技術(shù)編號：7816845
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開了一種光發(fā)射機(jī)調(diào)制度測量設(shè)備的校準(zhǔn)裝置。包括光發(fā)射機(jī)、信號調(diào)制、待校準(zhǔn)設(shè)備、波形采集和數(shù)據(jù)處理5個部分。其中，光發(fā)射機(jī)發(fā)出光信號，經(jīng)信號調(diào)制單元調(diào)制為方波信號，再經(jīng)過待校準(zhǔn)設(shè)備的光電轉(zhuǎn)換，傳輸給波形采集單元采樣，最后由數(shù)據(jù)處理單元處理后計算出調(diào)制度。另外，本發(fā)明還公開了一種光發(fā)射機(jī)調(diào)制度測量設(shè)備的校準(zhǔn)方法。該方法通過開始、信號調(diào)制、波形采集、調(diào)制度計算、判斷和校準(zhǔn)六個步驟實現(xiàn)校準(zhǔn)光發(fā)射機(jī)調(diào)制度測量設(shè)備的功能。本發(fā)明公開的校準(zhǔn)裝置和方法可校準(zhǔn)不同工...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。