技術(shù)編號：8281018
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。 目前針對高純納米IT0粉末中雜質(zhì)含量分析的研究較少。一般采用直流電弧原子 發(fā)射光譜法直接粉末進樣進行雜質(zhì)含量分析，或者采用電感禪合等離子體發(fā)射光譜法進行 分析，但該些方法一般流程長，檢出限高，不適用于高純材料中雜質(zhì)元素的分析。發(fā)明內(nèi)容 本發(fā)明的目的是提供一種測定高純納米IT0粉末(純度在99. 99w% W上)中鉛、巧、 鐵含量的方法，樣品采用微波消解進行前處理，并用電感禪合等離子體質(zhì)譜儀測定IT0粉 末中鉛、巧、鐵雜質(zhì)含量。 為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采取...
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