技術(shù)編號(hào):6538334
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明是一種,屬于集成電路計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)領(lǐng)域,尤其涉及版圖驗(yàn)證領(lǐng)域。背景技術(shù) 版圖驗(yàn)證是集成電路設(shè)計(jì)流程中重要的一環(huán),高效準(zhǔn)確的驗(yàn)證能夠有效的提高集成電路設(shè)計(jì)的效率,能極大降低設(shè)計(jì)失敗的風(fēng)險(xiǎn)。然而隨著工藝不斷的向著納米級(jí)進(jìn)展,在超大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)中,版圖規(guī)模急劇膨脹,傳統(tǒng)的版圖驗(yàn)證方法在計(jì)算速度和內(nèi)存使用方面都遠(yuǎn)遠(yuǎn)落后于用戶的需求。因此,層次的版圖驗(yàn)證方法受到了重視,它的優(yōu)點(diǎn)是利用版圖在設(shè)計(jì)過(guò)程中所具有的層次的特點(diǎn),對(duì)多次重復(fù)出現(xiàn)的版圖只需驗(yàn)證一次,減少...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。
請(qǐng)注意,此類(lèi)技術(shù)沒(méi)有源代碼,用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。