準(zhǔn)直層還分別具有與對應(yīng)的所述對接表面相對設(shè)置的一自由表面，所述自由表面相互平行，使所述準(zhǔn)直器的堆疊區(qū)中的局部區(qū)域或全部區(qū)域上的若干所述準(zhǔn)直孔堆疊后的有效孔深相等。
11.如權(quán)利要求10所述的準(zhǔn)直器，其特征在于:所述第一準(zhǔn)直層和所述第二準(zhǔn)直層的所述自由表面均為一平直表面，且所述平直表面相互平行。
12.如權(quán)利要求11所述的準(zhǔn)直器，其特征在于:所述平直表面垂直于堆疊方向。
13.—種探測裝置，其包括檢測裝置，其特征在于:所述探測裝置還包括權(quán)利要求1至12任一項所述的準(zhǔn)直器，所述準(zhǔn)直器用于對射線進(jìn)行準(zhǔn)直，并且準(zhǔn)直后的射線將被施加到所述檢測裝置上。
14.一種掃描設(shè)備，其包括探測裝置和機(jī)架，所述探測裝置安裝于所述機(jī)架，其特征在于:所述探測裝置包括權(quán)利要求1至12任一項所述的準(zhǔn)直器，所述準(zhǔn)直器用于對射線進(jìn)行準(zhǔn)直。
【專利摘要】本實用新型提供一種準(zhǔn)直器，以及具有所述準(zhǔn)直器的探測裝置和掃描設(shè)備，所述準(zhǔn)直器包括堆疊設(shè)置的第一準(zhǔn)直層和第二準(zhǔn)直層，所述第一準(zhǔn)直層和所述第二準(zhǔn)直層均設(shè)有若干準(zhǔn)直孔，其中所述第一準(zhǔn)直層上的若干所述準(zhǔn)直孔具有不盡相同的孔深，所述第二準(zhǔn)直層上的若干所述準(zhǔn)直孔也可具有不盡相同的孔深，且所述第一準(zhǔn)直層和所述第二準(zhǔn)直層均具有一對接表面，若干所述準(zhǔn)直孔或若干所述準(zhǔn)直孔的延伸方向貫穿對應(yīng)的所述對接表面，二所述對接表面相向設(shè)置且能夠相互吻合。通過所述第一準(zhǔn)直層和所述第二準(zhǔn)直層的相對運(yùn)動可改變所述第一準(zhǔn)直層和所述第二準(zhǔn)直層上的若干所述準(zhǔn)直孔堆疊后的有效孔深，以獲得不同的分辨率和靈敏度。
【IPC分類】A61B6-03
【公開號】CN204318778
【申請?zhí)枴緾N201420759277
【發(fā)明人】李延召, 李炳軒
【申請人】武漢知微科技有限公司
【公開日】2015年5月13日
【申請日】2014年12月1日