技術(shù)編號(hào)：9451361
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及材料微觀結(jié)構(gòu)的復(fù)阻抗譜檢測(cè)領(lǐng)域，特別涉及一種固體材料微觀結(jié)構(gòu)演化的。背景技術(shù)20世紀(jì)50年代，Delahay從理論上系統(tǒng)的討論了用交流方法研究電化學(xué)過(guò)程動(dòng)力學(xué)的問(wèn)題。60年代初，荷蘭物理化學(xué)家Sluyters在實(shí)驗(yàn)中實(shí)現(xiàn)了交流阻抗譜方法在電化學(xué)過(guò)程研究中的應(yīng)用。經(jīng)過(guò)幾十年的發(fā)展，復(fù)阻抗譜檢測(cè)在理論上的發(fā)展已經(jīng)成熟，應(yīng)用也極廣泛，除了電化學(xué)以外，復(fù)阻抗譜檢測(cè)在材料和器件研究方面有著廣泛的應(yīng)用，它可以用來(lái)研究材料晶界及微結(jié)構(gòu)的演化，固體電解質(zhì)的電導(dǎo)性...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。