磁共振斷層成像設(shè)備的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種用于借助脈沖序列產(chǎn)生磁場中的檢查對象的斷層成像數(shù)據(jù)的磁共振斷層成像設(shè)備和一種用于設(shè)置磁共振斷層成像設(shè)備的方法。
【背景技術(shù)】
[0002]為了規(guī)劃和參數(shù)化磁共振檢查(MR檢查)，在目前的磁共振斷層成像設(shè)備中存在大量設(shè)置參數(shù)(每測量過程大約700個相關(guān)的參數(shù))，其對激勵特性和磁共振測量的最終結(jié)果產(chǎn)生影響。
[0003]在軟件版本更換、系統(tǒng)更換或系統(tǒng)變化的情況下幾乎不可能確定，磁共振斷層成像設(shè)備的新的設(shè)置是否反映了磁共振斷層成像設(shè)備的前面的激勵特性。因此在磁共振斷層成像設(shè)備的這種技術(shù)變化之后試圖這樣設(shè)置新的設(shè)置參數(shù)，使得其再次與原始的設(shè)置參數(shù)一致。
[0004]新的設(shè)置參數(shù)的一致性意味著，其不互相排斥或影響。但是該過程會導(dǎo)致與系統(tǒng)變化之前完全不同的物理激勵特性和不同的測量結(jié)果。在重新設(shè)置的情況下的基本原理是，這樣選擇物理輸入?yún)?shù)(諸如激勵或磁場)的影響，使得產(chǎn)生的圖像與檢查相應(yīng)并且能夠進行醫(yī)學(xué)診斷。
[0005]序列開發(fā)者，也稱為參數(shù)化者(Parametrisierer)，因此對于磁共振斷層成像設(shè)備的硬件或軟件的每個變化手動地檢查激勵特性和測量結(jié)果，例如通過受試者測量。這一點實現(xiàn)如下目的，即，手動地再次這樣更新并且改變此前自動調(diào)整的、一致的設(shè)置參數(shù)，使得激勵特性和測量結(jié)果相應(yīng)于在系統(tǒng)變化之前的激勵特性和測量結(jié)果。
[0006]該方法是麻煩的并且容易出現(xiàn)錯誤，因為參數(shù)化者必須具有關(guān)于設(shè)置參數(shù)的精確概況，以便能夠評估自動執(zhí)行的變化并且估計，自動設(shè)置的設(shè)置參數(shù)對激勵特性和測量結(jié)果產(chǎn)生了哪些影響。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是，提供一種磁共振斷層成像設(shè)備和一種用于設(shè)置磁共振斷層成像設(shè)備的方法，通過該方法在磁共振斷層成像設(shè)備的技術(shù)變化之后能夠更快速且更簡單地進行參數(shù)的設(shè)置。
[0008]上述技術(shù)問題通過具有根據(jù)本發(fā)明的特征的技術(shù)方案來解決。本發(fā)明的優(yōu)選實施方式是附圖、說明書和從屬權(quán)利要求的內(nèi)容。
[0009]按照本發(fā)明的第一方面，上述技術(shù)問題通過用于借助脈沖序列產(chǎn)生磁場中的檢查對象的斷層成像數(shù)據(jù)的磁共振斷層成像設(shè)備來解決，所述設(shè)備具有用于存儲參考檢查對象的參考斷層成像數(shù)據(jù)的存儲器；用于借助脈沖序列產(chǎn)生參考檢查對象的斷層成像數(shù)據(jù)的測量裝置；和用于通過調(diào)整(Anpassen)脈沖序列的物理參數(shù)減小在斷層成像數(shù)據(jù)和參考斷層成像數(shù)據(jù)之間的偏差的調(diào)整裝置(Anpassungseinrichtung)。由此實現(xiàn)如下技術(shù)優(yōu)點，即，在技術(shù)變化之后實現(xiàn)磁共振斷層成像設(shè)備的快速且簡單的再次啟動。一直調(diào)整并且改變脈沖序列，直至獲得的參考檢查對象的斷層成像數(shù)據(jù)相應(yīng)于預(yù)先存儲的參考檢查對象的參考斷層成像數(shù)據(jù)。
[0010]在磁共振斷層成像設(shè)備的優(yōu)選的實施方式中，參考斷層成像數(shù)據(jù)和斷層成像數(shù)據(jù)是位置頻率空間的元素。由此例如實現(xiàn)如下技術(shù)優(yōu)點，即，可以棄用傅里葉變換并且可以以較小的計算開銷進行調(diào)整。
[0011]在磁共振斷層成像設(shè)備的另一種優(yōu)選的實施方式中，參考斷層成像數(shù)據(jù)和斷層成像數(shù)據(jù)是位置空間的元素。由此例如實現(xiàn)如下技術(shù)優(yōu)點，即，實現(xiàn)位置空間中的良好一致，也就是在系統(tǒng)變化之前和之后的斷層成像圖像中的良好一致。
[0012]在磁共振斷層成像設(shè)備的另一種優(yōu)選的實施方式中，物理參數(shù)是在脈沖序列的兩個脈沖之間的脈沖間隔。由此例如實現(xiàn)如下技術(shù)優(yōu)點，即，可以通過簡單實現(xiàn)的措施調(diào)整斷層成像數(shù)據(jù)。
[0013]在磁共振斷層成像設(shè)備的另一種優(yōu)選的實施方式中，物理參數(shù)是脈沖序列的脈沖的脈沖頻率。由此例如實現(xiàn)如下技術(shù)優(yōu)點，即，可以影響檢查對象的激勵特性。
[0014]在磁共振斷層成像設(shè)備的另一種優(yōu)選的實施方式中，物理參數(shù)是脈沖序列的脈沖的功率。由此例如同樣實現(xiàn)如下技術(shù)優(yōu)點，即，可以影響激勵特性。
[0015]在磁共振斷層成像設(shè)備的另一種優(yōu)選的實施方式中，物理參數(shù)是磁場的梯度。由此例如實現(xiàn)如下技術(shù)優(yōu)點，即，可以優(yōu)化選擇性。
[0016]在磁共振斷層成像設(shè)備的另一種優(yōu)選的實施方式中，物理參數(shù)是脈沖序列的讀取方法。由此例如實現(xiàn)如下技術(shù)優(yōu)點，即，可以優(yōu)化讀取特性。
[0017]在磁共振斷層成像設(shè)備的另一種優(yōu)選的實施方式中，構(gòu)造調(diào)整裝置，其基于對比值或顏色值確定在斷層成像數(shù)據(jù)和參考斷層成像數(shù)據(jù)之間的偏差。由此例如實現(xiàn)如下技術(shù)優(yōu)點，即，獲得對于在斷層成像數(shù)據(jù)和參考斷層成像數(shù)據(jù)之間的偏差的精確度量。
[0018]在磁共振斷層成像設(shè)備的另一種優(yōu)選的實施方式中，磁共振斷層成像設(shè)備包括用于存儲如下的值的數(shù)據(jù)庫，該值說明了斷層成像數(shù)據(jù)的取決于物理參數(shù)的變化的變化。由此例如實現(xiàn)如下技術(shù)優(yōu)點，即，可以通過較小數(shù)量的迭代以更短的時間進行調(diào)整。
[0019]按照本發(fā)明的第二方面，上述技術(shù)問題通過用于設(shè)置磁共振斷層成像設(shè)備的方法來解決，具有以下步驟:存儲參考檢查對象的參考斷層成像數(shù)據(jù)；借助脈沖序列產(chǎn)生參考檢查對象的斷層成像數(shù)據(jù)；和通過調(diào)整脈沖序列的物理參數(shù)減小在斷層成像數(shù)據(jù)和參考斷層成像數(shù)據(jù)之間的偏差。由此實現(xiàn)了與通過按照第一方面的磁共振斷層成像設(shè)備實現(xiàn)的相同的技術(shù)優(yōu)點。
[0020]在方法的優(yōu)選的實施方式中，方法包括基于對比值或顏色值確定在斷層成像數(shù)據(jù)和參考斷層成像數(shù)據(jù)之間的偏差的步驟。由此例如同樣實現(xiàn)如下技術(shù)優(yōu)點，即，獲得對于在斷層成像數(shù)據(jù)和參考斷層成像數(shù)據(jù)之間的偏差的精確度量。
[0021]在方法的另一種優(yōu)選的實施方式中，方法包括基于位置空間中的圖像分析來確定在斷層成像數(shù)據(jù)和參考斷層成像數(shù)據(jù)之間的偏差的步驟。由此例如實現(xiàn)如下技術(shù)優(yōu)點，即，使在系統(tǒng)變化之前和之后的參考檢查對象的斷層成像圖像相比較。
[0022]在方法的另一種優(yōu)選的實施方式中，執(zhí)行基于如下值減小偏差的步驟，該值說明了斷層成像數(shù)據(jù)的取決于物理參數(shù)的變化的變化。由此例如同樣實現(xiàn)如下技術(shù)優(yōu)點，即，獲得對于在斷層成像數(shù)據(jù)和參考斷層成像數(shù)據(jù)之間的偏差的精確度量。
[0023]在方法的另一種優(yōu)選的實施方式中，一直重復(fù)借助脈沖序列產(chǎn)生參考檢查對象的斷層成像數(shù)據(jù)的步驟和通過調(diào)整脈沖序列的物理參數(shù)減小偏差的步驟，直至在斷層成像數(shù)據(jù)和參考斷層成像數(shù)據(jù)之間的偏差達到局部或全局的最小值。由此例如實現(xiàn)如下技術(shù)優(yōu)點，即，獲得良好的調(diào)整結(jié)果。
【附圖說明】
[0024]在附圖中示出本發(fā)明的實施例并且下面對其進行詳細描述。
[0025]附圖中:
[0026]圖1示出了磁共振斷層成像設(shè)備的示意性視圖；和
[0027]圖2示出了方法的框圖。
【具體實施方式】
[0028]圖1示出了磁共振斷層成像設(shè)備100的示意性視圖。磁共振斷層成像設(shè)備100包括磁體111、在其磁場中布置檢查對象101。對于磁共振斷層成像設(shè)備100的測量方法使用脈沖序列103，其用于激勵檢查對象101。
[0029]脈沖序列103是高頻脈沖113與特定頻率和強度的磁梯度場的組合，其在每秒以預(yù)先給定的順序多次地接通和斷開。脈沖序列103通過物理激勵方法和讀取方法來定義。序列特性可以通過物理特征變量來描述，其可以明確識別脈沖序列103并且可以與另外的脈沖序列103區(qū)分。每個脈沖序列103可以通過物理參數(shù)來影響，該物理參數(shù)對激勵、讀取和圖像最終結(jié)果產(chǎn)生影響。一般地，對于磁共振斷層成像設(shè)備100公知大量不同的脈沖序列 103，例如 GRASS (Gradient Refocused Acquisit1n in the Steady State，穩(wěn)態(tài)梯度重聚焦采集)、FISP (Fast Imaging with Steady state Precess1n，穩(wěn)態(tài)進動快速成像)或SE自旋回波。
[0030]磁共振斷層成像設(shè)備100的測量裝置107用于借助脈沖序列103產(chǎn)生檢查對象101的斷層成像數(shù)據(jù)。為此目的，在激勵檢查對象101之后將由接收線圈接收的信號數(shù)字化。斷層成像數(shù)據(jù)可以通過如下矩陣構(gòu)成，其相應(yīng)于位置空間中的檢查對象101的可視的截面圖像。斷層成像數(shù)據(jù)也可以通過位置頻率空間(K空間)中的矩陣構(gòu)成。由位置頻率空間構(gòu)成的斷層成像數(shù)據(jù)可以借助傅里葉變換轉(zhuǎn)換為位置空間中的斷層成像數(shù)據(jù)。
[0031]磁共振斷層成像設(shè)備100包括數(shù)字存儲器105，在其中存