技術(shù)編號:6938354
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明是有關(guān)一種半導(dǎo)體工藝,且特別是有關(guān)于一種無刮傷(nonscratch)化學(xué)機械研磨工藝(chemical mechanical polishing,簡稱CMP)。然而,上述化學(xué)機械研磨工藝雖然能在操作期間保持去除率(removing rate)的穩(wěn)定,但是不可避免的是在完成研磨后,因為被研磨層已被去除,而使暴露出的晶片表面被研磨粒刮傷(scratch),尤其當(dāng)預(yù)定被研磨去除的層是絕緣層時,研磨初期被去除的絕緣層還會成為殘留顆粒,增加晶片表面在研磨后期...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。