技術(shù)編號(hào)：9633179
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。 不良的量測(cè)數(shù)據(jù)，又稱為壞數(shù)據(jù)，是指偏離真實(shí)變化軌跡較遠(yuǎn)的數(shù)據(jù)，不良數(shù)據(jù)的 存在可能導(dǎo)致?tīng)顟B(tài)估計(jì)結(jié)果受到污染。不良數(shù)據(jù)檢測(cè)和辨識(shí)是判斷某次量測(cè)量中是否存在 不良數(shù)據(jù)，并確定哪些量測(cè)量為不良數(shù)據(jù)。目前不良數(shù)據(jù)辨識(shí)的主要方法有殘差捜索法、W 非二次準(zhǔn)則估計(jì)為基礎(chǔ)的方法W及量測(cè)量突變檢測(cè)法。殘差捜索法一般只能辨識(shí)單個(gè)不良 數(shù)據(jù)，而且需要進(jìn)行多次狀態(tài)估計(jì)迭代，實(shí)時(shí)性差；W非二次準(zhǔn)則估計(jì)為基礎(chǔ)的方法具有很 強(qiáng)的經(jīng)驗(yàn)性，一般只能辨識(shí)單個(gè)不良或弱相關(guān)的多個(gè)不良，由于不能...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。