技術編號:9825087
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。 光學相干域偏振測量技術(0CDP)是一種具有極高精度的分布式偏振耦合測量技 術,基于白光干涉的原理,利用掃描式光學干涉儀進行光程補償,實現(xiàn)不同偏振模式間的干 涉,可對偏振耦合的產(chǎn)生位置、偏振耦合信號強度進行高精度的測量與分析,從而獲得光學 偏振器件的消光比、拍長等重要參數(shù)。由于它最為直接和真實地描述了信號光在光纖光路 中的傳輸行為,所以特別適合于對光纖器件、組件,以及高精度干涉型光纖傳感光路進行測 試。 在保偏光纖外部施加側(cè)向壓力和兩段保偏光纖特征軸以一...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。